「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加

時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁

To provide a test system capable of efficiently performing a plurality of tests for a plurality of devices under test in parallel simultaneously.例文帳に追加

複数の試験対象装置に対する複数の試験を、同時並行的に効率よく行える試験システムを提供する。 - 特許庁

Then, the complex hypotheses of the classifier are applied to features in a test image to detect whether or not the test image contains the object.例文帳に追加

次に、テスト画像内の特徴に識別器の複合仮説を適用して、テスト画像がオブジェクトを含むか否かを検出する。 - 特許庁

A test value 14 installed in the water flow detecting device has an angle valve structure, and the installation height of the test valve 14 is lowered.例文帳に追加

流水検知装置に設置される試験弁１４をアングル弁構造として、試験弁１４の設置高さを低くする。 - 特許庁

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

To conduct tests of built-in DA converter and AD converter without using a test device for analog test.例文帳に追加

内蔵されたＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの試験を、アナログ試験用の試験装置を用いることなく行えるようにする。 - 特許庁

The abnormalities in the test images are detected based on comparison of the pixel value data of the test images and those of the reference images.例文帳に追加

この試験画像の画素値データと、参照画像の画素データとの比較に基づいて、試験画像内の異常が検出される。 - 特許庁

To provide a test device for a D/A converter capable of executing an operation test of the D/A converter built in a circuit more simply.例文帳に追加

回路に内蔵されているＤＡ変換器の動作テストをより簡単に行うＤＡ変換器のテスト装置を提供する。 - 特許庁

For a toxicity test, the result of acute toxicity test could be required at an examination stage in case when the toxicity is concerned. 例文帳に追加

毒性試験については、審査段階で毒性を考慮する際、急性毒性試験の結果が求められる場合がある。 - 特許庁

The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).例文帳に追加

テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁

Thereby, a test result of a virtual device can be easily created in the offline simulation environment of the test device 100.例文帳に追加

かかる発明によれば、試験装置１００のオフライン・シュミレーション環境において、仮想デバイスの試験結果を容易に作成できる。 - 特許庁

To provide a method for an operation test performing a running test including a load situation in commercially operating.例文帳に追加

商用運転時の負荷状況を網羅したランニング試験を実施可能な動作試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This leakage test device 10 has structure in which a plurality of chambers 11 circulate required processes for the leakage test.例文帳に追加

本発明の漏れ検査装置１０は、複数のチャンバ１１が漏れ検査の所要の各工程を循環する構造となっている。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

In a step S20, either an impact test or a test for left standing at a low temperature or both are carried out, with respect to the low quality product.例文帳に追加

ステップＳ２０では、低特性品に対して、衝撃試験や低温放置試験のいずれか、又はその両方を実施する。 - 特許庁

To provide a nozzle function check mechanism of an ink jet printer performing inspection of a missing dot in a test pattern printed on the surface of a test medium.例文帳に追加

テストメディア表面にプリントされたテストパターンのドット抜けを検査するインクジェットプリンタのノズル機能チェック機構を提供する。 - 特許庁

(2) The license examination set forth in the preceding paragraph (hereinafter referred to as the "license examination") shall consist of a paper test and a skill test or either of them. 例文帳に追加

２　前項の免許試験（以下「免許試験」という。）は、学科試験及び実技試験又はこれらのいずれかによつて行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.例文帳に追加

熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁

This device is a self-test circuit BIST incorporated in a memory device, responding to an external test activating signal, and activated.例文帳に追加

本発明は、メモリデバイス内に内蔵され、外部から試験活性化信号に応答して活性化する自己試験回路BISTである。 - 特許庁

The server SV1 imposes different loads on itself by each test indication, and reports load information in each test indication to the control point CP.例文帳に追加

サーバＳＶ１は、テスト指示ごとに異なる負荷を自身にかけ、各テスト指示での負荷情報をコントロールポイントＣＰに通知する。 - 特許庁

To provide a data production apparatus and the like in which test data are efficiently produced from existent data and test accuracy can be improved.例文帳に追加

既存データから効率的にテストデータを生成し、テスト精度を向上させることが可能なデータ生成装置等を提供する。 - 特許庁

When the node transmitting the ATM cell for a transmission test receives the response, the node inspects the response cell in accordance with the test mode.例文帳に追加

伝送試験用ＡＴＭセルを送信したノードは、応答を受信すると、試験モードに応じて応答セルの検査を行う。 - 特許庁

In this manner by displaying the test images on the display unit, test concerning the display operation of the display unit can be carried out.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

It starts sendmail in address test mode ; simply enter 3,0, followed by the address you wish to test for the mail routing. 例文帳に追加

これは sendmailを アドレステストモードで起動します。 あなたがテストしたいメールルーティングのアドレスを後につけて、 単純に 3,0 と入力してください。 - FreeBSD

In the Projects window, expand the Composite Application project Test, right-click the node for the specific test case and choose Run.例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで複合アプリケーションプロジェクトの下の「テスト」を展開し、特定のテストケースのノードを右クリックして「実行」を選択します。 - NetBeans

Each Test Case in the Composite Application project will attempt to send the input message to the target process when you invoke the Test action.例文帳に追加

「テスト」アクションを呼び出すと、複合アプリケーションプロジェクト内の各テストケースが入力メッセージをターゲットプロセスに送信しようとします。 - NetBeans

The method body of each generated test is provided solely as a guide and needs to be modified to be an actual test case.You can deselect Default Method Bodies in the Create Tests dialog if you do not want the code generated for you.例文帳に追加

コードを生成しない場合は、「テストを作成」ダイアログの「デフォルトのメソッド本体」を選択解除します。 - NetBeans

You will use the IDE's create test skeletons based on the classes in your project. The first time that you use the IDE to create some test skeletons for you, the IDE prompts you to choose the JUnit version.例文帳に追加

テストスケルトンを作成するために IDE をはじめて使用する際は、JUnit のバージョンを選択するよう求められます。 - NetBeans

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT DISPOSED IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD USED FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、該半導体集積回路に設けられるテスト回路及び該半導体集積回路に用いられるテスト方法 - 特許庁

The test pattern image forming part 91 forms a test pattern image as a toner image by the developing roller 342 in predetermined timing.例文帳に追加

テストパターン像形成部９１は、所定のタイミングで現像ローラ３４２によりトナー像としてのテストパターン像を形成させる。 - 特許庁

To provide a dustproof test apparatus capable of performing dustproof test on carbon powder contained in actual exhaust gases.例文帳に追加

実際の排気ガスに含まれるカーボン粉末に対する耐塵試験を行なうことができるようにした耐塵試験装置を提供する。 - 特許庁

The HDD performs a head selection test and a magnetic recording test in POR (Power On Reset) processing.例文帳に追加

本発明の一態様にかかるＨＤＤは、ＰＯＲ（Power On Reset）処理において、ヘッド・セレクション・テストとマグネティック・レコーディング・テストとを実行する。 - 特許庁

Then, the microcomputer 31 executes a hardware test based on the software for a test mode written in the flash ROM 32b.例文帳に追加

次に、マイクロコンピュータ３１は、フラッシュＲＯＭ３２ｂへ書き込まれたテストモード用ソフトウエアに基づいて、ハードウエアテストを実行する。 - 特許庁

The function test by a comparison determination part 3 is carried out in parallel to the inclined waveform test by the analytical part 6.例文帳に追加

また、比較判定部３によるファンクションテストと、解析部６による傾斜波形テストとを並列して行なうことができる。 - 特許庁

To shorten a test time by performing incorporated self-test in a semiconductor memory having a memory cell array storing parity data.例文帳に追加

パリティデータを記憶するメモリセルアレイを有する半導体メモリにおいて、組み込み自己検査を実施し、試験時間を短縮する。 - 特許庁

ASYNCHRONOUS CODE TEST METHOD, COMPUTER PROGRAM PRODUCT, COMPUTER SYSTEM, AND PROCESS (ASYNCHRONOUS CODE TEST IN INTEGRATED DEVELOPMENT ENVIRONMENT (IDE))例文帳に追加

非同期コード・テスト方法、コンピュータ・プログラム製品、コンピュータ・システムおよびプロセス（統合開発環境（ＩＤＥ）における非同期コード・テスト） - 特許庁

To achieve a test system which can easily detect abnormalities in a test program through waveform observations by an oscilloscope.例文帳に追加

オシロスコープの波形観測により、テストプログラムの異常個所を容易に検出できるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

The test results shall be recorded to 2 significant figures. In cases where the results are below the detection limit, record the test result with the detection limit, e.g., as <20 Bq/kg.例文帳に追加

検査結果は、有効数字２桁で記載する。ND となった場合には検出限界を明記し<20 Bq/kgのように記載する。 - 厚生労働省

a test procedure in which the identity of those receiving the intervention is concealed from both the administrators and the subjects until after the test is completed 例文帳に追加

テストが終了するまで、介入を受ける者のアイデンティティが管理者と対象者の両方から隠されるテスト手順 - 日本語WordNet

To detect contamination in a tank for putting a sample therein, of an environmental test device performing an accelerated test of a sample of a semiconductor device and the like.例文帳に追加

半導体装置等の試料の加速試験を行う環境試験装置の、試料を入れる槽内の汚染を検知する。 - 特許庁

To shorten time of a load test without need of a large scale facility in the load test of a large power generator with large capacity.例文帳に追加

大容量の大型発電機の負荷試験において、大規模な施設を必要とせず、負荷試験の時間を短縮する。 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.例文帳に追加

水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁

In a first test mode, an ordinary scanning test is conducted, and in a second test mode, the BIST signal is outputted in parallel from the parallel access memory BIST circuit 3, a sector 4 selects the BIST signal to output to the input side scanning FF group 9A, which conducts the test of the memory block 10.例文帳に追加

第１のテストモードでは通常のスキャンテストが行われ、第２のテストモードでは、パラレルアクセスメモリＢＩＳＴ回路３からＢＩＳＴ信号がパラレルに出力され、セレクタ４がこのＢＩＳＴ信号を選択し、入力側スキャンＦＦ群９Ａに出力し、メモリブロック１０のテストを実行する。 - 特許庁

To provide a pressing apparatus for test materials, capable pressing the test materials such as a test cast slab or a steel ingot under various conditions in order to research and study a change in texture generated in a process for applying plastic working such as rolling to the test materials such as the cast slab or steel ingot.例文帳に追加

鋳片や鋼塊などの試験材に圧延などの塑性加工を加える過程で生ずる組織変化等を調査・研究するために試験鋳片や鋼塊などの試験材に対し種々の条件で圧下を加えることができる試験材の圧下装置を提供する。 - 特許庁