「Edge Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

EDGE GRADIENT DETECTION METHOD, STAIN DEFECT DETECTION METHOD, EDGE GRADIENT DETECTION DEVICE AND STAIN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置 - 特許庁

To provide an edge defect detection method for automatically detecting edge defects appropriately.例文帳に追加

エッジ欠陥を適切に自動検出できるエッジ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The edge defect detection device 1 includes a control device 6.例文帳に追加

エッジ欠陥検出装置１は、制御装置６を備える。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING EDGE DEFECT IN GLASS PLATE例文帳に追加

ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置 - 特許庁

EDGE DEFECT DETECTING METHOD, PROGRAM OF THE SAME, AND DETECTOR例文帳に追加

エッジ欠陥検出方法、そのプログラム、および検出装置 - 特許庁

To detect a medium defect occurring at an edge.例文帳に追加

エッジに発生する媒体異常を検出することを課題とする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATION OF DEFECT IN EDGE REGION OF WAFER例文帳に追加

ウエハの縁部領域の欠陥の評価のための装置及び方法 - 特許庁

To provide an edge defect detection method and a detection device capable of detecting a defect only from a photographed image, and detecting accurately even a defect near the edge.例文帳に追加

撮像画像のみから欠陥を検出することができ、エッジ付近における欠陥であっても精度よく検出することができるエッジ欠陥検出方法、及び検出装置の提供。 - 特許庁

To prevent a bright defect caused by an alignment defect at an edge part of an open portion of a color filter with the open portion.例文帳に追加

開口部を有するカラーフィルターの開口部端部での配向不良による光抜けを防止すること。 - 特許庁

The defect is eliminated by scanning according to the cutting edge route determined by the AFM processing device.例文帳に追加

AFM加工装置で求めた刃先経路どおりに走査して欠陥を除去する。 - 特許庁

A defect detection means 84 compares the theoretical edge shape with the observed edge shape, and from a difference found by the comparison, detects a defect of the article to be inspected.例文帳に追加

欠損検出手段８４は、理論エッジ形状と実測エッジ形状とを比較することにより、その差分から円盤状の被検査物品の欠損を検出する。 - 特許庁

METHOD FOR ACQUIRING HIGH-RESOLUTION IMAGE OF DEFECT ON UPPER SURFACE OF WAFER EDGE例文帳に追加

ウエハ縁端部の上部表面の欠陥の高分解能画像を取得する方法 - 特許庁

The edge defect enhancement process applies the edge defect enhancement filter in directions D1-D3, and considers the maximum of the enhancement calculation values obtained in the directions D1-D3 as a defect enhancement value at the object pixel A.例文帳に追加

エッジ欠陥強調工程は、方向Ｄ１〜Ｄ３毎にエッジ欠陥強調フィルタを適用し、方向Ｄ１〜Ｄ３毎に得られた強調算出値の最大値をその対象画素Ａにおける欠陥強調値とする。 - 特許庁

The defect detecting section 108 compares the feature quantities in an edge section in which two edge strengths meet the conditions and determines that the pixel is the defect pixel for imaging the defect if the absolute value of the difference between two feature quantities is large.例文帳に追加

欠陥検出部１０８は、２個のエッジ強度が条件を満たすエッジ部において特徴量を比較し、２個の特徴量の差の絶対値が大きい場合に画素を欠陥を撮像した欠陥画素と判定する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING, MONITORING AND CHARACTERIZING EDGE DEFECT ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエ—ハ上のエッジ欠陥を検出、モニタ及び特徴付ける方法及び装置 - 特許庁

The edge defect detecting method of the invention is provided with the process of enhancing the edge defects at edges E1-E3 in a plurality of the directions D1-D3 in the pattern P, and obtaining edge defect enhancement values by applying an edge defect enhancement filter to a captured image.例文帳に追加

本発明のエッジ欠陥検出方法は、撮像画像にエッジ欠陥強調フィルタを適用することにより、パターンＰにおける複数の方向Ｄ１〜Ｄ３にそれぞれ沿った各エッジＥ１〜Ｅ３に係るエッジ欠陥を強調し、エッジ欠陥強調値を取得するエッジ欠陥強調工程を備える。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a surface defect of steel capable of inspecting precisely the surface defect of steel, in particular, the surface defect in an edge part (angled part) of the steel, irrespective of a slight displacement in the edge part.例文帳に追加

鋼材の表面欠陥、特に鋼材のエッジ部(角部)における表面欠陥をエッジ部の多少の変位にかかわらず精度良く検査することが可能な鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, along with an imaging apparatus, pixel defect correction method and program, capable of improving edge detection accuracy, and capable of improving defect detection accuracy.例文帳に追加

エッジ検出精度の向上を図れ、ひいては欠陥検出精度の向上を図ることが可能な画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method which can surely detect defects in an edge of a semiconductor wafer substrate.例文帳に追加

半導体ウェハ基板のエッジ部の欠陥を確実に検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

The defect part 20 is detected on the running web-shaped packing material with the defect detecting device 10, the defect display label 22 is pasted at the inside position of the wave edge (10a) near the defect part 10, and a sticking material layer is provided on the defect display label.例文帳に追加

走行するウエブ状包装材を欠点検出装置１０で不良箇所２０が検出され、その不良箇所１０近傍でウエブ端縁（１０ａ）内側の位置に貼付される欠点表示ラベル２２であって、該欠点表示ラベル２２は粘着剤層が施されている表示ラベルとしたものである。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus for a rod-like cutting tool, capable of automatizing defect inspection with high accuracy for the cutting edge face of the cutting tool.例文帳に追加

棒状切削工具の切れ刃面の欠陥検査を高精度に自動化することが可能な棒状切削工具の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

When a defect occurs in an edge subblock or a dummy subblock, a repair process is carried out with efficiency equal to that when a defect occurs in a main subblock.例文帳に追加

エッジサブブロックまたはダミーサブブロックに発生した場合、メインサブフロックで不良が発生した場合と同様の効率の救済処理を行うことができる。 - 特許庁

To preclude a subtle edge part difference from being detected as a defect candidate or a defect, when forming a pattern unavoidable on a process in an edge part, and to maintain high detection capability with respect to non-edge part defects.例文帳に追加

エッジ部においてはプロセス上不可避なパターン形成時の微妙なエッジ部差異を欠陥候補、または欠陥として検出しないようにする一方で、非エッジ部欠陥に対しては高い検出力を維持するパターン検査ができるようにする。 - 特許庁

For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.例文帳に追加

例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁

An FIB induction deposition material is deposited along the pattern edge on the CAD adjacent to the black defect part.例文帳に追加

黒欠陥部に隣接するＣＡＤ上のパターンエッジに沿ってＦＩＢ誘導成膜物を成膜する。 - 特許庁

A drum of a label sticking device sticks the label on the edge part of the planographic printing plate corresponding to a defect part.例文帳に追加

ラベル貼付け装置のドラムが、欠陥部と対応した平版印刷版のエッジ部にラベルを貼り付ける。 - 特許庁

To significantly improve the accuracy of inspection by improving the capability to extract a defect near an edge.例文帳に追加

エッジ付近の欠陥を抽出する能力を高めることで、検査の精度を大幅に向上する。 - 特許庁

To provide an edge defect detecting method for accurately detecting edge defects whose density difference between a pattern is minute without use of a reference image.例文帳に追加

基準画像を用いずに、パターンとの濃度差が微小なエッジ欠陥をも精度よく検出することができるエッジ欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

The defect and damage of the coated hard material at the edge part due to plasma generated in the formation process of the coated hard material are avoided to maintain the sharp edge of the blade part.例文帳に追加

被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避し、シャープエッジの刃部を維持できる。 - 特許庁

First, the position of at least one defect on the upper surface of the wafer edge is determined and is stored.例文帳に追加

そのため、最初にウエハ縁端部の上部表面の少なくとも１つの欠陥の位置を決定し、記憶する。 - 特許庁

To provide an electric discharge machining device that can improve machining accuracy and reduce machining defect in machining an edge of a workpiece.例文帳に追加

ワークのエッジ部の加工精度や加工欠陥を減らすことができる放電加工装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, a continuous defect region 5 for preventing undesirable edge effect is obtained on the semiconductor substrate 1.例文帳に追加

結果的に、望ましくないエッジ効果を妨げる連続的な欠陥領域(５)が半導体基板(１)に得られる。 - 特許庁

To provide an organic EL light emitting device so constituted as to reduce a short-circuit defect at the edge of a first electrode.例文帳に追加

第１の電極のエッジ部分のショート不良を低減できる構成の有機ＥＬ発光素子を提供する。 - 特許庁

To suppress erroneous determination of an edge part as a defect part, when determining the defect part by receiving light transmitted through an inspection object.例文帳に追加

検査対象物を透過した光を受光して欠陥部分を判定する場合に、エッジ部分を誤って欠陥部分として判定してしまうことを抑止すること。 - 特許庁

To accurately discriminate a defect at a pattern edge in a method for comparing a sample image with a target image and detecting the defect in the target image in units of pixel.例文帳に追加

サンプル画像とターゲット画像とを比較し、画素単位でターゲット画像の欠陥を検出する方法において、特にパターンのエッジ部における欠陥を正しく判別する。 - 特許庁

To provide the inspection equipment that inspects a defect at the edge part of a semiconductor wafer or the like, wherein the scattered light from an edge part of an object being inspected can be detected with surety.例文帳に追加

半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。 - 特許庁

To provide a method by which an engraving edge is not injured with respect to an effective elimination method of an engraving defect, in particular, a cap.例文帳に追加

彫刻欠陥、特にキャップの効果的な除去方法であって、彫刻エッジを損傷しない方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method of suppressing peeling at and the occurrence of a defect to an edge of a substrate during bonding of a hetero-substrate.例文帳に追加

ヘテロ基板の貼り合わせ時に基板のエッジにおける剥離と欠陥の発生を抑制する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polymer compound which is used for photoresists and is excellent in line edge roughness resistance, pattern collapse resistance, development defect resistance, dry etching resistance and the like.例文帳に追加

ラインエッジラフネス、パターン倒れ、現像欠陥、ドライエッチング耐性等に優れたフォトレジスト用高分子化合物の提供。 - 特許庁

To provide an edge cutting device which realizes elimination of a useless trial cutting work for determining edge cutting amount when cutting an edge of a booklet, prevention of generation of a useless booklet due to a cutting defect, a quick determination of proper edge cutting amount, and the like.例文帳に追加

冊子の小口を断裁する際の小口断裁量を決定するための無駄な試し切り作業の排除、断裁不良による無駄な冊子の発生防止、適正な小口断裁量の迅速な決定等を実現可能にする小口断裁装置を提供する。 - 特許庁

The edge defect enhancement filter determines respectively each difference between an object pixel selected in the imaged image and each comparison pixel arranged separately from the object pixel as long as a prescribed distance, and the smallest value among the values is used as the edge defect enhancement value.例文帳に追加

エッジ欠陥強調フィルタは、撮像画素において選択された対象画素と、対象画素から所定距離だけ離れて配置された各比較画素との差をそれぞれ求め、これらの値のうち、最も小さい値をエッジ欠陥強調値とする。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

Each of the blind boards is driven by drive mechanism 41, 43 so that shadow of each edge settled in pin hole defect-free region PFA.例文帳に追加

各ブラインド板は、各エッジの影がピンホール欠陥フリー領域ＰＦＡに収まるように、駆動機構４１、４３で駆動される。 - 特許庁

Thus, the black point defect at the edge part of the liquid crystal pixel can be detected accurately, without being affected by the black matrix 12.例文帳に追加

そのため、ブラックマトリックス１２による影響を受けることなく、エッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる。 - 特許庁

The edge of a semiconductor wafer is inspected using the imaging method to find the defect position and the form in this way.例文帳に追加

半導体ウェハのエッジをイメージング方法を用いて検査し、エッジ上の欠陥の位置および形状をこのようにして求める。 - 特許庁