「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

In addition, the provision of the selector in which the ratio between the signal wire and the test stub wiring is N:1 enables obtaining a laminated semiconductor device in which the number of test signal pins is reduced.例文帳に追加

さらに信号線とテスト用スタブ配線との比をＮ：１とするセレクタを設けることでテスト用信号ピンを削減した積層半導体装置が得られる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test of a high frequency operation characteristic in a wafer level can be performed and test yield in a package level can be improved.例文帳に追加

ウェーハレベルにおける高周波動作特性のテストが可能であり、パッケージレベルにおける検査歩留まりを向上させることができる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

From a load cell and extensometer of the testing machine body, test force and an elongation amount in loading the test piece are input in the personal computer and are stored in a temporal storage area.例文帳に追加

試験機本体のロードセルと伸び計から試験片を負荷した際の試験力と伸び量がパーソナルコンピュータに入力されて一時記憶領域に保存される。 - 特許庁

3-2) In the case of positive results in somatic cell genotoxicity tests using mammals (Unscheduled DNA Synthesis (USD) test using mammalian liver, Sister Chromatid Exchanges (SCE) using mammalian bone marrow, etc.), and positive results in a mutagenicity test in vitro (chromosome aberration test using mammalian cultivated cells, gene mutation test using mammalian cultivated cells, reverse mutation test using bacteria, etc.)例文帳に追加

3-2）ほ乳類を用いる体細胞の遺伝毒性試験（ほ乳類肝臓を用いる不定期 DNA 合成（USD）、ほ乳類骨髄を用いる姉妹染色体交換（SCE）など）において陽性であり、かつ、in vitro 変異原性試験（ほ乳類培養細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類培養細胞を用いる遺伝子突然変異試験、細菌を用いる復帰突然変異試験など）で陽性の場合 - 経済産業省

That is, a circuit for generating the CT value in order, a circuit for making a BIST (Built In Self Test) circuit operate and holding its result (right or wrong value) and a circuit for controlling them are held in the macro.例文帳に追加

すなわち、ＣＴ値を順次生成する回路、ＢＩＳＴ(Built In Self Test)回路を動作させその結果（正否値）を保持する回路、それらを制御する回路をマクロ内に保有する。 - 特許庁

To provide carrying in and cut apparatus for a large-sized test object, for smoothly performing the moving work, when the large-sized test object is carried in and fed out and adjusted, and which is simple in structure and does not have problem in connection with a tester body.例文帳に追加

試験体の搬入搬出、及び調整時の移動作業が円滑で、構造が簡単かつ試験装置本体との取合いに問題のない構造とすることである。 - 特許庁

In a mode in which the waiting time is decided, a test pressure is given, the valves are closed in the same manner as in the test mode, and the piston 21 of an air cylinder 20 is moved at a set speed by a movement means 30.例文帳に追加

この待ち時間を決定するモードでは、上記テストモードと同様にテスト圧付与、弁閉じの後、エアシリンダ２０のピストン２１を移動手段３０により一定速度で移動させる。 - 特許庁

To provide a resin composition excellent in a low dielectric characteristic and heat resistance, and also excellent in resistance to crack in reliability tests such as a pressure cooker test and a heat cycle test and in a solvent.例文帳に追加

低誘電特性、耐熱性に優れ、さらにプレッシャー・クッカー試験、ヒートサイクル試験などの信頼性試験やソルベントに対する耐クラック性に優れる樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

In the Web application function test terminal 1, a function test part 15 sends user event information in scenario information in one scenario recorded in a scenario recording part 13 to a plurality of Web browsers 11.例文帳に追加

Webアプリケーション機能試験端末１では、機能試験部１５が、シナリオ記録部１３に記録された１つのシナリオのシナリオ情報のユーザイベント情報を複数のWebブラウザ１１に送信する。 - 特許庁

In this test pattern dots are regularly lined in a main scanning direction and a sub scanning direction, thereby the test pattern is viewed in a uniform condition without unevenness in density when printing in suitable recording timing.例文帳に追加

このテストパターンは、主走査方向および副走査方向に規則正しくドットが並んでいるため、適正な記録タイミングで印刷された場合には、濃淡のムラのない一様な状態として目視される。 - 特許庁

A test device regarding station service equipment has a transmitting/receiving means which interprets test command data regarding a test command, transmits the test command to the station service equipment side, and receives a response corresponding to the transmitted test command from the station service equipment side when the test command data is generated based on test specifications stored in a storage means.例文帳に追加

駅務機器に関する試験装置であって、記憶手段に記憶された試験仕様書に基づいて試験コマンドに関する試験コマンドデータが生成されると、試験コマンドデータを解釈して、試験コマンドを駅務機器側に送信し、送信した試験コマンドに対応するレスポンスを駅務機器側より受信する送受信手段を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

To improve test efficiency of a unit test of software by automatically generating a stub function mounted with an interface of input/output between a lower function called by a function of a test target and the function of the test target, in the unit test of the software using the stub function.例文帳に追加

スタブ関数を用いたソフトウェアの単体試験において、試験対象の関数が呼び出す下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を自動的に生成することにより、ソフトウェアの単体試験の試験効率を向上させること。 - 特許庁

Since the test container 5 is supported from the downside by the heater 6 in this way, a load of the test container 5 and the test liquid is applied to the heater 6, thereby the heater 6 can be stuck close to the bottom part of the test container 5, and heating efficiency of the test liquid can be improved.例文帳に追加

このように、試験容器５を下方からヒータ６で支持することにより、試験容器５及び試験液の荷重がヒータ６に加わるため、ヒータ６を試験容器５の底部に対してより密着させることができ、試験液の加熱効率を向上することができる。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁

When the designated operation mode is an independent test mode for performing mutually different tests independently by each of the plurality of test modules, the central processing unit controls the plurality of test modules in parallel by switching the plurality of test processes relative to each test module and executing it.例文帳に追加

一方、指定された動作モードが、複数の試験モジュールの各々により互いに異なる試験を独立して行わせる独立試験モードである場合には、複数の試験用プロセスを試験モジュール毎に切り替えて実行することにより複数の試験モジュールを並行して制御する。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加

スキャンパステストの際、ユーザクロック（ＵＣＬＫ１〜ＵＣＬＫ３）ドメイン数よりも少ない数のテストクロックＳＣＬＫの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックＳＣＬＫのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路（ＴＣＬＫＣＴＬ）を備えている。 - 特許庁

Steps of (1) moving to a test writing area, (2) recording test data into the test writing area, (3) moving to a head position of an area into which the test data are recorded, (4) reproducing the test data, and (5) determining appropriate power, are performed in parallel for two optical pickup units respectively.例文帳に追加

（１）試し書き領域への移動、（２）試し書き領域へのテスト用データの記録、（３）テスト用データが記録された領域の先頭位置への移動、（４）テスト用データの再生、（５）適切なパワーの決定、が２つの光ピックアップ装置について、それぞれ並行して行われる。 - 特許庁

The propagation stopping performance to the long brittle fracture having a fracture propagation length of ≥1 m is evaluated using a test piece having a width of ≥2 m with a test piece length or a distance between the tips of a tab plate in a test apparatus on which the test piece is placed, of 2.8 times or more of the test piece width.例文帳に追加

試験片幅２ｍ以上の試験片を用いて、き裂伝播長１ｍ以上の長大脆性き裂に対する伝播停止性能を、試験片長さもしくは試験片を取り付ける試験装置のタブ板先端間距離を試験片幅の２．８倍以上として評価する。 - 特許庁

A measuring instrument 100 obtains the test result of the three-point bending test to a test piece and an elastic modulus estimating part 130 calculates the elastic modulus of the test piece on the basis of the inclination of a curve showing the relation between load and displacement contained in the test result.例文帳に追加

本実施例にかかる計測装置１００は、試験片に対する３点曲げ試験の試験結果を取得し、弾性率推定部１３０が試験結果に含まれる荷重と変位との関係を示す曲線の傾きに基づいて試験片の弾性率を算出する。 - 特許庁

To prevent the rebounding of a test object colliding with a landing surface not only to enable a certain single impact test but also to automate a repeating test at the same time in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.例文帳に追加

試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、着地面に衝突した試験対象物のリバウンドを防止して、確実なシングルインパクト試験を可能とし、同時に繰返し試験の自動化も可能とする。 - 特許庁

When a test execution part 68 detects a test execution operation by differently pushing an alarm stop switch 20 in a normal monitoring state, the test execution part 68 outputs a prescribed point in a fire alarm sound of a prescribed pattern, such as a sweep alarm sound to be subjected to acoustic pressure measurement test, as a test sound from a speaker 56.例文帳に追加

試験実行部６８は、通常監視状態における警報停止スイッチ２０の押分け等による試験実行操作を検知した場合、所定パターンの火災警報音の内の音圧測定の対象となるスイープ警報音などの所定箇所をスピーカ５６から試験音として出力させる。 - 特許庁

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12.例文帳に追加

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。 - 特許庁

A report output part 16 judges whether all test items are tested for every test from information indicating correspondence between the message to be stored in the message storage part 14, a test vector name to be stored in a test information storage part 15 and the test item to be tested by them and outputs its result by a report.例文帳に追加

そして、レポート出力部１６は、このメッセージ記憶部１４に記憶されるメッセージとテスト情報記憶部１５に記憶されるテストベクトル名とそれによりテストされるテスト項目との対応を示す情報とからテスト毎にその全てのテストの項目がテストされているか否かを判定し、その結果をレポート出力する。 - 特許庁

The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals.例文帳に追加

テスト回路１４は、テストスイッチ１５が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路７が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路７が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。 - 特許庁

A test observing system 1 comprises a first system 2 on a person responsible to test side who performs a test in the test field, a second system on the attester side who present in the position distant from the test field, and Internet 4 for data-communicably connecting the first system 2 to the second system 3, and this method is applied thereto.例文帳に追加

試験立会いシステム１を、試験現場において試験を行う試験担当者側の第１のシステム２と、試験現場から離れた位置に居る立会者側の第２のシステム３と、第１のシステム２と第２のシステム３とをデータ通信可能に接続するインターネット４とから構成し、前記方法を適用した。 - 特許庁

Tests not used for classification: In vitro genotoxicity tests (comet test using mammalian cultivated cells, UDS test using mammalian cultivated cells, DNA repair test using grass bacillus (Rec-assay), umu test using Salmonella typhimurium, SOS test using colon bacillus, various tests using yeast, etc.), and host-mediated assay (refer to 1. Item 9))例文帳に追加

分類には使用しない試験： in vitro 遺伝毒性試験（ほ乳類培養細胞を用いるコメット試験、ほ乳類培養細胞を用いる UDS試験、枯草菌を用いるＤＮＡ修復試験(Rec-assay)、ネズミチフス菌を用いる umu試験、大腸菌を用いる SOS 試験、酵母を用いる各種試験、など）や宿主経由試験（1. 9）項参照） - 経済産業省

A tensile test on the test piece of the panel is carried out, to compute Young's moduli E_x, E_y and Poisson's ratio ν_xy, in the biaxial directions in the surface of the panel(S2).例文帳に追加

パネルの試験体の引張試験を行い、パネルの面内の２軸方向についてのヤング率Ｅ_ｘ，Ｅ_ｙとポアソン比ν_ｘｙを算出する（Ｓ２）。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

To make the time required to read a test pattern as short as possible in the case of reading the test pattern several times in the case of calibration of an image forming device.例文帳に追加

画像形成装置のキャリブレーションに際してテストパターンを複数回にわたって読取る場合にできるだけそれに要する時間を抑制する。 - 特許庁

To improve inspection quality in a test program used for semiconductor manufacturing inspection.例文帳に追加

半導体製造検査に用いるテストプログラムにおける検査品質の向上。 - 特許庁

This scan test circuit is constructed by connecting scanning flip-flops 1 in cascade.例文帳に追加

スキャン用フリップフロップ１を縦列接続してスキャンテスト回路を構成する。 - 特許庁

To test a device at any speed lower than the real time operating speed in the dummy base station device communicable with the device under test in different communication systems.例文帳に追加

異なる通信方式で被測定デバイスと通信可能な擬似基地局装置において、実時間動作速度以下の任意の速度で試験が行えるようにする。 - 特許庁

JIG FOR INSTALLATION OF CONNECTING PIPE IN WIND TUNNEL MODEL, AND MODEL FOR WIND TUNNEL TEST例文帳に追加

風洞模型の導圧管取付用治具及び風洞試験用模型 - 特許庁

A memory cell block for the acceleration test and a memory cell block for a normal operation are prepared in the SRAM block to carry out the acceleration test and a normal operation in parallel.例文帳に追加

加速試験は、ＳＲＡＭブロック中に加速試験用のメモリセルブロックと通常動作用のメモリセルブロックを用意し、通常動作と並行して行う。 - 特許庁

To obtain a high-reliability test result in a load test of a parallel processor device, and to rapidly specify an abnormal part in failure diagnosis.例文帳に追加

並列プロセッサ装置の負荷試験において信頼性が高い試験結果を得るとともに、障害診断において迅速に異常箇所の特定を行うこと。 - 特許庁

To provide a test cartridge and an analytical system enhanced in flexibility and versatility in execution of an analytical test.例文帳に追加

分析試験の実施における柔軟性及び多様性を高めることを追求して改良された、こうしたテスト・カートリッジ及び分析システムを提供すること - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

In addition, the subscriber data management interface part 115 receives a test result according to the test scenario from the applicable mobile station in response to an instruction of outgoing.例文帳に追加

また、該加入者データ管理インタフェース部１１５は、発信の指示に応答して試験シナリオに応じた試験結果を該当する移動局から受信する。 - 特許庁

To provide a tensile test method and a device capable of performing inexpensively a test in a low speed area, in a tensile tester of a Hopkinson bar system.例文帳に追加

ホプキンソンバー方式の引張り試験機において、安価に低速域の試験も行える引張り試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Further, since, in the EDS file, specification and the content of test are described in association with each other, the content of test are easily obtained.例文帳に追加

さらに、ＥＤＳファイルは、仕様書の部分と、テスト内用を記載した部分とが、互いに対応しながら記載されているので、そのテスト内容が把握しやすい。 - 特許庁

Further, based on the first relation information, second relation information for relating a test having the same cause in which the test resulted in rejection is created.例文帳に追加

さらに、第１関係情報に基づいて、試験が不合格となった原因が同じである試験を関連付ける第２関係情報を作成する。 - 特許庁

To enable installation in narrow location and improve work environment of balance test.例文帳に追加

狭い場所でも設置可能で、釣合い試験の作業環境を改善する。 - 特許庁

To obtain highly reliable test results in the load test of a parallel processor device and also quickly specify an abnormal place in a failure diagnosis.例文帳に追加

並列プロセッサ装置の負荷試験において信頼性が高い試験結果を得るとともに、障害診断において迅速に異常箇所の特定を行うこと。 - 特許庁