| 意味 | 例文 |
Test Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14604件
In using this test specimen, the liquid sample is applied to the test specimen to generate a signal usable for quantifying the level of the glycated protein in the sample.例文帳に追加
この試験片の使用において、液体サンプルを試験片に適用し、サンプル中の糖化タンパク質レベルを定量するのに使用できる信号を生成する。 - 特許庁
To reduce power consumption in a scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
半導体集積回路のスキャンテストにおける消費電力を削減する。 - 特許庁
Thus, the siloxane concentration in the test area can be set to a desired concentration.例文帳に追加
これにより、テストエリアのシロキサン濃度を所望濃度とすることができる。 - 特許庁
At least one handheld device 102 is provided, typically several, that is capable of performing a first plurality of functions in a non-test mode, and a more limited number of functions in a test mode.例文帳に追加
少なくとも1台の、通常は数台の携帯装置102が、非テストモードの第1の複数の機能と、テストモードのより少ない数の機能を作動する。 - 特許庁
In this test mode, operation can be performed with one clock per one cycle.例文帳に追加
このテストモードでは、1サイクル当たり1クロックで動作させることができる。 - 特許庁
In a first data compression test mode for invalidating the error correction function, first test data TWD1 is written in a first regular memory block MB1.例文帳に追加
誤り訂正機能を無効にする第1データ圧縮試験モード中に、第1試験データTWD1は、第1レギュラーメモリブロックMB1に書き込まれる。 - 特許庁
PRESSURE TEST METHOD AND DRAIN METHOD OF PIPING IN STEAM TURBINE PLANT例文帳に追加
蒸気タービンプラントにおける配管の耐圧試験方法及び排水方法 - 特許庁
To allow a semiconductor device requiring a wafer test to be reduced in size.例文帳に追加
ウェハテストを必要とする半導体装置を縮小化を可能にすること。 - 特許庁
The test pattern 402 of the positive region includes a plurality of black bars extending in the longitudinal direction, and the test pattern 401 includes a plurality of black bars extending in the lateral direction.例文帳に追加
ポジ領域のテストパターン402は、縦方向に伸びる複数の黒バーを含み、テストパターン401は横方向に伸びる複数の黒バーを含む。 - 特許庁
In a test mode, the dummy word lines are turned on/off selectively instead of work lines.例文帳に追加
テストモードでは、ワード線に代わりダミーワード線が選択的にオン/オフされる。 - 特許庁
(3) When the test facilities, etc. received certification of compliance in unfair ways例文帳に追加
3 その試験施設等が不正の手段により適合確認を受けたとき。 - 厚生労働省
There's a specialist here in paris who has a experimental drug she's willing to test on me.例文帳に追加
専門家が ここパリにいるんだ 彼女が俺で検査する実験薬だ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Count dooku, I have located a world in which we can test my... excuse me, our new weapon.例文帳に追加
私の新武器を試せる惑星を見つかっ・・ 失礼、私達の新武器 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
a test of young hunting dogs to determine their skill in pointing and retrieving 例文帳に追加
探知し、探し回って取ってくる才能を決定する若い犬の試験 - 日本語WordNet
test paper soaked in litmus trace-alkalinity solution called blue litmus paper 例文帳に追加
青色リトマスという,リトマスの微アルカリ性素溶液をしみこませた試験紙 - EDR日英対訳辞書
a samurai who waylays a passer-by to test the effectiveness of a new sword in ancient Japan 例文帳に追加
昔,刀の切れ味をためすために,路上で通行人を斬った武士 - EDR日英対訳辞書
in China, a plaque that bears the name of a person who has passed an official test 例文帳に追加
中国で,役人の試験に合格した人の姓名を掲示する木札 - EDR日英対訳辞書
In this exercise we will deploy our ZooApp web application project and test our application. 例文帳に追加
この課題では、ZooApp Web アプリケーションプロジェクトを配備してアプリケーションをテストします。 - NetBeans
In this section, you perform a test run to verify that the composite application works as expected.The test case that you create invokes the operation1 operation in the PartnerView.wsdl file. 例文帳に追加
この節では、テストを実行して、複合アプリケーションが予想どおりに動作することを検証します。 作成するテストケースは PartnerView.wsdl ファイルの operation1 操作を呼び出します。 - NetBeans
A test block 28 includes textures 25 which are contained in an original image and its corresponding test image, and FFT(fast-Fourier transformation) is applied to every pixel included in the block 28.例文帳に追加
オリジナル画像及び試験画像内のテキスチャー25を含むように試験ブロック28を設定し、この試験ブロック内の各ピクセルをFFTする。 - 特許庁
To obtain abnormality judging equipment and method being used in wafer test process.例文帳に追加
ウエハテスト工程にて使用される異常判定装置及びその方法を得る。 - 特許庁
SPECIMEN MEASURING SYSTEM AND TEST STRIP USED IN THE SAME例文帳に追加
検体測定システムおよび検体測定システムで用いるための試験細片 - 特許庁
To provide an environmental device capable of bringing a specimen conveyed in a test tank to a state of an environmental test temperature in a short time.例文帳に追加
試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁
A platelet count is a test to measure how many platelets you have in your blood.例文帳に追加
血小板算定は、血液中の血小板の数を測る検査です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
In formation of the test piece made of the same material as a workpiece, the size of the test piece is set to allow its storage in an adsorption tube container mountable on a gas chromatograph mass spectrometer.例文帳に追加
被加工材料と同一材料の試験片をガスクロマト質量分析装置に装着できる吸着管容器に収容できるサイズに作製する。 - 特許庁
The test piece, deposited with the oil component, may be heated at 100-400°C using an electric furnace, in a method of generating the pseudo-oil scorching polluting in the test piece.例文帳に追加
試験片に擬似油焦付き汚れを発生させる方法において、油成分を付着させた試験片を、電気炉を用いて100〜400℃で加熱してもよい。 - 特許庁
When the constructor appropriately carries out the test items written in the test instruction, the number of achievements is accumulated and stored in an achievement storage part DB 2.例文帳に追加
施工者が検査指示書に記載された検査項目を適正に実施すると実績記憶部DB2に実績回数が累積して記憶される。 - 特許庁
The test commands are treated as an invalid command in the game mode, and the game commands are treated as a forced termination command for the tests in the test mode.例文帳に追加
テストコマンドは、遊技モードにおいては無効コマンドとして扱われ、遊技コマンドは、テストモードにおいてはテストの強制終了コマンドとして扱われる。 - 特許庁
This compsn. exhibits an elasticity ratio of modulus M100 to static shear modulus Gs at the third time in a repeated 100% tensile deformation test with an autograph of 1.4 or higher and a ratio of modulus M300 at the third time in a repeated 300% tensile deformation test to M100 of 3.6 or lower.例文帳に追加
100%モジュラスM_100 と静的剪断弾性率Gsとの比(M_100/Gs)が1.4以上である免震積層体用ゴム組成物。 - 特許庁
The company has already started running tests on a test line located in Yamanashi Prefecture.例文帳に追加
同社はすでに山梨県にある実験線で走行試験を始めている。 - 浜島書店 Catch a Wave
We will now test the contents of our glass to see if there be hydrogen in it. 例文帳に追加
さあこのコップの中身を調べて、水素が入っているか見てみましょう。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』
In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.例文帳に追加
リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁
In the pseudo-spatial transmission test device 100 of this system, antennas 22, 32 and radio communication units 20, 30 are respectively mounted on both ends of a test cavity 10, and the transmission test is carried out between the radio communication units, by using the test cavity for a pseudo-space.例文帳に追加
本発明の疑似空間伝送試験装置100は、試験空洞10の両端にアンテナ22,32と無線通信装置20,30とを装着し、試験空洞を疑似空間として無線通信装置の間で伝送試験を行う。 - 特許庁
The code 102 adjusts automatically the second test number corresponding to a conflict tracking value related to the first test number, in response to a conflict between the first test number and the second test number, and thereby removes the conflict.例文帳に追加
コード(102)は、第1のテスト番号と第2のテスト番号との衝突に応答して、第1のテスト番号に関連する衝突トラッキング値に応じて第2のテスト番号を自動的に調節し、それによって、衝突を解消する。 - 特許庁
The operation test or stress test conducted by using a terminal provided on the driver 1 for driving displays and dust detecting test using measuring terminals 6, 7 of the dust detecting circuit are conducted with the wafer test in the same step.例文帳に追加
上記表示装置駆動用ドライバ1上に設置された端子を使用して行う動作テストまたはストレステストと、ダスト検知用回路の測定端子6,7を使用して行うダスト検知テストとを、同工程のウエハテストにて行う。 - 特許庁
To provide: a printed circuit board test-assisting apparatus that can efficiently assist in conducting an actual measurement test after a high-density mounting printed board is manufactured; a printed circuit board test-assisting method; and a printed circuit board test-assisting program.例文帳に追加
高密度実装のプリント基板の製造後における実測試験を効率的に支援することのできるプリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加
半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁
The test body is substantially prevented from being jumped into the junction pipe or the branch pipe, since the test body falls down without being rebounded even when the test body strikes the turning blade 32, by using the material having a low repulsion coefficient in the test body.例文帳に追加
反発係数の小さい材料を試験体に用いることで、その試験体が旋回羽根32に当たったとしても、はね返ることなく下に落ちるので、合流管又は分岐管に飛び込むことはほとんどなくなる。 - 特許庁
To heat the inside of a test chamber so that dispersion of a temperature distribution in the test chamber or fluctuation of the salt concentration and the specific gravity of sampled liquid are within a fixed range, and that the temperature inside the test chamber can be raised quickly up to the test temperature.例文帳に追加
試験槽内の温度分布のばらつきや採取液の塩濃度及び比重の変動が一定範囲内であるように、且つ試験槽内の温度を試験温度まで迅速に上昇できるように試験槽内を加熱すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which goes into a test mode according to an implementation test signal applied from outside, by changing an environment (test property) of the semiconductor device in the implementation state, capable of entering the test mode at the implementation state.例文帳に追加
実装状態でもテストモードに入ることができ、実装状態で半導体装置の環境(内部特性)を変化させ、外部から印加される実装テスト信号に応じてテストモードに入る半導体装置を提供すること。 - 特許庁
To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object.例文帳に追加
被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。 - 特許庁
To provide a server computer network performance test system allowing a test with a small number of resources as compared to before by centralizing a load generated from a test target device in a specific test target device by a required amount.例文帳に追加
テスト対象装置から発生する負荷を必要なだけ特定のテスト対象装置に集中させることで、従来に比べて少ない資源でテストを行うことができるサーバコンピュータネットワーク性能テストシステムを提供する。 - 特許庁
An electric circuit arrangement automatically detects when a test voltage is applied to the test pad of the bond pad extension, then connects the test pad of the bond pad extension in response to the detection of the applied test voltage.例文帳に追加
電気回路構成は、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたときにそのことを自動的に検出し、その後、印加されたテスト電圧の検出に応答してボンド・パッド延長部のテスト・パッドを接続する。 - 特許庁
To calibrate the output timing of test signal in a semiconductor test device, having a socket which has a first terminal capable of giving test signals to a semiconductor device and a driver outputting the test signal to the first terminal.例文帳に追加
半導体デバイスへ試験信号を与えることのできる第1端子を有するソケットと、試験信号を第1端子へ出力するドライバとを有する半導体試験装置における試験信号の出力タイミングをキャリブレーションすること。 - 特許庁
In this method for evaluating adhesive peel strength of test paper, the adhesive peel strength of test paper is evaluated by bonding test papers by an adhesive to measure the breaking strength of paper layers of the test papers.例文帳に追加
本発明の試験紙の接着剥離強度評価方法は、試験紙と試験紙とを接着によって貼り合わせ、試験紙の紙層の破壊強度を測定することにより、試験紙の接着剥離強度を評価することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a dry gas enclosing device which prevents the discharge to the outside of a test head of dry gas introduced between the test head and a probe card and leaking into the test head in the case of connecting the test head and the probe card through a coaxial connector.例文帳に追加
同軸コネクタを介してテストヘッドとプローブカードとを接続する場合において、テストヘッドとプローブカードとの間に導入されテストヘッド内に漏れる乾燥ガスのテストヘッド外部への排出を防ぐ乾燥ガス封入装置の提供。 - 特許庁
The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加
本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのEDSテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁
When one or a plurality of test number factors are designated to one or a plurality of levels of the present test flow context 300, the base number in the present test number range is determined by using the test number factor (104).例文帳に追加
現在のテストフローコンテキスト300の1つまたは複数のレベルに対して1つまたは複数のテスト番号ファクタが指定されている場合、テスト番号ファクタを使用して(104)、現在のテスト番号範囲のベース番号を決定する。 - 特許庁
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原題:”THE CHEMICAL HISTORY OF A CANDLE” 邦題:『ロウソクの科学』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. (C) 1999 山形浩生 本翻訳は、この版権表示を残す限りにおいて、訳者および著者にたいして許可をと ったり使用料を支払ったりすることいっさいなしに、商業利用を含むあらゆる形で 自由に利用・複製が認められる。 プロジェクト杉田玄白 正式参加作品。詳細はhttp://www.genpaku.org/を参照のこ と。 |
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