「Edge Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an apparatus to detect defects on the upper surface (6a), the edge surface (6b) and the lower surface (6c) in the edge portion of a wafer (6) by a simple method, and a defect image picking-up method.例文帳に追加

ウエハ（６）縁部の上部表面（６ａ）、端面（６ｂ）及び下部表面（６ｃ）の欠陥を簡単な方法で検査できる装置及び欠陥画像撮像方法を提供すること。 - 特許庁

To suppress the occurrence of an image quality defect accompanied by an output of an image signal caused by edge emphasis processing, and to suppress the deterioration of productivity caused by the edge emphasis processing.例文帳に追加

エッジ強調処理による過剰な画像信号の出力に伴う画質不良の発生を抑制し、且つ、エッジ強調処理に起因する生産性の低下を抑制する。 - 特許庁

Since the sign of the luminance information of the image is inverted by the sum-of-squares processing, a bright ring-like image part is formed along the periphery of the edge of the defect, and the image of the defect free from directivity is picked up.例文帳に追加

２乗和処理により、画像の輝度情報の符号が反転するので、欠陥のエッジの周囲にそって明のリング状の画像部分が形成され、方向性の無い欠陥像が撮像される。 - 特許庁

To suppress deterioration of resolution by erroneous correction by suppressing defect correction at an edge of an image pattern.例文帳に追加

画像パターンのエッジではキズ補正を抑制することで誤補正による解像度低下を抑制することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide an edge sensor capable of certainly detecting a defect such as a chip or crack occurring in a transparent or translucent object.例文帳に追加

透明または半透明の物体に生じた欠けやひび割れ等の欠陥を確実に検出することのできるエッジセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a technique for easily and properly evaluating occurrence of a defect caused by a contact existing at an edge of a wafer.例文帳に追加

ウェーハの端部に存在する接触に起因する欠陥の発生を容易且つ適切に評価することのできる技術を提供する。 - 特許庁

Thus, defect and damage of the coated hard material at the edge part due to plasma generated in the forming process of the coating hard material, is prevented.例文帳に追加

これにより被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避する。 - 特許庁

To provide a transfer blade which has a coating layer, is free of an image defect and the wear of a blade edge and makes the coating layer hardly peelable.例文帳に追加

コーティング層を備えた転写ブレードであって、画像不良やブレードエッジの磨耗がなく、コーティング層の剥離し難いものを提供する。 - 特許庁

To provide a wheel cutter for brittle materials in which neither chips nor the edge defect of a incision line easily generates when forming a rib mark.例文帳に追加

リブマーク形成時に切り粉や切込みラインの角欠けが発生し難い脆性材料用のホイールカッターを提供しようとするもの。 - 特許庁

To provide a plasma etching processing method capable of reducing a work defect in the terminal edge of a large diameter wafer and raising production yield.例文帳に追加

大口径ウエハの最エッジ部での加工不良を低減し、生産歩留まりを向上できるプラズマエッチング処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a round tooth for cutting, a tool for cutting and a cutting device of low costs providing a favorable tape edge cut in a cut part without producing a high edge defect or an unequal elongation defect in a cut surface when cutting a film like strip object such as a thin magnetic tape with a smooth surface.例文帳に追加

薄く表面の平滑な磁気テープのようなフィルム状の帯状物を切断するときに、その切断面にハイエッヂ不良及び片伸び不良が生じることはなく、切断部におけるテープエッヂ切れが良好でかつ低コストの切断用丸刃、切断用工具及び切断装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate defect occurrence by a phosphor part edge sealing and a terminal part edge sealing of a flexible circuit board, to shorten the sealing process time, to enlarge pixel region, to eliminate image defects, and to enhance durability.例文帳に追加

蛍光体端部封止およびフレキシブル回路基板の端子部端部封止での欠陥発生をなくし、封止工程時間を短縮し、画素領域を拡大し、画像欠陥をなくし、耐久性を高める。 - 特許庁

Consequently, the deformation of the lower surface edge of the Si layer 2 due to the oxidation hardly occurs, so that generation of leakage current caused by the defect generated by the deformation of the lower surface edge of the Si layer 2 can be suppressed.例文帳に追加

そのため、Ｓｉ層２の下面エッジ部の酸化による変形が起こりにくくなり、Ｓｉ層２の下面エッジ部が変形して欠陥が生じることによるリーク電流の発生を抑制できる。 - 特許庁

To provide a method for correcting a photomask deficiency defect by which an FIB (focused ion beam) correction device can be used as a tool to correct a minute edge deficiency defect portion in a circuit pattern part, the deficiency defect region of the circuit pattern part is subjected to vapor deposition with high accuracy, and the photomask having excellent cleaning durability can be obtained.例文帳に追加

回路パターン部の微小なエッジ欠損欠陥部を修正するツールとしてＦＩＢ修正装置を用いることができ、精度良く回路パターン部の欠損欠陥領域に蒸着するとともに、フォトマスクの耐洗浄性に優れたフォトマスク欠損欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To suppress a defect such as bleeding or burr at a silver wire edge part of a conductive material by local runaway of developing after developing processing.例文帳に追加

現像処理後に、現像の局部暴走により導電性材料の銀線エッジ部ににじみ、ギザギザ等の欠陥が発生することを抑制する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer inspection device for detecting a defect such as a crack occurred in a silicon wafer, especially in its edge, surely at high speed.例文帳に追加

シリコンウエハー、特にそのエッジ部に生じたクラック等の欠陥を高速度でかつ確実に検出できるシリコンウエハー検査装置を提供する。 - 特許庁

To form an effective edge window structure without generation of crystal defect within waveguide in a face emitting type semiconductor laser.例文帳に追加

端面発光型半導体レーザにおいて、導波路内に結晶欠陥を発生させることなく、有効な端面窓構造を形成すること。 - 特許庁

By eliminating the step 1a from the device pattern 1 of the photomask, correction in the event of a defect at an edge thereof can be facilitated.例文帳に追加

また、フォトマスクのデバイスパターン１から段差１ａを消失させることで、そのエッジに欠陥が発生した場合の修正の容易化が図られる。 - 特許庁

To prevent an image defect caused by the faulty separation of paper from a drum because an image exists at the leading edge of paper at the time of forming a frameless image.例文帳に追加

縁なし像形成時に紙先端に画像があることで、紙のドラム分離不良起因の画像不良が発生することを防止する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detector for plate-shaped glass to detect cracks without being affected by an edge in a ground glass state even when cracks exist in any face of the plate-shaped glass.例文帳に追加

板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a melt-bonding member for obtaining a new-generation melt-bonding apparatus having improved longevity and generating little roll defect by edge attrition.例文帳に追加

寿命の向上かつエッジ磨耗によるロール不良の発生の少ない新世代融着装置を実現するための溶融部材の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition having excellent resolution and edge roughness of line pattern and hardly causing developing defect in the manufacture of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造において解像力、ラインパターンのエッジラフネスに優れ、現像欠陥の少ないポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

A defect such as a chip or crack is detected based on the variation of the first and second detection positions when the inspection part is scanned along the edge.例文帳に追加

そしてエッジに沿って検査部位を走査したときの第１および第２の検出位置の変化から欠けやひび割れ等の欠陥を検出する。 - 特許庁

When the defect of a reproducing RF signal 100 outputted from an RF amplifier 2 is detected by a defect detection circuit 8, its detection signal 400 is delayed by a rear edge delay circuit 9 to be outputted to a switch circuit 3.例文帳に追加

ＲＦアンプ２から出力される再生ＲＦ信号１００の欠陥を欠陥検出回路８が検出すると、その検出信号４００を後縁遅延回路９により遅延し、これをスイッチ回路３に出力する。 - 特許庁

To improve machining performance of a ball end mill having a center cutting edge 4a of a ball end cutting edge 4 made of hard metal and a peripheral cutting edge 4b made of a hard sintered body respectively to improve wear resistance and defect resistance, reduce cost and ease regulations in application to a tool with a small diameter.例文帳に追加

ボール刃４の中心刃４ａを超硬合金で、外周刃４ｂを硬質焼結体でそれぞれ形成して切れ刃の耐摩耗性と耐欠損性を高めたボールエンドミルの加工性能向上、コスト低減、小径工具への適用規制の緩和などを図ることを課題としている。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect of a photomask capable of acquiring an excellent cross-sectional shape at the edge part of a pattern of an absorption layer or a light blocking layer after dark defect correction, a method for manufacturing a photomask using it, and a photomask defect correction device for performing the method.例文帳に追加

本発明は、黒欠陥修正後、吸収層または遮光層のパターンの端部にて良好な断面形状が得られるフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法、それを実施するためのフォトマスクの欠陥修正装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a bonded silicon wafer that automatically detects and eliminates a sticking defect such as a void even if there is the bonding defect in a peripheral edge region of the bonded silicon wafer, and to provide a device for manufacturing the bonded silicon wafer that can automatically eliminate the bonding defect.例文帳に追加

貼り合わせシリコンウェーハの周縁領域にボイド等の貼り合わせ欠陥があったとしても、かかる貼り合わせ欠陥を自動的に検出し、消失させることが可能な貼り合わせシリコンウェーハの製造方法及び、貼り合わせ欠陥を自動的に消失可能な貼り合わせシリコンウェーハ製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display unit and its defect repair method which can repair a defect place relatively easily if the distance from a display part to an edge of a substrate is short and a defect due to a short circuit between a storage capacity bus line batch electrode and a gate bus line crossing it occurs.例文帳に追加

表示部から基板の縁までの距離が小さく、且つ、蓄積容量バスライン一括電極とそれに交差するゲートバスラインとの短絡による欠陥が発生したときに比較的簡単に欠陥個所を修復することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁

To avoid the occurrence of a defect at a divided edge and to prevent divided material and a small piece of glass due to edge removal and terminal part formation from being left behind in a conveying path for a liquid crystal panel involved in dividing a a liquid crystal panel along its cutting-plane line.例文帳に追加

液晶パネルの切断線の分断にともない、分断縁に欠損が発生しないようにすると共に、液晶パネルの搬送路に耳落しや、端子部形成による分断材、ガラスの小塊が残らないようにする。 - 特許庁

To obtain a screen printing plate which reduces a blur defect or a thin-spot defect in an edge portion of a printed pattern and forms the printed pattern having a high dimensional accuracy and little nonuniformity in the area, and a manufacturing method of an electronic component.例文帳に追加

印刷パターンのエッジ部分におけるにじみ不良やかすれ不良の発生を抑制し、寸法精度が高く面積ばらつきの少ない印刷パターンを形成することができるスクリーン印刷版及び電子部品の製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a foreign matter inspecting method and a foreign matter inspection device, for a wafer peripheral edge, which can accurately and quantitatively detect at which part of a wafer a defect is present and how large the defect is, and how large the foreign matter is and on which part the foreign matter sticks.例文帳に追加

ウェハのどの部分にどの程度の大きさの欠陥があるのか、又どの程度の異物がどの部分に付着しているのかを、正確、かつ定量的に検出可能なウェハ周縁端異物検査方法、及び異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent edge seam flaws as a surface defect in the vicinities of edges stretching in the rolling direction generated in a hot rolling stage in a method for producing a ferritic stainless steel sheet.例文帳に追加

フェライト系ステンレス鋼板の製造方法において、熱間圧延過程で発生する圧延方法に延びたエッジ近傍の表面欠陥であるエッジシーム疵を防止する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a cold rolled steel strip capable of preventing a width defect and improving a yield by controlling a steel strip width before edge trimming.例文帳に追加

エッジトリム前の鋼帯幅を制御して、幅不良発生の防止および歩留の向上を図ることができる冷延鋼帯の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Reflected light from an irregular circuit pattern edge such as a logic pattern is eliminated with a simple spatial filter, thus making it possible to detect a defect on the circuit pattern with high precision.例文帳に追加

ロジックパターンのように不規則な回路パターンエッジからの反射光を簡易な空間フィルタで除去し、回路パターン上の欠陥を高精度に検出することが可能になる。 - 特許庁

To provide a curable composition for nanoimprint which causes no mold contamination or pattern defect even after repeated pattern transfer and excels in line edge roughness after dry etching.例文帳に追加

繰り返しパターン転写を行ってもモールド汚れ、パターン欠陥が発生せず、かつドライエッチング後のラインエッジラフネスに優れるナノインプリント用硬化性組成物を提供する。 - 特許庁

To maintain a favorable insulation property and to suppress the occurrence of defect at the edge part of a groove when forming the groove on a metallic film in the laminated substrate of a thin-film solar cell or the like.例文帳に追加

薄膜太陽電池等の積層基板における金属膜に溝を形成する際に、良好な絶縁性を維持し、かつ溝の端部不良を抑える。 - 特許庁

To provide a light shielding film for display device which is high in black density, has a high light shielding performance, suppresses occurrence of residue, unevenness, moire and an edge shape defect in development, and attains a clear image display of high contrast.例文帳に追加

黒濃度が高く、高度の遮光性能を有し、現像残渣やムラ、モアレ、エッジ形状の不具合の発生を抑え、高コントラストで鮮明な画像表示を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for working the edge part of a metal plate by which the formation of a defect on solder formed at a gap between a curl part and a core material can be prevented, and to provide a wind instrument.例文帳に追加

カール部と芯材の隙間に形成された半田に欠陥が形成されるのを防ぐことができる金属板の縁部加工方法および管楽器を提供する。 - 特許庁

To provide a contamination and defect inspection/observation system that can suppress a great increase of a footprint and easily perform fast, high-resolution confirmation of inspection conditions by including a sample edge portion.例文帳に追加

フットプリントの大幅な増大を抑え、エッジ部分を含む高速・高分解能で、検査条件の確認を簡便に行える異物・欠陥検査・観察システムを提供する。 - 特許庁

That is, it is unnecessary that the edge 9a of the object to be welded 9 is scanned with the laser beam, and hence a weld defect due to the deviation or the fluctuation of a scanning position does not take place.例文帳に追加

すなわち、レーザ光を溶接対象物９の縁９ａに沿って走査させる必要がないため、走査位置のズレやブレによる溶接ミスが生じない。 - 特許庁

To provide an image-forming apparatus for avoiding problems of "toner scattering" or "transfer failure" in performing "frameless print", and for solving problems of image defect and attachment of toner to an edge part caused by shaving off a toner image by a front edge of a transfer material in a conveying direction.例文帳に追加

「縁なし印刷」を行う際に、「トナーの飛び散り」や「転写抜け」の問題を防止しつつ、転写材の搬送方向先端によってトナー像が削り取られることによる画像欠損やエッジ部へのトナーの付着の問題を提供する。 - 特許庁

In this defect inspection apparatus, the inspection face of a monolithic carrier which has an outer edge in a prescribed shape and in which a regular lattice-shaped pattern is formed in a region surrounded by the outer edge is imaged by a low-magnification camera 20, and the imaged inspection face is output to a microcomputer 70 as image data.例文帳に追加

低倍率カメラ２０により、所定形状の外縁を有し、この外縁によって囲まれる領域に規則的な格子状パターンが形成されるモノリス担体の検査面を撮像し、画像データとしてマイクロコンピュータ７０に出力する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for plastic working of a metal-made member with which the metal-made member having good shape of the tip-edge part of a cylinder part 19 is stably obtained by preventing the generation of a defect, such as under-fill in the tip-edge part of the cylindrical part 19.例文帳に追加

円筒部１９の先端縁部に欠肉等の欠陥が生じる事を防止して、この円筒部１９の先端縁部の形状が良好な金属製部品を安定して得られる塑性加工方法及び塑性加工装置を実現する。 - 特許庁