「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

Consequently, no reflection occurs in signals and no distortion occurs in test waveforms.例文帳に追加

これによって試験時に信号の反射が起こらず、試験波形に歪みが発生しない。 - 特許庁

The simulation is executed in simultaneous operation in parallel with the test scenarios G1, G2.例文帳に追加

また、このテストシナリオＧ１とＧ２とは同時並行的に動作して、シミュレーションを実行する。 - 特許庁

The test results are shown in the following Figure-2 and 3.In all of the supplied areas, positive colonies of coliforms are detected.例文帳に追加

その結果は、以下の図のとおりであり、全配水区で大腸菌が検出された。 - 厚生労働省

to test the reform in a part of an enterprise as a primary step in economic reform 例文帳に追加

経済改革の前段階として,一部の企業に実験的に改革を試みること - EDR日英対訳辞書

To perform image quality evaluation suitable to a test pattern for use in image quality evaluation.例文帳に追加

画質評価に用いるテストパターンに適した画質評価を行う。 - 特許庁

The device uses a laser light source 10 in order to irradiate the test piece.例文帳に追加

該装置は試験物を照射するため、レーザ光源１０を使用する。 - 特許庁

Next, a refresh address for a first test is stored in a data store circuit 51.例文帳に追加

次に、データストア回路５１内にテスト用リフレッシュアドレスを記憶させる。 - 特許庁

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

The plurality of unit plates 4 are layered to execute the burn-in test.例文帳に追加

この試験ユニット板４を複数積層してバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

The test strip 31 is evaluated in the inside of the rapid diagnostic apparatus.例文帳に追加

テストストリップ３１は、迅速診断装置の内部で評価が行われる。 - 特許庁

To efficiently expand test coverage in dynamic verification of a program.例文帳に追加

プログラムの動的検証においてテストカバレッジを効率的に拡大する。 - 特許庁

In this way, the test mode is transparent to any memory tester.例文帳に追加

このようにして、検査モードは、任意のメモリテスタに対し透過的となる。 - 特許庁

In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.例文帳に追加

この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁

An exhaust speed of fluorine exhausted in a power generation test is obtained.例文帳に追加

発電試験において排出されるフッ素の排出速度を求める。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR EARLY Z TEST IN THREE-DIMENSIONAL IMAGE RENDERING例文帳に追加

３次元画像のレンダリングにおける早期Ｚテスト方法およびシステム - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

To prevent a device for games from being left alone in a test mode.例文帳に追加

遊技用装置がテストモードのまま放置されることを防止すること。 - 特許庁

CDM TEST DEVICE FOR INDIVIDUAL INTEGRATED CIRCUIT IN WAFER STAGE例文帳に追加

ウエハ段階にある個別の集積回路に対するＣＤＭ試験装置 - 特許庁

BURN-IN TEST DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE DEVICE例文帳に追加

バーンイン試験装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

To shorten test time, while suppressing increase in circuit scale.例文帳に追加

回路規模の増大を抑えつつテスト時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

To measure the refractive index of a test object in a short period of time and with high accuracy.例文帳に追加

被検物の屈折率を短時間で高精度に計測すること - 特許庁

ABNORMALITY DETECTING METHOD OF TEST WATER PASSAGE IN CONTINUOUS ORGANIC POLLUTION MONITOR例文帳に追加

連続式有機汚濁モニタにおける検水流路の異常検知方法 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

A screening test is next implemented on the burn-in tested semiconductor chip and a burn-in test is implemented on a non-tested semiconductor chip.例文帳に追加

次の回では、バーンイン試験した半導体チップに対し選別試験を実施し、未試験の半導体チップに対しバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR SWITCHING REDUNDANT CIRCUIT IN SRAM PELLET例文帳に追加

ＳＲＡＭペレットにおける冗長回路切り替えのための検査方法 - 特許庁

LEAKAGE TEST METHOD BY LEAKAGE VIBRATION WAVE FORM IN DANGEROUS CONTENT STORAGE TANK例文帳に追加

危険物貯蔵タンクの漏洩震動波形からの漏洩検査方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test mode can be set by an address key when a test in which high power source voltage is applied is performed.例文帳に追加

高い電源電圧を印加する試験を行なっている場合にアドレスキーによってテストモードの設定が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

DYEING DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING TEST IN LABORATORY例文帳に追加

実験室での試験を実施するための染色装置及び染色方法 - 特許庁

A test for confirming data arrival in synchronizing is performed.例文帳に追加

また、データが同期的に到着することを確かめるテストが行われる。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

ＲＡＭにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

To contain a maximum number of test strips protected from moisture in a test strip magazine which is exchangeable in an analyzer of mobile type.例文帳に追加

携帯型分析装置中で交換可能なテストストリップマガジン中に、湿気に対して防御された最大限の数のテストストリップを収容する。 - 特許庁

A probe (203) is moved to thrust a saliva sampling needle (204) in each of the test tubes (202) successively mounted on a guide (201) to inject saliva in each of the test tubes.例文帳に追加

プローブ（２０３）を移動させて、ガイド（２０１）に順次装填される試験管（２０２）に唾液採取針（２０４）を刺して唾液を注入する。 - 特許庁

To provide a test mode semiconductor memory device in which individual reset can be performed.例文帳に追加

個別リセットが可能なテストモード半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EXECUTING UNIT TEST IN APPLICATION HOST ENVIRONMENT例文帳に追加

アプリケーションホスト環境においてユニットテストを実行する方法および装置 - 特許庁

A method for judging the sugar level in the urine by dipping the test strip in the collected urine sample, and comparing the color of the test strip with the colors on the color chart 例文帳に追加

採取した尿に試験紙を浸漬し、呈色した試験紙の色と色調表とを比較し、尿糖の量を判定する方法。 - 特許庁

(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加

四　登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In a general test, controller software 11 transfer a command stored in a device test program storage part 12 to a thermostatic bath 20 or tester part 30 according to description order of programs to perform a burn-in test.例文帳に追加

コントローラソフトウェア１１は、通常試験の場合には、デバイステストプログラム記憶部１２に記憶されている命令をプログラムの記述順に従って恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送してバーンイン試験を行う。 - 特許庁

PHASE SHIFT MEASUREMENT DEVICE FOR SPREAD CODE IN MOBILE TERMINAL TEST DEVICE例文帳に追加

移動端末試験装置における拡散コードの位相ずれ測定装置 - 特許庁

To provide a circuit which reduces an increase in the number of scan path test clock terminal.例文帳に追加

スキャンパステストクロック端子数の増大を抑止する回路の提供。 - 特許庁

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

The test sample for evaluation is formed into tablets in the tableting step.例文帳に追加

タブレット成形工程で、評価用試料をタブレット状に成形する。 - 特許庁

In addition, offset of the test results histogram to the reference histogram is determined.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

To facilitate a test of a receiver trip level in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路内において受信器トリップ・レベルのテストを容易にする。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR WRITING DATA IN MEMORY OF INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS例文帳に追加

集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置 - 特許庁