「DUt」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

The enhanced display is canceled by an operation of designating the DUT again, and an operation of designating another specific target DUT is carried out, thereby easily changing DUTs having states of test results to be grasped.例文帳に追加

ＤＵＴを再度指定して操作することにより強調表示を解除し、他の注目したい特定のＤＵＴを指定して操作することで試験結果の状況等を把握するＤＵＴを容易に変更することができる。 - 特許庁

Each contact can move between a first orientation position at which no engagement takes place with a corresponding lead and a second orientation position at which the DUT is engaged with a lead corresponding to the DUT and energized toward the interior of a slot.例文帳に追加

各コンタクトは、ＤＵＴの対応するリードに係合されない第１の配向位置と、ＤＵＴがＤＵＴの対応するリードに係合されスロット内に向けて付勢される第２の配向位置との間を移動可能である。 - 特許庁

The PC(4) reads a first data table which predetermines characteristic measuring condition and measuring time of the DUT(2), and selects precise measuring condition of attenuation amount of the DUT(2), on the basis of measure of the second data table.例文帳に追加

次にＰＣ・４はＤＵＴ・２の特性測定条件及び測定時間を予め規定する第１のデータテーブルを読み出して、第２のデータテーブルの測定値に基づいて、ＤＵＴ・２の減衰量の精密測定条件を選択する。 - 特許庁

To provide an interferometer type method for a waveform probe requiring no setting of a reference point near the active region on a semiconductor IC device (DUT) without affected by mechanical vibration nor temperature- induced movement of the DUT.例文帳に追加

半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の機械的振動および温度誘発の動きに影響されずしかもＤＵＴ上の活性領域近傍で基準点を定める必要のない波形プローブのための干渉計式の方法を提供する。 - 特許庁

While the set is in use, a first surface approaches the DUT and a second surface approaches the load board in a test site.例文帳に追加

同セットの使用中、第１の面はＤＵＴに近接し、第２の面はテストサイトにおけるロードボードに近接する。 - 特許庁

To arrange a device under test (DUT) in a terminal end of a cable, with a characteristic impedance equal to a desired impedance.例文帳に追加

所望のインピーダンスに等しい特性インピーダンスを有してＤＵＴがケーブルの末端に配置できるようすること。 - 特許庁

Driving characteristics of a device under test (DUT) of the domain parts 23 of the array substrate 22 are electrically tested with an array tester body 47.例文帳に追加

アレイテスタ本体47でアレイ基板22の表示領域部23の被検査対象デバイスの駆動特性を電気的に検査する。 - 特許庁

The processing device 2 converts each S parameter into T parameters, and then obtains the true characteristic of DUT 4 by an inverse matrix operation.例文帳に追加

処理装置２は、各ＳパラメータをＴパラメータに変換後、逆行列演算によりＤＵＴ４の真の特性を得る。 - 特許庁

This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.例文帳に追加

第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁

A power supply device 100 for a test device, which supplies a power supply signal S2(Vdd) to a DUT 1, is provided.例文帳に追加

ＤＵＴ１に電源信号Ｓ２（Ｖｄｄ）を供給する試験装置用の電源装置１００が提供される。 - 特許庁

First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel.例文帳に追加

まず、自動試験装置（ＡＴＥ：Automated Test Equipment）ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス（ＤＵＴ）クロックのディジタル出力を、キャプチャする。 - 特許庁

A correction unit 33 corrects the duty ratio DUT input from the limiter 32 according to the battery output voltage VB.例文帳に追加

補正部３３は、バッテリ出力電圧ＶＢに応じてリミッタ３２から入力されるデューティ比ＤＵＴを補正する。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing apparatus for securing a region other than a connection region of a DUT substrate.例文帳に追加

ＤＵＴ基板の接続領域以外の領域確保が行える半導体試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing timing errors due to characteristics of a transmission line to a DUT.例文帳に追加

ＤＵＴへの伝送ラインの特性によるタイミングエラーを防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

One slot accommodates one contact and each contact has a first end part engageable with a lead of the DUT.例文帳に追加

１つのスロットには１つのコンタクトが収容され、各コンタクトはＤＵＴのリードに係合可能な第１の端部を有する。 - 特許庁

Next, the PC(4) controls the SG(1) based on the precise measuring condition, and performs precise measurement of the DUT(2).例文帳に追加

次にＰＣ・４はこの精密測定条件に基づいてＳＧ・１を制御し、ＤＵＴ・２の精密測定を行う。 - 特許庁

To provide the test head of an IC tester facilitating the attachment and detachment of a DUT board and imparting good signal quality.例文帳に追加

ＤＵＴボードの着脱が容易で信号品質が良好なＩＣテスタのテストヘッドを実現することを目的にする。 - 特許庁

To stabilize power supply voltage V_DD, when testing a DUT changing an operation state without depending on a test pattern.例文帳に追加

動作状態がテストパターンに依存せずに変化しうるＤＵＴを試験する際に、電源電圧Ｖ_ＤＤを安定化する。 - 特許庁

Further, the ammeter 11 is serially connected between the output terminal of the three-terminal regulator 10 and a DUT 50.例文帳に追加

また、電流計１１は、３端子レギュレータ１０の出力端子とＤＵＴ５０の間に直列に接続される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can test plural DUT simultaneously measured in a shorter time.例文帳に追加

複数個を同時測定するＤＵＴを、より短時間に試験実施することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The oscilloscope 2 inputs a waveform based on an adjustment parameter set by a DUT 1 and samples the waveform.例文帳に追加

そして、オシロスコープ２は、ＤＵＴ１で設定された調整パラメータに基づく波形を入力してこの波形をサンプリングする。 - 特許庁

A comparator CP, whose input terminal is connected to the IO pin P_I/O, determines the level of a signal from the DUT.例文帳に追加

コンパレータＣＰは、その入力端子がＩ／ＯピンＰ_Ｉ／Ｏと接続され、ＤＵＴからの信号のレベルを判定する。 - 特許庁

The semiconductor test device 1 includes an analytical device 30 for analyzing the data obtained by performing DUT 50a, 50b tests.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ５０ａ，５０ｂの試験をして得られたデータを解析する解析装置３０を備える。 - 特許庁

To provide a device and a method for performing laser probing of DUT and providing modulation information on a selected region.例文帳に追加

ＤＵＴのレーザープロービングを行って選択領域の変調情報を提供する装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The first and second waveform data showing a power source and a DUT are stored respectively in a memory by using a waveform storage device.例文帳に追加

波形記憶装置を用いて、電源及びＤＵＴを表す第１及び第２波形データをそれぞれメモリに記憶する。 - 特許庁

By matching clock signal ends to the flip-flops with data signal ends, the delay time of the DUT is calculated.例文帳に追加

フリップフロップへのクロック信号端をデータ信号端と一致させることによってＤＵＴの遅延時間を算出する。 - 特許庁

To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.例文帳に追加

同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁

A power amplifier 40 supplies a power of an output voltage based on an input voltage Vi to a to-be-tested object DUT.例文帳に追加

パワーアンプ４０は、入力電圧Ｖｉに基づいた出力電圧の電力を被試験体ＤＵＴに供給する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a data inversion signal is generated appropriately based on an address signal supplied to a DUT and which can perform a test even for a DUT in which the number of arrays are different between a row side and a column side of a memory cell.例文帳に追加

メモリセルのロウ側と、カラム側との配列数が異なるＤＵＴに対しても、ＤＵＴへ供給するアドレス信号に基づいて適正にデータ反転信号を発生して試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester having, in pin electronics, a terminating device that can terminate an output signal with improved waveform quality even if the current drive capacity of the output pin of DUT is small and is capable of measuring the timing of DUT precisely.例文帳に追加

ＤＵＴの出力ピンの電流駆動能力が小さい場合においても良好な波形品質で終端可能で、ＤＵＴのタイミング測定が精度良く測定可能な終端装置をピンエレクトロニクスに備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In the verification method, internal configuration of a logic system (DUT) 11 is extracted by an internal configuration extractor 21, and input/output constraints of internal configuration are generated by a DUT internal configuration table 13 of an internal block input/output constraint generator 22.例文帳に追加

内部構成抽出器２１で論理システム（ＤＵＴ）１１の内部構成を抽出し、内部ブロック入出力制約条件生成器２２でＤＵＴ内部構成表１３により内部構成の入出力制約条件を生成する。 - 特許庁

This apparatus includes a status storage section for at least storing node status data indicating the status of each section of the DUT model, an acquisition means for at least acquiring the node status data from the DUT model to store it in the status storage section, and a setting means for at least setting desired node status data of the status storage section to the DUT model.例文帳に追加

本装置は、ＤＵＴモデルの各部状態を示すノード状態データを少なくとも記憶する状態記憶部と、ＤＵＴモデルからノード状態データを少なくとも取得し、状態記憶部に格納する取得手段と、状態記憶部の所望のノード状態データをＤＵＴモデルに少なくとも設定する設定手段とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

This device comprises a tester model which simulates the circuit operation of the tester, DUT models with different delay quantities of internal operation which simulate the circuit operation of the test object, a selection means which selects one of the DUT models and connects it to the tester model, and a determination means which determines the DUT model based on the test program, and makes the selection means select it.例文帳に追加

本装置は、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

This table comprises result pictures indicating pass or fail for each DUT and reduction pictures of fail bit maps.例文帳に追加

この一覧表示には、各ＤＵＴ毎にパスかフェイルかを示す結果画像やフェイルビットマップの縮小画像が含まれている。 - 特許庁

A D-to-A converter 26 performs a digital-to-analog conversion of the control value S4 and supplies the value to the DUT 1 as the power supply signal S2.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータ２６は、制御値Ｓ４をデジタル／アナログ変換し、ＤＵＴ１に電源信号Ｓ２として供給する。 - 特許庁

A main driver amplifier AMP0 generates a first differential signal Vd based on pattern data PAT to be transmitted to DUT 102.例文帳に追加

メインドライバアンプＡＭＰ０は、ＤＵＴ１０２に送信すべきパターンデータＰＡＴにもとづいて第１差動信号Ｖｄを生成する。 - 特許庁

A current detection circuit 20 generates detection voltage Vm according to output current I_OUT flowing to the DUT 1.例文帳に追加

電流検出回路２０は、ＤＵＴ１に流れる出力電流Ｉ_ＯＵＴに応じた検出電圧Ｖｍを生成する。 - 特許庁

The adaptive sliding mode controller 21 calculates the duty ratio DUT according to the predicted throttle valve opening deviation amount PREDTH.例文帳に追加

適応スライディングモードコントローラ２１は、予測スロットル弁開度偏差量ＰＲＥＤＴＨの応じて、デューティ比ＤＵＴを算出する。 - 特許庁

A DUT 1 has a three-dimensional mount package structure including a first semiconductor chip 10 and a second semiconductor chip 12.例文帳に追加

ＤＵＴ１は、第１半導体チップ１０および第２半導体チップ１２を有する３次元実装パッケージ構造を有する。 - 特許庁

Secondly, NRZ output data of DUT is captured, while the clock signals are captured on a neighboring ATE channel.例文帳に追加

次いで、クロック信号が隣接するＡＴＥチャンネル上でキャプチャされている間に、ＤＵＴのＮＲＺ出力データをキャプチャする。 - 特許庁

A timing comparator TM is built in the semiconductor device DUT, and the timing comparator TM is composed of a data latch circuit DLAT.例文帳に追加

半導体装置ＤＵＴにタイミング比較器ＴＭを内蔵し、このタイミング比較器ＴＭは、データラッチ回路ＤＬＡＴからなる。 - 特許庁

The interference measuring is a result of partially combined local transmitter signal which impressed reference local transmitter signal on DUT.例文帳に追加

干渉測定は、ＤＵＴに基準局部発信器信号を印加した局部発信器信号の一部の合成結果である。 - 特許庁

To reduce an inspection period of time of a DUT by making the number of line fail counts after the line definition to be acquired by one scanning.例文帳に追加

ライン確定後のラインフェイルカウント数を１回の走査で取得できるようにし、ＤＵＴの検査時間を短縮すること。 - 特許庁