「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加

テストチャート再構成時には、テストチャート制御部２０４は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置１０のテストチャートを更新する。 - 特許庁

In the test method for the LSI, the test pattern 25 is created from the source file 27 and a scramble format 28 and the right and wrong of a response signal from the LSI 23 relative to the test pattern is determined by the test plan 24.例文帳に追加

またＬＳＩのテスト方法においては、ソースファイル２７とスクランブル書式２８とからテストパタン２５を作成し、ＬＳＩ２３からのテストパタンに対する応答信号の良否をテストプラン２４に基づいて判定する。 - 特許庁

The unit test device 10 is provided with a storage device 13 for storing information related with a transition picture for a test object screen 100-2 as test data; and a stab execution part 8 for executing a stab in the unit test.例文帳に追加

ユニットテスト装置１０は、テスト対象画面１００−２に対する遷移画面に関連する情報を、テストデータとして格納する記憶装置１３と、ユニットテストの際、スタブを実行するスタブ実行部８とを具備する。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

To lighten a burden on a test vector designer, to make it possible to input a test vector into a simulator without erroneous input, and also to shorten test vector generating time, by generating the test vector automatically in a short period of time.例文帳に追加

テストベクタを短時間で、かつ自動的に生成することにより、テストベクタ設計者の負荷の低減を図り、誤入力なく、テストベクタをシミュレータに入力に可能としテストベクタ生成時間の短縮化も図ること。 - 特許庁

When receiving a test printing command, a test printing control part 38 determines test printing contents to be implemented from the command and the set contents stored in the logo setting storage part 37a and the logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

テスト印刷制御部３８は、テスト印刷指令を受けて、指令と、ロゴ設定記憶部３７ａとロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂとに記憶された設定内容とから、実行するテスト印刷内容を決定する。 - 特許庁

To improve the efficiency and accuracy of a test by preventing the interruption or a delay of the test and the abnormal determination of a test result even if a signal not directly involved in the test is transmitted and received to/from a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置との間で試験には直接関与しない信号が送受信されても、試験の中断や遅延、試験結果の異常判定が発生しないようにして、試験の効率と精度の向上を図る。 - 特許庁

The server 10 also generates a recording report for the voluntary test based on a result of the voluntary test when the result of the voluntary test, which has been executed in accordance with the plan for the voluntary test, is received from a terminal unit 60.例文帳に追加

また、設備自主検査サーバ１０は、自主検査計画書に従って行われた自主検査の結果を端末装置６０から受信すると、自主検査の結果に基づいて自主検査記録書を作成する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a test mode setting circuit 21 which is connected onto an output route of the mask circuit 11 and performs setting of a test to be performed in the test mode, according to the test mode setting signal being input.例文帳に追加

半導体装置１は、マスク回路１１の出力経路上に接続され、テストモード設定信号が入力されることに応じてテストモードで行われる試験の設定を行うテストモード設定回路２１を備える。 - 特許庁

When a testee requests content(program) for evaluation test from a mobile terminal MN to an evaluation test server 5, an evaluation test program is distributed from the evaluation test server 5 to a mobile terminal MN in response to this.例文帳に追加

被験者がモバイル端末MNから評価試験サーバ５に対して評価試験用のコンテンツ（プログラム）を要求すると、これに応答して評価試験サーバ５からモバイル端末MNへ評価試験プログラムが配信される。 - 特許庁

A test pattern to the logic circuit 4 generated in the test pattern generation circuit 12 is forcedly assigned to a corresponding scan flip-flop as a PLS input test pattern by the first test pattern generation circuit 13.例文帳に追加

テストパターン発生回路１２で生成された論理回路４に対するテストパターンは、第１のテストパターン生成回路１３でＰＬＳ用入力テストパターンを対応するスキャンフリップフロップに強制的に割り付けされる。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

The test is conducted by using a tester having a test mask and an radiator to emit light and an objective lens to observe the test mask and a reference grid provided in a pattern observing area of the test mask.例文帳に追加

テストマスクと、テストマスクの、パターンを観察する領域に、光を照射する照射手段と、テストマスクを観察するための対物レンズと、基準格子と、観察手段とを備える検査装置を用いて、検査を行う。 - 特許庁

To provide a wedge-shaped grip for a tensile test, capable of acquiring an accurate test result when being used in a high-speed tensile test or the like, while capable of improving the operability of a sandwiching/releasing work of a test piece.例文帳に追加

高速引張試験等に用いて正確な試験結果を得ることができながら、試験片の挟着／解放作業の操作性を向上させることのできる楔式の引張試験用グリップを提供する。 - 特許庁

A control unit 51 has a test marking means, and a test marking step for performing the test marking on a preset test marking area is performed before the formal marking in an official marking area on an object 2 to be printed.例文帳に追加

制御部５１は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物２上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a thin liquid crystal film which does not cause appearance abnormality such as crack on a liquid crystal alignment layer even in a severe environmental test such as a cycle test between a high-temperature test and a high-temperature/high-humidity test.例文帳に追加

高温試験と高温高湿試験とのサイクル試験のような厳しい環境試験においても、液晶配向層にクラックなどの外観異常を発生させない薄型の液晶フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a bending tester capable of always obtaining an accurate test result without causing a slip between a test piece and a fulcrum steel panel even in the case of a long-span test or a test piece with a large bending distortion quantity.例文帳に追加

長スパンの試験や試験片の曲げ撓み量が大きい場合でも、試験片と支点鋼板との間に滑りが生じることがなく、常に正確な試験結果を得ることのできる曲げ試験装置を提供する。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

To provide a test data filing system and a test data filing program capable of managing a test time as information varied by a subject, test contents, and a tester for practically managing test times in an ophthalmology hospital, which frequently uses a test apparatus, and using the test time served according to the subject and the tester as data resources of usability determination and test scheduling of the test apparatus inside the hospital.例文帳に追加

検査時間を被検者、検査内容及び検者によって変動する情報として管理することで、検査装置を多用する眼科病院において各検査時間の管理をより実用的に行うことができ、被検者及び検者に応じて実用化された検査時間を病院内の検査装置の利用効率の判断や検査スケジューリングのデータ資源として用いることができる検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラムを提供する。 - 特許庁

In this transmission, the communication rate in the normal mode is different from that in a test mode, and parity signals in the normal mode and the test mode adopt odd parity in one of the two, and even parity in the other.例文帳に追加

この伝送に、検査モードと通常モードでは異なる通信レートにすること、パリティ信号を、検査モードと通常モードの一方を奇数パリティとし、他方を偶数パリティとすることを含む。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加

試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁

The control board has test operation means A15 and A16 for making the game device perform the test operation in a predetermined state corresponding to each command for test operation transmitted from the test command output means when the game mode is transferred to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.例文帳に追加

テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an external semiconductor memory test device connected to a semiconductor memory test device which can increase the number of simultaneous test by double or more, and can test memories of the number of data bits or more, in a conventional semiconductor memory test device.例文帳に追加

従来の半導体メモリ試験装置において、同時試験個数を２倍以上にすることができ、また、試験可能なデータビット数以上のメモリの試験を可能にする半導体メモリ試験装置に接続する外付け半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5).例文帳に追加

テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。 - 特許庁

To provide an apparatus which can automatically transfer measured test bodies in an optional order to test body storage racks with a high processing efficiency without limiting an order of setting and measuring test bodies to test body racks even when kinds of test body containers are mixed.例文帳に追加

検体ラックに検体をセットして測定する順序に何ら制限なく、検体容器の種類が混在していても、測定した検体を任意の順序で検体収納ラックに自動的に高い処理能力で移し替えることができる装置を提供する。 - 特許庁

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits.例文帳に追加

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。 - 特許庁

The tearDown method is a test finalizer method and is run after each test case in the test class.A test finalizer method is not required for running tests, but you may need a finalizer to clean up any data that was required when running the test cases.例文帳に追加

tearDown メソッドはテスト終了メソッドであり、テストクラスの各テストケースのあとに実行されます。 テストの実行にテスト終了メソッドは必須ではありませんが、テストケースの実行時に求められたデータをクリーンアップするために終了メソッドが必要になる場合があります。 - NetBeans

To reduce a failure in gaining test data and drop in test accuracy attributed to the deviation of the actual torque generated from a sample brake off the torque range in a test in which a pad is pressed onto a rotor or a drum of the sample brake by a hydraulic constant control or a torque constant control.例文帳に追加

油圧一定制御またはトルク一定制御により供試ブレーキのロータまたはドラムにパッドを押圧した試験では、供試ブレーキが発生する実トルクがトルクレンジを外れて試験データ取得失敗や試験精度を低下させる。 - 特許庁

To test an alarm in an interlocking manner, under the same condition as when a test switch of an alarm installed in another room is pressed, by pressing a test switch of an alarm in a room that an operator is in.例文帳に追加

操作者が現在いる部屋の警報器の試験スイッチを押下することによって、他の部屋に設置された警報器の試験スイッチを押下した場合と同じ状態で、連動試験を行えるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To reliably execute a subscriber test in an ISDN line in a short time.例文帳に追加

ＩＳＤＮ回線において加入者試験を短時間にしかも確実に実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

To make efficient a burn-in test in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンを複数備える半導体集積回路におけるバーンインテストの効率化。 - 特許庁

To provide a polarizing plate excellent in durability, which does not break in a heat cycle test.例文帳に追加

ヒートサイクル試験において破断しない耐久性に優れた偏光板を提供する。 - 特許庁

To efficiently extract test cases without omission in software development in object-orientation.例文帳に追加

オブジェクト指向におけるソフトウェア開発においてテストケースを漏れなく効率良く抽出する。 - 特許庁

In a practical test, a sample 1 and a sample 2 in the evaluations of the spring properties of pins were [○].例文帳に追加

実用試験において、ピンのバネ性の評価は、試料１と試料６が「○」であった。 - 特許庁

The test was carried out at the Challenger Deep in the Mariana Trench, the deepest spot in the ocean. 例文帳に追加

この試験は，海洋の最深部であるマリアナ海溝のチャレンジャー海淵で行われた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To perform simply and precisely a test to a device both in an abnormal mode and in a normal mode.例文帳に追加

デバイスに対するアブノーマルモード及びノーマルモードのテストを簡単且つ的確に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which stress can be applied effectively by a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにより効果的にストレスを印加可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This malfunction is caused by a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board.例文帳に追加

この誤動作は、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が原因である。 - 特許庁

A test pattern for use in checking the performance of a television set (where a technical feature resides in the pattern per se). 例文帳に追加

テレビ受像機用のテストチャート(テストチャートそれ自体に技術的特徴がある)。 - 特許庁

A sector for inhibiting the trial writing in the test track is stored in a storage circuit 14.例文帳に追加

記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。 - 特許庁

To attain improvement in work efficiency and accuracy in the operation test of a sequencer program.例文帳に追加

シーケンサプログラムの動作試験時における作業効率および精度の向上を図る。 - 特許庁