「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To easily verify an influence given to a test result by the order of execution of a test scenario in electronic equipment.例文帳に追加

電子機器に対して、テストシナリオの実行順序がテスト結果に与える影響を容易に検証することを実現する。 - 特許庁

This sliding test device/sliding test method is provided with thermocouples 118A, 118C for measuring temperatures of both end parts in one side of a slide bearing 3.例文帳に追加

すべり軸受３の一側の両端部の温度を測定する熱電対１１８Ａ，１１８Ｃを備えている。 - 特許庁

Hereby, preparation of an exclusive horn antenna is not required for each test, and the pyramid horn 22 can be used in common for each test.例文帳に追加

このため、各試験毎に専用のホーンアンテナを準備する必要がなく、角錐ホーン２２を各試験で共用できる。 - 特許庁

A host computer A transmits a plurality of test packets, and a host computer B measures delay time in each test packet.例文帳に追加

ホストＡ・１は複数の試験パケットを送信し、ホストＢ・５が各々の試験パケットについて遅延時間を測定する。 - 特許庁

Therefore, a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a test voltage pad is cut off after finish of a test.例文帳に追加

したがって、テスト終了後にテスト電圧パッドを切断しても、昇圧回路にリーク電流が流れなくなる。 - 特許庁

To provide a method and a system of loop back test by which a loop back test is executed between devices in a LAN (local area network).例文帳に追加

ＬＡＮ内の装置間でループバックテストを実行することができるループバックテスト方法及びループバックテストシステムを提供する。 - 特許庁

To simplify and miniaturize the structure of a test circuit in an earth leakage breaker, and to carry out an accurate leakage test.例文帳に追加

漏電遮断器におけるテスト回路の構成を簡単にし、小形にするとともに正確な漏電テストを可能にする。 - 特許庁

The developer revises the knowledge base so as to obtain the expected value of the test case stored in the test case base.例文帳に追加

開発者は、テスト事例ベースに格納されたテスト事例について期待値が得られるような知識ベースの改版を行う。 - 特許庁

When a test mode is selected, the code reader shows the code for a reading test on a displaying part in a readable format (ST3).例文帳に追加

テストモードが選択されると、読取りテスト用のコードをコードリーダで読取り可能な形式で表示部に表示する。 - 特許庁

The electrical conductive materials (for example, probe or connector) are inserted in the insertion openings and used as test terminals to test the chips during tests.例文帳に追加

テスト時には、挿入口に導電物（例えばプローブ又はコネクタ）を挿入しテスト端子として、チップをテストする。 - 特許庁

To prevent a test plug which is mounted in a main body of a test spring, from being erroneously pulled out or disengaging.例文帳に追加

試験弾器本体に装着されている試験用プラグが誤って引き抜かれたり、外れたりしないようにすること。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

In the head selection test, the test data with the skewness is read out, it is confirmed whether read data is accurate or not.例文帳に追加

ヘッド・セレクション・テストは、スキューをもったテスト・データを読み出して、読み出したデータが正確なデータであるかを確認する。 - 特許庁

An ultrasonic wave is inlet via air into the test body from a transmission element 30 to generate a plate wave in the test body.例文帳に追加

送信子３０から空気を介して試験体に超音波を入射させ、前記試験体に板波を発生させる。 - 特許庁

The CPU 10 couples each of the test data in the selection order to generate combination test data of an entire software system.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、選択順に各テストデータを結合することにより、ソフトウェアシステム全体の組合せテストデータを、生成する。 - 特許庁

To suppress reduction of charge and discharge efficiency in a cycle test of a battery, and maintain a battery capacity high after the cycle test.例文帳に追加

電池のサイクル試験における充放電効率の低下を抑制し、サイクル試験後の電池容量の高く維持する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit having a configuration in which a test mode is set without providing a terminal exclusive for the test mode.例文帳に追加

テストモード専用の端子を備えることなく、テストモードに設定できる構成を有する集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can test plural DUT simultaneously measured in a shorter time.例文帳に追加

複数個を同時測定するＤＵＴを、より短時間に試験実施することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily generate a test pattern by suppressing reduction of integration degree in a test circuit for a dual port memory.例文帳に追加

デュアルポートメモリのテスト回路において、集積度の低下を抑え、テストパターンの生成を容易にすることを目的とする。 - 特許庁

In the Projects window, expand the LoanRequestorCompositeApp project node, right-click the Test node, and choose New Test Case from the pop-up menu.例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「LoanRequestorCompositeApp」プロジェクトノードを展開し、「テスト」ノードを右クリックし、ポップアップメニューから「新規テストケース」を選択します。 - NetBeans

In the Projects window, expand the SynchronousSampleApplication project node, right-click the Test node, and choose New Test Case from the pop-up menu. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「 SynchronousSampleApplication 」プロジェクトノードを展開し、「テスト」ノードを右クリックし、ポップアップメニューから「新規テストケース」を選択します。 - NetBeans

A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.例文帳に追加

テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁

The test area 10 is used to check a reproduction output value after test signals are multiple-recorded in the hologram layer.例文帳に追加

テスト領域１０は、テスト信号をホログラム層に多重記録した後、再生出力値を確認する領域である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of implementing a test between a memory and memory peripheral logic in a scan test.例文帳に追加

メモリ及びメモリ周辺ロジック間のテストを、スキャンテストにて実現することができる半導体周期回路を提供する。 - 特許庁

The decision section determines whether the data in the memory cell array are the same as the test data and the inverted data of the test data or not.例文帳に追加

判断部はメモリセルアレイ内のデータがテストデータやテストデータの反転データと同じであるかの可否を判断する。 - 特許庁

After a color copying machine outputs a test chart (color patch) in each gradation correction mode (S601), the test chart (color patch) is read (S602).例文帳に追加

カラー複写機により、グラデーション補正の各モードにおいて、テストチャートを出力した(S601)後、テストチャート（カラーパッチ）を読み取る(S602)。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a test mode in which defect of a boosting circuit system can be specified and its test method.例文帳に追加

昇圧回路系の不良特定を可能としたテストモードを有する半導体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

This flip-flop circuit for scan test comprises a scan test data output terminal QT in addition to Q-terminal and/Q-terminal.例文帳に追加

スキャンテスト用フリップフロップ回路は、Ｑ端子と、／Ｑ端子の他に、スキャンテスト用データ出力端子ＱＴを有する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

TEST SUBSTRATE AND METHOD FOR CHECKING OPERATION UPON CARRYING IN/OUT SUBSTRATE TO CASSETTE OR PRODUCTION DEVICE BY USING THE TEST SUBSTRATE例文帳に追加

テスト基板および該テスト基板を用いたカセットまたは生産装置への基板搬入・搬出時の動作確認方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF MULTIPATH FADING SIGNAL LEVEL AND CORRECTION METHOD IN SENSITIVITY TEST OF MOBILE WIRELESS MACHINE AND MOBILE WIRELESS MACHINE TEST SYSTEM例文帳に追加

移動無線機の感度試験におけるマルチパスフェージング信号レベルの校正方法、補正方法及び移動無線機テストシステム - 特許庁

To distinguish a channel of a handler corresponding to a die during a test in a multi-channel semiconductor test system.例文帳に追加

マルチチャネル半導体テストシステムにおいて、テスト中に、ダイに対応するハンドラのチャネルを識別することができるようにする。 - 特許庁

To provide an immunoassay reagent, a method and a test kit, each for specific quantification and of vancomycin in a test sample.例文帳に追加

供試試料中のバンコマイシンの特異的定量化のための免疫検定試薬、方法および試験キットを開示する。 - 特許庁

To provide an apparatus for determining the performance of a test plug which is small and superior in portability and has excellent visibility of a test and a measurement result.例文帳に追加

小型で可搬性に優れ、試験および測定結果の視認性に優れたテストプラグの判定装置を提供する。 - 特許庁

A design rule extracting part 1 in a test device 10 extracts a certain design rule from a test object rule file RF.例文帳に追加

テスト装置１０におけるデザインルール抽出部１は、テスト対象ルールファイルＲＦからあるデザインルールを抽出する。 - 特許庁

To analyze network characteristic of specified parts in a test object, based on the modulated signal output from the test object.例文帳に追加

被測定物から出力される変調信号に基づいて、被測定物内の特定箇所の網特性を解析する。 - 特許庁

To simplify the structure of a test circuit in an earth leakage breaker to miniaturize it, and to enable a correct earth leakage test.例文帳に追加

漏電遮断器におけるテスト回路の構成を簡単にし、小形にするとともに正確な漏電テストを可能にする。 - 特許庁

example: test of a conversion device is carried out in a state approved test laboratory of a manufacturer, sealing happens after the installation 例文帳に追加

事例：変換器の試験は製造事業者の州政府承認の試験所で行われ，封印は設置後行われる - 経済産業省

Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

試験プログラムＰＲに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ３に格納した後、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の一回目の試験を行う。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

To provide a piping pressure test data collection system which can easily and reliably perform a pressure test at a low cost, and which is excellent in the applicability of the test result.例文帳に追加

容易かつ安価に信頼性の高い耐圧試験を行うことができ、試験結果の活用性にも優れた配管耐圧試験データ収集システムを提供する。 - 特許庁

To generate test data to protect secret information by hiding data in use at actual operations, and to restore necessary items to verify the test data after the test.例文帳に追加

実運用で使用中のデータを隠蔽化して機密情報が保護されるテストデータを生成すると共に、テスト実施後のテストデータの検証に必要な項目を復元する。 - 特許庁

To provide an IC test device for suppressing IC to be tested from deteriorating due to discharge current of a capacitor in an IC test, and to provide an IC test method.例文帳に追加

ＩＣの試験において、コンデンサの放電電流によって被試験ＩＣが劣化するのを抑止することができるＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

An operation test control means 14 controls the operation tests of processors which are in test run states to conduct a specified operation test.例文帳に追加

そして、動作試験制御手段１４は、動作状態が試験走行状態となっているものについての動作試験を制御し、所定の動作試験を実行させる。 - 特許庁

Further, the control computer 20 has a test mode for examining the test piece in place of the commodity to perform the test of the X-ray line sensor 14 or the examination processing part 21.例文帳に追加

また、制御コンピュータ２０は、商品の代わりにテストピースを検査にかけてＸ線ラインセンサ１４や検査処理部２１のテストを行うためのテストモードを有している。 - 特許庁