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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 受光系に関連した英語例文

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受光系の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 790



例文

テレセントリック光学(レンズ40、アパーチャ42)を用いた光電式エンコーダにおいて、受光素子35上の光学格子(インデックス格子32)又は受光素子アレイ34の受光素子35を、異なるピッチPa1、Pa2、Pa3、Pa4・・・で複数配設する。例文帳に追加

A plurality of optical lattices (index lattices 32) on light-receiving elements 35 or the plurality of light-receiving elements 35 in a light-receiving element array 34 are arranged with different pitches Pa1, Pa2, Pa3, Pa4, and the like in a photoelectric encoder by using a telecentric optical system (a lens 40 and an aperture 42). - 特許庁

原稿に光を照射して読取面を走査する走査光学104と、走査光学104からの光を受光する受光センサが基板に搭載されてユニット構成された画像読取部109と、走査光学104を駆動する駆動軸108を含む駆動部とを有する。例文帳に追加

This image reader has a scanning optical system 104 which irradiates a document with light and reads its read surface, an image read part 109 which is unitized by mounting on a substrate a photodetection sensor photodetecting the light from the scanning optical system 104, and a driving part including a driving shaft which drives the scanning optical system 104. - 特許庁

受光器108は、投影光学ULに斜入射して投影光学ULを通過し、基板ステージWS上の基板Wに入射して基板Wで反射され、投影光学ULを更に通過した計測光を受光する。例文帳に追加

The photo-detector 108 receives the measuring light that is obliquely incident to the projection optical system UL, passed through the projection optical system UL, incident to a wafer W on the wafer stage WS, reflected on the wafer W and further passed through the projection optical system UL. - 特許庁

透光基板上に形成された窒化ガリウム化合物半導体からなる発光素子又は受光素子をもって、コンパクトな発光又は受光装置を構成する。例文帳に追加

To obtain a compact light emitting or receiving device comprising a light emitting or receiving element of gallium nitride based compound semiconductor formed on a transmissive substrate. - 特許庁

例文

光学5a,6aは、基板Wの表面にレーザー光を照射し、該レーザー光の散乱光を異なる角度で受光して、第1及び第2の受光信号D1,D2を出力する。例文帳に追加

Optical systems 5a, 6a irradiate the surface of the substrate W with laser beams, receive scattered light of the laser beams at different angles, and output first and second received light signals D1, D2. - 特許庁


例文

波面収差測定部は、波面収差測定光学の該受光部の受光信号に基づき、被測定眼の高次収差を含む波面収差を測定する。例文帳に追加

A measuring member for wavefront aberration measures wavefront aberration including higher order aberration of the eyes to be examined from the photodetective signal of the photodetective part of the wavefront aberration measuring system. - 特許庁

このときの標本Sからの光は、対物レンズ3aを通った後に、結像光学13により受光素子14の受光面付近で結像する。例文帳に追加

At this point, the light from the sample S is focused near the light receiving surface of the light detector 14 by the focusing system 13 after passing the objective lens 3a. - 特許庁

受光レンズは、赤外光を受光素子に集光させるために光空間伝送装置で使用されるものであって、一枚の正レンズと一枚の負レンズとを有する構成にした。例文帳に追加

This light receiving lens system is used in the optical spatial transmitting device in order to condense the infrared light on the photodetector, and is provided with one positive lens and one negative lens. - 特許庁

光学性能を維持した上で、角膜表面に角膜反射像を投影・受光するための投影・受光光学をそれぞれ最少にして、シンプル且つ低コストな角膜形状測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a simple and inexpensive cornea shape measuring device by respectively minimizing projecting/light receiving optical systems for projecting/receiving a corneal reflected image on a cornea surface after maintaining optical performance. - 特許庁

例文

一次元または二次元のコードの検知のためのスキャナは、ハウジング(1)内に配置された受光器(5)と、これに関連する同様にハウジング内に設けられた受光光学(7)と、を含む。例文帳に追加

The scanner for detecting a one-dimensional or two-dimensional code includes an optical receiver 5 arranged in the housing 1 and a light receiving optical system 7 that is related to the optical receiver 5 and similarly provided in the housing 1. - 特許庁

例文

被写体の最近接距離に対応した受光位置RAがノンリニア領域E2〜e2に入ることを許容して、レンズ1Lを含む光学に対する受光素子1の位置合わせ精度を緩和する例文帳に追加

The light receiving position RA corresponding to the closest distance of the subject is allowed to enter the nonlinear areas E2 to e2, and the positioning accuracy of the light receiving element 1 with an optical system including the lens 1L is mitigated. - 特許庁

受光器8で受光した光波の強度に対応した電気信号は、全体が回転するのに合わせて変化するため、光ジャイロとして機能する。例文帳に追加

The electric signals corresponding with intensity of the light wave received in the photodetector 8 can function as an optical gyroscope because of its variation responding to gyration of the whole system. - 特許庁

列用の受光セルアレイA群311、B群312の各フォトダイオードで発生する光電流を増幅するトランジスタ21を受光部401から分離してプリント基板3に実装する。例文帳に追加

The transistors 21 for amplifying optical current generated by each photo diode of light receiving array group A 311 and group B 312 for M series are separated from the light receiving part 401 and mounted on the printed substrate 3. - 特許庁

測定対象物で反射して来たレーザ光は受光光学(32)によって集光され、視野絞り(34)の小さな中央開口を介して受光素子(30)に送られる。例文帳に追加

The laser beam reflected by the object is gathered by a receiving optical system (32) to be sent to a beam receiving element (30) through the small central opening of a visual field focusing. - 特許庁

受光レンズ23および2分割フォトダイオード24からなる光学は、設定位置STからの反射光が受光面24a,24bの境界に入射するように揺動可能に設けられる。例文帳に追加

An optical system comprising light receiving lens 23 and the photodiode 24 is rockably provided so that reflected light from the set position ST impinges on the boundary of light receiving faces 24a and 24b. - 特許庁

赤外線アレイセンサ21は、熱型赤外線素子をマトリクス状に配列したセンサ素子と、センサ素子の受光面の前方に配置した受光光学とにより構成される。例文帳に追加

The infrared array sensor 21 includes: a sensor element with thermal infrared elements arranged in a matrix shape; and a light receiving optical system disposed in front of a light receiving surface of the sensor element. - 特許庁

光学とセンサ受光部との距離に対応して各画素における適正な入射状態を得ることができ、各画素の受光効率の改善や感度の均一化を図る。例文帳に追加

To attain an appropriate incident state of each pixel in accordance with the distance between an optical system and a light receiving part of a sensor, to improve the light receiving efficiency of each pixel and to uniformize their sensitivity. - 特許庁

位相差検出方式によって光学の焦点検出を行なう撮像素子において、位相差検出に必要な光の受光量を増加させ、かつ位相差検出に不要な光の受光量を減少させる。例文帳に追加

To increase the received light quantity of light required for detecting a phase difference and decrease a received light quantity of the light not required for detecting the phase difference, in an imaging element detecting the focus of an optical system by a phase difference detection system. - 特許庁

撮像素子の受光部の受光面に対して、撮像光学を位置精度良く配置することができる構成を具備する撮像ユニットを提供する。例文帳に追加

To provide an image pickup unit having a structure where an image pickup optical system can be located with a good positional accuracy in relation to a light receiving surface of a light receiver of an image pickup device. - 特許庁

受光面積、受光量、感度、光電荷の伝送効率、正確度を向上し、チップ上の占有面積を低減できるセンサーを提供する。例文帳に追加

To provide a sensor system capable of improving a reception area, a light receiving amount, sensitivity, the transmission efficiency of an electric charge, and a degree of accuracy and reducing an occupation area on a chip. - 特許庁

受光部で受光される光量の変化を小さくすることが可能な光強度検出装置、光学、露光装置及びデバイスの製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a light intensity detecting unit capable of reducing the change in the quantity of light received by a light reception portion, to provide an optical system, to provide an exposure apparatus, and to provide a method of manufacturing a device. - 特許庁

照明光学ILのうち、マスクMと略共役な位置にはハーフミラー9で分岐した一部の露光光ELを受光する受光器15が設けられている。例文帳に追加

From among the lighting optical systems IL, a light receiving device 15 receiving partial exposure light EL branched with a half mirror 9 is provided at a position substantially conjugate to the mask M. - 特許庁

さらに、試料表面からの反射ビームは、遮光部材により分離された各受光素子(19)により受光されるので、コンフォーカル光学が構成され、この結果、欠陥検出の分解能が一層高くなる。例文帳に追加

Since the reflected beam from the sample surface is detected by each light receiving element (19) separated by a light shielding member, a con-focal optical system is established, resulting in higher resolution for defect detection. - 特許庁

その後、発光側モールド体2およびレンズ体10からなる発光側光学部品を、受光素子4およびそのリード部を透光性樹脂でモールドしてなる受光側モールド体5とともに、ケース6に収納した。例文帳に追加

Thereafter, a light emission side optical component composed of the light emission side sealed body 2 and the lens body 10 is contained in a case 6 together with a light reception-side sealed body 5 composed of the photodetector 4 and its lead unit sealed up with a light transmitting resin. - 特許庁

測光部3は、ズームレンズである撮影レンズ4の光学と異なる固定焦点の受光レンズ31を通して、中央部測光センサ321および周辺部測光センサ322で被写体光束を受光する。例文帳に追加

In the photometric part 3, the object luminous flux is received by a central photometric sensor 321 and an ambient photometric sensor 322 through a fixed-focus light receiving lens 31 different from the optical system of a photographic lens 4 functioning as a zoom lens. - 特許庁

その通過光線束45はレンズ12を介して反射部5と共役に配置されたCCD20の受光面上に到達し、この受光面上に、各反射部5の像からなる光学像が形成される。例文帳に追加

The passed flux of rays 45 reaches the light receiving surface CCD 20 conjugatively arranged with the reflecting sections 5 through another lens system 12 and forms an optical image composed of the image of each reflecting section 5 on the light receiving surface. - 特許庁

この被写体の実像は、第2反射プリズム36を介してリレーレンズ38によって、フィルタ群14及び3色分解光学16を介して受光素子18の受光面に伝達される。例文帳に追加

The real image of the subject is transmitted to a light receiving surface of a photodetector 18 through a filter group 14 and a three-color separation optical system 16 by a relay lens 38 through a second reflection prism 36. - 特許庁

投光素子11a〜11cは物体3a〜3cまでの距離に応じて受光スポットが移動する方向に直交しかつ受光光学22の光軸に直交する方向に配列される。例文帳に追加

The light emitting elements 11a-11c are arranged perpendicularly to the moving directions of the received light spots and also to the optical axis of the light receiving optical system 22 in accordance with the distances to the objects 3a-3c. - 特許庁

撮像部2は、受光面11aに形成された像を撮像する撮像素子11と、受光面11aに被検査物1の表面1aの像を形成する光学12とを有する。例文帳に追加

The imaging part 2 comprises an imaging element 11 for imaging an image formed on a light-receiving surface 11a and an optical system 12 for forming an image of the surface 1a of the inspected object 1 on the receiving surface 11a. - 特許庁

分光器20を用いて試料30の分光偏光パラメータを計測する分光偏光計測装置10は、試料30からの光を受光する受光光学52を含む。例文帳に追加

The spectropolarimetric measuring apparatus 10 for measuring the spectropolarimetric parameters of the sample 30 by the use of the spectrometer 20 includes a light-receiving optical system 52 for receiving light from the sample 30. - 特許庁

レーザー等の光信号を投光及び受光する光学において、ビームエキスパンダと受光側の凸レンズを用いない構造とすることにより、簡単な構造で、コストを安く抑えること。例文帳に追加

To provide an optical system projecting and receiving a luminous signal such as laser which does not structurally require a beam expander and a convex lens on the side of a light-reception, and thereby is simple in structure and low in cost. - 特許庁

撮影レンズとは独立した光学を有するファインダレンズに受光センサを設けた場合であっても、受光センサが検出した光量に応じてストロボの発光量を適正に制御する。例文帳に追加

To appropriately control the emitted light quantity of a strobe in accordance with the light quantity detected by a photodetecting sensor, even in the case the photodetecting sensor is installed in a finder lens having an optical system independent of a photographic lens. - 特許庁

CCDラインセンサー21を含む第1の受光系は、検査光が基板1の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板1の表面に焦点を合わせて受光する。例文帳に追加

The first light receiving system including a CCD line sensor 21 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by a surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state onto the substrate 1 surface. - 特許庁

光電子増倍管21a〜21cは、各々がフィルター22a〜22d、受光光学23a〜23dを介して蛍光14を受光し、これを電気信号として出力する。例文帳に追加

Photomultiplier tubes 21a to 21c respectively receive the fluorescence 14 through filters 22a to 22d and light-receiving optical systems 23a to 23d, and emit it as an electric signal. - 特許庁

受光系の焦点位置が測定物の表面又は基準面に合っていないとき、反射光はピンホール14で遮断されてほとんど受光されない。例文帳に追加

When the focal position of the light receiving system does not point the surface of the measured object or the reference surface, the reflected light is blocked by the pinhole 14 and is hardly received. - 特許庁

照明受光系201〜208は、試料保持用ローラ対211によって保持されたシート状試料901の試料面902に照明光を照射するとともに試料面902からの反射光を受光する。例文帳に追加

Illuminating and light-receiving systems 201-208 shed illuminating light on the specimen surface 902 of the sheet-like specimen 901 held by a specimen holding roller pair 211 and also receive reflected light from the specimen surface 902. - 特許庁

また、仮想半円筒の中心軸に対して又は仮想半球の中心に対して半径方向成分の放射光を入力し、受光素子に出力する光学受光素子の入力としても良い。例文帳に追加

Radiant rays in the radial direction component may be inputted to the center axis of the virtual semicylindrical surface or to the center of a vertical hemisphere. - 特許庁

CCDラインセンサー22を含む第2の受光系は、検査光が基板1の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板1の内部に焦点を合わせて受光する。例文帳に追加

The second light receiving system including a CCD line sensor 22 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by the surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state to the substrate 1 inside. - 特許庁

その通過光線束55はレンズ12を介して反射部5と共役に配置されたCCD20の受光面上に到達し、この受光面上に、各反射部5の像からなる光学像が形成される。例文帳に追加

The passing light beam 55 reaches the photodetection surface of a CCD 20 arranged conjugately to a reflection part 5 through the lens system 12, so that an optical image composed of images of respective reflection parts 5 is formed on the photodetection surface. - 特許庁

そして、上記受光センサ前面の測光センサ用窓13aの前方に、該センサの受光特性を切換える補正光学20aを有したレバー部20が、バリア11より挿脱可能に配置される。例文帳に追加

A lever part 20 having a correction optical system 20a to switch the photodetecting characteristic of the photodetecting sensor is arranged so as to be inserted and detached into/from the barrier 11 in front of the photometric sensor window 13a of a photodetecting sensor front face. - 特許庁

撮像光学の射出瞳の異なる領域を通過した1対の光束により生成された光学像を受光する、1対の受光素子列の出力を用いてパッシブ方式の焦点検出を行う。例文帳に追加

Passive type focus detection is performed using the output of a pair of light receiving element arrays that receive an optical image generated by a pair of light fluxes passing through different areas of an exit pupil of an imaging optical system. - 特許庁

受光側のパッケージ表面と空気層との界面において、外部からの入射光の反射を低減して、受光素子の高感度化を図り、さらに、光ピックアップの光学における特性劣化を防ぐ。例文帳に追加

To improve sensitivity of a photodetector and prevent degradation of characteristics in an optical system of light pick-up by reducing reflection of incident light from an outside in an interface between a package surface in a light receiving side and an air layer. - 特許庁

PLZTシャッタアレイ18の一次元配列された発光素子20を発光させ、受光素子搬送24によって受光素子22をPLZTシャッタアレイ18の結像面に沿って一定速度で走査させる。例文帳に追加

Light emitting devices 20 arranged in one dimension in a PLZT shutter array 18 are energized and a photodetector device 22 is scanned along an imaging face of the PLZT shutter array 18 in a constant speed by a photodetector device conveying system. - 特許庁

被測定基板10の各被測定パターン11に光が照射されると、各被測定パターンから回折光が発生し、光学5を通って受光手段6により受光される。例文帳に追加

When light is emitted to the patterns to be measured 11 of the substrate to be measured 10, diffracted light is generated from each pattern to be measured, passed through an optical system 5, and received by a light receiving means 6. - 特許庁

計数部2による計数値が、基準数設定部3に設定された基準数と相違したとき、異常検出部4が、その相違したA相受光素子30aまたはB相受光素子30bの光学異常を検出する。例文帳に追加

When a count value by the counter part 2 is difference from a reference number set at the reference number setting part 3, an anomaly detecting part 4 detects an optical system anomaly in the A-phase light receiving element 30a or the B-phase light receiving element 30b. - 特許庁

受光部は観察光学中心光軸上で受光面設定角度が調整できるよう準備され、この鏡筒を物体に設けられた孔内側観察面に対し任意角度の傾斜を持って設置する。例文帳に追加

The light-receiving portion is prepared so as to have a light-receiving face setting angle made adjustable on a center optical axis of the observation optical system, and the lens barrel is installed at an arbitrary angle to a hole inside observation face provided on the object. - 特許庁

光源となるレーザ発光素子4と、レーザ光を光ディスク上に導く光学と、光ディスクからの反射された光を受光し、その受光強度を電気信号に変換するディテクタとを備える。例文帳に追加

The optical head is provided with a laser emission element 4 as a light source, an optical system for guiding a laser light onto an optical disk, and a detector for receiving a reflected light from the optical disk and converting the received light intensity into an electric signal. - 特許庁

そして、光学26の中心位置が、撮像素子28の受光面の中心位置よりも、受光面に平行な方向に対して、テストパターン照射部21の光軸に近づけて設けられる。例文帳に追加

The center position of the optical system 26 is put close to an optical axis of the projection part 21 in a direction parallel to a light receiving surface rather than to the center position of the light receiving surface of the imaging element 28. - 特許庁

発光素子1から出射した照射光を、M列トラック5が設けられたスケール板4に入射し、当該スケール板4からの照射光を受光部2で受光する。例文帳に追加

Irradiation light emitted from the light emission element 1 is made incident on the scale plate 4 on which the track 5 of M series is provided, and irradiation light from the scale plate 4 is received by the light receiving part 2. - 特許庁

例文

受光光学52は検光子16等で受光した光を分光器20に送る光ファイバ18と、光ファイバ18の直前に設けられ、試料からの光を分散させる拡散板19とを含む。例文帳に追加

The optical system 52 includes the optical fiber 18 for sending a light received with an optical analyzer 16, or the like, to the spectrometer 20, and a diffusion plate 19 which is provided, immediately in front of the optical fiber 18 and makes the light scatter from the sample. - 特許庁

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