「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor storage unit in which a fault eliminating rate in a burn-in test is improved.例文帳に追加

バーンイン試験における不良除去率を向上させた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of improving precision in controlling temperature in the semiconductor device when conducting a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験の際に半導体装置内の温度制御の精度を向上させること。 - 特許庁

In procedure 2, the test chart obtained in Procedure 1 is read into the scanner 16 in a user environment 12.例文帳に追加

手順２は、手順１で取得したテストチャートをユーザ環境１２にあるスキャナ１６で読み取る。 - 特許庁

They also found pleasure in engaging in outrageous and deviant behavior on the streets, such as the killing of a passerby in order to test a new sword, sumo wrestling, and dancing. 例文帳に追加

辻斬り、辻相撲、辻踊りなど往来での無法・逸脱行為も好んで行った。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Accordingly, when only in vitro mutagenicity test data is available, the substance is determined as “Classification not possible” in principle.例文帳に追加

したがって、原則として in vitro 変異原性試験データしかない場合には「分類できない」とする． - 経済産業省

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

A test switch (41) is connected between the first input and the second input of the output amplifier section (40) and is turned on in response to a test signal (TEST) to output the output gradation voltage to the output node (OUT) in a test mode for performing a test related to the output of the D/A converter (50).例文帳に追加

テストスイッチ（４１）は、出力アンプ部（４０）の第１入力と第２入力間に接続され、Ｄ／Ａコンバータ（５０）の出力に関するテストが実施されるテストモードにおいて、テスト信号（ＴＥＳＴ）に応じてオンし、出力階調電圧を出力ノード（ＯＵＴ）に出力する。 - 特許庁

Based on given output instruction data, a test information generating unit 11 generates first test information and second test information in the case of carrying out drawing expansion of the first test information in an actual-image output device 3, and a target image output device 2 outputs the first and second test information.例文帳に追加

与えられた出力指示データに基づいて、第１の試験情報と、第１の試験情報を実画像出力装置３で描画展開した場合の第２の試験情報を試験情報生成部１１で生成して目標画像出力装置２に出力させる。 - 特許庁

A handler is provided with: a test tray for putting a plurality of devices under test thereon; a chamber for putting the test tray therein; an overall heater for collectively heating the plurality of devices under test in the chamber up to a target temperature; and individual heaters provided in the test tray to heat the devices individually.例文帳に追加

複数の被試験デバイスを収容するテストトレイと、テストトレイを収容するチャンバと、チャンバの内部において複数の被試験デバイスを目標温度まで一括して加熱する全体ヒータと、テストトレイに設けられ、複数の被試験デバイスを個別に加熱する個別ヒータとを備える。 - 特許庁

In the ozone exposure test method, dry air is preliminarily passed through a test tank and the air circulating system annexed thereto to circulate ozone-containing air before an ozone exposure test and, thereafter, the ozone exposure test is carried out in the test tank 1 to which air passing treatment is applied.例文帳に追加

オゾン暴露試験方法であって、オゾン暴露試験前に予め試験槽１とそれに付随するオゾンを含む気体を循環させる気体循環系内に乾燥空気を通してから、この通気処理を施した試験槽１にてオゾン暴露試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加

レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁

A server 11 receives a constant design document and a test execution time transmitted from a client 10, and collates test item ID written in the constant design document with a test item table, and temporarily stores the test item information including the priority and test time in the table (S193).例文帳に追加

サーバー１１は、クライアント１０から送信された定数設計書と試験実施時間を受け取り、定数設計書に記載された試験項目IDと、試験項目テーブルとを照合し、優先度と試験時間を含む試験項目情報を一時テーブルに格納する（S１９３）。 - 特許庁

TEST SPECIMEN FOR EVALUATION OF BUILT-IN PASSIVE ELEMENT IN SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD USING IT例文帳に追加

基板内蔵受動素子の評価用試験片およびそれを用いた検査方法 - 特許庁

Write-in data is stored in a memory cell array 1, while test data required for correcting an error is generated for the write-in data and stored in a test data memory cell array 2.例文帳に追加

書き込みデータをメモリセルアレイ１に記憶すると共に、上記書き込みデータに対してエラー訂正に必要な検査データを生成して検査データメモリセルアレイ２に記憶する。 - 特許庁

Web projects created in NetBeans 4.0 unable to use JUnit test packages when opened in NetBeans 4.1.例文帳に追加

NetBeans 4.0 で作成された Web プロジェクトを NetBeans 4.1 で開いた場合、JUnit テストパッケージを利用できない。 - NetBeans

Return the outcome of the test b in a.Note the reversed operands. 例文帳に追加

b in a を調べた結果を返します。 演算子が反転しているので注意してください。 - Python

To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁

These include substances having positive evidence from in vivo somatic cell mutagenicity tests in mammals (mammalian bone marrow chromosome aberration test, mammalian erythrocyte micronucleus test, mouse spot test, etc.), or positive results in in vivo somatic cell genotoxicity tests (in vivo liver unscheduled DNA synthesis (UDS), mammalian bone marrow sister chromatid exchanges (SCE), etc.) which are supported by positive results from in vitro mutagenicity tests (in vitro mammalian chromosome aberration test, in vitro mammalian cell genetic mutation test, bacterial reverse mutation test).例文帳に追加

これには、哺乳類を用いた体細胞のin vivo 変異原性試験（哺乳類骨髄細胞染色体異常試験、哺乳類赤血球小核試験、マウススポット試験など）で陽性の場合、または、体細胞を用いたin vivo 遺伝毒性試験（in vivo 肝臓不定期DNA 合成（USD）、哺乳類骨髄姉妹染色分体交換（SCE）など）での陽性結果があり、かつin vitro 変異原性試験（in vitro哺乳類染色体異常試験、in vitro 哺乳類細胞遺伝子突然変異試験、バクテリア復帰突然変異試験など）の陽性結果がある場合が該当する。 - 経済産業省

To impress a boost voltage to plural word lines at the time of burn-in test without increasing a chip area, to simultaneously perform the burn-in test to a lot of cells in a short time, to shorten time required for the burn-in test and to improve the processing efficiency of the burn-in test in production.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、バーンインテスト時に複数のワード線に昇圧電圧を印可でき、より短時間に多数を同時にバーンインテスト可能とし、バーンインテストに必要な時間を短縮させ、製造におけるバーンインテストの処理効率を向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In the test mode, a row decoder fixes pre-decoding signals RX0-RX3 to an activated state, and word lines selected for writing a test pattern in a short time are activated en bloc by controlling pre-decoding signals X0-X3 in accordance with the test signal in the test mode.例文帳に追加

テストモードにおいて、ロウデコーダは、プリデコード信号ＲＸ０〜ＲＸ３を活性化状態に固定し、プリデコード信号Ｘ０〜Ｘ３をテストモードにおいてテスト信号に応じて制御することにより、テストパターンを短時間で書込むために選択したワード線を一括して活性化する。 - 特許庁

In the bending property evaluation method for a flexible wiring board, one end of a test piece of the flexible wiring board is loosely held, the other end of the test piece is held with a gap in a thickness direction, and the test piece is oscillated in both directions in the thickness direction about a center where no load is applied to the test piece.例文帳に追加

フレキシブル配線板の試験片の一端側を緩く保持し、かつ該試験片の他端側を厚み方向に隙間を開けつつ保持し、負荷のかからない状態を中心として該厚み方向に両方向に振幅させるフレキシブル配線板の曲げ性評価方法である。 - 特許庁

To provide a test script processing program, which converts a test script according to a corrected content without abolishing an existing test script even in a case in which a program correction such as function extension or failure correction is caused in an operation object application in correction of the existing test script.例文帳に追加

既存テストスクリプトの修正において、操作対象アプリケーションに機能拡張や不良修正などのプログラム修正が生じた場合でも、既存のテストスクリプトを破棄することなく、修正された内容に従ってテストスクリプトを変換するテストスクリプト処理プログラムを提供すること。 - 特許庁

At step S4, a user selects a test patch appearing most uniform among test patches printed in respective dot recording modes.例文帳に追加

ステップＳ４で、ユーザは、各ドット記録モードで印刷されたテストパッチの中からもっとも一様に見えるテストパッチを選択する。 - 特許庁

In this case, the mutagenesis test method using the cell is a chromosomal abnormality test method.例文帳に追加

３．細胞を用いる変異原性試験法が染色体異常試験法である、上記１及び２の変異原性試験法。 - 特許庁

To prevent a water flow test body from getting into a junction pipe or a branch pipe in the midway of a drain pipe, during a drain pipe water flow test.例文帳に追加

排水通水試験で試験体が排水管の途中の合流管又は分岐管に入らないようにする。 - 特許庁

In this test target system, at least a part of the plurality of components needs a frequency margin test.例文帳に追加

本発明による試験対象システムは、その複数のコンポーネントの少なくとも一部が周波数マージン試験を必要とする。 - 特許庁

A test procedure changing part 33 of the programmable remote controller 3 starts output of the test pattern B in accordance with the input file.例文帳に追加

プログラマブルリモコン３のテスト手順変更部３３は、入力したファイルに従いテストパターンＢの出力を開始する。 - 特許庁

In a test mode, the protective transistor QN is driven depending on the output of the test circuit 21, acting as an output circuit.例文帳に追加

テストモードでは、テスト回路２１の出力に応じて保護トランジスタＱＮが駆動されて、これが出力回路となる。 - 特許庁

The plate 5 for a test in which a code for a test is written is arranged at a predetermined position on the optical information reader 2.例文帳に追加

テスト用コードが記されたテスト用プレート５を、光学的情報読取装置２に対して所定位置に配置する。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time can be shortened to a test of which the sense operation margin is severe.例文帳に追加

センス動作マージンが厳しいテストに対してテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In the communication device 1, a control means 10 actuates a communication test processing part 20 when a communication test is started.例文帳に追加

通信装置１では、通信試験が開始されると、制御手段１０により通信試験処理部２０が起動される。 - 特許庁

The instruction output part 16 creates a test instruction, in which test items corresponding to the decided element work are written.例文帳に追加

指示書出力部１６は、決定された要素作業に対応する検査項目を記載した検査指示書を作成する。 - 特許庁

The excitation coil 71 generates a magnetic field perpendicular to the test object in the length direction within the test object 13.例文帳に追加

励磁コイル７１は、被検体１３の内部に、被検体の長さ方向に対して略垂直の磁界を生じさせる。 - 特許庁

To provide a bellows durability test device capable of reliably executing a bellows durability test in a high temperature environment.例文帳に追加

高温環境下にてベローズの耐久性試験を安定して実施可能なベローズの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

To generate test items for performing a security test without manufacturing an IC in which a program is written.例文帳に追加

プログラムを書き込んだＩＣを製造することなくセキュリティ試験を行うための試験項目を生成することができる。 - 特許庁

Thus, since the test results are surely monitored in the test device 3, the load of the software is not increased.例文帳に追加

よって、テスタ装置３で確実に試験結果をモニタすることができるので、ソフトウェアの負荷が大きくなることがない。 - 特許庁

The wireless mobile stations 2-1 to 2-M receive second test data which is the first test data returned in their own station.例文帳に追加

無線移動局２−１〜２−Ｍが、第１のテストデータが自局内で折り返された第２のテストデータを受信する。 - 特許庁

To enhance the selectivity of a specific component in a test solution while speeding up an elution test due to an ultraviolet absorbing method.例文帳に追加

試験液中の特定成分の選択性を高め、紫外線吸収法による溶出試験の迅速化を図る。 - 特許庁

After the test run, the test data recorded on the hard disc is read, to automatically prepare a report in a prescribed format.例文帳に追加

試運転走行後、ハードディスクに記録した試験データを読み出し、所定書式の成績表を自動的に作成する。 - 特許庁

To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method.例文帳に追加

強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。 - 特許庁

A test register 16 for storing a data for selecting a test mode is provided in a storage area selected by the address.例文帳に追加

アドレスにて選択される記憶領域に、テストモードを選択するためのデータを記憶するテストレジスタ１６が設けられる。 - 特許庁

To provide a general-purpose test tube holder which is applicable in common to a plurality of kinds of test tubes with different outer diameters.例文帳に追加

異なる外径を有する複数種の試験管に対し共通に適用可能な汎用タイプの試験管ホルダーを提供。 - 特許庁