「"Test Program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

A hard disk is divided into a 1st divided area and a 2nd divided area, a prescribed OS, various program files and a test program file are stored in the 1st divided area as boot drivers.例文帳に追加

ハードディスクを第１分割領域と第２分割領域に分割し、第１分割領域をブートドライバとして所定のＯＳ及び各種プログラムファイルとテストプログラムファイルを入れる。 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH LOAD TEST PROGRAM RECORDED THEREON, FAILURE DIAGNOSING DEVICE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH FAILURE DIAGNOSTIC PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

負荷試験装置、負荷試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、障害診断装置、および障害診断プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A computer 3 in a manufacturing department allows the test program 7, which has been approved and has become transferrable, to be automatically transferred to an EWS server for manufacturing department 10 using a transfer program search system 17.例文帳に追加

製造部門のコンピュータ３は、転送プログラム検索装置１７を用いて承認済で転送可能となったテストプログラム７を、製造部門用ＥＷＳサーバ１０に自動転送させる。 - 特許庁

EVALUATION TEST SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, STORAGE MEDIUM STORING EVALUATION TEST PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL, EVALUATION TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, AND STORAGE MEDIUM STORING EVALUTATION TEST DATA MANAGEMENT PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL例文帳に追加

多層材料の評価試験システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体、並びに多層材料の評価試験データ管理システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

Thus, the communication to be tested between the mobile phone 30 and the mobile phone 40 is tested by the test program uploaded only to the mobile phone 30.例文帳に追加

これにより、携帯電話３０と携帯電話４０相互間で行われる通信試験を、一方の携帯電話３０のみにアップロードされた試験用プログラムによって行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.例文帳に追加

試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To simply detect an error concerned with the notation of separation start and separation end by applying the invented program displaying method to the display of a test program for instance.例文帳に追加

本発明はプログラムの表示方法に関し、例えば試験プログラムの表示に適用して、区切り開始、区切り終了の表記に係る誤りを簡易に発見することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

Fundamentally, the inside of the IC chip is judged all the time to come within a prescribed temperature range (processings S3, S4), after one of the divided programs is executed, and the effective test program can be conducted thereby.例文帳に追加

基本的には、分割した一つのテストプログラム実行後、常にＩＣチップ内が所定温度範囲内にあるか判断し（処理Ｓ３，Ｓ４）、実効的なテストプログラムができるようにする。 - 特許庁

To provide a web load test program for allowing a viewer to easily select a certain response message of a certain virtual client from a list of response log information displayed.例文帳に追加

ビューワが一覧表示したレスポンスのログ情報の中から任意の仮想クライアントの任意のレスポンスメッセージを簡単に選択できるようにするウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument.例文帳に追加

テストプログラム作成部１１は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム２２を作成して出力する。 - 特許庁

The operation verification device combines the program and the input data to form execution sets and a test scenario as well, and subsequently continuously executes the respective execution sets to thereby automatically execute an operation test by a test program.例文帳に追加

プログラムと入力データを組み合わせて実行セット、更には、テスト・シナリオを構成した上で、各実行セットを連続実行させることにより、テスト・プログラムによる動作テストが自動実行される。 - 特許庁

A test of the computer system is executed, by using the test program stored in the 1st divided area, and after completing the test, the image data file stored in the 2nd divided area is developed to be set in an arbitrary preinstalled state.例文帳に追加

そして、該第１分割領域のテストプログラムを使用してコンピュータシステムのテストを実行し、テスト終了後に前記第２分割領域のイメージデータファイルを展開して任意のプレインストール状態にする。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁

To quickly discover the failure of peripheral equipment, and to improve the workability of system maintenance by executing a test program so that each peripheral equipment is tested successively from a site where failure rate is higher.例文帳に追加

各周辺装置について故障率の高い部位から順に試験するように試験プログラムを実行することにより、周辺装置の故障を迅速に発見しシステム保守の作業性を向上させる。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁

When the occurrence of spike voltage is detected by an event detection means 12, an execution position detection means 21 detects a position on a test program being executed by a test execution means 11.例文帳に追加

実行位置検出手段２１は、事象検出手段１２によりスパイク電圧の発生が検出されたときに、テスト実行手段１１により実行中のテストプログラム上の位置を検出する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Next, a predetermined value is set for the argument, and a test pattern including the test program and the argument set with the predetermined value is created and supplied to the semiconductor circuit to be tested.例文帳に追加

次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。 - 特許庁

A program generation part 132 sets a program code according to the function recorded in the operation content file to generate a test program for reproducing a series of operation executed to the Web page.例文帳に追加

プログラム生成部１３２は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてプログラムコードを設定することにより、ウェブページに対して実行された一連の操作を再現するためのテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁

The generated test instruction string is executed (203) on a logic simulation environment as a test program and the expected value generated by an instruction interpreter is compared (204) with the execution result of a logic simulator.例文帳に追加

作成された試験命令列を試験プログラムとして、論理シミュレーション環境上で実行(２０３)し、命令インタプリタで生成された期待値と論理シミュレータでの実行結果を比較(２０４)する。 - 特許庁

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section.例文帳に追加

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第１のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第２のアドレスに格納する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for generating IC test program, capable of automatically forming accurate test standard values, taking into consideration the relative irregularity or the like of the parameters of the respective elements in an IC to be measured without human assistance.例文帳に追加

被測定ＩＣ内の各素子のパラメータの相対バラツキ等を考慮した適格なテスト規格値を、人手を介することなく自動的に作成可能なＩＣテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.例文帳に追加

本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁

The function extraction part may comprise: a program control part for making execute the test program previously stored in the test device; a state detection part for detecting each state of constitutional components; and an extraction part for extracting the constitutional element operated according to the test program and on the basis of the state of the constitutional element detected by the state detection part.例文帳に追加

機能抽出部は、試験装置に予め格納されている前記試験プログラムを実行させるプログラム制御部と、試験プログラムを実行させた後に、試験装置のそれぞれの構成要素の状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出したそれぞれの構成要素の状態に基づいて、試験プログラムに応じて動作した構成要素を抽出する抽出部とを有してよい。 - 特許庁

To verify, in a short time, the operation of a connection mechanism with high reliability by automatically determining the best combination of a test program with a load program with high load effects and performing a long time load test under high load.例文帳に追加

負荷効果の高い試験プログラムと負荷プログラムを最良な組み合わせを自動的に決定して高負荷による長時間負荷試験を行って短時間で信頼性の高い接続機構の動作検証を可能とする。 - 特許庁

An analysis and conversion processing part 1041 reads a test program 310 for another kind of equipment inputted from an input and output device 101 and stored in a storage part 1044, and executes following IC test processing.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、入出力装置１０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機種用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩＣテスト処理を実行する。 - 特許庁

An inspection objective system 2, in which an interface circuit of an IEEE1394 specification is mounted, is connected to an emulator 10 included in the inspection device 1, and inspection processing is started when a test program on the system 2 side is started.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格のインターフェース回路を搭載した検査対象のシステム２と、検査装置１に含まれるエミュレータ１０とを接続して、システム２側のテストプログラムの起動により検査処理が開始される。 - 特許庁

To reduce the labor and costs of the conversion processing of a test program to be shared between different kinds of equipment by realizing the conversion processing inside an IC tester being a target without preliminarily operating any conversion processing.例文帳に追加

本発明の課題は、異機種間で共有化するテストプログラムの変換処理を事前に行わず、ターゲットとなるＩＣテスタ内部でテストプログラムの変換処理を実現して変換処理の手間とコストを低減することである。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.例文帳に追加

複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁

Additionally, the tester 2 changes a program to the characteristic measurement test program after the accept/reject decisions of all semiconductor chips on the wafer, and measures the concrete characteristic value of the semiconductor chip of a chip address, that is specified by the test conditions.例文帳に追加

テスタ２は、ウエハ上の全ての半導体チップの合否判定後に、プログラムを特性測定テストプログラムに切り替え、テスト条件で指定されたチップアドレスの半導体チップの、具体的な特性値を測定する。 - 特許庁

To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.例文帳に追加

同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁

To efficiently test a case that a branching operation to an address outside a range of an on-chip memory is generated, in an LSI to perform a self-test by a built-in test function based on a test program to be stored in the on-chip memory.例文帳に追加

オンチップメモリに格納されるテストプログラムに基づき、ビルトインテスト機能によりセルフテストを行うＬＳＩにおいて、オンチップメモリの範囲外のアドレスへの分岐動作が発生するケースを効率よくテストする。 - 特許庁

In order to acquire a stable waveform by sweep of a voltage threshold and sample timing offset, the memory tester memorizes a target sequence of the prescribed number of transmitted vectors transmitted during the first pass of the test program after trigger generation.例文帳に追加

電圧閾値及びサンプルタイミングオフセットの掃引で安定した波形を得るため、メモリテスタは、トリガ発生後のテストプログラムの最初のパス間に発信された所定数の送信ベクトルのターゲットシーケンスを記憶する。 - 特許庁

When a testee requests content(program) for evaluation test from a mobile terminal MN to an evaluation test server 5, an evaluation test program is distributed from the evaluation test server 5 to a mobile terminal MN in response to this.例文帳に追加

被験者がモバイル端末MNから評価試験サーバ５に対して評価試験用のコンテンツ（プログラム）を要求すると、これに応答して評価試験サーバ５からモバイル端末MNへ評価試験プログラムが配信される。 - 特許庁

In a general test, controller software 11 transfer a command stored in a device test program storage part 12 to a thermostatic bath 20 or tester part 30 according to description order of programs to perform a burn-in test.例文帳に追加

コントローラソフトウェア１１は、通常試験の場合には、デバイステストプログラム記憶部１２に記憶されている命令をプログラムの記述順に従って恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送してバーンイン試験を行う。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

To eliminate a need of a socket substrate for checking a tester and a test board itself of a test system, and for debagging a test program, and to optionally conduct attachment and detachment for a finished product IC and an IC socket without depending on insertion and removing of a pin.例文帳に追加

テストシステムのテスタ、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行うための、ソケット基板を不要とすると共に、完成品ＩＣ、ＩＣソケットの脱着をピンの挿脱によることなく、任意に行うこと。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁