「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To properly irradiate an object to be tested with electric waves for test, without increasing costs, in a transmission apparatus used for an EMC test (in particular for an immunity test).例文帳に追加

ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）に用いられる送信装置を、コストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

A connect test, a login test and a write in test are performed to a storage destination of image data, and if any error occurs in these tests, measures to cope with the error are presented.例文帳に追加

画像データの保存先に対してコネクトテスト、ログインテスト、書込みテストを行い、これらのテストでエラーが発生している場合にはそのエラーに対応する対応策を提示する。 - 特許庁

A normal scan test is carried out in the first test mode, and a BIST signal is output serially, from the serial access memory BIST circuit 3 in the second test mode.例文帳に追加

第１のテストモードでは通常のスキャンテストが行われ、第２のテストモードでは、シリアルアクセスメモリＢＩＳＴ回路３からＢＩＳＴ信号がシリアルに出力される。 - 特許庁

In the case of executing a system verification test, plural individual verification test descriptions are executed in accordance with the system verification utilities corresponding to respective individual verification test descriptions.例文帳に追加

システム検証テストの実行においては、複数の個別検証テスト記述を、それぞれの個別検証テスト記述に対応するシステム検証用ユーティリティに従って実行する。 - 特許庁

If you are in the midst of editing the controller class and want to test it, you merely execute Test File, by pressing Ctrl+F6, and it runs the test file corresponding to the class you are currently in. 例文帳に追加

コントローラのクラスを編集中にそれをテストする場合、Ctrl+F6 キーを押して「ファイルをテスト」を実行するだけで、現在いるクラスに対応するテストファイルが実行されます。 - NetBeans

To provide a semiconductor memory test apparatus in which a test result can be referred to properly in the midst of the test without providing a log memory of a large capacity and which is inexpensive and can be constituted simply.例文帳に追加

大容量のログメモリを設けることなく、試験途中でテスト結果を適宜参照でき、安価かつ簡単に構成できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

The vehicle traction device is constituted such that a dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the test vehicle 14, and that an arm 15 is provided to the dolly 13 to push the test vehicle 14.例文帳に追加

ドーリー13を試験用車両14の試験時の、移動方向の後方にのみ配置して、このドーリー13に試験用車両14を押すためのアーム15を取付ける。 - 特許庁

9) There are a number of in vitro genotoxicity tests (comet test using mammalian cultured cells, UDS test using mammalian cultured cells, DNA repair test (Rec-assay) using grass bacillus, umu test using Salmonella typhimurium, SOS test using colon bacillus, chromosome aberration including aneuploidy test using yeast/gene conversion, etc.) and the host-mediated test (host-mediated assay), but these test results are not used for classification.例文帳に追加

9) 数多くの in vitro 遺伝毒性試験（ほ乳類培養細胞を用いるコメット試験、ほ乳類培養細胞を用いる UDS 試験、枯草菌を用いるＤＮＡ修復試験(Rec-assay)、ネズミチフス菌を用いる umu 試験、大腸菌を用いる SOS 試験、酵母を用いる異数性を含む染色体異常試験/遺伝子変換試験など）や宿主経由試験（Host-mediated assay）があるが、これらの試験結果は分類に用いない。 - 経済産業省

Since it is not necessary to put these test tubes 12 in the test tube carriage 10 in an oriented states, the test tube can easily and promptly be put in compared with conventional technique wherein the oriented test tube is previously set in a special case.例文帳に追加

試験管１２を試験管搬送装置１０に整列状態で投入する必要がないため、予め専用ケース内に整列した試験管をセットしていた従来技術に比べ、試験管の投入をより容易かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁

In this tire durability test method, after performing deterioration acceleration processing in the pneumatic tire T by oxygen, air is filled in the pneumatic tire T, and a drum durability test is performed at prescribed test speed, while applying a test load.例文帳に追加

空気入りタイヤＴ内を酸素により劣化促進処理した後、該空気入りタイヤＴ内に空気を充填し、試験荷重を加えながら所定の試験速度でドラム耐久試験を行うタイヤ耐久試験方法である。 - 特許庁

To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.例文帳に追加

DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加

ＲＡＭやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁

A total of more than 100 people in Okayama Prefecture will participate in the test. 例文帳に追加

岡山県内の計100人以上の人々がこの試験に参加する予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

In the following procedure, you will specify this location in a test case for the composite application. 例文帳に追加

次の手順の複合アプリケーションのテストケースで、この場所を指定します。 - NetBeans

The clock is used in analog and digital instruments in automatic test system.例文帳に追加

自動検査システムにおいて、クロックをアナログおよびディジタル計器内で用いる。 - 特許庁

TAPE PACKAGE IN WHICH TEST PAD IS FORMED IN REAR FACE AND ITS INSPECTING METHOD例文帳に追加

テスト用パッドが裏面に形成されたテープパッケージ及びその検査方法 - 特許庁

By placing the burn-in board 22 in this state in the burn-in test apparatus, it is possible to collectively test the plurality of semiconductors 10.例文帳に追加

この状態のバーンインボード２２をバーンイン試験装置に入れることにより、複数の前記半導体１０を一括して試験することができるようになる。 - 特許庁

To reduce a load in a hexavalent chromium elution test being performed in ground improvement.例文帳に追加

地盤改良時に行う六価クロム溶出試験の負荷を低減する。 - 特許庁

The student, who failed in a test in English, was inspired by his friend's words. 例文帳に追加

英語の試験に失敗した学生は友人の言葉に元気づけられた。 - Tanaka Corpus

The student, who failed in a test in English, was inspired by his friend's words.例文帳に追加

英語の試験に失敗した学生は友人の言葉に元気づけられた。 - Tatoeba例文

A burn-in control device 10 performs convergence determination (finish of a test) of an initial stage defect in the burn-in test relative to each lot (each classification) in the furnace 12.例文帳に追加

バーンイン制御装置１０は、バーンイン試験における初期不良の収束の判定（試験の終了）を炉１２内のロット毎（区分毎）に行う。 - 特許庁

The tests include a high-temperature bias test (Burn-in), or the like that cannot be performed in a chip state.例文帳に追加

このテストには、チップ状態では行えない高温バイアス試験(Burn-in)なども含まれる。 - 特許庁

To prevent increase in chip size and in cost, and to improve the degree of freedom in the contents of a test.例文帳に追加

チップサイズ及びコスト増加を抑制し、またテストの内容の自由度を向上させる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

When the test execution period of the each load test starts, the test management server 3 transmits a test schedule file with a URL registered in a test load registration database 37 to the user terminal 1 operated by the registered user.例文帳に追加

テスト管理サーバ３は、各負荷テストのテスト実行期間に至ると、テスト負荷登録データベース３７に登録されているＵＲＬを記述したテストスケジュールファイルを、登録されているユーザが操作するユーザ端末１へ送信する。 - 特許庁

The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.例文帳に追加

従来行っていたトラック中心へのＳＡＴ試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン（Ａ，Ｂパターン）の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

An replacement component test results information input receiving section 122 receives replacement component test results information showing failure recurrence test results of the component replaced by the maintenance work, and stores the replacement component test results information in a replacement component test results DB 112.例文帳に追加

交換部品試験結果情報入力受付部１２２は，保守作業において交換された部品の障害再現試験結果を示す交換部品試験結果情報を受け付け，交換部品試験結果ＤＢ１１２に格納する。 - 特許庁

A performance test contents preparing part 101 of a performance test support device 100 receives performance test contents(the contents of a request transmitted to a test object system 110) inputted by a user, and stores the performance test contents added with the performance test contents identification information in a performance test contents database 105.例文帳に追加

性能試験支援装置１００の性能試験内容作成部１０１は、利用者により入力された性能試験内容（試験対象システム１１０に対して送出するリクエストの内容）を受取り、性能試験内容識別情報を付加して、性能試験内容データベース１０５に格納する。 - 特許庁

An image processor 21 is provided with a test item registering means for testing an image processor 20, an update means of firmware, a test execution means and a print test execution means for selecting and executing test items registered in the test item registering means and a report preparation means for preparing a report by analyzing the test result after ending the test.例文帳に追加

情報処理装置２１は画像処理装置２０をテストするためのテスト項目登録手段と、ファームウェアのアップデート手段と、テスト項目に登録したテスト項目を選択し実行するテスト実行手段と印刷テスト実行手段と、テスト終了後、テスト結果を解析してレポートを作成するレポート作成手段を備える。 - 特許庁

In an inventive rolling/sliding fatigue life testing method for steel materials, a test body 3b of a steel material is immersed in a lubricant 2 in a test oil tank 1, and a load causing rolling/sliding contact is applied to the test body 3b to test the rolling/sliding fatigue life of the test body 3b.例文帳に追加

この鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法は、試験油槽１内の潤滑油２に鋼製材料の被試験体３ｂを浸漬して、転がりすべり接触を生じる負荷を与え、被試験体３ｂの転がりすべり疲労寿命の試験を行う。 - 特許庁

When a user selects the displayed load test to apply for participation in the test, the test management server 3 receives the participation application in the order of receipt until the number of participants reaches the upper limit of a range of the number of participants necessary for the load test, and registers the users in a test registrant management database 38.例文帳に追加

表示されている負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ３は、当該負荷テストに必要な参加者数レンジの範囲の上限に至るまで、先着順に参加申込を受け付けて、テスト登録者管理データベース３８に登録する。 - 特許庁

Test questions are managed in a storage means in a hierarchical structure according to the contents of the test questions, and the level of difficulty of the test questions is calculated from the answer data of examinees in the test, and the test questions whose level of difficulty does not match the vertical relation of the hierarchical structure are detected.例文帳に追加

本発明は、試験問題を、該試験問題の内容に応じて階層構造で記憶手段内に管理し、試験における受験者の解答データから試験問題の難易度を求め、階層構造の上下関係と難易度が矛盾する試験問題を検出する。 - 特許庁

A steam generator and a means for spraying generated steam to the bottom part in the test chamber are installed in the test chamber, to thereby provide steam into the test chamber at a fixed rate, and hereby a saltwater spray test is executed with the temperature in the test chamber kept constant without lowering humidity.例文帳に追加

蒸気発生機及び発生させた水蒸気を試験槽内の底部に吹き付ける手段を試験槽に取り付けて、試験槽内に水蒸気を一定の割合で供給することにより、湿度を下げることなく、試験槽内の温度を一定に保持して、塩水噴霧試験を行う。 - 特許庁

In the test board for the semiconductor tester, signal wiring suitable for each method for a DC test and a function test is used and the signal wiring is switched, in response to a test method by providing a switching circuit.例文帳に追加

半導体テスター用テストボードにおいて、DCテストとファンクションテストのそれぞれの手法に適した信号配線を用い、切り替え回路を備えることにより、テスト手法に応じ信号配線の切り替えを行う。 - 特許庁

A test pattern sequence modifying means 103 rearranges a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generating means 102 in accordance with the number of indeterminate values.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数のテストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数に従って並び替えを行う。 - 特許庁

The memory chip packaged in the package is tested with the internal test pattern (the first test mode) generated in the logic chip or the external test pattern (the second test mode) supplied from the outside according to the mode select signal.例文帳に追加

パッケージに実装されたメモリチップは、モード選択信号に応じて、ロジックチップ内で発生する内部試験パターン（第１試験モード）または外部から供給される外部試験パターン（第２試験モード）を使用して試験される。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

An execution means 12 reads a test scenario stored in a scenario DB 11, and makes test object integrated equipment 20 execute an operation based on the test scenario.例文帳に追加

実行手段１２は、シナリオＤＢ１１に記憶されるテストシナリオを読み出し、テストシナリオに基づく動作を試験対象の組み込み機器２０に実行させる。 - 特許庁

When the safety plug 15 is not disconnected, a rectangular wave signal (test signal) generated in a test signal generation part 31 reaches at a test signal detector 33.例文帳に追加

安全プラグ１５が外れていなければテスト信号発生部３１で発生した矩形波信号(テスト信号)はテスト信号検出部３３に到達する。 - 特許庁

Hereby, wear generated between the first test surface and the second test surface is substantially specialized in adhesive wear generated between both test surfaces.例文帳に追加

これにより、第１試験面と第２試験面との間で生じる摩耗は、実質的に、両試験面間で生じる凝着摩耗に特化されたものとなる。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁