「DUt」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention relates to the improvement in the test head of the IC tester loaded with a performance board and the DUT board electrically connected to an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、パフォーマンスボートと、被試験対象に電気的に接続するＤＵＴボードとを搭載するＩＣテスタのテストヘッドに改良を加えたものである。 - 特許庁

In addition, in such a case, data inherent to the DUT can be serially extracted and tested to be able to shorten a test time.例文帳に追加

また、この時、ＤＵＴ固有のデータをシリアルに取り出し検査を行うことができ、検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

To provide a memory test device which displays a test state display picture of an incorporated memory of DUT and a program advance display picture on the same screen.例文帳に追加

ＤＵＴの内蔵メモリの検査状況表示画面と、プログラム進捗表示画面を同一画面上に表示するメモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.例文帳に追加

安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

Improvement is added to the tester simulation system performing simulation by a DUT MODEL and a virtual tester means on the basis of the test program.例文帳に追加

本発明は、ＤＵＴモデルと仮想テスタ手段とにより、テストプログラムに基づいて、シミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of protecting a DUT 100 from breakage and damage even in the case that descriptions of a test program are erroneous.例文帳に追加

テストプログラムの記述が誤っている場合でも、ＤＵＴ１００を破壊や損傷から保護することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

A shield unit (30, 40) receives the optical circuit (20) and provides at least a partial shield for the optical circuit (20) and/or the DUT (120) against mechanical noise.例文帳に追加

シールドユニット(30,40)は、光学回路(20)を受容し、機械的ノイズに対する光学回路(20)及び／又はＤＵＴ(120)の少なくとも部分的なシールドを提供する。 - 特許庁

A waveform data generation unit 2 generates a waveform data DW which describes a test pattern signal to be fed to a DUT in synchronization with the rate signal RATE.例文帳に追加

波形データ生成部２は、レート信号ＲＡＴＥと同期して、ＤＵＴに供給すべきテストパターン信号を記述する波形データＤＷを生成する。 - 特許庁

The picosecond imaging circuit analysis (PICA)/high current source system includes a step for applying a pulse from a high current pulse source to a device under test (DUT).例文帳に追加

ピコ秒イメージ化回路解析（ＰＩＣＡ）／高電流源システムは、高電流パルス源から被試験デバイス（ＤＵＴ）にパルスを加えるステップを含む。 - 特許庁

A signal LO from an LO signal source 9 and a signal RF from the semiconductor device DUT are inputted to the frequency multiplication mixing means 11.例文帳に追加

周波数てい倍混合手段１１には、ＬＯ信号源９からの信号ＬＯと、半導体デバイスＤＵＴからの信号ＲＦが入力される。 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

The receiver is triggered so as to sample the data output from the DUT during a window period 625 and stops the acquisition of the data after the window period.例文帳に追加

このレシーバは、ウィンドウ期間６２５内において、ＤＵＴからデータ出力をサンプリングするべくトリガされ、ウィンドウ期間後に、データの取得を停止する。 - 特許庁

The group delay of the DUT is measured by using zero- crossing of an AC coupled heterodyne beat signal generated by the test interferometer from the input light signal.例文帳に追加

ＤＵＴの群遅延は、入力光信号からテスト干渉計によって生成されるＡＣ結合ヘテロダインビート信号のゼロ交差を用いて測定される。 - 特許庁

The strobe source 10 triggers the pattern source so that signals consisting of a series of logic '0' and '1' are output to the input terminal of a device (DUT) 4 to be tested.例文帳に追加

ストローブ源（１０）は、パターン源をトリガして論理「０」および「１」の系列から成る信号を被試験デバイス（ＤＵＴ）（４）の入力端子に出力させる。 - 特許庁

Each DUT 2 is capable of receiving electricity so as to output an initial ray, in which each initial ray has a first wavelength range.例文帳に追加

各ＤＵＴ２は、最初の光線を出力するために電気を受け取ることが可能であり、各最初の光線は、第１の波長範囲を有する。 - 特許庁

To provide a light emitting component measuring system and a method thereof, capable of measuring the optical proprieties of a plurality of devices under test (DUT).例文帳に追加

複数の被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定することが可能である発光部品測定システムおよびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of continuously checking test results of respective DUTs, in real time, while grasping a specific DUT.例文帳に追加

特定のＤＵＴを把握しながら各ＤＵＴの試験結果をリアルタイムかつ連続して確認することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The format converting part converts the data format of the fail data so that the fail data of a plurality of addresses in one IO of the DUT is stored on one address in the buffer memory, from the data format in which the fail data of one address in each IO of the DUT is stored on one address in the fail memory.例文帳に追加

フォーマット変換部は、フェイルメモリにおける１つのアドレス上に、ＤＵＴの各ＩＯにおける１アドレス分のフェイルデータが格納されているデータフォーマットから、バッファメモリにおける１つのアドレス上に、ＤＵＴの１つのＩＯにおける複数アドレス分のフェイルデータが格納されるようにフェイルデータのデータフォーマットを変更する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which enhances maintainability by using only semiconductor relays as relays for a route reaching a DUT from a pin electronic part, and increasing packaging density, moreover can prevent degradation in waveform quality caused by impedance mismatching, and can also prevent breakdown in the DUT caused by a voltage on the occasion of calibration.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにして実装密度を高めてメンテナンス性の向上を図るとともにインピーダンス不整合による波形品位劣化を防止でき、校正時の電圧によるＤＵＴの破壊も防止できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The transfer of the verification/test pattern of the DUT (external computer→FPGA for control→pattern storage memory), the transfer of the verification/test control data of the DUT (external computer→FPGA for control), and the transfer of the verification/test result (result storage memory→FPGA for control→external computer) are instructed by software for control through a microcomputer.例文帳に追加

ＤＵＴの検証／テストパターンの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ→パターン格納メモリ）と、ＤＵＴの検証／テスト制御データの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ）と、検証／テスト結果の転送（結果格納メモリ→制御用ＦＰＧＡ→外部コンピュータ）は、共にマイコンを介して制御用ソフトウェアによって指示される。 - 特許庁

The frame transmitting portion is provided with an error pattern inserting portion between a frame generating portion and a FCS calculating portion, in the testing apparatus provided with the frame transmitting portion to transmit a testing frame to a testing object network transmitting apparatus (DUT) and a frame receiving portion to receive the frame transmitted from the DUT which has received the testing frame.例文帳に追加

試験対象ネットワーク伝送装置（ＤＵＴ）に試験用フレームを送信するフレーム送信部と、試験用フレームを受信した前記ＤＵＴから送信されるフレームを受信するフレーム受信部とを備えた試験装置において、前記フレーム送信部は、フレーム生成部とＦＣＳ演算部の間にエラーパターン挿入部を備える。 - 特許庁

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component.例文帳に追加

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。 - 特許庁

The device comprises in the test head body a socket board provided with a DUT socket, a vertical floating means, a horizontal floating means and a connection cable.例文帳に追加

ＤＵＴソケットが設けられたソケットボードと、鉛直方向フローティング手段と、水平方向フローティング手段と、接続ケ−ブルとが、テストヘッド本体に設けられたものである。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

To provide a testing device for efficiently regulating and acquiring phase shift generated when propagating a rising signal and a falling signal output by DUT.例文帳に追加

ＤＵＴが出力する立上り信号及び立下り信号を伝播する際に生じる位相のずれを効率良く調整して取得する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card where the number of similarly measured DUTs and a similarly measured DUT array can easily be changed and a needle can easily be exchanged.例文帳に追加

同測ＤＵＴ数や同測ＤＵＴ配列を容易に変更することができると共に、針の交換作業を容易に行うことができるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of automatically securing a predetermined rise time (or fall time) in consideration of measurement conditions for the periphery of a DUT.例文帳に追加

ＤＵＴ周辺の測定条件にも配慮して、自動で所定の立ち上がり時間（または立ち下がり時間）を確保できる半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a means capable of more easily determining the optical characteristics of a DUT by utilizing measurement in both of the transmitting and reflecting directions of laser beam.例文帳に追加

光ビームの透過方向及び反射方向の両方向の測定を利用してＤＵＴの光学特性をより容易に決定することが可能な手段を提供する。 - 特許庁

A stationary power supply current output from a power terminal of an LSI (DUT) to be measured 10 is sequentially converted to voltage signals by a power supply current converting circuit 12.例文帳に追加

被測定ＬＳＩ（ＤＵＴ）１０の電源端子から出力される静止電源電流を電流電圧変換回路１２により電圧信号に順次変換する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

Each of the universal interface channel circuits 210 is independently commanded by the data collecting circuit 120 to supply one of a variety of test signals to a DUT.例文帳に追加

各ユニバーサルインタフェースチャネル回路２１０は、様々な試験信号のうちの１つをＤＵＴに供給することを、データ収集回路１２０から個別に命令する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can intuitively obtain position information of a pin of a pin electronics card allocated to each pin of a DUT with a simple operation procedure.例文帳に追加

簡単な操作手順で、ＤＵＴの各ピンに割り付けられたピンエレクトロニクスカードのピンの位置情報を直感的に把握できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation apparatus and an evaluation method for reducing the wear of a pad in an evaluation test by increasing the reproducibility of a measured value to a DUT board and a probe card.例文帳に追加

ＤＵＴボードおよびプローブカードに対し、測定値の再現性を増し、評価試験でのパッドの磨耗を低減する評価装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The ESD event is received on a DUT node coupled to the one or more signal rails 130 and 140 of the protected circuitry 110.例文帳に追加

前記ＥＳＤイベントは、前記保護対象回路構成(110)における前記１つか又は複数の信号レール(130,140)に結合されたＤＵＴノード上において受容される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of assuring a high output level applied to a DUT pin by means of a current RF output module and having no limitation in cable length.例文帳に追加

現状のＲＦ出力モジュールを使用してＤＵＴピンへの印加出力レベルが大きくとれ、ケーブル長の制約のない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor tester for reducing a ratio of an overhead time caused by automatic calibration, and improving an operation rate at which the semiconductor tester tests a DUT.例文帳に追加

自動校正に起因するオーバーヘッド時間の割合を低下させてＤＵＴのテストを行うための稼働率を改善できる半導体テスト装置を実現すること。 - 特許庁

A voltage source 10 generates power supply voltage V_OUT stabilized so as to coincide with a voltage level according to reference voltage V_REF and supplies the power supply voltage to a DUT 1.例文帳に追加

電圧源１０は、基準電圧Ｖ_ＲＥＦに応じた電圧レベルに一致するように安定化される電源電圧Ｖ_ＯＵＴを生成し、ＤＵＴ１に供給する。 - 特許庁

An analysis server 104 secures a storage area of the same size as DUT in a local memory in parallel, and normal bits are predictively written (step S303) to all the addresses.例文帳に追加

解析サーバ１０４は、並行してローカルメモリ上でＤＵＴと同じサイズの記憶領域を確保し、そのアドレス全てに正常ビットを予測的に書き込む（ステップＳ３０３）。 - 特許庁

The pin electronics 70 and a performance board 30 which connects the DUT 40 to the pin electronics 70 are connected electrically and mechanically by a Zif connector 32.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス７０と、ＤＵＴ４０をピンエレクトロニクス７０に接続するためのパフォーマンスボード３０とは、Ｚｉｆコネクタ３２で電気的及び機械的に接続する。 - 特許庁

Accordingly, when an overcurrent flows in bringing the duty ratio DU close to the target duty ratio DUt gradually, the duty ratio DU drops instantaneously for safe.例文帳に追加

したがって、デューティ比ＤＵを目標デューティ比ＤＵｔに徐々に近付けている場合に過電流が流れたときは、デューティ比ＤＵを瞬時に低下させるので、安全である。 - 特許庁

The test signal S1, outputted from a test head 3 by an attenuator 11 provided on a DUT board 8, is attenuated to be applied to the object 4 to be tested.例文帳に追加

本発明は、ＤＵＴボード８に設けた減衰器１１によりテストヘッド３から出力される試験信号Ｓ１を減衰させて試験対象４に印加する。 - 特許庁

In a power supply unit, a first A/D converter 22 converts an analog observed value S2' corresponding to a power-supply signal S2 supplied to a power-supply terminal P1 of a DUT 1, to a digital observed value S3.例文帳に追加

第１Ａ／Ｄコンバータ２２は、ＤＵＴ１の電源端子Ｐ１に供給される電源信号Ｓ２に応じたアナログ観測値Ｓ２’をデジタル観測値Ｓ３に変換する。 - 特許庁

Of an entangled photon pair generated by an entangled photon pair generating means 20, a signal light transmits an object (DUT) 10 to be measured, and an idler light passes through a retarder 30.例文帳に追加

エンタングル光子対生成手段２０が生成したエンタングル光子対の内、信号光は被測定物（ＤＵＴ）１０を透過し、アイドラ光は可変遅延器３０を通過する。 - 特許庁

This circuit fans out the data bit streams from the output of a device (DUT) to be inspected to a plurality of the channels of an inspection device to perform the under sampling of those bit streams.例文帳に追加

この発明の回路は被検デバイス（ＤＵＴ）の出力からのデータビットストリームを検査装置の複数チャンネルにファンアウトし、それらビットストリームをアンダーサンプリングする。 - 特許庁