「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In the first place, the in-circuit test is executed relative to only the specific circuit part, and, in the case of no defective part, shift to the function test of the whole board is executed.例文帳に追加

まず特定回路部分のみについてインサーキットテストを実行し、不良箇所がないときは、ボード全部についてのファンクションテストに移行する。 - 特許庁

To directly confirm whether a power supply and a burn-in mode set signal for a burn-in test are fed to a semiconductor device at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時において、半導体装置にバーンイン試験のための電源とバーンインモード設定信号が供給されているか直接確認する。 - 特許庁

To enhance efficiency of a test in development or product assurance, trouble analysis in an evaluation environment or market and a test in debugging or fault occurrence.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

Next, the metal test piece 2 in which the plating layer 3 is formed is embedded in resin 4 to obtain a metal test piece 2 in a resin embedding and grinding process.例文帳に追加

次いで、メッキ層３を形成した金属試験片２を樹脂埋め込み・研磨工程により樹脂４に埋め込んだ金属試験片３をうる。 - 特許庁

To provide a technology for enabling a test using a scan path compression circuit in response to a power limitation in an LSI tester and a power supply noise limitation in a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタの電力制限やテスト環境での電源ノイズ制限に応じて、スキャンパス圧縮回路を用いたテストを可能にする技術を提供する。 - 特許庁

In such a test bench 1, creation of each memory model 503 in the test bench 1 is performed in parallel by designers at each access requesting origin.例文帳に追加

このようなテストベンチ１では、テストベンチ１における各メモリモデル５０３の作成を各アクセス要求元設計者によって並行して行うことができる。 - 特許庁

In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.例文帳に追加

高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To automatically register test data suitable for a test purpose in a database, in such an environment where data is registered in a database using a registration application.例文帳に追加

登録アプリケーションを用いてデータベースにデータを登録するような環境においてテストの目的に適合したテストデータを自動的にデータベースに登録する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit having a BIST circuit, which is, for example, capable of reducing imbalances in application of DC stress to memory cells when used in burn-in test.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を有するメモリテスト回路において、例えばバーンイン試験に利用する場合に、メモリセルへのＤＣストレス印加の偏りを抑制可能にする。 - 特許庁

To increase the number of word lines to be simultaneously started in a stress test.例文帳に追加

ストレステストにおいて同時に立ち上げるワード線の本数を増やす。 - 特許庁

To enhance efficiency in an evaluation test of a fast operation LSI.例文帳に追加

高速動作ＬＳＩの評価試験での効率を向上させる。 - 特許庁

AUTOMATIC COMMUNICATION TEST DEVICE OF USER'S APPARATUS IN REMOTE WATCHING SYSTEM例文帳に追加

遠隔見守りシステムにおける宅内装置の自動通信テスト装置 - 特許庁

INPUT LOAD MEASUREMENT DEVICE FOR SHOULDER PART OF DUMMY IN COLLISION TEST例文帳に追加

衝突試験用ダミーにおける肩部入力荷重計測装置 - 特許庁

SOUND OUTPUT CONFIRMATION TEST SYSTEM IN TIME SIGNAL GUIDE SERVICE例文帳に追加

時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式 - 特許庁

Test scenario information is recorded in the scenario data 112 of them above.例文帳に追加

このうち、シナリオデータ１１２には、テストシナリオ情報が記録されている。 - 特許庁

To generate a test signal having amplitude noises in a selected segment.例文帳に追加

選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号を生成する。 - 特許庁

TEST MEASUREMENT APPARATUS AND DATA ACQUISITION METHOD IN SAME例文帳に追加

試験測定装置及び試験測定装置におけるデータ取得方法。 - 特許庁

PERFORMANCE TEST METHOD FOR PRESSURE REGULATING VALVE IN GAS SUPPLY DEVICE例文帳に追加

ガス供給装置における圧力調整弁の性能試験方法 - 特許庁

At least one test magnetic memory cell (530) is also included in this device.例文帳に追加

この装置は、さらに、少なくとも１つのテスト磁気メモリセル(530)を含む。 - 特許庁

To improve the accuracy of a system test in a train operation control system.例文帳に追加

列車運行管理システムのシステム試験の精度を向上させる。 - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE OF IGNITION RELATED APPARATUS IN MULTIPLE CYLINDER ENGINE例文帳に追加

多気筒エンジンにおける着火関連機器の試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING TEST SAMPLE IN OPTICAL GRANULAR MATERIAL SORTER例文帳に追加

光学式粒状物選別機における試験サンプルの製造方法 - 特許庁

FRONT-REAR AXLE LOAD CONTROLLING METHOD IN FOUR-WHEEL DRIVE VEHICLE BENCH TEST例文帳に追加

四輪駆動車台上試験における前後軸負荷制御方式 - 特許庁

LOOP BACK TEST SYSTEM, IN-HOUSE APPARATUS, CENTER APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加

折り返し試験システム、宅内装置、及びセンター装置、並びにプログラム - 特許庁

To provide a large scale integrated circuit chip with test pins small in number.例文帳に追加

テストピンの数が少ない大規模集積回路チップを提供する。 - 特許庁

To provide early degradation detection in flash memories using test cells.例文帳に追加

テストセルを用いたフラッシュメモリの劣化の早期検出を提供する。 - 特許庁

We don't have to take an English test in the college examinations. 例文帳に追加

私たちは大学入試で英語の試験を受ける必要が無い。 - Weblio Email例文集

To provide a method of evaluating a blurring caused by video processing in a test video sequence.例文帳に追加

テスト・ビデオ・シーケンスにおけるビデオ処理によるブレを評価する。 - 特許庁

GAS JET MECHANISM FOR TEST PROBE BUILT IN SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

基板検査装置が備える検査プローブのための気体噴射機構 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁

ALUMINUM ALLOY PLATE FOR BOTTOM END OF BOTTLE TYPE CAN SUPERIOR IN SOUND TEST FITNESS例文帳に追加

打検適性に優れたボトル型缶底蓋用アルミニウム合金板 - 特許庁

To further reduce test costs in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において，テストコストの一層の低減を図る。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY NUMBER OF TESTS IN ACCELERATED TEST例文帳に追加

加速試験における必要試験個数見積もり方法および装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁

TEST CONDITION SUFFICIENCY MEASURING METHOD IN LSI LOGICAL FUNCTION VERIFICATION例文帳に追加

ＬＳＩの論理機能検証での試験条件充足測定方法 - 特許庁

To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加

半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁

An output is received in response to the performance of each subsystem test.例文帳に追加

各サブシステム・テストの実行に応答して、出力が受け取られる。 - 特許庁

In this method, heterologous test sequence is adopted for a parallel-tested die.例文帳に追加

並列にテストされるダイについて、異種のテストシーケンスを採用する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL例文帳に追加

多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PROCESSING TEST RESTART IN MAINTENANCE COMMUNICATION PROTOCOL例文帳に追加

保守通信プロトコルにおける試験再開処理方法ならびに装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁