「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To register an electronic business form file stored as test data in an electronic business form system to be distinguished from the test data.例文帳に追加

テストデータとして格納した電子帳票ファイルをテストデータと識別可能に電子帳票システムへ登録する。 - 特許庁

To provide a decoder reproducing a test subtitle included in a test subtitle stream by a normalized system, and its method.例文帳に追加

テキスト・サブタイトル・ストリームに含まれるテキスト・サブタイトルを規格化された方式で再生するデコーダを提供する。 - 特許庁

In a serial test scenario 8 of a test bench 1, a high speed serial bus model 5 is controlled, and an asynchronous high speed serial bus is simulated.例文帳に追加

テストベンチ１のシリアルテストシナリオ８で、高速シリアルバスモデル５を制御し、非同期の高速シリアルバスを模擬する。 - 特許庁

To provide a test specification preparing system in which the test specification of the program is automatically prepared by inputting a program.例文帳に追加

プログラムを入力してそのプログラムのテスト仕様書を自動作成するテスト仕様書作成システムを提供する。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

The test routine can execute a highly functional test in a system and the final product including the ASIC.例文帳に追加

そのテストルーチンは、そのＡＳＩＣを含むシステムや最終製品において高機能な試験を実施可能である。 - 特許庁

The test strip has a transfer member for facilitating migration of the sample to the reaction area in the test strip.例文帳に追加

テストストリップは、テストストリップ中の反応領域へサンプルが移動するのを容易にする転送部材を有する。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

To remove residual charges surely in a short time after insulation resistance test or withstand voltage test.例文帳に追加

絶縁抵抗試験または耐電圧試験による残留電荷を短時間で確実に除去できるようにする。 - 特許庁

To achieve high measuring precision with a reduced load of a test tape in relation to a test tape unit for coating body fluids.例文帳に追加

体液の塗布用の試験テープユニットに関して試験テープの少ない負荷で高い測定精度を達成する。 - 特許庁

To select a test case so as to efficiently perform a test in continuous integration.例文帳に追加

継続的インテグレーションにおけるテストを効率的に実施することができるようにテストケースの選択を行うこと。 - 特許庁

A pattern generating circuit of the logic chip is operated in a first test mode, to generate an internal test pattern for the memory chip.例文帳に追加

ロジックチップのパターン発生回路は、第１試験モード時に動作し、メモリチップ用の内部試験パターンを発生する。 - 特許庁

To very easily and safely apply a test load corresponding to a load in actual work to execute a load test.例文帳に追加

極めて容易にかつ安全に、実際の作業時の荷重に相当する試験荷重を加えて荷重試験を行う。 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a microporous film capable of obtaining preferable results both in a battery over charge test and an oven test.例文帳に追加

電池過充テスト及びオーブンテストの両方で良好な結果が得られる微多孔性フィルムを提供すること。 - 特許庁

To reuse a photomask for a test by enabling formation of a plurality of types of test patterns in different periods.例文帳に追加

複数種類のテストパターンを異なる時期に形成可能にできるようにしてテスト用フォトマスクを再利用する。 - 特許庁

Then, the test scenario used for correction confirmation is registered in a test scenario storage file while being interlinked with the registering work.例文帳に追加

登録作業と連動して、修正確認に使用したテストシナリオをテストシナリオ格納ファイルに登録しておく。 - 特許庁

In the JUnit test, you will test the LibClass by passing a phrase to the acrostic method and using an assertion to indicate what you think the result should be.例文帳に追加

JUnit テストでは、acrostic メソッドにフレーズを渡し、表明を使用して予測される結果を示すことで、LibClass をテストします。 - NetBeans

Copy the following code and paste it over the body tags in index.jsp:bodyform name="Test" method="post" action="SpellCheckServlet"pEnter the text you want to check:/ppptextarea rows="7" name="TextArea1" cols="40" ID="Textarea1"/textarea/ppinput type="submit" value="Spell Check" name="spellcheckbutton"/form/body 例文帳に追加

次のコードをコピーし、index.jsp の body タグにペーストします。 bodyform name=Test method=post action=SpellCheckServletpEnter the text you want to check:/ppptextarea rows=7 name=TextArea1 cols=40 ID=Textarea1/textarea/ppinput type=submit value=Spell Check name=spellcheckbutton/form/body - NetBeans

Then the test pattern is inputted from a scanning-in signal SI to perform the scanning test of the combination circuit 200.例文帳に追加

その後、スキャンイン信号ＳＩからテストパターンを入力し、組み合せ回路２００のスキャンテストを実行する。 - 特許庁

To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.例文帳に追加

デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁

To obtain a general-purpose test tube holder adaptable to various test tubes having different outer diameters in common.例文帳に追加

異なる外径を有する複数種の試験管に共通に適用可能な汎用タイプの試験管ホルダーを提供。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験方法並びにプログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

In a test mode, the isolation unit isolates the two areas, and a test voltage is supplied from the voltage supply line.例文帳に追加

テスト時に、分離部で２つの領域を分離し、電圧供給線からテスト用の電圧を供給する。 - 特許庁

To provide a D/A conversion circuit equipped with a test circuit which can easily test a function in a short time.例文帳に追加

短時間で簡単に機能を試験することができる試験回路を備えたＤ／Ａ変換回路を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT GENERATING METHOD IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路におけるテスト回路生成方法、テスト回路生成装置および半導体集積回路 - 特許庁

In the Projects window, right click the Ruby project node and select Auto Test to launch Auto Test on your project. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで Ruby プロジェクトのノードを右クリックし、「自動テスト」を選択すると、プロジェクトで「自動テスト」が起動します。 - NetBeans

You can also click the hyperlinks in the Auto Test output to go directly to the test cases that failed. 例文帳に追加

「自動テスト」の出力のハイパーリンクをクリックして、エラーが発生したテストケースに直接移動することもできます。 - NetBeans

To evaluate the operation of a base station unit under the same test condition in one-to-multi connection test.例文帳に追加

一対多対向接続試験における同一試験条件下での基地局装置動作評価を可能とすること。 - 特許庁

2) In some cases it is not clear whether the adopted data is from the vapor inhalation test or mist inhalation test.例文帳に追加

２）採用したデータが、蒸気の吸入試験であるか、ミストの吸入試験であるか不明な場合がある。 - 経済産業省

To prevent NBTI deterioration of a clock tree wiring in a wafer-level burn-in test.例文帳に追加

ウェハレベルバーンインテスト時におけるクロックツリー配線のＮＢＴＩ劣化を防止する。 - 特許庁

In the beginner’s test, there are 25 questions that must be answered in a fixed amount of time. 例文帳に追加

初級試験は25問あり，一定時間内に解答しなければならない。 - 浜島書店 Catch a Wave

To perform a failure reproduction test in a short time in computer peripheral equipment.例文帳に追加

コンピュータ周辺機器において、不具合再現試験を短時間で行うこと。 - 特許庁

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

The characteristics in a test wafer are measured to determine the characteristics in the product wafer.例文帳に追加

試験ウエハの特性を測定して製品ウエハの特性を知る事ができる。 - 特許庁

He's the son of the late martin jordan who was killed in his own illfated test flight back in 1993.例文帳に追加

父親の故マーティン・ ジョーダンは 1993年の不運な 試験飛行で死亡しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

LEAK TEST METHOD OF TESTPIECE GENERATING DEFORMATION IN SHAPE WITH CHANGE IN PRESSURE例文帳に追加

圧力変化に伴って形状変形を生じる試験体のリークテスト方法 - 特許庁

To provide an electrical connection appliance for test plug in which wiring work for test is performed easily and surely with little risk of electric shocks, and to provide an electrical test method that utilizes the electrical connection appliance for test plug.例文帳に追加

感電の危険が少なく、試験用の配線作業が容易で確実なテストプラグ用電気接続器具及びそのテストプラグ用電気接続器具を利用した電気試験方法を提供する。 - 特許庁

In response to a test case list display request, a test case is retrieved under a retrieval condition of the combination of the presently managed request and test condition item, and the obtained test cases are listed and displayed.例文帳に追加

そして、テストケース一覧表示要求に対し、現在管理しているリクエストおよびテスト条件項目の組み合わせを検索条件としてテストケースを検索し、取得したテストケースを一覧表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for reducing the increases in the number of elements associated with core test and a core test circuit, capable of realizing continuous pattern test on a core circuit, without having to increase the number of terminals required for the test.例文帳に追加

コアテストに伴う素子数の増加を抑制する半導体集積回路と、テストに必要な端子を増やさずにコア回路の連続パターンテストを可能にするコアテスト回路を提供する。 - 特許庁

In an EDS test, the test pads and the bonding pads are electrically coupled to each of corresponding probe pins of a test apparatus, so that the inner circuits and the test element group circuits are simultaneously tested.例文帳に追加

ＥＤＳテスト時に、前記テストパッドと前記ボンディングパッドにはテスト装置の対応するプローブピンが各々電気的に連結され、その結果、前記内部回路と前記テスト素子グループ回路が同時にテストされる。 - 特許庁

A contour extracting part 22 obtains the test contour of a test pattern formed on the test object 14 from the binary image and writes the test contour in the sample contour storing part 28 of a sample data storing means 26.例文帳に追加

輪郭抽出部２２は、２値画像から検査対象１４に形成されている検査パターンの検査輪郭線を求めてサンプルデータ記憶手段２６のサンプル輪郭線記憶部２８に書き込む。 - 特許庁

To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air.例文帳に追加

外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。 - 特許庁

To provide a liquid crystal film which does not cause appearance abnormality such as crack on a liquid crystal alignment layer even in a severe environmental test such as a cycle test between a high-temperature test and a high-temperature/high-humidity test.例文帳に追加

高温試験と高温高湿試験とのサイクル試験のような厳しい環境試験においても、液晶配向層にクラックなどの外観異常を発生させない液晶フィルムを提供する。 - 特許庁

To shorten a test data input time and a test result output time to quicken a scanning test, as to a scanning chain circuit used in a scanning test for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテスト時に用いるスキャンチェーン回路に関し、テストデータ入力時間及びテスト結果出力時間を短縮し、スキャンテストの高速化を図ることができるようにする。 - 特許庁