「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed without verifying the recording and reproducing device by using a disk for test having test reference information and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted by the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information is provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検証をせずに再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁

To provide a photoreceptor deterioration acceleration test device capable of efficiently performing a life test (or deterioration test) in a short time while satisfying a necessary photoreceptor passing current condition in accordance with the diameter of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体の径に応じ、必要とする感光体通過電流条件を満たしながら、短時間で効率的に寿命試験（あるいは劣化試験）などを行うことが可能な感光体劣化加速試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fretting corrosion test apparatus which can make a test piece or a terminal matal piece, which mimics a terminal or the like worn in the same manner as a condition of being housed in a terminal or a connector housing such a test piece mimics.例文帳に追加

端子などを模した試験片や端子金具を、これらの試験片が模した端子やコネクタハウジング内に収容された状態と同様に微摺動摩耗させることが可能なフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To prevent punch-through, etc., of data due to skews between phases and to perform a test in a small hardware overhead without using a clock dedicated for the test in the production test for a logical circuit controlled by a clock of a plurality of phases.例文帳に追加

複数の相のクロックで制御される論理回路の製造テストにおいて、テスト専用のクロックを用いずに、相間のスキューによるデータの突き抜け等を防止でき、ハードウェアオーバヘッドの小さいテストを可能にする。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

In a step that planning is approved, and a trial vehicle is completed, real vehicle test items using a trial vehicle are presented in an experiment/research department based on a virtual test result or a past real vehicle test result.例文帳に追加

企画が承認されて試作車が完成した段階において、実験研究部門には仮想試験結果や過去の実車試験結果などに基づいて試作車を用いた実車試験項目が提示される。 - 特許庁

To provide a test device for a fuel injection pump saving the labor for connecting the fuel injection pump provided in an engine to a fuel injection nozzle of the test device and suppressing the fuel leakage in the test.例文帳に追加

エンジンに設けた燃料噴射ポンプとテスト装置の燃料噴射ノズルを連結する作業の省力化と、テスト時の燃料漏れを抑制する燃料噴射ポンプのテスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The memory test circuit includes two kinds of registers such as an A register 32 for storing test result information in which the redundancy cell is not used, and a B register 33 for storing test result information in which the redundancy cell is used.例文帳に追加

冗長セルが使用されていないテスト結果情報を格納するＡレジスタ３２と、冗長セルが使用されているテスト結果情報を格納するＢレジスタ３３の２種類のレジスタを設けている。 - 特許庁

It is determined whether a branch path exists for each test node, and in the test node in which it is determined that the branch path exists, execution prediction time, required until the test is completed, is calculated when the snapshot is obtained.例文帳に追加

テストノードごとに分岐パスが存在するか否かを判断し、分岐パスが存在すると判断したテストノードにおいて、スナップショットを取得した場合にテストを完了するまでに要する実行予測時間を算出する。 - 特許庁

To provide a system for extracting significant test items even when test time is limited in a method for creating a test item document necessary in confirming operation of a server after introducing general-purpose software.例文帳に追加

汎用ソフトウェア導入後のサーバーの動作確認の際に必要な試験項目書の作成方法について、試験時間が限られている場合であっても、重要な試験項目を抽出するシステムを提供する。 - 特許庁

The test device two-dimensionally moves a video camera for photographing the alignment mark in a plane parallel to the board supported on a test stage and a camera stage of a test station in first and second directions crossing each other.例文帳に追加

検査装置は、アライメントマーク撮影用のビデオカメラを、検査ステーションにおいてカメラステージ、検査ステージに受けられた基板と平行の面内で互いに交差する第１及び第２の方向に二次元的に移動させる。 - 特許庁

To provide a memory which realizes a reduction of a test period and an improvement in test accuracy in high operating frequency by switching an operating mode according to DMA test entries, and to provide a system LSI which incorporates the memory.例文帳に追加

ＤＭＡテスト項目に応じ動作モードを切り換えることで検査時間の短縮と高い動作周波数での検査精度の向上とを実現するメモリ、及びそれを内蔵するシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To support improvement in the level of proficiency in technical knowledge of each constructor by making the constructor of work perform test items following a test instruction and evaluating achievement of element work based on the test items.例文帳に追加

工事の施工者に検査指示書に従う検査項目を実施させ、要素作業の実施実績を検査項目により評価することにより各施工者ごとの技術知の習熟度の向上を支援する。 - 特許庁

This cleaning device ejects the cleaning liquid in the cleaning liquid tank 1 from the point of the nozzle 2 provided in the cleaning liquid tank 1 to an erected test tube 3 or a test tube 3 with the bottom inclined upward to clean the test tube 3.例文帳に追加

本発明の洗浄装置は、洗浄液タンク１内の洗浄液を、洗浄液タンク１に設けられたノズル２の先端から、倒立または底を上面に傾斜させた試験管３に噴射させて洗浄する。 - 特許庁

The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加

データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁

The system is provided with: a test capsule 2 with a built-in permanent magnet; and a position detector 3 for detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a static magnetic field from the permanent magnet built in the test capsule 2.例文帳に追加

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる静磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。 - 特許庁

To facilitate the removal of a test piece by preventing a test piece gripped taper bush from being stuck in a chucking rod due to thermal expansion, baking, etc., in a high-temperature high-speed rotary bend fatigue test at medium/high temperatures.例文帳に追加

中・高温の高温高速回転曲げ疲れ試験において、熱膨張、焼き付けなどにより試験片を把持したテーパーブッシュがチャッキングロッドから外れなくなることを防止して試験片の取り外しを容易にする。 - 特許庁

When the test signal TEST="L", the EXNOR circuit 43 operates as an inverter in a complementary mode with the switches 21 and 22.例文帳に追加

テスト信号ＴＥＳＴ＝"Ｌ"のとき、ＥＸＮＯＲ回路４３はインバータとして動作し、スイッチ２１と２２とで相補的に動作する。 - 特許庁

To provide a penetration test device capable of determining the penetration resistance corresponding to a standard penetration test also in a centrifugal field.例文帳に追加

遠心場においても標準貫入試験に対応した貫入抵抗を求めることができる貫入試験装置を提供すること。 - 特許庁

In this complex miniature test, the miniature test is conducted on the surface miniature specimen and the internal miniature specimen with a different way, respectively.例文帳に追加

この複合小型試験は、表層小型試験片と内部小型試験片に対してそれぞれ異なる方法で小型試験を行う。 - 特許庁

The slip issuing machine carries out printing of a test pattern 96 at a lower portion of a slip 94 in order to test printing omission of a printing mechanism 90.例文帳に追加

伝票発行機では、伝票９４の下部に印字機構９０の印字欠落をテストするためのテストパターン９６を印字する。 - 特許庁

By properly setting initial setting values of the sections 12 and 17, a performance test is made faster and deterioration in the test is prevented.例文帳に追加

読出部と書込部の初期設定値を適正にすることにより、性能試験の高速化、試験精度の劣化を防止することができる。 - 特許庁

To remarkably improve test efficiency by speedily and accurately specifying a cause of an abnormality within a system, in an installation test.例文帳に追加

設置試験に際しシステム内の異常原因を迅速にかつ的確に特定できるようにし、これにより試験効率を大幅に高める。 - 特許庁

In the transmission characteristic of the optical fiber grating 6, the light of band other than that of the test pulse light is passed, and the band of the test pulse light is blocked.例文帳に追加

光ファイバグレーティング６の透過特性は、試験パルス光以外の帯域の光は透過させ、試験パルス光の帯域は阻止する。 - 特許庁

To achieve high speed operation test in a low speed tester device which can obtain detailed test result.例文帳に追加

この発明は、詳細なテスト結果を得ることが可能で、低速なテスタ装置において高速な動作テストを達成することを課題とする。 - 特許庁

A controller 30 records test data in a PCA area of the optical disk 10 and selects a recording condition which minimizes the jitter of the test data.例文帳に追加

コントローラ３０は、光ディスク１０のＰＣＡエリアにテストデータを記録し、該テストデータのジッタが最小となる記録条件を選択する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device and the like for generating a test pattern for detecting efficiently trouble in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for measuring stray light in a lithographic apparatus using Radiometric Kirk Test (also known as scanning SAMOS test).例文帳に追加

放射キルクテスト（スキャンＳＡＭＯＳテストとしても知られる）を用いたリソグラフィ装置における迷光測定システムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit in which a performance test time can be shortened without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、動作試験時間の短縮を図り得る試験回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this read test, the test data are being written on the data track 113b prior to be written on the tracks 113a, 113c of its both sides.例文帳に追加

このリード・テストにおいて、データ・トラック１１３ｂには、両側トラック１１３ａ、１１３ｃよりも前にテスト・データがライトされている。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of more rapidly and more surely reporting changes in the characteristics of a test object during a test to an operator.例文帳に追加

試験中における試験体の特性変化を、より早くより確実にオペレータに報知することができる材料試験機の提供。 - 特許庁

To easily perform a test in a multi-bit test mode and to output a degeneration result to a same data terminal even when data bit width is different.例文帳に追加

データビット幅が異なる場合においても、容易にマルチビットテストモードでテストを行なって縮退結果を同じデータ端子に出力する。 - 特許庁

The test device for assisting in locating the cable efficiently provides both tone and link pulses simultaneously to the cable under test.例文帳に追加

ケーブルの位置を効率的に特定する助けをするための検査器は、トーンとリンクパルスの双方を検査中のケーブルに同時に与える。 - 特許庁

In this test tube carrying device abutment parts 14 abutting on the test tube are installed to the lower end of holding finger body parts 12 rotatably around rotary shafts 13.例文帳に追加

試験管に当接する当接部１４を、把持指本体部１２の下端に、回転軸１３回りに回転可能に取り付ける。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a pneumatic tire which can make a determination in a short period of time without making a vehicle actually travel.例文帳に追加

実車走行させることなく短期間で判断することができる空気入りタイヤの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a data processor capable of ending the test of a RAM and a test including a user logic circuit further in a short time.例文帳に追加

ＲＡＭのテストおよびユーザロジック回路を含むテストをさらに短時間で終了させることができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device in which both high-speed test and low- speed test can be conducted on one evaluation board.例文帳に追加

１つの評価ボード上で高速試験及び低速試験の両方を行うことができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To reduce detection errors in a test image caused by deformation of a test image conveying medium, while considering also other than detection accuracy.例文帳に追加

試験画像搬送媒体の変形に起因して発生する試験画像の検知誤差を抑えつつ、検知精度以外の要素を加味する。 - 特許庁

To provide a dust explosion test apparatus and a dust explosion test method which can evaluate dust explosibility in a fluid bed.例文帳に追加

流動層の粉塵爆発性を評価することが可能な粉塵爆発試験装置および粉塵爆発試験方法を提供する。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置１００が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

To perform a load test without using a network test tool (load tester), in a repeater provided with a load testing function.例文帳に追加

負荷試験機能を備えた中継装置に関し、ネットワークテストツール（負荷試験機）を用いることなく、負荷試験を行うことを可能にする。 - 特許庁