「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

Coding for a test is applied only to a position requiring a test so that a test position and bit data can exist mixedly in the same word.例文帳に追加

また、検定のためのコード化は、検定を必要とするポジションのみに適用し、同一ワード内に検定ポジションとビットデータとの混在を可能とした。 - 特許庁

When a user specifies a required test chart based on identifiers registered in the test chart list, the test chart is printed by a printing section 34.例文帳に追加

そして、テストチャートリストに登録された識別子に基づいて、ユーザが所望のテストチャートを指定した場合に、このテストチャートを印刷部３４によって印刷する。 - 特許庁

Next, a retest is automatically made according to the test condition stored in the test condition memory portion 24 with respect to the test determined to be block failure.例文帳に追加

ついで、ブロック不良と判断されたテストについて試験条件記憶部２４に格納されている試験条件に従い自動的に再試験を行う。 - 特許庁

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half.例文帳に追加

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。 - 特許庁

In test mode setting, with all channels selected by a selector 12, a test signal is inputted from a test pin 13 to the selector 12 on its subsequent state side.例文帳に追加

テストモード設定時に、セレクタ１２において全チャンネルを選択状態とし、テストピン１３からセレクタ１２の後段側にテスト信号を入力する。 - 特許庁

To preclude a data of an indefinite value from being taken from an indefinite value generation circuit into a test result compression part therefor, in a scan test using the test result compression part.例文帳に追加

テスト結果圧縮部を使用するスキャンテスト時に不定値発生回路からの不定値のデータがそのテスト結果圧縮部に取り込まれないようにする。 - 特許庁

To quickly and also accurately extract the test place of a program module being an object and to present it to a person in charge of a test when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールの試験箇所を迅速かつ的確に抽出して試験担当者に提示する。 - 特許庁

The test piece 9 has a test line 93a and a control line 93b on a sheet, the test line and control line extending in a predetermined direction crossing the scanning direction X respectively.例文帳に追加

試験片9は、テストライン93aとコントロールライン93bとを、走査方向Ｘと交差する所定方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有している。 - 特許庁

To provide a test provided with a function for realizing an access test to the same address in a memory access test by specifying the timing of instruction execution.例文帳に追加

メモリアクセス試験において同一アドレスへのアクセス試験を命令実行のタイミングを特定することで実現する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

To provide a test bench capable of saving the works of test scenario and improving efficiency, in creating the test bench.例文帳に追加

外部記憶装置へのアクセス動作モードが変わるような場合でも、テストシナリオの作業を省力化でき、テストベンチ作成の効率化が実現できるテストベンチを提供する。 - 特許庁

In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.例文帳に追加

テストケース生成装置１００において、シナリオテストケース抽出部１０４は、シナリオ入力部１０２から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time.例文帳に追加

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。 - 特許庁

In normal operation mode, both the TEST 1 for a first measurement mode signal and the TEST 2 for a second test mode signal are set at a low level.例文帳に追加

通常動作モードにおいては、第１の測定モード信号ＴＥＳＴ１および第２のテストモード信号ＴＥＳＴ２をいずれもローレベルに固定する。 - 特許庁

To obtain a load test device for a man conveyor capable of being fixed in an arbitrary position of the man conveyor during a load test of the man conveyor such as a service life test.例文帳に追加

マンコンベアの寿命試験等における負荷試験時に、マンコンベアの任意の位置に固定することができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。 - 特許庁

To improve test accuracy, while executing economically a test equivalent to an actual vehicle test, in a vibration testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両の振動試験装置において、実車両試験と同等な試験を経済的に実施可能としつつ、試験精度の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a test paper supplying method which eliminates the need for adjusting the location of the tip part of urine test paper in the case of placing the test paper to a holder of a urine analyzing device.例文帳に追加

尿分析装置のホルダーに試験紙を載置する場合に、尿試験紙先端部の位置調整を不要とする試験紙供給方法を提供する。 - 特許庁

One test strip is extracted from the apparatus, by moving one end part of the strip for test in the direction of the other strips for test.例文帳に追加

一枚の検査用細片は、当該検査用細片の端部を残りの検査用細片に向けて移動させることによって当該装置から取り出される。 - 特許庁

A noncontact energy source such as a plasma source which urges the test place on the printed-circuit board and which is attached to the end part of the test head is included in the test head.例文帳に追加

テストヘッドには、プリント回路板のテスト場所を付勢するためテストヘッドの端部に取付けされたプラズマ源といった無接触エネルギ源が含まれている。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

To realize a comprehensive and efficient program test by automatically creating a test case, and realizing automatic execution of tests in test work of a GUI program.例文帳に追加

GUIプログラムのテスト作業において、自動的にテストケースを生成し、テストの自動実行を実現することで網羅的かつ効率的なプログラムテストを実現する。 - 特許庁

To realize a test control system by dialing a special number by which a mobile terminal can execute the test in general without the need for a special test terminal.例文帳に追加

特別な試験用端末を用意することなく一般に移動端末で試験が実行できる特番発信による試験制御方式を提供する。 - 特許庁

An output signal obtained by inputting the prescribed test signal STEST to the test circuit 10 is varied in accordance with cut off or non-cut-off of the fuse 11 for cut off test.例文帳に追加

テスト回路１０に所定のテスト信号Ｓ_TESTを入力して得られる出力信号は、切断試験用ヒューズ１１の切断の有無に応じて異なる。 - 特許庁

To provide test data for allowing anyone to adequately judge good or bad of a processed result in an RIP (Raster Image Processor), a test print material, and a method of forming the test print material.例文帳に追加

誰でもがＲＩＰにおける処理結果の良否を正しく判断できるようにするためのテストデータ、テスト印刷物と、その作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of changing part of test conditions stored in a test condition file to carry out a test without executing complicated work.例文帳に追加

煩雑な作業を行わなくても試験条件ファイル格納されている試験条件の一部を変更して試験を行うことができる試験機を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program.例文帳に追加

テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。 - 特許庁

A test result information storage means 4 stores test result information set to a test result notifying frame to the present device in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

試験結果情報蓄積手段４は、自装置宛の試験結果通知フレームにセットされた試験結果情報を自装置のレジスタ群８に蓄積する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

In the Projects window, expand the SynchronousSampleApplication project node, right-click the Test node, and choose New Test Case from the pop-up menu.The New Test Case wizard opens. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「 SynchronousSampleApplication 」プロジェクトノードを展開し、「テスト」ノードを右クリックし、ポップアップメニューから「新規テストケース」を選択します。 「新規テストケース」ウィザードが開きます。 - NetBeans

If you look at the generated test class VectorsJUnit3Test.java in the editor,you can see that the IDE generated the following test class with test methods for the methods equal and scalarMultiplication.例文帳に追加

生成したテストクラス VectorsJUnit3Test.java をエディタで表示すると、次のテストクラスが equal メソッドと scalarMultiplication メソッドに対するテストメソッドとともに生成されたことがわかります。 - NetBeans

A logo test printing implementation setting part 36b sets various settings related to logo test printing and makes set contents stored in a logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

ロゴテスト印刷実行設定部３６ｂは、ロゴテスト印刷に関る諸設定を設定し、設定内容を、ロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂに記憶させる。 - 特許庁

To perform both tests of a BEST test and a scan test without mostly increasing circuit area, in a semiconductor memory device test circuit.例文帳に追加

半導体記憶装置試験回路において、回路面積の増大を殆ど招くことなく、ＢＩＳＴ試験及びスキャンテストの両方の試験を行う。 - 特許庁

Internal test control signals are generated from a small number of signals given through an address terminal when operated in a test mode by a test signal generating circuit 8.例文帳に追加

テストモード動作時アドレス端子を介して与えられる少数の信号から内部テスト制御信号をテスト信号発生回路（８）により生成する。 - 特許庁

In the semiconductor test system, the semiconductor test device 2 tests the semiconductor device 25, and outputs data related to the test to the data converting device 3.例文帳に追加

この半導体試験システムにおいて、半導体試験装置２は、半導体デバイス２５を試験し、試験に関するデータをデータ変換装置３へ出力する。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening test time by shortening frequency switching duration of test signal in a test system for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステムにおいて、テスト信号の周波数切り替え時間を短縮してテスト時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor test equipment and a semiconductor test method which can conduct a test for defects with high accuracy in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程における欠陥検出検査を高精度で行うことが可能な半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

By independently heating the upper and lower press plates, the high-temperature compression test of the test piece TP can be performed in a state that a temperature difference is provided between the upper and under surfaces of the test piece TP.例文帳に追加

このように上下圧盤を独立に加熱することで、供試体ＴＰの上下面に温度差を持たせての高温圧縮試験が可能となる。 - 特許庁

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁

Moreover, the test printing control part 38 controls each printing control part and the like in accordance with the determined test printing contents and carries out test printing including logo printing.例文帳に追加

さらに、テスト印刷制御部３８は、決定したテスト印刷内容に応じて、各印刷制御部などを制御し、ロゴ印刷を含むテスト印刷を実行する。 - 特許庁

If a leak spot P exists in the airtight test section, a change such as pressure decline or the like in the airtight test section is observed.例文帳に追加

もし、気密試験区間に漏洩地点Ｐが存在する場合、気密試験区間の圧力低下等の変化が観測される。 - 特許庁

REDUCTION GEAR WITH BUILT-IN ONE WAY CLUTCH FOR AUTOMOBILE BRAKE SPEED TEST例文帳に追加

自動車ブレーキスピードテスト用一方向クラッチ内蔵型減速機 - 特許庁

To easily perform burn-in test on a semiconductor chip as it is a bare chip.例文帳に追加

半導体チップをベアチップのまま容易にバーンイン試験をする。 - 特許庁

To improve a test coverage in image sensor inspection.例文帳に追加

イメージセンサの検査におけるテストカバー率を改善できるようにする。 - 特許庁

STEEL MATERIAL SUPERIOR IN LOCAL CORROSION RESISTANCE, AND CORROSION TEST METHOD例文帳に追加

耐局部腐食性に優れた鋼材および腐食試験方法 - 特許庁

METHOD FOR SUPPLYING SEMICONDUCTOR DEVICE TO SUBSTRATE FOR BURN-IN TEST例文帳に追加

バーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法 - 特許庁

In any test, antrodia camphorata extract has shown effectiveness.例文帳に追加

いずれの試験でも樟芝抽出物は、有効性を示した。 - 特許庁