「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

Information for identifying the processes carried out on respective test substrates and reusable processes selected for respective test substrates is stored in a history database of the test substrates.例文帳に追加

各々のテスト基板上で行なわれたプロセス及び各々のテスト基板に対して選択された再生利用プロセスを識別する情報がテスト基板の履歴データベースにストアされる。 - 特許庁

A test signal of a plurality of bits in which only a test control signal T1 becomes a high level and test control signals T2 to Tn become a low level is inputted to a decoder DEC.例文帳に追加

また、デコーダＤＥＣにテスト制御信号Ｔ１のみがハイレベルとなり、テスト制御信号Ｔ２乃至Ｔｎがロウレベルとなる複数ビットのテスト信号を入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which total test time can be shortened and processing for redundancy operation for each test can be accelerated.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、毎回の試験ごとのリダンダンシ演算に係る処理を高速化できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

Regarding each predetermined test of a test module, test environment and forms of input value and output value are uniquely determined by information stored in the information system.例文帳に追加

テストモジュールの所定の各テストに関して、テストの環境と入力値及び出力値の形式は、情報システムに保存された情報によって一義的に決定される。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

To carry out a withstand voltage test that produces a result of determination even when the test is forcibly terminated from outside in the middle of test time set by a timer.例文帳に追加

耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。 - 特許庁

To prevent the electric interference of a chip under test with a chip not under test among chips probed simultaneously in the wafer test of an IC by a multi-probing method.例文帳に追加

マルチプロービング方法によるＩＣのウェハテストにおいて、同時にプロービングされたチップのうちテスト中のチップに非テスト中のチップからの電気的干渉の発生を防ぐ。 - 特許庁

A test information management apparatus 1 performs a test concerning the propriety of software behavior in a device that is installed with the software, and manages the result of the test.例文帳に追加

本発明に係るテスト情報管理装置１は、ソフトウェアを実装した装置においてソフトウェアの挙動の適否に関するテストを行い、そのテスト結果を管理する。 - 特許庁

To provide a simulated transformer and a withstand voltage simulated test device capable of attaining a withstand voltage test in simulation with low voltage and easily changing test conditions.例文帳に追加

低い電圧で耐電圧試験を模擬的に実現することができ、且つ試験条件を容易に変更することができる模擬変圧器及び耐電圧模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).例文帳に追加

次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁

To provide a test plate for an analyzer which can solve the problems of conventional test paper used in an analyzer, and an analyzer using the test plate.例文帳に追加

分析機で用いられる従来の試験紙の持つ問題点を解決することができる分析機用試験プレート及び該試験プレートを使用する分析機を提供すること。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a structure for passing supersonic working fluid capable of safely performing a test in a lower temperature area than an actual operating temperature area.例文帳に追加

実際の動作温度域よりも低い温度域で安全に試験できる超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a packet transfer test device and a packet transfer test method which can surely specify discarded packets in the packet transfer test.例文帳に追加

本発明の目的は、パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a scan test circuit, satisfying the overall fault coverage and reduced in a chip size by simplifying the scan test circuit, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

スキャンテスト回路の単純化でチップサイズが低減し、全体フォールトカバレージも満足するスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test specifications creation support system and method for automatically creating test specifications corresponding to a description of a software requirement and eliminating an omission of a description in the test specifications.例文帳に追加

ソフトウェア要件の記述に対応したテスト仕様を自動作成し、テスト仕様書において記述の漏れを無くすテスト仕様書作成支援システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a software test item selecting device which efficiently selects test items to be retested from already performed test items in consideration of an uncorrected fault module.例文帳に追加

未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第１のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

The indentation test of the indenter 14 is performed with respect to the test piece S to calculate the Young's modulus of the test piece S on the basis of the indentation quantity and elastic recovery in the maximum load.例文帳に追加

試験片Ｓに対して前記圧子14の押込み試験を行ってその最大荷重における押込み量と弾性回復量に基づいてヤング率を算出する。 - 特許庁

The test drug reception control system supervises if a test drug delivered from a pharmacy to the subject participating in a clinical test should be administered to the subject.例文帳に追加

本発明は、臨床試験に参加する被験者に薬局から渡される試験薬が、被験者に投与すべき試験薬であるかを監視する試験薬受領管理システムである。 - 特許庁

Test pattern data with a single gray pixel value is formed in an image recording medium as a test pattern image, and the test pattern image is obtained as image data to be evaluated.例文帳に追加

単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

A decoder 24B for BIST decodes a test command inputted to an interface 23 for BIST and selects test information stored in the test signal storage part 24A.例文帳に追加

ＢＩＳＴ用デコーダ２４Ｂは、ＢＩＳＴ用インタフェース２３に入力されたテストコマンドをデコードし、テスト信号記憶部２４Ａに記憶されたテスト情報を選択する。 - 特許庁

To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法に関し，低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a determination method of a test object, capable of measuring simply and accurately the concentration of the test object in a test sample having a coexisting interfering material.例文帳に追加

妨害物質が共存する被検試料中の被検物質の濃度を簡便、かつ正確に測定することができる被検物質の定量方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for evaluating an electrophotographic toner in which the performance of the toner after a copying test can be rapidly and readily evaluated without carrying out the copying test and a heating test.例文帳に追加

コピー試験や加熱試験を行うことなくコピー試験後のトナーの性能を迅速且つ簡便に評価できる電子写真用トナーの評価方法を提供する。 - 特許庁

A control circuit 14 controls test operation about whether main body memory cells 20A are operated normally or not based on the test information held in the test signal register 19.例文帳に追加

テスト信号レジスタ１９に保持されたテスト情報に基づいて、制御回路１４は本体メモリセル２０Ａが正常に動作するか否かのテスト動作を制御する。 - 特許庁

To provide a novel mutagenicity test (Ames test) method that solves the problems in the conventional Ames test procedure and can specifically detect the mutagenic metabolism activation caused by sulfation.例文帳に追加

従来のＡｍｅｓ法の問題点を解消し、硫酸化による変異原代謝活性化を特異的に検出することのできる新しいＡｍｅｓ法を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test program and a test method capable of performing a load change test in accordance with a hardware configuration on a target system with an arbitrary hardware configuration.例文帳に追加

任意のハードウェア構成を有する対象装置についてハードウェア構成に応じた負荷変動試験を実施することができる試験プログラムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

In this microprocessor, a test address different from a boot address is selected after the reset of the microprocessor, a test program is executed on the basis of the selected test address.例文帳に追加

この発明は、マイクロプロセッサのリセット後に、ブートアドレスとは別のテストアドレスを選択し、選択したテストアドレスに基づいてテストプログラムを実行するように構成される。 - 特許庁

The first test module is configured to provide a first test pattern to the second test module on the interconnect in response to a first signal from the operating system.例文帳に追加

第１のテストモジュールは、構成されて、オペレーティングシステムからの第１の信号に応答して、第１のテストパターンを、相互接続部上の第２のテストモジュールに供給する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by performing a test continuously by using a high speed clock signal in an expected value determination test and defective cycle detection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の期待値判定テストおよび不良サイクル検出に関し、高速のクロック信号を用いて連続してテストを行うことでテストに係る費用を削減する。 - 特許庁

To quantitatively measure what degree a test is covered to a program module to be an object and to notify a person in charge of the test of it when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールに対してどの程度試験が網羅されたかを定量的に測定して試験担当者に知らせる。 - 特許庁

To provide a deterioration test method and a deterioration test system capable of conducting a deterioration test in a shorter time and with high accuracy by performing position management of a laser focal point.例文帳に追加

レーザー合焦点の位置管理を行い、より短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法及び劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test data generating program, a test data generating device, and a test data generating method, capable of improving exhaustiveness in validation for logic verification.例文帳に追加

論理検証における検証網羅性を向上させることが可能なテストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reproduce access to a testee Web application in a test, and test the influence of the test on the testee Web application or other Web applications.例文帳に追加

テストの実施に際し、テストを実施するＷｅｂアプリケーションへのアクセスを再現し、また、テストによって被テストＷｅｂアプリケーションまたは他のＷｅｂアプリケーションへ及ぼす影響をテストする。 - 特許庁

To provide a reaction tube for a gene by which a test time in a genetic test is shortened to extremely improve test efficiency; and to provide an apparatus for detecting the gene.例文帳に追加

遺伝子検査における検査時間を短縮して検査効率を大幅に向上させることのできる遺伝子反応管および遺伝子検出装置を提供すること。 - 特許庁

A trail vehicle and real vehicle test items using this are presented so as to be displayed in an experiment/research department based on a virtual test result and an already existing real vehicle test result.例文帳に追加

仮想試験結果と既存の実車試験結果に基づいて、実験研究部門に対して試作車とそれを用いた実車試験項目を提示すべく表示する。 - 特許庁

Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.例文帳に追加

テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

In1 a test head 18B, semiconductor devices D in odd-numbered rows and odd-numbered column1s among the semiconductor devices D mounted on the test board 1 after the completion of test in the test head 18A, and then semiconductor devices D in odd-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

また、テストヘッド１８Ｂにおいて、テストヘッド１８Ａにおける試験が終了したテストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち奇数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、奇数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁