「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.例文帳に追加

テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.例文帳に追加

複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁

A test pattern data generating part 11 generates test pattern data based on the combination of simultaneously settable test items among test items stored in a test item matrix file 21.例文帳に追加

試験パターンデータ生成部１１は、試験項目マトリックスファイル２１に記憶されている試験項目の組合せのうち、同時に設定することが可能な試験項目の組合せに基づいて試験パターンデータを生成する。 - 特許庁

When a sub-test in the test flow 200 is executed, a database 400 of the test number is indexed by using index information including (1) an identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (104).例文帳に追加

テストフロー２００内のサブテストが実行されると、テスト番号のデータベース４００が、（１）サブテストの識別子と（２）現行テストフローコンテキスト情報３００とを含む索引情報を使用して索引付けされる（１０４）。 - 特許庁

The issued points are determined by a multiplying factor to a grade of each test decided in advance registered in the test information 112, and the multiplying factor is changed between when taking a test or the like wherein the taken test is a source issuing the points and when taking a test except the test.例文帳に追加

発行されるポイントは、試験情報１１２に登録されている事前に定められた各試験の点数に対する乗率により決定し、受験する試験がポイントを発行する元となった試験等と、それ以外の試験を受験する場合とで乗率を変化させる。 - 特許庁

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.例文帳に追加

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁

To prevent generation of drain in a combustion test in a manufacturing line.例文帳に追加

製造ラインでの燃焼テストの際にドレンを発生させないようにする。 - 特許庁

BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁

An SRAM 1017 for storing test setting data for each externally designated test item and a BIST (built-in self-test) controller 1005 for reading out the test setting data stored in the SRAM and for executing the BIST, in parallel with the operation of storing the test setting data in the SRAM, are provided.例文帳に追加

外部から指定されるテスト項目毎のテスト設定データを蓄積するＳＲＡＭ１０１７と、前記テスト設定データをＳＲＡＭに蓄積する動作と平行して、ＳＲＡＭに蓄積された前記テスト設定データを読み出してＢＩＳＴを実行するＢＩＳＴコントローラ１００５とを備える。 - 特許庁

The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.例文帳に追加

そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁

In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.例文帳に追加

試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁

To make it possible to execute a test in system operation by widely developing a scanning test for a circuit board in a computer system.例文帳に追加

計算機システムにおける回路基板のスキャンテストをより幅広く展開し、システム動作中にテストを行うこと。 - 特許庁

To avoid the generation of an inter-wiring short circuit in the final test.例文帳に追加

ファイナルテストでの配線間ショートの発生を回避する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREVENTING COLLISION IN WIND TUNNEL MODEL TEST DEVICE例文帳に追加

風洞模型試験装置の衝突防止方法及び装置 - 特許庁

To conveniently conduct a burn-in test of wiring of a peripheral circuit.例文帳に追加

周辺回路の配線のバーイン試験を簡易に実施する. - 特許庁

TAPE CARRIER PACKAGE, ITS BURN-IN METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加

テープキャリアパッケージ及びそのバーンイン方法及び試験方法 - 特許庁

POWER RECOVERY SYSTEM IN AGING TEST FOR POWER SUPPLY UNIT例文帳に追加

電源ユニットのエージング試験における電力回生システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED IN IT例文帳に追加

半導体試験装置及びプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To reduce the number of cycles during a capture period in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるキャプチャ期間のサイクル数を削減する。 - 特許庁

To reduce an increase in current consumption during a stress test.例文帳に追加

ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。 - 特許庁

The plurality of flip-flops generate scan chains in scan test.例文帳に追加

複数のフリップフロップは、スキャンテスト時にスキャンチェーンを形成する。 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY IC AND ITS BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリＩＣ及びそのバーンインテスト方法 - 特許庁

To provide a small-sized and low-profile choke coil in which core cracking in a vibration impulse test and a temperature cycle test is suppressed.例文帳に追加

振動衝撃試験、温度サイクル試験でのコア割れを抑制した、小型で低背型のチョークコイルを提供すること。 - 特許庁

PLANE DISPLAY PANEL EQUIPPED WITH SETTING-IN TYPE MEASUREMENT TEST CIRCUIT例文帳に追加

嵌入式測定試験回路を備えた平面表示パネル - 特許庁

IN-SITU PERMEABILITY TEST METHOD AND PERMEABILITY COEFFICIENT MEASURING DEVICE例文帳に追加

原位置透水試験法及び透水係数の測定装置 - 特許庁

Consequently, the efficient wafer burn-in test can be performed.例文帳に追加

この結果、効率的なウェハバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁

I'd like to give it my all in next week's test.例文帳に追加

私は来週のテストでは最善を尽くしたいと思います。 - Weblio Email例文集

She seemed to be disappointed in her test results.例文帳に追加

彼女はその試験の結果にがっかりしている様子だった。 - Weblio Email例文集

You can take the test only once in a lifetime. 例文帳に追加

一生に１度しかこの試験を受けることはできません。 - 浜島書店 Catch a Wave

A corrosion test can be performed in an SAE J2334 120 cycle, for instance.例文帳に追加

腐食試験は例えばSAE J2334 120サイクルで行うことができる。 - 特許庁

EXCITATION SIGNAL GENERATOR FOR IMPROVING ACCURACY IN MODEL BASE TEST例文帳に追加

モデルベース試験の精度を改善する励起信号発生装置 - 特許庁

In the test recording area, test recording is performed to set an optimum recording condition in recording to the data region.例文帳に追加

テスト記録エリアは、データ領域への記録における最適記録条件を設定するために試し記録が行われる。 - 特許庁

The slave controller operates in a test mode or a game mode.例文帳に追加

下位制御装置はテストモードまたは遊技モードで動作する。 - 特許庁

SIMPLE TEST METHOD FOR CONTENT OF HARMFUL SUBSTANCE IN SOIL例文帳に追加

土壌中有害物質の含有量の簡易試験方法 - 特許庁

DETECTOR FOR ELEMENT WIRE BREAKAGE IN VIBRATION TEST OF STRANDED WIRE例文帳に追加

より線の振動試験における素線破断の検知装置 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

TEST METHOD OF EMBEDDED CORE IN SYSTEM-ON-CHIP AND CONSTITUTION THEREOF例文帳に追加

システムオンチップにおける埋込コアの試験方法及び構成 - 特許庁

Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加

したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁

(ii) In the practical skill test, signals for operating cargo lifting appliance 例文帳に追加

二　実技試験のうち、揚貨装置の運転のための合図 - 日本法令外国語訳データベースシステム

COMPUTATION OF 'VIRTUAL RANKING' IN SCORE EVALUATION OF TEST例文帳に追加

試験等の成績評価における「仮想的順位」の計算 - 特許庁

To provide spindle structure capable of preventing deterioration in test accuracy.例文帳に追加

試験精度の悪化を防止することができるようにする。 - 特許庁