「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

A system test information generation means 14 generates system test information showing arrangement order of the function test arranged correspondingly to arrangement order of the business step composing the business flow in each business flow shown in the flow information from the function test information.例文帳に追加

システムテスト情報生成手段１４は、機能テスト情報から、フロー情報に示された業務フローごとに、業務フローを構成する業務ステップの並び順に対応して並べた機能テストの並び順を示すシステムテスト情報を生成する。 - 特許庁

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁

6) There are more chemicals for which only in vitro test data has been obtained than chemicals for which data sets of in vivo and in vitro tests have been obtained.例文帳に追加

6) In vivo および in vitro 試験からなるデータセットが得られる化学物質よりもむしろ in vitro 試験データしか得られない化学物質が多い。 - 経済産業省

In a test pattern load device 30, the test patterns to be executed are divided into a size storable in the memory 11 for storing the test patterns and stored in parallel and horizontal directions in the memory 11 for storing the test patterns, and test program information indicating the location of storage and division information on the number of divisions etc. are reported to a verification processing part 13.例文帳に追加

テストパターンロード装置３０で、実行すべきテストパターンを、テストパターン格納用メモリ１１に格納可能なサイズに分割してこれをテストパターン格納用メモリ１１の水平方向並列に格納すると共に、その格納位置を表すテストプログラム情報及び分割数等の分割情報を検証処理部１３に通知する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.例文帳に追加

設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁

After writing the test writing information, a test writing recording state verifying means verifies whether the test writing information are recorded in two recording tracks T1, T2 or in one track.例文帳に追加

試し書き情報の書き込み後、試し書き記録状態検証手段は、試し書き情報が記録トラックＴ１，Ｔ２の２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering test system which can compute actual surface temperature of a test piece aiming at accurate and stable weathering test in order to control environmental conditions in a laboratory.例文帳に追加

正確で安定した耐候試験を目的として、試験室内の環境条件を制御する為に、試験片の実際の表面温度を求めることのできる促進耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a test piece and its manufacturing method which enables insulation deterioration to be clearly observed in time, without destroying the test piece structure in an insulation evaluating test between inner layers.例文帳に追加

内層回路間の絶縁性評価試験において、絶縁劣化現象を、試験片を構造破壊せず、かつ経時的に、明瞭に観察できる試験片及びその作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus which has a ferroelectric memory and of which the test time can be shortened, and a test method therefore in a test in which stress voltage is applied to a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

強誘電体キャパシタにストレス電圧を与える試験において、試験時間を短縮することができる強誘電体メモリを有する集積回路装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

By this constitution, the density state in the test piece 30 becomes almost equal to that of the evaluation target layer of the on-the-spot ground, and the compression test is performed with respect to the test piece 30 in the state near to the actual execution time.例文帳に追加

これにより、供試体３０内部の疎密状態が、現地地盤の評価対象層とほぼ同等となり、実際の施工時に近い状態の供試体３０で圧縮試験を行うことができる。 - 特許庁

At the location of a gap formed in a region of a test subject 3 in a gray image of the test subject 3 imaged by a camera 1, a plurality of swath of test regions intersecting at the location are set.例文帳に追加

被検査物３をカメラ１で撮像した濃淡画像の中で被検査物３の領域内に形成された隙間の部位に、当該部位に交差する帯状の検査領域を複数設定する。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

In a personal computer (PC), when instructions to output a test image is input by a test image forming section (Yes in #1), a command part instructs the output of the test image to an image forming apparatus (#2).例文帳に追加

パーソナルコンピュータ（ＰＣ）は試験画像生成部により試験画像を出力する指示が入力されると（♯１でＹＥＳ）、指令部は試験画像の出力を画像形成装置に指示する（♯２）。 - 特許庁

The apparatus can reduce the time required to manufacture the test piece and can improve uniformity in quality of test piece by directly manufacturing the test piece from the board using the laser beam in am automated manner.例文帳に追加

自動化方式にレーザービームを利用して基板から直接試片を製造することによって、試片製造に必要とする時間を短縮し、試片品質の均一度も向上させることができる。 - 特許庁

To improve test efficiency as a whole by detecting early a defective product in a test process in a test method for a system LSI incorporating a plurality of semiconductor memories each having a redundancy relieving function.例文帳に追加

冗長救済機能を有する複数の半導体メモリを混載したシステムＬＳＩの検査方法において不良品を検査工程にて早期に発見し、全体として検査効率を向上する。 - 特許庁

To execute test processing according to a test signal inputted from a test terminal while providing high security in a memory device for holding data even in case of power cutoff.例文帳に追加

本発明は、電源遮断時にもデータを保持するメモリ装置に関し、高いセキュリティを実現しつつ、テスト端子から入力されるテスト信号に従ってテスト処理を実行できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

The test die may be designed, in accordance with a design methodology (100) for a test die and a product die that includes the step of concurrently designing test circuitry (202A, 402, 404) and product circuitry in a unified design (102).例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路(202A,402,404)及び製品回路を統合化された設計(102)に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論(100)に従って設計可能である。 - 特許庁

A person in charge in the medical institution 9 refers to test item data 28 from a computer 33, inputs the test to be requested to the electronic form 26 of a test request and transmits it to a WWW server 21.例文帳に追加

医療機関９の担当者は、コンピュータ３３から検査項目データ２８を参照して、検査依頼の電子フォーム２６に依頼する検査を入力し、ＷＷＷサーバ２１に送信する。 - 特許庁

A command retrieval part 21 and a test timing retrieval part 22 retrieve a specified command included in the test pattern stored in the test pattern storage part 32, and determine the time interval between the retrieved commands.例文帳に追加

コマンド検索部２１及び試験タイミング検索部２２は、試験パターン記憶部３２に記憶されている試験パターンに含まれる特定のコマンドを検索し、検索したコマンド間の時間間隔を求める。 - 特許庁

To provide a method for specifying a tissue fusion system in a test executed before the system is used in surgical operation and automatically executing the test as a part of the starting procedure of self test when turning on a power supply.例文帳に追加

システムを外科手術に使用する前に実施する試験で特定され、電源投入時自己診断などの起動手順の一部として自動で試験を実施する方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

To segment a quality deterioration block, and to efficiently search for the cause of the quality deterioration by acquiring precision close to the line test of End-End even in a test environment in which a test block is divided.例文帳に追加

試験区間を分割して行う試験環境においてもＥｎｄ〜Ｅｎｄの回線試験に近い精度を得て、品質劣化区間の切り分けを行い、品質劣化原因の究明を効率よく行う。 - 特許庁

Subsequently, a test mode starting means 27 reads the test mode corresponding to the determined depressed switch to set it in the optical disk device, and starts the optical disk device in the test mode.例文帳に追加

この後、試験モード起動手段２７は、前記判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。 - 特許庁

To provide a polarizer protection film free from light escaping in a heat test and discoloration in a humidity test, also free from the occurrence of a crack after an endurance test, and having high durability, and to provide a polarizing plate.例文帳に追加

耐熱試験での光抜けや耐湿試験での褪色がなく、しかも耐久試験後にクラックの発生がない、高い耐久性を有する偏光子保護フィルム及び偏光板を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test condition assigning part 13 stores the condition identification code of the test condition data in the condition identification code of the telephone number management data based on the pattern identification code included in test condition data.例文帳に追加

試験条件割当部１３は、試験条件データに含まれるパターン識別コードに基づいて、当該試験条件データの条件識別コードを電話番号管理データの条件識別コードに格納する。 - 特許庁

To perform a logic test without providing an external clock terminal exclusive for test in a test mode of a semiconductor integrated device operating in an internal oscillation circuit.例文帳に追加

内部発振回路で動作する半導体集積装置のテストモードにおいて、テスト専用の外部クロック端子を設けることなく、ロジックテストを行うことができる半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

This device is provided with a test mode discriminating circuit 26 in which a test mode entry signal TME is activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a first time, and test mode signals TM1-TM4 are selectively activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a second time while the test mode entry signal TME is activated.例文帳に追加

１回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＥを活性化し、テストモードエントリ信号ＴＭＥが活性化されている間に２回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモード信号ＴＭ１〜ＴＭ４を選択的に活性化するテストモード判別回路２６を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In burn-in test mode, the charge pump circuits 2, 3, 5, 6, 7, and 8 are stopped from being driven with a burn-in mode signal.例文帳に追加

バーンインテスト時にバーンインモード信号によりチャージポンプ回路２，３，５，６，７，８の駆動を停止させる。 - 特許庁

These may appear in any legal expression. (POSIX bc requires that relational expressions are used only in if, while, and for statements and that only one relational test may be done in them.) 例文帳に追加

(POSIX bcでは、関係演算は、if, while, for 文の中だけで、しかも1 つの関係式しか使用できません。 - JM

In other words, when the candidate fails in the test, the candidate tends to fail in the prime number judgment on one base.例文帳に追加

言い換えると、不合格の場合には、１つの底における素数判定で不合格となる傾向がある。 - 特許庁

To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time.例文帳に追加

オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which brings about further accurate test results by enabling a test to be performed even in a small piece of land by a self-propelled testing machine.例文帳に追加

狭い土地であっても自走式試験機による試験を可能とし、より正確な試験結果を得る試験装置の提供。 - 特許庁

To provide an IC test system capable of quickly retrieving a desired measurement result file, in debugging a test program for IC testers.例文帳に追加

ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なＩＣテストシステムを提供。 - 特許庁

To provide a method and means for holding a test script library to be used in executing the regression test of an application program.例文帳に追加

アプリケーション・プログラムの回帰試験を実施する際に使われる、試験スクリプト・ライブラリを保持する方法と手段を提供する。 - 特許庁

In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置１００がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ３２をオン操作する。 - 特許庁

To provide a substrate test method with which a vivid image can be obtained and the reduction in test time is expected.例文帳に追加

鮮明な画像を得ることができ、検査時間の短縮を期待できる基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test piece and a crack development behavior monitoring device for the test piece capable of grasping and recognizing crack development behavior in advance.例文帳に追加

事前にき裂進展挙動を把握、認識できる試験片および試験片のき裂進展挙動モニタリング装置を提供する。 - 特許庁

A loudspeaker in the sound output mode emits a test sound, and the other loudspeakers function as microphones to collect the test sound.例文帳に追加

出力状態となったスピーカはテスト音声を発生し、他のスピーカはマイクロフォンとして働き、テスト音声が収音される。 - 特許庁

To provide a test chart management system capable of creating a test chart reflecting an actual result of using color in a plurality of image-forming devices.例文帳に追加

複数の画像形成装置での色使用実績を反映したテストチャートを作成できるテストチャート管理システムを提供する。 - 特許庁