「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

The image forming means forms a test image in a recording medium on the basis of test image data.例文帳に追加

前記画像形成手段は、テスト画像データに基づき、記録媒体に対してテスト画像を形成する。 - 特許庁

To improve the test comprehensiveness of a random instruction combination test in a memory sharing type multiprocessor system.例文帳に追加

メモリ共有型マルチプロセッサシステムにおけるランダム命令組合せ試験の試験網羅性を向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time for performing a leak test can be shortened.例文帳に追加

リークテストを行うためのテスト時間を短縮することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an engine test system capable of measuring more accurately an engine performance in an engine test.例文帳に追加

エンジン試験に際し、エンジン性能をより正確に測定することのできるエンジン試験システムを提供する。 - 特許庁

The test circuit 104 samples the target signal 103 in response to a test signal 105 representing the selected timing.例文帳に追加

テスト回路(104)は、選択されたタイミングを示すテスト信号(105)に応答してターゲット信号(103)をサンプリングする。 - 特許庁

Each test inside the test group is sequentially started in the set order, and simulation is executed.例文帳に追加

テスト群内の各テストは、この設定された順番で順次起動され、シミュレーションが実施されていく。 - 特許庁

In the clinical test company 5, the specimen 40 is tested according to the electronic form 26 of the test request.例文帳に追加

臨床検査会社５では検査依頼の電子フォーム２６にしたがって検体４０の検査を行う。 - 特許庁

In image data on the test chart, the space between neighboring black bars on the test chart is used as a white bar.例文帳に追加

テストチャートの画像データは、テストチャートの隣接する黒バー間の間隙を白バーとして使用する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus in which preparatory work of test can be carried out efficiently, and to provide a test tool.例文帳に追加

テストの準備作業を効率的に行うことができる電子機器、およびテスト用治具を提供する。 - 特許庁

To shorten a test time in a rewriting durability test of a nonvolatile semiconductor memory apparatus.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の書き換え耐久試験において、試験時間の短縮を課題とする。 - 特許庁

To provide a system for a clinical test, which can easily and accurately obtain the clinical test having a problem in progressing.例文帳に追加

進捗に問題ある検査を正確かつ容易に把握できる臨床検査システムを提供する。 - 特許庁

A color-classified test pattern is printed in a test printing region of a recording paper 16 using each printing head 12.例文帳に追加

記録紙１６上のテスト印字領域に色別のテストパターンが各印字ヘッド１２により印字される。 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ＳＴ１２において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of surely erasing test write data recorded in a test area.例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

By this constitution, it is possible to reduce costs in comparison with an expensive test apparatus provided by a test maker.例文帳に追加

この構成により、テスターメーカーが提供する高額な試験装置は用いずに、低コスト化が図れる。 - 特許庁

In the test chart management system 1, a test chart management program 20 operates on the image-forming device 10.例文帳に追加

テストチャート管理システム１において、テストチャート管理プログラム２０は、画像形成装置１０上で動作する。 - 特許庁

To test individual dies before mounted onto a PCB (printed circuit board), and to conduct a test up to burn-in when possible.例文帳に追加

ＰＣＢに実装する前の個々のダイを試験し、できることならバーインまで試験できるようにする。 - 特許庁

To eliminate a redundant test step in a test of retrieving operation of an associative memory having a priority encoder.例文帳に追加

プライオリティエンコーダを持つ連想メモリの検索動作の検査において、冗長な検査ステップを排除する。 - 特許庁

In the Projects window, right-click HasNoReservations under the Test node under TraveReservationServiceApplication and choose Run to start the test. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「TraveReservationServiceApplication」の「テスト」ノードの下にある「HasNoReservations」を右クリックし、「実行」を選択してテストを開始します。 - NetBeans

When you run the test the println text for each methods will appear in the JUnit Test Results output window.If you do not add the println, there is no output to show that the methods were run. 例文帳に追加

println を追加しないと、メソッドが実行されたことを示す出力は表示されません。 - NetBeans

To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time.例文帳に追加

シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

In the step S4, the user selects the test patch which appears to be most uniform among the other test patches.例文帳に追加

ステップＳ４において、ユーザは、印刷されたテストパッチの中からもっとも一様に見えるものを選択する。 - 特許庁

To support software development by linking operation specifications of software with test items in a system test.例文帳に追加

ソフトウェアの操作仕様とシステムテストにおけるテスト項目とを連携させてソフトウェアの開発を支援する。 - 特許庁

To shorten the test time of a plurality of samples in a triaxial consolidation permeability test device.例文帳に追加

三軸圧密透水試験装置において、複数の供試体について試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To automatically extract test items in just proportion when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、試験項目を過不足なく自動的に抽出することができるようにする。 - 特許庁

This also accepts a string in the format "href='/test.jpg' alt='test'", which will be parsed into the attributes array of the object. 例文帳に追加

ここには"href='/test.jpg' alt='test'" のような文字列も指定でき、これはオブジェクトの属性の配列として扱われます。 - PEAR

Each test runs in its own fixture so there can be no side effects among test runs. 例文帳に追加

各テストは、別個の試験装置において実行されるため、テストの実行による副作用はありません。 - PEAR

To improve a detection rate of a failure, and to shorten a test time, in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおいて、故障の検出率を向上し、テスト時間を短縮することができるようにする。 - 特許庁

To execute performance test of a communication apparatus, in a general-purpose manner, with respect to a plurality of test devices.例文帳に追加

通信装置の動作試験を複数の試験装置に対し汎用的に行えるようにすること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TRANSFER TRAY, BURN-IN BOARD USING THE SAME, INSPECTION APPARATUS FOR BURN-IN TEST, BURN-IN TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁

4-1) When the substance is negative in human heritable epidemiology data, heritable mutagenicity test, or in vivomutagenicity test (somatic cells or germ cells)例文帳に追加

4-1）ヒト経世代疫学データ、経世代変異原性試験あるいは in vivo 変異原性試験（体細胞あるい生殖細胞）で陰性の場合 - 経済産業省

The membership test operators (in and not in) are normally implemented as an iteration through a sequence.例文帳に追加

メンバシップテスト演算子 (in および not in) は通常、シーケンスに渡る反復処理を使って実装されます。 - Python

When the test of a work flow is designated, test data instead of input data for the work flow processing are prepared, and processing by a test operation following a parameter is executed about the test data, and when any problem is generated in the middle of a test operation, the test operation is stopped.例文帳に追加

ワークフローのテストが指定されると、当該ワークフロー処理用の入力データに代わるテストデータが作成され、このテストデータについてパラメータに従ったテスト動作での処理が実行され、テスト動作の途中で問題が発生した場合には、テスト動作が停止される。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

The outcome evaluation circuits (30/31, 40, and 50) takes in the expected value (D1, D2, ...) of the scan test with same amount of data as the test data that is contained in scan-in data to evaluate the outcome of scan test.例文帳に追加

結果評価回路（３０／３１，４０，５０）は、テストデータと同じデータ量を有してスキャンインデータに含まれるスキャンテストの期待値（Ｄ１，Ｄ２…）を取り込んでスキャンテストの結果を評価する。 - 特許庁

To provide a mobile terminal device in which a test terminal is disposed at a position where the test terminal is not visible for eyes of a user ordinarily but can be easily connected with a measuring instrument in the test.例文帳に追加

携帯端末装置において、試験用端子を、通常時にはユーザの目に触れることがなく、テスト時には容易に測定装置と接続可能な位置に配置する。 - 特許庁

Therefore, a sufficient burn-in test can be executed for the digit line being a current line, while a test time of the burn-in test can be shortened.例文帳に追加

したがって、電流線であるデジット線に対して十分なバーンイン試験を実行することができるとともに、いわゆるバーンイン試験の試験時間も短縮することができる。 - 特許庁

To reduce test time while securing reliability of the test, in a data retention test for a semiconductor memory in which data retention is changed with time.例文帳に追加

データ保持特性が経時的に変化する半導体メモリをも考慮したデータ保持特性試験において、試験の信頼度を確保したまま時間の短縮を図る。 - 特許庁

In this memory test circuit, two test routes are used, that is, a direct memory BIST mode and a redundancy memory BIST mode in order to expand a test range.例文帳に追加

本発明のメモリテスト回路では、テスト範囲を拡大するために、ダイレクトメモリＢＩＳＴモードとリダンダンシメモリＢＩＳＴモードとの２つのテスト経路を実現している。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト（ＤＭＡ）を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A built-in test circuit and a radio communication circuit are mounted into a semiconductor integrated circuit device, and the built-in test circuit is controlled by a radio signal to execute test.例文帳に追加

半導体集積回路装置内に内蔵テスト回路および無線通信回路を搭載し，無線信号により内蔵テスト回路を制御しテストを実施する。 - 特許庁

When conducting the leak test, only gas in the low pressure conduit is used to conduct the leak test in the gas supply inner pipe, and air purge work after the leak test is not required.例文帳に追加

漏洩試験の際には、低圧導管内のガスのみを用いてガス供内管における漏洩試験を行い、漏洩試験後のエアーパージ作業を不要にしている。 - 特許庁

Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).例文帳に追加

したがって、付加前テストケース中に０を入力データとしたテストベクタが存在する場合には（Ｓ５０）、−０を入力データとしたテストベクタが付加される（Ｓ６０）。 - 特許庁

To provide an ECC built-in semiconductor memory in which a highly accurate and efficient test can be performed with simple constitution and a test time can be shortened and a test method.例文帳に追加

簡単な構成により高精度で効率的なテストが可能、及びテスト時間の短縮化が可能なＥＣＣ内蔵の半導体記憶装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁