「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test circuit and a test method in which a test is completed without interruption even though input signals are interrupted or changed, and to provide a semiconductor integrated circuit including the test circuit.例文帳に追加

入力信号が中断又は変更されても、テストを中断させずに完了させることができるテスト回路、テスト方法、及びテスト回路を含む半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加

フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁

When the extraction processing of the test case is executed, the priority order for extraction is set in each test case based on each test result of each test case according to the set priority order of the logics.例文帳に追加

テストケースの抽出処理が実行されると、設定されたロジックの優先順位に従い、各テストケースの各回のテスト結果に基づいて、抽出のための優先順位が各テストケースに設定される。 - 特許庁

The vacuum chamber 1 installs the theodolite 2 measuring changes of the alignment of the test piece 4 by a thermal vacuum test in an outer wall, when the thermal vacuum test is carried out to the test piece 4 arranged inside.例文帳に追加

内部に配設された供試体４に対して熱真空試験を行う際に、熱真空試験による供試体４のアライメントの変化を測定するセオドライト２を、外壁に組み込んだ真空チャンバ１。 - 特許庁

To prevent an oversight in a test of error caused by improper contact in a circuit device for a burn-in test of a semiconductor module including a memory circuit provided with a connection terminal allowing a burn-in test signal of a burn-in test device having active/inactive conditions to be applied.例文帳に追加

活性／非活性状態を有しているバーン・インテスト装置のバーン・インテスト信号Ｔ１；Ｔ６が印加可能である接続端子を備えたメモリ回路１を含んでいる半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置において、コンタクト不良に起因するエラーの検査漏れを克服する。 - 特許庁

A processing means is preset in a test condition memory portion 24 as a test condition when block failure is detected from an input portion 22 during a burn-in test, so that a burn-in board is attached/detached when block failure is detected during a burn-in test.例文帳に追加

予め入力部２２からバーンイン試験中にブロック不良を検出した場合の処理の仕方を試験条件として試験条件記憶部２４に設定しておき、バーンイン試験中にブロック不良を検出した場合には、バーンインボードの着脱を行う。 - 特許庁

The ground evaluation system is formed of a test value data file in which test numerical values corresponding to a plurality of depths collected by the SWS test, are stored, and an evaluation value data file in which evaluation values determined in proportion to stress functions corresponding to the respective depths of the test values are stored.例文帳に追加

ＳＷＳ試験で収集した複数深度ごとの試験数値を格納する、試験値データファイルと、試験値の各深さに応じる応力関数に比例して決定した評価値を格納する、評価値データファイルとによって構成する。 - 特許庁

Then, test fluid 22 is brought into contact with the test reagent layer 32 and a change in the color or the like of the test reagent layer 32 or the test fluid 22 in that case is observed, thus indirectly estimating the presence or absence of the irregularities in the reagent layer 30.例文帳に追加

そして、そのテスト試薬層３２にテスト流体２２を接触させて、その際のテスト試薬層３２又はテスト流体２２の色等の変化を観察することにより、試薬層３０のむらの有無を間接的に推定できるようにする。 - 特許庁

The test code generator prepares the test code from the test code model information by replacing each variable part in the test code model information for a value of an item in agreement with the variable part in a design information object.例文帳に追加

実施形態のテストコード生成装置は、テストコード雛形情報内の各々の変数部分を設計情報オブジェクト内で当該変数部分に一致する項目の値に置換することにより、テストコード雛形情報からテストコードを生成する。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

Therefore, the amount of ink consumption in test print runs can be further reduced and test printing can be completed in much less time as compared with test printing in which images, the same images shown in actual prints, for all pages are printed.例文帳に追加

これにより、全頁を本印刷と同一の画像により試し刷りするものに比して、試し刷りで消費するインク量をより少なくすることができる共に試し刷りをより短時間で完了させることができる。 - 特許庁

A test of the computer system is executed, by using the test program stored in the 1st divided area, and after completing the test, the image data file stored in the 2nd divided area is developed to be set in an arbitrary preinstalled state.例文帳に追加

そして、該第１分割領域のテストプログラムを使用してコンピュータシステムのテストを実行し、テスト終了後に前記第２分割領域のイメージデータファイルを展開して任意のプレインストール状態にする。 - 特許庁

A test data generating circuit 12 generates test data increasing one by one whenever write-in indication is issued from a write-in circuit 11, A FIFO memory 13 stores the generated test data and write-in data.例文帳に追加

書込回路１１から書込指示が出される毎に、検査データ生成回路１２は１づつ増加する検査データを生成し、ＦＩＦＯメモリ１３は前記生成された検査データと書込データとを記憶する。 - 特許庁

To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加

光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To perform a test by one burn-in test using one kind of a burn-in board even with respect to a case performing the burn-in test of an IC requiring the arrangement of a plurality of pins.例文帳に追加

複数のピン配置が必要なＩＣに対するバーンイン試験を行う場合についても、１種類のバーンインボードを使用し、１回のバーンイン試験にて試験の実施を可能とすることである。 - 特許庁

An ending node 2c starts transmission of the test light in the upstream direction of the optical path (S5), secures band resources in the downstream direction in parallel with the test light transmission (S5a), and makes preparations for test light reception (S7).例文帳に追加

終点ノード２ｃは、光パスの上流方向にテスト光の送信を開始し（Ｓ５）、テスト光の送信と並行して下流方向の帯域リソースを確保し（Ｓ５ａ）、テスト光の受信準備をする（Ｓ７）。 - 特許庁

In an activation test sequence:11000, the propagation test sequence:11011 and the propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9 are input into the ATPG 2100, to generate test patterns 11000XX, 11011XX, 11011XH.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：９の活性化テストシーケンス：１１０００、伝播テストシーケンス：１１０１１および伝播テストシーケンス：１１０１０をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストパターン１１０００ＸＸ、１１０１１ＸＸ、および１１０１１ＸＨを生成する。 - 特許庁

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.例文帳に追加

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

The BIST control part transmits, in the test mode, control data, a command signal, test pattern data and a test address signal to the BIST logic circuit through the system bus to test the IP block, and compresses and stores the test result data received through the system bus.例文帳に追加

ＢＩＳＴコントロール部は、テストモードで、システムバスを介してＢＩＳＴロジック回路に制御データ、コマンド信号、テストパターンデータ、及びテストアドレス信号を伝送してＩＰブロックをテストし、システムバスを介して受信されるテスト結果データを圧縮して保存する。 - 特許庁

This radar is constituted so that a test forbidden area is recorded in a test forbidden map information circuit 85 based on a test forbidden map production instruction from the outside, and that the test forbidden area is compared and collated with detection at the search time, to thereby perform management of the test beam.例文帳に追加

外部からの検定禁止マップ作成指示をもとに、検定禁止エリアを検定禁止マップ情報回路８５に記録し、この検定禁止エリアと捜索時の検出とを比較照合して検定ビームのマネージメントを行うように構成した。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

In a load moving test apparatus 1, a test piece 2 is also moved along a running direction along with the rotational driving of a test wheel 51, and, by the combination of the motions of both of them, for example, the relative speed of the test wheel 51 to the test piece 2 is set to a wide range.例文帳に追加

試験車輪５１の回転駆動と共に供試体２も走行方向Ｌに沿って移動させ、両者の運動の組合せによって、例えば試験車輪５１の供試体２に対する相対速度を広い範囲で設定する。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

To educe the work quantity in a test executed as the inspection prior to field use of a nuclear reactor containment vessel and the work quantity of a main test appurtenant work to easily perform the test in a short time.例文帳に追加

原子炉格納容器の現地使用前検査として実施する試験時の作業量及び本試験付帯工事作業量を低減し、容易かつ短時間で試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a probe card which reduces parasitic capacitance of parts and wiring thereon and performs an optimum AC test in an AC test in a probe test, which is susceptible to neighboring circuitry.例文帳に追加

周辺回路の影響を受けやすいプローブ試験のＡＣ試験において、プローブカード上の部品、配線の寄生容量を軽減し、最適なＡＣ試験を行うプローブカードを提供する。 - 特許庁

A refractive index of the test object is calculated based on Z_1, Z_10, Z_2, Z_20, a spacing L_1 sandwiching the test object in the first container, and a spacing L_2 sandwiching the test object in the second container.例文帳に追加

Ｚ_１、Ｚ_１０、Ｚ_２、Ｚ_２０と、第１の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_１と、第２の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_２から被検物の屈折率を算出する。 - 特許庁

A demultiplexer 7b demultiplexes the test signal from the multiplexed signal and a test signal inverter 5b in the conference room B inverts the demultiplexed test signal, the inverted signal is multiplexed with the voice signal in the conference room B and the multiplexed signal is transmitted to the conference room A.例文帳に追加

会議室Ｂは、試験信号を分離して試験信号反転器５ｂで反転させて、会議室Ｂの音声信号と多重して会議室Ａに送信する。 - 特許庁

To make processing of a test, from preparation of test problems and user's input of answers to confirmation by displaying the grading result, in completely paperless manner and rapidly, even in a written test.例文帳に追加

筆記式試験においても、試験問題の作成も含め、利用者の解答入力から採点結果の表示による確認までを、完全にペーパレスで迅速に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.例文帳に追加

コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

A rigid part 2 is bonded to a test piece 7 and, in this state, the rigid part 2 is pulled in the direction crossing the surface direction of the test piece 7 to investigate the peel strength of the test piece 7.例文帳に追加

本方法は、試験片７に剛体部２を接着した状態で、剛体部２を試験片７の面方向と交差する方向に引張り、試験片７の剥離強さを調べる。 - 特許庁

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range.例文帳に追加

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test burn-in device which realizes a self diagnostic test in a low-temperature or high-temperature state and also enables a simpler self diagnostic test.例文帳に追加

本発明の課題は、低温又は高温状態における自己診断試験を実現するとともに、より簡便な自己診断試験を可能とするテストバーンイン装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a control method in a material test apparatus to be posed at a targeted position as close as possible in a material test under cyclic loads, and the material test apparatus.例文帳に追加

繰り返し荷重の材料試験において、極力狙った位置でポーズさせることができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a test tube type discriminating device precisely discriminating types of a plurality of test tubes stored in a test tube rack and performing discrimination work in a short period of time.例文帳に追加

試験管ラックに収容されている複数の試験管の種類を正確に判別でき、しかも判別作業を短時間内に行なうことのできる試験管種類判別装置を提供。 - 特許庁

2-1) Positive results in Heritable mutagenicity tests in germ cells using mammals (dominant lethal test using rodents, mutual translocation test using mice, specific locus test using mice, etc.)例文帳に追加

2-1）ほ乳類を用いる生殖細胞の経世代変異原性試験（げっ歯類を用いる優性致死試験、マウスを用いる相互転座試験、マウスを用いる特定座位試験など）での陽性結果 - 経済産業省

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

A fare adjustment program is stored in a storage means, and second test data different from first test data input by an input means and resulting in the same charge as that of the first test data are prepared from the first test data.例文帳に追加

記憶手段に精算プログラムを記憶しておき、入力手段により入力した第１のテストデータから第１のテストデータと異なり、かつ、前記第１のテストデータと精算額が同一金額となる第２のテストデータを作成する。 - 特許庁

When the test number corresponding to the index information does not exist in the database 400, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the index information is correlated with the new test number in the database 400.例文帳に追加

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在しない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、データベース４００内で索引情報と新しいテスト番号とが関連付けられる。 - 特許庁

The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加

ここにおいて、ロジックチップ（２）は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路（２２）を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子（６）を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路（２２）に格納する。 - 特許庁