「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve a test efficiency per socket in an aging test of memory parts and enable the aging test for a different type of memory parts as well.例文帳に追加

メモリ部品のエージングテストにおいてソケット当たりのテスト効率を改善し、異なる型式のメモリ部品についてもエージングテストを可能とする。 - 特許庁

As a result, the form 13 for the test piece in which a concrete test piece 35 is housed is smoothly pulled out when the test piece is sampled.例文帳に追加

その結果、供試体採取時、コンクリート構造体からコンクリート供試体３５を収納した供試体用型枠１３を円滑に引き抜ける。 - 特許庁

In an activation test sequence:11XX0 of a test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate an activation test sequence:11000.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の活性化テストシーケンス：１１ＸＸ０をＡＴＰＧ２１００に入力して、活性化テストシーケンス：１１０００を生成する。 - 特許庁

The test scenario management means 13 manages the test scenario, based on the order of the appearance of the scenario elements in the test scenario from the head.例文帳に追加

試験シナリオ管理手段１３では、試験シナリオにおけるシナリオ要素の先頭からの出現順序に基づいて試験シナリオを管理する。 - 特許庁

To provide a sorting device suitable for a test data distribution in consideration of the test data distribution as well as a training data distribution and improve sorting accuracy of the test data.例文帳に追加

訓練データのみならずテストデータの分布を考慮してテストデータの分布にあった分類装置を構成し、テストデータの分類精度を上げる。 - 特許庁

Test tube housing sections which house a large number of test tubes of the same kind are arranged to face each other, and a plurality of the test tube housing sections are arranged in parallel.例文帳に追加

同一種類の試験管を多数収容する試験管収容部が対向して配置され、これらが複数並列配置されている。 - 特許庁

In a test mode, pseudo input picture data S13a, a pseudo strobe signal S13b, and a test mode selection signal S13c are outputted from a test signal generating part 13.例文帳に追加

テストモードでは、テスト用信号発生部13から、擬似入力画像データS13a、擬似ストローブ信号S13b及びテストモードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁

When the test number corresponding to the index information exists in the database 400, the test number is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在する場合、このテスト番号はサブテストの結果に割り当てられる（１０６）。 - 特許庁

When the capsules 16 are at air leakage test positions, an air leakage test is performed for works put in the capsules 16 by an air leakage test mechanism 20.例文帳に追加

カプセル１６がエアリークテスト位置にある時に、カプセル１６に収容されたワークに対して、エアリークテスト機構２０によりエアリークテストが実行される。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、テストフロー２００の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報３００を維持する（１０２）。 - 特許庁

In the Projects window, expand the PartnerViewCompositeApp node, right-click the Test node,and choose New Test Case from the pop-up menu.The New Test Case wizard opens. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「PartnerViewCompositeApp」ノードを展開し、「テスト」ノードを右クリックし、ポップアップメニューから「新規テストケース」を選択します。 「新規テストケース」ウィザードが開きます。 - NetBeans

Then, the test control means 43 input again the test scenario that has failed in the test out of the test scenarios 45 input in the test simulator 41 and commands to load change means 42 to change a load applied to the multitask OS.例文帳に追加

その後、テスト制御手段43は、テストシミュレータ41に入力したテストシナリオ45の内、テスト失敗となったテストシナリオを再度テストシミュレータ41に入力すると共に、負荷変更手段42に対して上記マルチタスクOSにかかる負荷を変更するように指示する。 - 特許庁

A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.例文帳に追加

続いて、テスト効率比較ステップＳ１１１にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップＳ１１２において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁

In an ozone exposure test method and an ozone exposure test apparatus, the humidity in a test tank during the ozone exposure test of a material to be measured is adjusted to a range of ±2%RH with respect to predetermined humidity to perform an ozone exposure test.例文帳に追加

被測定試料のオゾン暴露試験を行なう間の試験槽内の湿度を所定の湿度に対して±２％ＲＨの範囲内で調整してオゾン暴露試験を行なうことを特徴とするオゾン暴露試験方法、並びにオゾン暴露装置。 - 特許庁

To provide a portable universal type line test device that can easily test lines even when many numbers of the lines of test objects exist, and can conduct the test in a short time.例文帳に追加

試験対象となる回線数が多い場合でも、回線試験が容易で、試験に要する時間が短い携帯可能なユニバーサル型回線試験器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an observing method of test allowing an attester present in a place distant from a test field to observe a test on the spot without going to the test field.例文帳に追加

試験現場から離れた場所に居る立会者が試験現場に出向くことなく、その場に居ながら試験の立会いを行うことが可能な試験の立会い方法を提供する。 - 特許庁

The test specification generating part 28 generates a test specification sheet by combining conditions described in a test factor classification table completed on the basis of the model of the test factor classification table.例文帳に追加

テスト仕様生成部２８は、テスト因子分類表の雛型に基づいて完成されたテスト因子分類表に記述された条件を組合せてテスト仕様書を生成する。 - 特許庁

To solve the problem that the timing setting of a test scenario is difficult due to any effect on an operation timing due to test relevant processing, and that a test time becomes long in performing the test of a programmable display unit.例文帳に追加

プログラマブル表示器の試験を実施する際に、試験関連処理による動作タイミングへの影響によって試験シナリオのタイミング設定が難しいと共に、試験時間が長くなる。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of reducing the number of pallets in a test tank without reducing treating ability of the test tank, and capable of extensively reducing a temperature control load of the test tank.例文帳に追加

試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内のパレット数を少なくでき、試験槽の温調負荷を大幅に低減可能な環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁

To provide a computer system test device facilitating later cause analysis, in a test wherein a plurality of test programs are sequentially executed on a test target program.例文帳に追加

試験対象プログラムに対して複数の試験プログラムを順次実行するような試験において、後の原因解析を容易とする計算機システム試験装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

Then, each item of (1) an identifier of the sub-test, (2) the present test flow context information 300, (3) the test number, and (4) the base number is correlated in a test number database 600 (108).例文帳に追加

ついで、テスト番号データベース６００内で、（１）サブテストの識別子、（２）現在のテストフローコンテキスト情報３００、（３）テスト番号、（４）ベース番号、の各項目を関連づける（１０８）。 - 特許庁

To provide a horn antenna used for transmitting radio wave for test in an EMC test, the horn antenna being capable of appropriately, easily and inexpensively irradiating an object for test with the radio wave for test.例文帳に追加

ＥＭＣ試験で，試験用電波を送信するのに用いられるホーンアンテナを，簡単且つ安価に試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

To provide a built-in self-test circuit capable of conducting a test having high quality by various test patterns without decreasing the number of test patterns while having simple circuit constitution.例文帳に追加

簡素な回路構成を備えながらも、テストパターン数を削減することなく、多種のテストパターンによって高品質のテストを行うことができる組込み自己テスト回路を提供する。 - 特許庁

The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.例文帳に追加

このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.例文帳に追加

試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To use test results obtained by the execution of device test programs for controlling each of test heads and the changed contents of the programs for these device test programs in common.例文帳に追加

それぞれのテストヘッドを制御するデバイステストプログラムの実行によって得られた試験結果やプログラムの変更内容をデバイステストプログラム間で共通に利用することができるようにする。 - 特許庁

The test support system for performing a virtual test on a test program includes: a test program analysis section for analyzing the description of the test program; a test program analysis result determination section for determining a processing flow on the basis of the analysis result by the test program analysis section; and a test program display section for displaying information related to the test program in those sections.例文帳に追加

テストプログラムの仮想テストを行うように構成されたテスト支援装置において、前記テストプログラムの記述を解析するテストプログラム解析部と、このテストプログラム解析部の解析結果に基づき処理の流れについての判断を行うテストプログラム解析結果判断部と、これら各部におけるテストプログラムに関連した情報を表示するテストプログラム表示部、を有することを特徴とするもの。 - 特許庁

In the test, the payoff error signal, which is output from the connector toward the test terminal board, is stopped.例文帳に追加

試験時であれば、試験端子基板に向けてコネクタから出力されていた払出エラー信号が停止される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of a multi test in which a test time can be shortened.例文帳に追加

本発明は、テスト時間を短縮できるマルチテストが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In addition, since descriptions of the coupling codes are unified, test man-hour for a coupling test or the like is also reduced.例文帳に追加

また、結合コードの記述が統一されるため、結合テストなどのテスト工数も図ることができる。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device and its self-test method, in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a function capable of performing communication test of the transfer performance of a switch device in the communication test of a standby system.例文帳に追加

待機系の疎通テストでスイッチデバイスの転送性能の疎通テストを実施できる機能を提供する。 - 特許庁

That is, information to be instructed by an operator during the test is created as the test information 224 in advance.例文帳に追加

すなわち、試験においてオペレータが指示すべき情報を予め試験情報２２４として生成する。 - 特許庁

The test execution device 500 generates the test program according to the function recorded in the operation content file.例文帳に追加

試験実行装置５００は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁

Test cases are registered in association with the combination of the request and the specified test condition item.例文帳に追加

そして、リクエストおよび指定されたテスト条件項目の組み合わせと関連付けてテストケースを登録する。 - 特許庁

The unit test is executed in a host environment 320 for a further perfect and accurate test of a program unit.例文帳に追加

ユニットテストは、プログラムユニットのより完全で正確なテストのためにホスト環境３２０において実行する。 - 特許庁

To accurately make a product test in connecting a scan path to a plurality of flip-flops to make a product test.例文帳に追加

複数のフリップフロップにスキャンパスを接続して製品テストを行う場合、製品テストを正確に行う。 - 特許庁

PREPARATION METHOD FOR TEST SOLUTION IN IMMUNITY CHROMATOGRAPH METHOD AND KIT FOR TEST SOLUTION PREPARATION USED FOR IT例文帳に追加

免疫クロマトグラフ法における被検液の調製方法、およびそれに用いる被検液調製用キット - 特許庁

To reduce the effect of a jitter in a test signal on the test results of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験におけるテスト信号が有するジッタが、試験結果に与える影響を低減する。 - 特許庁

RECORDING PROCESSING LIQUID EJECTION TEST METHOD FOR INK- JET RECORDING APPARATUS, AND EJECTION TEST FILM USED IN THE METHOD例文帳に追加

インクジェット記録装置の記録処理液吐出検査方法及び該方法に用いる吐出検査フィルム - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

Thus, in the test device 3, the test results of all the microcomputers 2 are simultaneously monitored.例文帳に追加

従って、テスタ装置３において、すべてのマイクロコンピュータ２のテスト結果を同時にモニタすることが可能となる。 - 特許庁