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Li-Nの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 32



例文

Is to do so to decide the li lio and n ...??例文帳に追加

枡lio矿とn... のを決定する事が、 行わようにすることです? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

In this case, Mi is K-bit integer, Li is (N-K) bit integer, Mi×2N-K+Li=Ri and -2N-K/2≤Li<N-K/2.例文帳に追加

その後、グレイ値R_iは、最上位部M_iと最下位部L_iに分割されるが、ここで、M_iはKビット整数であり、L_iは(N−K)ビット整数であり、M_i×2^N-K+L_i=R_iおよび−2^N-K/2≦L_i<2^N-K/2である。 - 特許庁

To control loads Li (i=1, 2, ..., n) in a concentrated manner.例文帳に追加

負荷Li (i=1、2…n)を集中制御する。 - 特許庁

The p-type oxide semiconductor consists of oxide of group X(=II, III, IV, V) and metal-nitrogen bond composed of at least one among group Y(≤X) nitrides, for instance, Li-N, Be-N, Mg-N, Al-N, Ga-N is introduced into the p-type oxide semiconductor.例文帳に追加

X ( =II 、III 、IV 、V ) 族酸化物からなるp型酸化物半導体であって、前記p型酸化物半導体中にY ( ≦X )族窒化物のなかの少なくとも1 つ、例えばLi-N、Be-N、Mg-N、Al-N、Ga-N Aなど、からなる金属−窒素結合を導入する。 - 特許庁

例文

The process for producing free-standing III-N layer comprises depositing at least one first III-N layer 15 by means of molecular beam epitaxy on an Li(Al, Ga)O_x substrate 7, where 1≤x≤3.例文帳に追加

Li(Al, Ga)O_X基板(1≦x≦3)7上に、分子線エピタキシ法により少なくとも1つの第一のIII-N層15を堆積させる工程を備える。 - 特許庁


例文

The thickness of the lithium film 28 is set at such a thickness that the incident proton beam loses its energy to a threshold value of the Li(p, n) reaction or lower before being output from the lithium film 28.例文帳に追加

リチウム薄膜28の厚さを、入射した陽子ビームが当該リチウム薄膜28から出射するまでの間に、そのエネルギーがLi(p,n)反応の閾値以下に低下させる厚さに設定する。 - 特許庁

As the solid solution elements other than N, He, Li, B, C, O, Ne, Mg, P, S, Ar, V, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Sn, Hf, Ta and W can be cited.例文帳に追加

N以外の固溶元素としては、He,Li,B,C,O,Ne,Mg,P,S,Ar,V,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Nb,Mo,Sn,Hf,Ta,及びWがある。 - 特許庁

The error Ej of the focus pixel is stored as a value obtained by adding Li and 2N-K/2 being an error bias D.例文帳に追加

フォーカスピクセルの誤差E_jは、L_iと誤差バイアスDである2^N-K/2を加算したものとして記憶される。 - 特許庁

As the solid solution elements other than N, He, Li, B, C, O, Ne, Mg, P, S, Ar, Ti, V, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Sn, Hf, Ta and W are given.例文帳に追加

N以外の固溶元素としては、He,Li,B,C,O,Ne,Mg,P,S,Ar,Ti,V,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Nb,Mo,Sn,Hf,Ta,及びWがある。 - 特許庁

例文

During cooling of the structure 15 and 17 produced in this way, the Li(Al, Ga)O_x substrate 7 completely or largely flakes off the III-N layers 15, or residues 7' can be removed if necessary, by using etching liquid, such as aqua regia.例文帳に追加

このようにして製造された層15、17の冷却中、Li(Al, Ga)O_X基板7は全てあるいは大部分がIII-N層15から脱落し、必要ならば、王水などのエッチング液により残留物7’を除去する。 - 特許庁

例文

Alternatively, the BeMgZnSe clad layer or the ZnMgSSe clad layer is doped with Cl, Br, or I as an n-type dopant together with Li as a p-type dopant, wherein the ratio of Cl, Br, or I to Li is set at 0.1 to 0.7:1.例文帳に追加

またはp型ドーパントであるLiに、n型ドーパントのCl、Br、Iを0.1〜0.7の割合でBeMgZnSeクラッド層あるいはZnMgSSeクラッド層に共ドープする。 - 特許庁

The n-type semiconductor diamond contains Li and N in an amount of10 ppm, respectively, at the same depth from the crystal surface and has a sheet resistance of10^7 Ω/square.例文帳に追加

本発明のn型半導体ダイヤモンドは、LiとNが結晶表面から同じ深さにそれぞれ10ppm以上含有しており、シート抵抗が10^7Ω/□以下である。 - 特許庁

A luminance comparison part 26 calculates the luminance mean value Lx of the whole image data and luminance mean values Li (i=1 to n) of the respective pieces of partial image data.例文帳に追加

輝度比較部26は、画像データ全体の輝度平均値Lxと、各部分画像データの輝度平均値Li(i=1〜n)とを算出する。 - 特許庁

The nonaqueous electrolyte secondary battery comprises a positive electrode mix containing a positive active material and lithium carbonate and an electrolyte containing LiPF6 and further at least one kind selected from the groups of LiBF4, imide-based lithium salt and Li(C2F5)nPF6-n (n=1 to 6).例文帳に追加

非水電解質二次電池において、正極合剤が正極活物質と炭酸リチウムを含み、電解液がLiPF_6を含み、さらにLiBF_4、イミド系リチウム塩、Li(C_2F_5)_nPF_6-n(但し、n=1〜6)からなる群から選ばれた少なくとも一種を含む。 - 特許庁

The location of the defective part of a relay transmission system 100, having plural relay systems Yi(i=1 to n) serially connected through outgoing transmission lines Li(i=0 to n) and incoming transmission lines Ui(i=0 to n) is executed by a maintenance testing device X and a maintenance return device Z.例文帳に追加

下り伝送路L_i (i=0、〜n)と上り伝送路U_i (i=0、〜n)により直列接続された複数の中継装置Y_i (i=1、〜n)を有す中継伝送システム100の障害箇所の特定を、保守試験装置Xと保守折返装置Zとで実行する。 - 特許庁

In the formula, XI is a halogen ion or a pseudo-halogen ion other than a cyanate ion; LI is an arbitrary ligand different from XI; n is an integer of 3-5; and m is an integer of -4 to +1.例文帳に追加

(I)[IrX^I_nL^I_(6-n)]^m-(X^Iは、ハロゲンイオンまたはシアン酸イオン以外の擬ハロゲンイオンを表す。L^IはX^Iとは異なる任意の配位子を表す。nは3〜5の整数を表す。mは−4〜+1の整数を表す。) - 特許庁

In the corrosion prevention method for a metal thermal spraying face, the thermal spraying face of metal selected from zinc, aluminum and a zinc/aluminum pseudo alloy is coated with an alkali aqueous solution consisting mainly of an alkali silicate (M_2O-nSiO_2); wherein, M is any one element selected from Na, K, Li and Cs, and also, n is 1 to 5.例文帳に追加

亜鉛、アルミ、及び亜鉛/アルミ擬合金から選択される金属溶射面に、ケイ酸アルカリ(M_2O・nSiO_2)〔但し、式中Mは、Na、K、Li、Csのいずれかであり、かつnは、1乃至5である。 - 特許庁

This solar cell 100 includes: a p-type semiconductor layer 7 formed of nickel oxide doped with Li, and formed by a sputtering method; and an n-type oxide semiconductor layer 3 joined to the p-type semiconductor layer 7.例文帳に追加

Liによってドープされた酸化ニッケルから構成され、スパッタ法により形成されたp型半導体層7と、該p型半導体層7と接合したn型酸化物半導体層3と、を備える太陽電池100。 - 特許庁

The protective film treating agent is obtained by incorporating an alkali silicate to be represented by the formula: M_2O.nSiO_2 [wherein n is a number of 2-9; and M is at least one kind of Na, K, Li, and NR_4 (wherein R is an alkyl group)] into water.例文帳に追加

式M_2O・nSiO_2(式中、nは2〜9の数を表し,MはNa,K,LiおよびNR_4(式中、Rはアルキル基を表す)の少なくとも1種を表す)で表されるケイ酸アルカリを水に配合してなる保護皮膜処理剤。 - 特許庁

In the corrosion prevention method for a galvanized face, an alkali aqueous solution consisting mainly of an alkali silicate (M_2O-nSiO_2) is applied on either or both of a galvanized face and a galvanized face in which white rust is generated; wherein, M is Na, K, Li or Cs, and n is 1 to 5.例文帳に追加

亜鉛メッキ面及び白錆の発生した亜鉛メッキ面の一方又は両方に対して、ケイ酸アルカリ(M_2O・nSiO_2)〔但し、式中Mは、Na、K、Li、Csのいずれかであり、かつnは、1乃至5である。 - 特許庁

The nitrogen-containing carboxylic acid derivative is represented by general formula (I): Rf^1CH_2CH(OH)CH_2NH(CH_2)nCOOM (I) [wherein, M is H, NH_4, Li, Na or K; Rf^1 is a 3-6C fluoroalkyl group; (n) is 1 or 2].例文帳に追加

下記一般式(I)Rf^1CH_2CH(OH)CH_2NH(CH_2)nCOOM (I)(式中Mは、H、NH_4、Li、Na又はKを示し、Rf^1は、炭素数が3〜6のフルオロアルキル基を示し、nは、1または2を示す。)で表される含窒素カルボン酸誘導体。 - 特許庁

The layered tin oxide is expressed by M_x/nM'_x/3Sn_1-x/3O_2 (wherein, M is a cation, an amine based organic compound having a positive charge or a high-molecular cation; n is the valence of M; M' is Li^+ or H^+; and x is the numerical value of 0.60 to 0.80).例文帳に追加

M_x/nM′_x/3Sn_1-x/3O_2(但し、Mは陽イオン、陽電荷を有するアミン系有機化合物あるいは高分子系カチオン、nはMの価数、M′はLi^+またはH^+であり、xは0.60〜0.80の数値)で示されることを特徴とする層状スズ酸化物とする。 - 特許庁

The half ester compound is represented by general formula (I): MOOC(CF_2)_nCOORf (I) (wherein, M is H, NH_4, Li, Na or K; n is an integer of 2-3; and Rf is a 4-6C alkyl group or alkylate group consisting of C, F and O as constituent components).例文帳に追加

下記一般式(I)MOOC(CF_2)_nCOORf (I)(式中Mは、H、NH_4、Li、Na又はKを示し、n=2〜3の整数、RfはC、F、Oを構成成分とする、炭素数が4〜6のアルキル基またはアルキレート基を示す。)で表されるハーフエステル化合物。 - 特許庁

In the formula, A is one or more selected from the group consisting of alkali metals (Li, Na, K, Rb, Cs), alkaline earth metals (Mg, Ca, Sr, Ba) and NH_4; n is 1 when A is an alkali metal or NH4, or 2 when A is an alkaline earth metal.例文帳に追加

ただし、Aは、アルカリ金属(Li、Na、K、Rb、Cs)、アルカリ土類金属(Mg、Ca、Sr、Ba)およびNH_4からなる群から選ばれる1種以上であり、nは、Aがアルカリ金属またはNH_4の場合は1であり、Aがアルカリ土類金属の場合は2である。 - 特許庁

In the formula, A is one or more selected from the group consisting of alkali metal (Li, Na, K, Rb, Cs), alkaline earth metal (Mg, Ca, Sr, Ba) and NH_4, and n is 1 when A is alkali metal or NH_4, and is 2 when A is alkaline earth metal.例文帳に追加

ただし、Aは、アルカリ金属(Li、Na、K、Rb、Cs)、アルカリ土類金属(Mg、Ca、Sr、Ba)およびNH_4からなる群から選ばれる1種以上であり、nは、Aがアルカリ金属またはNH_4の場合は1であり、Aがアルカリ土類金属の場合は2である。 - 特許庁

In this case, (A) represents one or more kinds selected from a group consisting of alkaline metals (Li, Na, K, Rb, and Cs), alkaline earth metals (Mg, Ca, Sr, and Ba), and NH_4, n is 1 if (A) is an alkaline metal or NH_4, and is 2 if (A) is an alkaline earth metal.例文帳に追加

ただし、Aは、アルカリ金属(Li、Na、K、Rb、Cs)、アルカリ土類金属(Mg、Ca、Sr、Ba)およびNH_4からなる群から選ばれる1種以上であり、nは、Aがアルカリ金属またはNH_4の場合は1であり、Aがアルカリ土類金属の場合は2である。 - 特許庁

The impurity is removed by subjecting a solution state obtained by dissolving the aryl(di)ethynylbenzoic acid and/or the salt thereof, represented by general formula (1) [wherein, Ar is an aromatic hydrocarbon group; n is 1 or 2; and M is H, Li, Na or K] in water and/or a protic solvent to an absorbent treatment.例文帳に追加

下記一般式(1)で表されるアリール(ジ)エチニル安息香酸及び/又はその塩〔Ar:芳香族炭化水素基;n=1〜2、M:H、Li、Na、K〕を、水及び/又はプロトン性溶媒に溶解した溶液状態において吸着剤処理し、不純物を除去する。 - 特許庁

The surfactant comprises a fluorine-containing phosphoric acid derivative defined by the following formula: (i) Rf-(CH_2)_n-PO(OM)_2 wherein M represents NH_4, Li, Na, K or H; n represents an integer of 1 to 3; and Rf represents an alkyl having 1 to 6 carbon atoms and one or more fluorine atoms.例文帳に追加

下記一般式(i)Rf−(CH_2)_n−PO(OM)_2 (i)(式中、Mは、NH_4、Li、Na、K又はHを表す。nは、1〜3の整数を表す。Rfは、フッ素原子を1つ以上有する炭素数1〜6のアルキル基を表す。)で表される含フッ素リン酸誘導体からなることを特徴とする界面活性剤。 - 特許庁

In the partially or fully semi-insulated or p-doped ZnO substrate, when the substrate is, in particular, in the form of a thin layer or film, or a nanowire and is simultaneously doped with an element selected from Na, Li, K and Rb, together with N and O, ZnO or GaN can epitaxially grow on the substrate.例文帳に追加

部分的に又は完全に半絶縁性又はp型ドーピングされたZnO基板であって、基板が、特に薄層、薄膜の形態またはナノワイヤーの形態であり、基板が、Na、Li、K及びRbから選択される元素、N及びOが同時にドーピングされ、それは、さらにZnOまたはGaNにおいてこの基板上におけるエピタキシャル成長を可能にし得る。 - 特許庁

The method for producing an N-alkylborazine comprises a step for feeding an alkali borohydride represented by ABH_4 (A is Li, Na or K) into a reactor vessel, and a step for reacting the alkali borohydride with an alkylamine salt in a solvent by gradually feeding the alkylamine represented by RNH_3X (X is a halogen).例文帳に追加

反応容器中にABH_4(Aは、リチウム原子、ナトリウム原子またはカリウム原子である)で表される水素化ホウ素アルカリを仕込む段階と、前記反応容器に、RNH_3X(Rはアルキル基であり、Xはハロゲン原子である)で表されるアルキルアミン塩を徐々に供給して、溶媒中で水素化ホウ素アルカリとアルキルアミン塩とを反応させる段階とを含む、N−アルキルボラジンの製造方法である。 - 特許庁

This sputtering target, having10^-4 to 1.5×10^4 Ω.cm for electrical resistivity at 25°C, is obtained by sintering a raw material mixture, containing substantially ZnS and at least one dopant element selected from the group consisting of Al, In, Ag, Cu, N, Li, Na and Cl.例文帳に追加

実質的にZnSと、Al、In、Ag、Cu、N、Li、Na及びClからなる群から選択される少なくとも1種のドーパント元素とを含有する原料混合物を焼結して得られるターゲットであって、該ターゲットの25℃における電気抵抗率が1×10^−4〜1.5×10^4Ω・cmであることを特徴とする、DCスパッタリングの可能な光ディスク保護膜用スパッタリング・ターゲット、さらには、これらを用いて作成した光ディスク保護膜により提供。 - 特許庁

例文

In formula (1), R_1, R_2, and R_3 are each a 1 to 4C alkyl group; m is desirably an integer of 0 to 5; n is desirably an integer of 3 to 10; and M is desirably Li.例文帳に追加

工程1:下式(1)で表される化合物の存在下に、共役ジエンモノマー又は共役ジエンモノマーと芳香族ビニルモノマーとを重合させて、アルカリ金属末端を有する活性重合体を製造する工程工程2:該活性重合体と、下式(2)で表されるヘテロ環化合物を反応させて、両末端が変性された変性重合体ゴムを製造する工程式(1)において、R_1、R_2及びR_3はC1〜C4のアルキル基が、mは0〜5の整数が、nは3〜10の整数が、MはLiが好ましい。 - 特許庁




  
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