「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

When s is a string or Unicode string object the in and not in operations act like a substring test.例文帳に追加

s が文字列または Unicode 文字列の場合、 演算操作 in および not in は部分文字列の一致テストと同じように動作します。 - Python

To provide a semiconductor device in which expansion of a test pattern can be performed without changing design of BIST by enabling an operation test in which an address signal supplied from the outside is taken in, in addition to an operation test by BIST.例文帳に追加

ＢＩＳＴによる動作試験に加えて、外部から供給されるアドレス信号を取り込んだ動作試験を可能とすることにより、ＢＩＳＴを設計変更することなく試験パターンの拡充を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

When the start key of a final control element 16 is operated, set in a mode for recording a test pattern, the image data of a test pattern stored in an image memory 18 are read out, and the image data of the test pattern are recorded in two sheets of recording paper 73 and 74 in a recorder 15.例文帳に追加

テストパターンを記録するモードに設定されて、操作部１６のスタートキーが操作されると、画像メモリ１８に記憶しているテストパターンの画データが読み出されて、そのテストパターンの画データが記録部１５で記録紙７３，７４に記録される。 - 特許庁

An environment test apparatus 17 monitors the change in a pressure of a primary side flow channel of a heat exchanger 1 in the environment test apparatus 17 to detect a reduction in pressure due to damage, and determine the presence or absence of damage in the environment test apparatus 17 based on the prescribed reference.例文帳に追加

環境試験装置１７内における熱交換器１の一次側流路の圧力の変化を監視することで、破損による減圧を感知し、所定の基準に基づき、環境試験装置１７内の破損の有無を判別する。 - 特許庁

To provide a technique for eliminating changes and dispersion in luminous energy different in portions on a test piece to eliminate an error in a reflectance, when picking up an image of the test piece on an image sensor, in a test piece analyzer for finding a component concentration in a liquid sample such as a urine by reflection-measuring a coloring degree in a reagent layer on the test piece.例文帳に追加

尿等の液体試料中の成分濃度を試験片上の試薬層の呈色の度合いを反射測定して求めるものであり、試験片の画像をイメージセンサ上に撮像する場合において、試験片上の部位により異なる光量の変化やバラツキを消去することで、反射率の誤差を解消する技術を提供する。 - 特許庁

In the branch prediction circuit test device 1, a random instruction generation part 11 generates a random instruction sequence, and a test execution control part 12 makes a device 2 of the test object execute the instruction sequence.例文帳に追加

分岐予測回路試験装置１のランダム命令生成部１１がランダム命令列を生成し、試験実行制御部１２が該命令列を被試験対象装置２に実行させる。 - 特許庁

To prevent a support bearing from being broken during a test, in a bearing testing device for testing a test bearing by mounting the test bearing on a rotating shaft supported by the support bearing.例文帳に追加

支持軸受に支持された回転軸に供試軸受を装着して当該供試軸受の試験を行う軸受試験装置において、試験中に支持軸受が破壊されることを防止する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a LCD driver and controller capable of measuring resistance of built-in bias resistors and preventing test failure caused by an external factor during a function test.例文帳に追加

内蔵バイアス抵抗のそれぞれの抵抗値を測定できると共に、ファンクションテストの際に、外部要因によるテスト不良を防ぐことのできるＬＣＤドライバ／コントローラのテスト回路を提供する。 - 特許庁

With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加

そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁

To easily execute an inspection test without carrying a remote test device which an inspector uses in the remote test.例文帳に追加

点検者が点検試験の際に使用する遠隔試験装置を携帯することなく、点検試験を簡単に実施することができる点検機能付き遠隔試験中継器を提供するものである。 - 特許庁

This device is provided with an amplifier inputting an output from the test object, turning a phase of noise in the test signal into an opposite phase, and using an output as an output of the test object.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力し、試験信号のノイズを逆位相にし、出力を被試験対象の出力とするアンプを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To attain shortening of a test time of a recording disk and high test reliability by more accurately predicting the number of defects on the basis of a test result about a portion of tracks in the recording disk.例文帳に追加

記録ディスクにおける一部トラックについてのテスト結果によってより正確な欠陥数を予想し、記録ディスクのテスト時間の短縮とより高いテスト信頼性とを実現する。 - 特許庁

Test data obtained by combining the test data of respective items are prepared from these information and set up in a work table 13 and the output of a form is verified based on the set test data.例文帳に追加

そして、それらの情報から各項目のテストデータが組み合わされたテストデータがワークテーブル１３に設定され、設定されたテストデータに従って帳票の出力の検証が行われる。 - 特許庁

Also, at the lower side being closer to the center between the test tube housing sections facing each other in each test tube housing section, a cutting-out roller for cutting out the test tubes one by one is arranged.例文帳に追加

また各試験管収容部における対向する試験管収容部どうしの中央寄りの下部側には、試験管を一本ずつ切り出すための切出ローラが配置されている。 - 特許庁

To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.例文帳に追加

正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

The test circuit 4 is set in a test operation mode including a plurality of modes by switching internal multiplexers 11a, 11b corresponding to a test signal TST[a:b] used as a mode switching signal.例文帳に追加

テスト回路４は、モード切替信号となるテスト信号ＴＳＴ［ａ：ｂ］に応じて内部のマルチプレクサ１１ａ、１１ｂが切り替えられ、複数のモードからなるテスト動作モードに設定される。 - 特許庁

The reaction line is constituted, for example, of an endless track system type provided successively with a plurality of test piece holders, and the internal standard is incorporated in a test piece mounting portion itself of the test piece holder.例文帳に追加

反応ラインは、例えば複数の試験片ホルダーを連ねた無限軌道方式のものから構成され、内部標準は試験片ホルダーの試験片載置箇所自体に組み込む。 - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

Hereby, in the test processes B-D, it is possible to reduce the test time by the time (tb, tc, td) required for the subsequent test items to be tested after the failure judgment.例文帳に追加

この結果、検査工程Ｂ−Ｄにおいて、不良と判定された以降の検査項目にかかる時間（ｔｂ，ｔｃ，ｔｄ）の分だけ検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

A test signal given to the integrated memory is varied in synchronization with a test clock signal, an invalid state is set by a control signal being not synchronizing with this test clock signal, and given to the memory (3).例文帳に追加

混載メモリへ与えられるテスト信号をテストクロック信号に同期して変化させかつこのテストクロック信号と非同期の制御信号で無効状態を設定し、メモリ（３）へ与える。 - 特許庁

To provide a test implementation method in which the test is efficiently carried out with few human resources and scoring of the test is promptly performed with a fair rule.例文帳に追加

少ない人材で効率的に試験を実施することができ、且つ試験の採点を公平な基準で迅速に行うことができる試験の実施方法を提供することである。 - 特許庁

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

To provide a holder for test tube conveyance, capable of holding a test tube having a different diameter in the erected state and without plays with a holder for test tube conveyance of a single kind.例文帳に追加

１種類の試験管搬送用ホルダでもって、直径の異なる試験管をガタつきがない直立状態で保持することができる試験管搬送用ホルダを提供する。 - 特許庁

A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.例文帳に追加

中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁

To perform efficient generation of a test pattern capable of taking account of connection relation of instances on a critical path and avoiding an incorrect test, in creation of a test pattern of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストパタンの作成において、クリティカルパス上のインスタンスの接続関係を考慮し、かつ、誤テストを回避するテストパタンの生成を効率的に行う。 - 特許庁

To provide a device for generating masking data for test which eliminates information leakage of production data in creating test data, and high consistency and validity with original data as a test data.例文帳に追加

テストデータを作成することにおいて、本番データの情報漏洩を無くし、なおかつテストデータとして元のデータとの整合性・有効性が高いテスト用マスキングデータ生成装置を提供する。 - 特許庁

To automatically and accurately inspect a test-target device without preparing reference images for judging images from the test-target device and expectation values of log output from the test-target device in advance.例文帳に追加

テスト対象装置の画像判定を行うための基準画像や、テスト対象装置のログ出力の期待値を予め準備することなく、テスト対象装置を正確に自動検証する。 - 特許庁

To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method.例文帳に追加

組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

The processing device conducts a test of the programmable device, and the processing device conducts a test of the memory device using a built-in self-test circuit (BIST) that the programmable device actualizes.例文帳に追加

前記プログラマブルデバイスのテストは前記プロセッシングデバイスが行い、前記メモリデバイスのテストは前記プログラマブルデバイスに実現したビルトインセルフテスト回路（ＢＩＳＴ）を用いて前記プロセッシングデバイスが行う。 - 特許庁

To perform an accurate vibration test by offsetting vibration coupled to the test vibration in an active vibration isolation device having a function of applying the test vibration to a supporting object.例文帳に追加

被支持体へ試験振動を付加する機能を有するアクティブ除振装置において、その試験振動に連成する振動を相殺し、正確な振動試験を行えるようにする。 - 特許庁

Voltage is applied to the test piece via an applying electrode, and resistivity in each portion of the test piece S is measured by electrically connecting between the test piece S and measuring electrodes P1-n.例文帳に追加

試験体に印加用電極を介して電位を与えると共に、測定用電極Ｐ１〜ｎと試験体Ｓとを導通させて試験体Ｓの各部位における比抵抗を測定する。 - 特許庁

After initializing the programmable logic 6 to be upgraded by new configuration data and a simulation model, a test sequence is carried out in accordance with a test program and both test results are compared with each other.例文帳に追加

新しいコンフィギュレーションデータでアップグレードするプログラマブルロジック６とシュミレーションモデルを初期化した後、テストプログラムに従いテストシーケンスを実行し、両者のテスト結果を比較する。 - 特許庁

To provide a test device improving working efficiency of a test without preparing all devices for a radio communication system in a communication test of a mobile station.例文帳に追加

移動局の通信試験を行う際に無線通信システムのすべての装置を用意する必要がなく、試験の作業効率を向上できるようにした試験装置を提供する。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準（Ｖ_ｒｅｆ＿ｔｅｓｔ）を有する。 - 特許庁

To provide a USB test circuit which generates and outputs packets for measurement for the test of signal quality and uses a USB function for the test in a USB device such as a system LSI having a USB function.例文帳に追加

USB機能を有するシステムLSIなどのUSB装置において、信号品質のテスト用の測定対象パケットを生成および出力して、そのUSB機能をテストに供するUSBテスト回路を提供。 - 特許庁

Also, after test data is written in a memory cell, the self-test circuit discriminates whether the data read out from the memory cell is same as the written test data or not, the comparison result is accumulated.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、試験データをメモリセルに書き込んだ後に、そのメモリセルから読み出した読み出しデータが、書き込んだ試験データと同じか否かを比較し、その比較結果を蓄積する。 - 特許庁

The image data generation section 71 prepares test image data to be outputted to the image data generation section 71 on the basis of test data stored in a test data storage section 78 (EEPROM 65).例文帳に追加

画像データ生成部７１は、テストデータ記憶部７８(ＥＥＰＲＯＭ６５)に格納されるテストデータに基づいて、画像データ生成部７１に対して出力するテスト画像データを作成する。 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

The pickup 24 is first moved to a test recording area of an optical disk 22, switching it to a test pattern generating circuit 64 by a switching circuit 62 and a test pattern signal is recorded in the optical disk 22.例文帳に追加

まず、ピックアップ２４を光ディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号を光ディスク２２に記録する。 - 特許庁

The plural kinds of test elements are formed in a structure that common parts, such as using a same diffusion layer or the like, can be combined so that the plural test elements can be combined into one test element.例文帳に追加

すなわち、各種テスト素子について、同一拡散層を使用している等の共通化できる箇所を組み合わせる構造にして、複数のテスト素子をひとつのテスト素子にする。 - 特許庁

The test data of a bit map image and a plotting command are held in a storage section 12 of a scanner 100 and when carrying out test printing, these test data are transmitted to a printer 200 via an interface 15.例文帳に追加

スキャナ１００の記憶部１２にビットマップイメージと描画コマンドのテストデータを保持し、テストプリント実行時にこれらのテストデータをインターフェース１５を介してプリンタ２００に送信する。 - 特許庁

Data (test data) are recorded in a test disk 10 so that all of data regions are filled up with the data and border-out including information showing that addition of data is impossible is recorded following the test data.例文帳に追加

テストディスク１０には、データ領域の全てが埋まるようにデータ（テストデータ）が記録され、さらに、このテストデータに続いて、追記不可を示す情報を含むボーダ・アウトが記録されている。 - 特許庁