「SCAN OPERATION」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The control means performs a second AF scan operation different from the first AF scan operation by performing an AF scan operation to carry out a focusing operation in photographing preparation.例文帳に追加

制御手段は、撮影準備時に、ＡＦスキャン動作を行い合焦動作を実施して第１のＡＦスキャン動作と異なる第２のＡＦスキャン動作を行う。 - 特許庁

To prevent occurrence of erroneous operation in a scan test circuit.例文帳に追加

スキャンテスト回路での誤動作の発生を防止する。 - 特許庁

The images of the ct scan 3 hours after the operation was erased on purpose.例文帳に追加

オペ終了 3時間後からの CT検査画像が➡ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

OPERATION OF HARDWARE CONTROL STATUS RESISTOR BY BOUNDARY SCAN例文帳に追加

バウンダリスキャンによるハードウェアコントロールステータスレジスタの操作 - 特許庁

The control means performs a second AF scan operation different from the first AF scan operation to perform focus adjusting operation when performing the image-taking preparation operation.例文帳に追加

制御手段は、撮影準備時に、第１のＡＦスキャン動作と異なる第２のＡＦスキャン動作を行って合焦動作を実施する。 - 特許庁

To visualize a JTAG boundary scan operation in real time.例文帳に追加

ＪＴＡＧバウンダリスキャン操作をリアルタイムに可視化する。 - 特許庁

The scan chain selection circuit controls the scan sub-chains so that the scan sub-chains for simultaneously performing scan operation belong to any first group.例文帳に追加

スキャンチェーン選択回路は、同時にスキャン動作するスキャンサブチェーンが、いずれかの第１種のグループに属するものとなるように、スキャンサブチェーンを制御する。 - 特許庁

To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加

スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁

At least a given one of the scan cells of the scan chain comprises output control circuitry which is configured to disable a functional data output of the scan cell in the scan shift mode of operation and to disable a scan output of the scan cell in the functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンチェーンのスキャンセルの少なくとも所与の１つは、スキャンシフト動作モードではスキャンセルの機能データ出力をディスエーブルし、機能動作モードではスキャンセルのスキャン出力をディスエーブルするように構成された出力制御回路を備える。 - 特許庁

The system is connected to the scan chain for operation so that a single scan data from the utility buffer is injected into the scan chain.例文帳に追加

システムは、ユーティリティバッファからの単一のスキャンデータをスキャンチェーンに注入するために、スキャンチェーンに動作可能に接続される。 - 特許庁

During preparation for photography, the second operation to perform focusing operation by performing the AF scan operation is carried out.例文帳に追加

撮影準備時に、ＡＦスキャン動作を行って合焦動作をする第２の動作を実施する。 - 特許庁

To perform an image reading operation which is specialized in a calibration scan when the calibration scan is instructed.例文帳に追加

キャリブレーションスキャンが指示された場合に、キャリブレーションスキャンに特化した画像読み取り動作を行う。 - 特許庁

Each time the user performs a scan operation, addition to a scan execution frequency counter is carried out (S105).例文帳に追加

ユーザがスキャン動作を行う度に、スキャン実行回数カウンタへの加算を行なう（Ｓ１０５）。 - 特許庁

To reduce instantaneous voltage droop (IVD) during a scan shift operation.例文帳に追加

スキャンシフト動作中の瞬時電圧ドループ（ＩＶＤ）を低減する。 - 特許庁

To prevent racing in scan operation without a MIN guaranty gate.例文帳に追加

スキャン動作時のレーシングをＭＩＮ保証ゲートなしに防止する。 - 特許庁

Dual scan operation becomes possible with a simple drive circuit constitution.例文帳に追加

簡単な駆動回路の構成で、デュアルスキャン動作が可能になる。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR PERFORMING SCAN OPERATION例文帳に追加

スキャン演算を遂行するシステム、方法、及びコンピュータ・プログラムプロダクト - 特許庁

When the instructions for deciding the in-focus position is given, the control means performs second scan operation different from the first scan operation, so as to perform focus adjusting operation.例文帳に追加

制御手段は、合焦位置確定指示がなされた場合は、第１のスキャン動作とは異なる第２のスキャン動作を行って合焦動作を行う。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for easy and inexpensive execution of actual operation speed scan test.例文帳に追加

簡易かつ安価に実動作速度スキャンテストを実行することが可能なスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

The wireless LAN terminal 10 does not keep a scan pause time constant, the scan pause time being a time from one scanning operation to a succeeding scan operation, but extends the scan pause time as the number of scan operation times increases in the case of carrying out an automatic assignment operation repeating the scan operations for searching a connection destination AP.例文帳に追加

無線ＬＡＮ端末装置１０は、接続先のＡＰを探索するためのスキャン動作を繰り返す自動帰属動作が行われる際に、スキャン動作が行われてから次のスキャン動作が行われるまでの時間であるスキャン休止時間を、一定時間のままとするのではなく、スキャン動作が行われる回数が増加するにともない長くする。 - 特許庁

A dummy flip-flop operating only at the scan test time is connected to the scan chain, and shift-out by the scan chain can not be performed at the ordinary operation time.例文帳に追加

またスキャンチェーンに、スキャンテスト時のみ動作するダミーフリップフロップを接続し、通常動作時にスキャンチェーンによるシフトアウトができないようにする。 - 特許庁

Thus, the several sets of operation conditions are stored in a batch by one time scan so that the operation conditions can be changed in the middle of the next scan.例文帳に追加

１回のスキャンで、複数セットを一括して格納することにより、次のスキャンの途中で動作条件を変えることができる。 - 特許庁

When the state of the light amount control means is changed during the first scan operation, the control means interrupts the first scan operation.例文帳に追加

制御手段は、第１のスキャン動作中に光量制御手段の状態が変化した場合は、第１のスキャン動作を中断する。 - 特許庁

In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加

走査移動フェーズ３２０では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test circuit capable of adjusting the SCAN operation period by a simple means.例文帳に追加

簡単な手段でSCAN動作期間を調整することができる半導体素子テスト回路を提供することにある。 - 特許庁

Timing to perform the back scan or DF operation is monitored and after the back scan or DF is operated, the fixing device is turned on.例文帳に追加

２．バックスキャンやＤＦ動作のタイミングを監視し、バックスキャンやＤＦが動作した後に定着器をＯＮする。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop capable of reducing the number of transistors without introducing a deterioration of an operation speed at the normal operation, and to provide a scan test circuit using this scan flip-flop.例文帳に追加

通常動作時の動作速度の低下を招くことなくトランジスタ数を削減することのできるスキャンフリップフロップ、およびこのスキャンフリップフロップを用いるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

An operation control system (22) directs a pre-operation block (21) a switching of going way scan and returning way scan by signal (α), and performs an operation for detecting the focus for every pixel during the reciprocal scan by using the recorded data in the third memory (M3).例文帳に追加

演算制御系(22)は、往路走査と復路走査との切替を信号(α)で前演算ブロック(21)に指示し、第３メモリ(M3)の記録データを用いて往復走査中に焦点検出のための演算を画素毎に行う。 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING SEARCH OPERATION AND VIDEO RECORDER BY HELICAL-SCAN PROCESS例文帳に追加

サーチ動作を制御する方法およびヘリカルスキャンプロセスによるビデオレコーダ - 特許庁

To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加

ＬＳＳＤスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト（実動作テスト、At speed test）を実現する。 - 特許庁

The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁

To prevent the power consumption accompanying the change of scan pass output in the general operation of a scan flip-flop circuit.例文帳に追加

スキャンフリップフロップにおいて、通常動作時における、スキャンパス出力の変化に伴う、消費電力の発生を防止する。 - 特許庁

A network protocol is used to implement both the scan-to-application and scan-to-file operation.例文帳に追加

このスキャンからアプリケーションおよびスキャンからファイルへのオペレーションの両方をインプリメントするためにネットワーク・プロトコルが用いられる。 - 特許庁

To provide a scan test method capable of readily performing scan test between chips at actual operation timing of each chip.例文帳に追加

各チップの実動作タイミングでチップ間のスキャンテストを簡単に行うことができるスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

SCAN DETECTOR OF X-RAY CT APPARATUS, AND SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加

Ｘ線ＣＴ装置のスキャン検出装置及びそのシステムと運行方法 - 特許庁

If the same result is obtained in the following abnormality scan operation, detection operation is performed for 'circuit abnormality'.例文帳に追加

そして次の異常スキャン動作でも同じ結果が得られたときには「回路異常」の検出動作を行う。 - 特許庁

To provide a key scan circuit which needs little electric current to work and performs stable operation.例文帳に追加

消費電流が少なく、かつ安定動作するキースキャン回路を提供する。 - 特許庁

By repeating the above operation, the voltage of the scan electrode is gradually reduced.例文帳に追加

上記動作が繰り返されて，走査電極の電圧が徐々に減少する。 - 特許庁

By performing this unit scan operation, the quality of printing results increases.例文帳に追加

こうすることによって、印刷結果の品質を高いものにすることができる。 - 特許庁

To prevent even an operation unit, too, from being opened by reducing the impact to a scan unit when the scan unit is rotated.例文帳に追加

スキャナユニットを回動させた場合にスキャナユニットにかかる衝撃を低減させて操作ユニットまでもが開くことを防止する。 - 特許庁

As a result, the apparatus improves an image quality of the plasma display panel, and increases operation efficiency of the plasma display panel driving including use of single scan rather than dual scan.例文帳に追加

デュアルスキャンではないシングルスキャンの使用を含むプラズマディスプレイパネル駆動の効率性を増加させ、画質を改善する。 - 特許庁

To register, in a digital multifunction peripheral, a preset scan and transmit button of scan settings or a transmission destination registered beforehand, through simple operation.例文帳に追加

スキャン設定や送信先を予め登録したプリセットのスキャン送信ボタンを簡単な操作でデジタル複合機に登録する。 - 特許庁

To efficiently and effectively reduce power consumption during scan shift operation of a scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテストのスキャンシフト動作時における消費電力を効率的かつ効果的に削減すること。 - 特許庁

The control means executes a first operation for identifying an object region to be focused by executing an AF scan operation before imaging preparation, and executes a second operation different from the first operation by executing the AF scan operation to execute a focusing operation in the imaging preparation.例文帳に追加

制御手段は、撮影準備前にＡＦスキャン動作を行って合焦すべき被写体領域を特定する第１の動作を行い、撮影準備時にＡＦスキャン動作を行い合焦動作を実施して第１の動作と異なる第２の動作を行う。 - 特許庁

Then, the number of skip steps is decreased for each operation of the scan button 205.例文帳に追加

また、その後、スキャンボタン２０５が操作される度に、スキップステップ数を減少させる。 - 特許庁