「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vibration test device performing a sweep test with constant velocity amplitude and a sweep test with constant acceleration amplitude in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験及び加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる振動試験装置を提供する。 - 特許庁

A test mode signal generating circuit outputs a signal TMCE corresponding to the setting confirming mode in addition to test mode signals ZTM0-ZTMm corresponding respectively to a plurality of test modes.例文帳に追加

テストモード信号発生回路は、複数のテストモードにそれぞれ対応するテストモード信号ＺＴＭ０〜ＺＴＭｍに加えて設定確認モードに対応する信号ＴＭＣＥを出力する。 - 特許庁

The test die can be designed according to a design methodology for a test die and a product die that includes a step of concurrently designing test circuitry and product circuitry in a unified design.例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路及び製品回路を統合化された設計に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論に従って設計可能である。 - 特許庁

f) The national and local governments shall request that medical institutions provide appropriately detailed explanations of possible hepatitis test results to examinees before operation. The national government shall conduct surveys and research into explanations of hepatitis test results before operation by medical institutions in order to characterize test conditions.例文帳に追加

カ 国は、就労を維持しながら適切な肝炎医療を受けることができる環境の整備等について、各事業主団体に対し、協力を要請する。 - 厚生労働省

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片ＴＰの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

To provide fire-resistance test object structure and a fire-resistance testing method capable of executing a "buckling test", in a fire resistance qualification test for a steel beam provided along a fire-resistant wall.例文帳に追加

耐火壁に沿って設けられる鉄骨梁の耐火認定試験において、「座屈試験」を実施できるような耐火試験体構造および耐火試験方法を提供することにある。 - 特許庁

And this optical disk drive writes the information about the test writing area in the test writing control area provided to control the test writing area.例文帳に追加

また光ディスク装置において、前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録する光ディスク装置とする。 - 特許庁

To provide test equipment of a SDH/SONET communication apparatus in which the test is facilitated by lessening the burden on a tester when a test of a container belonging to a group is carried out.例文帳に追加

グループに属するコンテナに関する試験を行う際に、試験者の負担を軽減して試験を簡易にすることができるＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ通信機器試験装置を提供すること。 - 特許庁

In this nondestructive inspection method for the hammering test workpiece, a frequency exhibiting maximum amplitude in hammering of the hammering test workpiece surface is measured to be compared with an ideal natural frequency of the hammering test workpiece for indexation of the soundness degree of the hammering test workpiece.例文帳に追加

打音検査物表面を打撃した際の振幅が最大となる振動数を測定し、当該振動数と打音検査物の理想固有振動数と比較し、打音検査物の健全度を指数化することを特徴とする打音検査物の非破壊検査方法。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

In this basket 10 for the test piece capsule installed in a reactor pressure vessel, for storing capsules 5, 7 inside for a test, piece for a material test, confirmation windows 16 are formed on the basket 11 corresponding to weld lines 5b, 7b of a sealing part of the test piece capsule.例文帳に追加

原子炉圧力容器内に設置され内部に材料試験用の試験片のカプセル５，７が収納される試験片カプセル用バスケット１０であって、試験片カプセルの封止部の溶接線５ｂ，７ｂに対応してバスケット１１に確認窓１６を形成する。 - 特許庁

To shorten test time and reduce cost required for a burn-in test by removing a factor causing a failure when a failure rate increases during the burn-in test to continue the test continuously.例文帳に追加

バーンイン試験の途中で不良率が上がった場合に不良要因を排除して、継続してバーンイン試験を継続することができることにより、試験時間の短縮化がはかれると共に、試験に要するコストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The control board is provided with test operation means (A15 and A16) for making the game devices perform test operations in a predetermined form corresponding to the series of the operation commands for the tests transmitted from the test command output means respectively in the case of shifting to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

To provide an image processor and its method which takes into consideration printing of a color test chart solving the problem that although the color test chart has many signals of ≥300% in the sum of density signals that a printer do not guarantee, simple toner reduction results in that a color test chart which is effective in grasping device colors can not be obtained.例文帳に追加

カラーテストチャートにはプリンタが保証しない、濃度信号の和が３００％以上の信号も多数存在するが、単純にトナーリダクションすると、デバイス色を把握するために有効なカラーテストチャートは得られない。 - 特許庁

In a sample for tensile test of a tubular material 1, which is used in a tensile test, a plurality of slits 2 extending in an axial direction are formed around the tubular material 1 to form test piece parts 3 between the slits 2.例文帳に追加

引張試験に供される管材１の引張試験用供試材であって、管材１の周囲に軸線方向に延びるスリット２が複数並んで形成されることによって、各スリット２の間に試験片部３が形成されてなる。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

In this manner, the inhalation anesthetic agent is inhaled from the respiratory organs of the test body 18 which is held by the test body holder 64 and is measured by circulating the inhalation anesthetic agent in the anesthetic cavity 82 in which the head of the test body 18 is contained.例文帳に追加

このように、検体１８の頭部が収容される麻酔空洞部８２に、吸入麻酔薬を循環させることで、検体ホルダ６４に保持されて計測される検体１８の呼吸器から吸入麻酔薬が吸入される。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hose for transporting refrigerant superior in gas barrier property and flexibility, and further superior in impulse-proof property after long-term heat aging, and durability performances in a vibration durability test after impulse test and a dynamic durability test after heat aging.例文帳に追加

ガスバリア性と柔軟性に著しく優れ、かつ長期熱老化後の耐インパルス性能、インパルス試験後の振動耐久試験、熱老化後の動的耐久試験等の耐久性能に優れた冷媒輸送用ホースを提供する。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

A control part 32 controls the first heating part 12, a cooling part 14 and the second heating part 32 so that each temperature of the first test space 10 and the second test space 20 becomes test temperature stored in a storage part 31, based on each output signal from the first temperature sensor 15 in the first test space 10 and the second temperature sensor 25 in the second test space 20.例文帳に追加

制御部３２は、第１試験空間１０内の第１温度センサ１５、第２試験空間２０内の第２温度センサ２５からの出力信号に基づいて、第１試験空間１０及び第２試験空間２０の温度が記憶部３１に記憶された試験温度になるように第１加熱部１２、冷却部１４及び第２加熱部２２を制御する。 - 特許庁

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area.例文帳に追加

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに２つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。 - 特許庁

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.例文帳に追加

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

To provide the air leak test device which detects a leak in a work in a short time with high precision.例文帳に追加

ワークの漏れ検出を短時間でしかも高精度に行えるエアリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of reducing power consumption in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の消費電力を低減することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce error detection in a security-related test in developing an application.例文帳に追加

アプリケーションの開発時におけるセキュリティ関連のテストに対して、誤検出の低下を図ること。 - 特許庁

To provide a method of improving efficiency in confirming water leakage from piping in a test operation.例文帳に追加

試運転時における配管からの水漏れ確認作業を効率化する方法を提供する。 - 特許庁

In a gradation recording stage 11, a test chart generated in a chart generating stage 10 is recorded.例文帳に追加

階調記録行程１１では、チャート作成工程１０で作成されたテストチャートを記録する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a mode is hard to be entered to a test mode in normal use.例文帳に追加

通常使用中にはテストモードにエントリーされにくい半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor device reduced in test cost and improved in accuracy of failure analysis.例文帳に追加

テストコストの低減及び不良解析の精度向上を図った半導体装置を提供する。 - 特許庁

Then test data are stored in an input data register 24 in synchronism with the clock CLK1.例文帳に追加

このとき、入力データ用レジスタ２４には、テストデータがクロックＣＬＫ_t に同期して格納される。 - 特許庁

In addition, as the Emperor ascended the throne, he was promoted to kurodo in 1108 when he was shinshi (Daigaku student who passed a the official appointment test). 例文帳に追加

さらに同天皇の即位に伴い、天仁元年（1108年）に進士の時に蔵人に進む。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

When a defect is found in the head slider in the test, the head slider is detached from the suspension.例文帳に追加

上記テストにおいてヘッド・スライダに欠陥が見つかると、ヘッド・スライダはサスペンションから取り外される。 - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

Preferably, the width of the protrusion is smaller in comparison with the width of the lateral groove in the test method.例文帳に追加

好ましくは、この試験方法では、上記凸条の幅は、上記横溝の幅に比して小さい。 - 特許庁

To provide an electric source device and which is small in impedance in a signal transmission line; and a test device.例文帳に追加

信号伝送線路におけるインピーダンスの小さい電源装置及び試験装置を提供する。 - 特許庁

Test paper is orderly housed in a box with grooves formed in, for example, 20 rows and 20 stages.例文帳に追加

例えば一段２０列２０段の溝の切ってあるボックスに、試験紙が整然と格納されている。 - 特許庁

In the case of inserting a scan path test, observation flip-flops are disposed in correspondence with the respective output nodes.例文帳に追加

スキャンパステストを挿入する場合、観測用フリップフロップを各出力ノードに対応して設ける。 - 特許庁

To provide an one time PROM in which there is not the possibility of that data is written in a main memory cell at the time of test.例文帳に追加

試験時に本メモリセルにデータを書き込むおそれがないワンタイムＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

A probe reacting with a biosubstance is immobilized in the test site, in a following process.例文帳に追加

テストサイト１１２には、後の工程において、生体関連物質と反応するプローブが固相化される。 - 特許庁

The enzyme is preferably used in determination of D-mannose in a test sample such as serum.例文帳に追加

この酵素は、血清などの被験試料中のＤ−マンノースの定量に好適に使用できる。 - 特許庁

In a test on March 20, 1963, a train of 1000-type B-organization achieved the fastest speed in Japan of 256 km/h. 例文帳に追加

試験中の1963年3月20日、1000形B編成は256km/hの国内速度記録を達成している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To cope with a narrow pitch in an external terminal, in an operation test for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の動作テストにおいて外部端子の狭ピッチ化に対応させることができる。 - 特許庁

A test processing unit 202 for detecting failures in a high-speed phase circuit 210 is built in a device.例文帳に追加

高速位相回路部２１０の不良を検出するテスト処理部２０２をデバイスに内蔵させる。 - 特許庁