「DUt」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention relates to detection of each of the spectral components of a received response signal (S2) from a device under test (DUT 12) in response to a stimulus signal (S1).例文帳に追加

本発明は、刺激信号(S1)に応答して試験対象デバイス(DUT 12)から受信した応答信号(S2)のそれぞれのスペクトル成分を検出することに関する。 - 特許庁

To prevent a leakage voltage from being applied from a semiconductor relay to a DUT.例文帳に追加

半導体リレーからＤＵＴへ漏れ電圧が印加されるのを防止する。 - 特許庁

The apparatus (100, 10, 140) for measuring an optical device (DUT) (120) being inspected comprises an optical signal source (100) for applying an optical signal to the DUT (120), and a light receiving unit (140) for measuring response of the DUT (120) to the optical signal thus applied.例文帳に追加

検査対象となる光学装置（ＤＵＴ）(120)を測定する測定装置(100,10,140)は、ＤＵＴ(120)に光信号を加える光信号源(100)と、該加えられた光信号についてのＤＵＴ(120)の応答を測定する受光ユニット(140)とを含む。 - 特許庁

This parallel AC measurement method includes a step of applying a first signal on the first DUT, a step of applying a second signal on the second DUT, that is, a mutually orthogonal step of simultaneously generating the first signal and the second signal, a step of measuring a first DUT response, and a step of measuring a second DUT response.例文帳に追加

第１の信号を第１のＤＵＴに印加する工程と、第２の信号を第２のＤＵＴに印加する工程であって、第１の信号及び第２の信号は同時に生じ、互いに直交する工程と、第１のＤＵＴ応答を測定する工程と、第２のＤＵＴ応答を測定する工程とを含む。 - 特許庁

The light reflected from the DUT is collected and is converted into an electrical signal.例文帳に追加

ＤＵＴから反射された光は収集され、電気信号に変換される。 - 特許庁

DEVICE FOR CONTROLLING INVERSION CHARACTERISTIC ON DATA CHANNEL IN DUT TESTER例文帳に追加

ＤＵＴテスタにおけるデータチャネル上の反転特性を管理するための装置 - 特許庁

DUT MOUNTING TABLE WITH CALIBRATION LEVER, AND CALIBRATING METHOD USING SAME例文帳に追加

校正用レバーを備えたＤＵＴ置き台及びそれらを用いた校正方法 - 特許庁

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト（ＤＵＴ）の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

An I/O pin P_I/O is connected to a DUT via a transmission line 20.例文帳に追加

Ｉ／ＯピンＰ_Ｉ／Ｏは、ＤＵＴと伝送線路２０を介して接続される。 - 特許庁

POWER RECOVERY DEVICE CAPABLE OF RECOVERING ENERGY GENERATED BY RUNNING IN TRIAL OF DUT例文帳に追加

ＤＵＴのならし運転で生ずるエネルギ—をリサイクルできるパワ—回収装置 - 特許庁

The control elements 6 and 7 generate the voltages to be outputted to the DUT 9 from the output voltages generated in the switching power sources 21 and 22 and polarity-controlled in polarity judgment circuits 23 and 24, and apply them to the DUT 9 of a DUT board 8.例文帳に追加

制御素子６，７は、スイッチング電源２１，２２で生成され、極性判定回路２３，２４で極性制御された出力電圧からＤＵＴ９に出力すべき電圧を生成し、ＤＵＴボード８のＤＵＴ９に印加する。 - 特許庁

ELectronic data of verification object DUT specifications 21, a various DUT specification libraries 26, a test item library 22, a test specification library 27, a verification library 24, a test template group 25, correspondence information 28, and a DUT library 29 are stored in the database part 20.例文帳に追加

データベース部２０は、検証対象ＤＵＴ仕様２１、各種ＤＵＴ仕様ライブラリ２６、テスト項目ライブラリ２２、テスト仕様ライブラリ２７、検証ライブラリ２４、テストテンプレート群２５、対応情報２８、ＤＵＴライブラリ２９の電子データを格納する。 - 特許庁

The power supply system detects the overload just after turning on the DUT power source as the reverse insertion of the device, and can interrupt the power source to the DUT in a short time substantially equal to the start-up time of the DUT power source.例文帳に追加

ＤＵＴ電源投入直後の過負荷をデバイスの逆挿しとして検知し、ＤＵＴ電源の立ち上がり時間にほぼ等しい短時間でＤＵＴへの電源を遮断することができる電源供給システムを提供することである。 - 特許庁

A main power supply 10 feeds electric power to a power supply terminal P1 of a DUT 1.例文帳に追加

メイン電源１０は、ＤＵＴ１の電源端子Ｐ１に電力を供給する。 - 特許庁

To reduce the number of channels to be used per DUT, and to increase the number of simultaneous measurements.例文帳に追加

ＤＵＴ１個あたりの使用チャネルを減らして、同時測定数を増やすこと。 - 特許庁

To provide a highly reliable burn-in testing device capable of conducting surely screening for a plurality of measured devices (DUT hereinafter), and free from a secondary trouble in the DUT.例文帳に追加

複数の被測定デバイス（以下「ＤＵＴ」という）を確実にスクリーニングし、信頼性が高く、ＤＵＴに二次故障を発生させないバーイン試験装置を提供する。 - 特許庁

A main power supply 10 supplies electric power to a power supply terminal P1 of the DUT 1.例文帳に追加

メイン電源１０は、ＤＵＴ１の電源端子Ｐ１に電力を供給する。 - 特許庁

A detection resistor 3 converts the power source current value of the DUT 1 into a voltage.例文帳に追加

検出抵抗３はＤＵＴ１の電源電流値を電圧値へ変換する。 - 特許庁

The converter 12 converts the logic pin information to be used by the controller 11, according to the corresponding relation between the pins (DUT pins) which the DUT 40 has and the physical pins.例文帳に追加

変換装置１２は、ＤＵＴ４０が備えるピン（ＤＵＴピン）と物理ピンとの対応関係に応じて制御装置１１で用いられる論理ピン情報を変換する。 - 特許庁

The semiconductor inspection device 50 irradiates the semiconductor device (DUT (Device under Test)) 3 with a laser beam, and specifies a failure part of the semiconductor device (DUT) 3 using the DLS (Dynamic Laser Stimulation) method.例文帳に追加

半導体検査装置５０は、半導体デバイス（ＤＵＴ）３にレーザ光を照射し、ＤＬＳ法を用いて半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障箇所の特定を行う。 - 特許庁

The interference measurement is used by an isolation device(224, 724, 824) to present the passive properties of DUT, while direct measuring is used to present the active properties of DUT.例文帳に追加

干渉測定は、分離装置（２２４，７２４，８２４）によって使用され、ＤＵＴの受動特性を示し、直接測定はＤＵＴの能動特性を示すのに使用される。 - 特許庁

To provide a testing device for changing a hardware logic of a gate array held by a test module corresponding to the properties of a device under test (DUT), and performing a proper test to the DUT.例文帳に追加

テストモジュールが有するゲートアレイのハードウェア論理をＤＵＴの性質に応じて変更し、当該ＤＵＴに適切な試験を実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

The test bench is automatically generated by retrieving and then connecting a verifying device based upon port information of a DUT only through DUT specification and processing an unconnected port.例文帳に追加

ＤＵＴ指定のみで、ＤＵＴのポート情報を元に検証装置の検索と接続、そして、未接続ポートの処理を行いテストベンチを自動生成を行う。 - 特許庁

The DUT interface parts 60, 70, and 80 switch the output values of test signals to be outputted to the DUT 10 in synchronization with the inputted timing signals.例文帳に追加

ＤＵＴインターフェイス部６０，７０，８０は、入力されるタイミング信号に同期して、ＤＵＴ１０に対して出力する試験信号の出力値を切り換える。 - 特許庁

A device under test (DUT) (126) is inserted from a handler (132) to a socket (124).例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）（１２６）はハンドラ（１３２）からソケット（１２４）に挿入される。 - 特許庁

When the duty ratio DUT input from a control unit 31 exceeds the upper limit value DUTLH, the duty ratio DUT is set to the upper limit value DUTLH.例文帳に追加

制御部３１から入力されるデューティ比ＤＵＴが上限値ＤＵＴＬＨを超えるときは、デューティ比ＤＵＴは上限値ＤＵＴＬＨに設定される。 - 特許庁

A data processing means relates photon emission to a specific feature of the DUT.例文帳に追加

データ処理手段が、光子放出をＤＵＴの特定の特徴に関連付ける。 - 特許庁

To provide an event type test system supplying a test signal to a tested device (DUT) for inspecting an output signal of the DUT at the timing of a strobe signal.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）にテスト信号を供給してそのＤＵＴの出力信号をストローブ信号のタイミングで検証するためのイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

A power supply compensation circuit 20 is configured to lead a compensation current I_CMP' from a supply current I_DD flowing from the main power supply 10 to the DUT 1, into another path different from the DUT 1.例文帳に追加

電源補償回路２０は、メイン電源１０からＤＵＴ１に流れる電源電流Ｉ_ＤＤから、補償電流Ｉ_ＣＭＰ’をＤＵＴ１とは別経路に引きこむ。 - 特許庁

Next, a signal generator 2 outputs a test signal to the test device DUT.例文帳に追加

続いて、信号発生部２がテスト用信号をテストデバイスＤＵＴに出力する。 - 特許庁

A method of measuring a device under test (DUT) 110 comprises a step of applying a pulsed RF input signal 124 to the DUT, and a step of connecting an output of the DUT to a receiver 104, having an output bandwidth selected to measure the center tone in an RF pulse response spectrum from the output 113 of the DUT.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）１１０を測定する方法は、パルスドＲＦ入力信号１２４をＤＵＴに印加するステップと、ＤＵＴの出力１１３からのＲＦパルス応答スペクトル内の中央トーンを測定するべく選択されている出力帯域幅を具備したレシーバ１０４に、このＤＵＴの出力を接続するステップと、を含む。 - 特許庁

The apparatus comprises a DUT having means for self-heating according to an external control signal pattern, a sensor for directly monitoring the temperature of the DUT and means for generating the control signal pattern so that the temperature of the DUT coincides with an expected value, based on the output of the sensor, thus making the DUT temperature controllable.例文帳に追加

外部からの制御信号パターンに応じて自己発熱する発熱手段を備えたＤＵＴと、このＤＵＴの温度を直接監視するセンサと、このセンサの出力に基づき、前記ＤＵＴの温度が期待値に一致するような前記制御信号パターンを発生する手段を備え、ＤＵＴの温度が制御できるように構成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of improving the throughput of DUT (device under test) inspection.例文帳に追加

ＤＵＴ検査のスループットを改善できる半導体検査装置を提供すること。 - 特許庁

To improve the cost effect and the time efficiency for a test of an IC component in DUT.例文帳に追加

ＤＵＴ内のＩＣ部品のテストのコスト効果及び時間効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which recognizes which DUT is under measurement.例文帳に追加

どのＤＵＴが測定されているのかを認識可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE FOR COLLECTING MEASURED DATA IN SIGNAL PORT OF DUT UNDER VARIOUS LOAD CONDITIONS例文帳に追加

様々な負荷条件でＤＵＴの信号ポートにおける測定データを収集する装置 - 特許庁

A control signal having the corrected duty ratio DUT is supplied to the solenoid valve 8.例文帳に追加

補正されたデューティ比ＤＵＴを有する制御信号が電磁弁８に供給される。 - 特許庁

A receiving section 110 receives data transmitted from the semiconductor memory device (DUT).例文帳に追加

受信部１１０は、半導体記憶装置（ＤＵＴ）から送出されるデータを受信する。 - 特許庁

Using a signal from the photodetector, the photon emission from the DUT is mapped.例文帳に追加

光検出器からの信号を使用して、ＤＵＴからの光子放出をマッピングする。 - 特許庁

To provide a test board device capable of dividing a DUT board.例文帳に追加

ＤＵＴボードを分割することができるテストボード装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

The each DUT has an input terminal, an output terminal and an electric power source terminal.例文帳に追加

ＤＵＴは入力端子と出力端子と電源端子と接地端子を有している。 - 特許庁

The system enables imaging state mapping by laser voltage of the device within the DUT.例文帳に追加

システムは、ＤＵＴにおけるデバイスのレーザ電圧による画像化状態マッピングを可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester that does not have the risk of damaging a DUT, since pulse signals within the semiconductor tester are prevented from being sent out to the DUT side, even if only semiconductor relays are used as relays on a route from a pin electronics part to the DUT.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにしても、半導体試験装置内部のパルス信号がＤＵＴ側に送出されることはなく、ＤＵＴを破損する恐れのない半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To calculate a proper connection plan between a DUT pin and an ATE pin by ascertaining accurately whether a connection target of the DUT pin is a high-speed ATE pin or a low-speed ATE pin.例文帳に追加

ＤＵＴピンの接続先を高速ＡＴＥピンにするのか低速ＡＴＥピンにするのかを正確に見極めて、ＤＵＴピンとＡＴＥピンとの適切な接続案を算出する。 - 特許庁