「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

To eliminate faults of a patch test which is generally prevailing as an allergy reaction test, however, it is a visual determination to lack in objectivity and quantativity.例文帳に追加

パッチテストは皮膚のアレルギー反応の検査として一般に普及しているが、目視による判定のため、客観性、定量性に欠ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of storing a test result in a small-capacity data fail memory by using a compression technique.例文帳に追加

圧縮技術を用いて、小さな容量のデータフェイルメモリにテスト結果を格納することができる、半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To execute the evaluation test of a polarization property and the fatigue test in a ferroelectric capacitor and also to reduce the chip size.例文帳に追加

強誘電体キャパシタの分極特性の評価試験および疲労試験を実行することができかつチップサイズを縮小化する。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

To reduce occurrence of damage to an organic EL panel accompanying the application of a test driving signal in the test of the organic EL panel.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの検査において、検査駆動信号の印加に伴って有機ＥＬパネルに対する損傷の発生を低減すること。 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

To precisely discriminating a part representing a damaged part in a tested body from an eddy current test signal obtained by an eddy current test.例文帳に追加

渦電流検査により得られた渦電流検査信号から、被検査体に存在する損傷を表す部分を精度よく識別する。 - 特許庁

A test writing information recording control means performs control so that predetermined test writing information is written in a part of a user area U.例文帳に追加

試し書き情報記録制御手段は、ユーザ領域Ｕの一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する。 - 特許庁

To evaluate the propagating speed of a crack in a test piece under a fixed stress intensity factor while a desired arbitrary load is applied to the test piece.例文帳に追加

任意所望な荷重が試験片に負荷されつつ、一定応力拡大係数下で亀裂進展速度を高精度に評価すること。 - 特許庁

As a result of the test of separation resistance, the separation is soon found, that is, only ten cycles in the duration test, on the friction material of a/b=1.0.例文帳に追加

剥離耐久試験の結果、ａ／ｂ＝１．０のセグメントタイプ摩擦材は、耐久サイクルが僅か１０サイクルですぐに剥離してしまう。 - 特許庁

In the image processing apparatus, an image pickup section 11 outputs a test image signal obtained by picking up the monochromatic test pattern where a black frame is arranged on a white background.例文帳に追加

撮像部１１は白地の背景に黒枠を配置したモノクロのテストパターンを撮像して得たテスト画像信号を出力する。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which determines a memory to be faulty, only when an error exists in confidential information data.例文帳に追加

機密情報データに誤りがある場合にのみメモリが不良と判定するメモリ検査装置及びメモリ検査方法を提供すること。 - 特許庁

To acquire sure contact between a terminal and a probe at the probing test time, while arranging the terminals highly densely, in a probing test method.例文帳に追加

プロービングテスト方法において、端子を高密度に配置しながら、プロービングテスト時に端子とプローブの確実な接触が得られるようにする。 - 特許庁

A small number of test print sheets where a compact test patch, where a plurality of different colors are adjacent, is printed in a plurality of sets may be used.例文帳に追加

複数の異なる色が隣接する小型のテストパッチが複数組印刷されたテストプリントシートを少ない枚数だけ使用してもよい。 - 特許庁

To enable verification of the operation state of each pixel in a pixel array part and to simplify a device test to shorten the test time.例文帳に追加

ピクセルアレイ部の各ピクセル（画素）の動作状態の検証を可能にするとともに、デバイステストを簡略化してテスト時間の短縮する。 - 特許庁

Before storing system information in a disk 18, test write is executed to a dedicated test cylinder to inspect the state of each head.例文帳に追加

ディスク１８にシステム情報を保存する前に、テスト専用シリンダに対して試験的にライトを実施し、各ヘッドの状態を検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in self-test circuit which can perform an operation check test for a memory at an actual operating speed.例文帳に追加

実動作速度でメモリの動作確認テストが可能な組み込み自己テスト回路を有する半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of test patterns necessary for a macro boundary test in detecting delay failure between a macro and a user logic circuit.例文帳に追加

マクロとユーザロジック回路との間の遅延故障を検出するマクロ境界テストにおいて必要なテストパタンの数を減少させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side.例文帳に追加

試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

An immuno-chromatographic test apparatus TE1 has a casing C1, and the immuno-chromatographic test piece IM1 held in the casing C1.例文帳に追加

免疫クロマト試験具ＴＥ１は、ケーシングＣ１と、当該ケーシングＣ１内に保持されている免疫クロマト試験片ＩＭ１とを有する。 - 特許庁

To manage a plurality of hardware test module versions, software components, and tester operating system (TOS) versions in a modular test system.例文帳に追加

モジュール式試験システムにおいて、複数のハードウェア試験モジュールバージョン、ソフトウェアコンポーネント、及びテスタオペレーティングシステム（ＴＯＳ）バージョンを管理する。 - 特許庁

The test device for analyzing the glucose concentration in a blood sample is fitted to take out the test sensor from the sensor package.例文帳に追加

血液試料中のグルコース濃度を分析するための試験装置は、センサパッケージから試験センサを取り出すように適合されている。 - 特許庁

In a device, a kind of gas ion beam for processing a test piece and a kind of gas ion beam for observing the test piece can be switched over.例文帳に追加

試料を加工するガスイオンビーム種と試料を観察するときのガスイオンビーム種を切り替えることが可能である装置とする。 - 特許庁

The object circuit includes at least one scan chain which forms a shift register in a scan path test and serially inputting and outputting test data.例文帳に追加

対象回路は、スキャンパステスト時にシフトレジスタを形成してテストデータをシリアルに入出力する少なくとも１つのスキャンチェーンを備える。 - 特許庁

Then, it reproduces respective test signals recorded in the data area and finds the optimum recording power, based on the states of the respective test signals.例文帳に追加

そして、データ領域に記録された各テスト信号を再生し、その各テスト信号の状態に基づいて最適記録パワーを求める。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING FOCUS VARIATION IN PHOTOLITHOGRAPHY PROCESS USING TEST FEATURE PRINTED FROM PHOTOMASK TEST PATTERN IMAGE例文帳に追加

フォトマスクのテストパターンイメージから印刷されたテストフィーチャーを用いるフォトリソグラフィ工程における焦点変化を測定するシステム及び方法 - 特許庁

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE例文帳に追加

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。 - 特許庁

To provide a ristocetin cofactor test reagent which is used in a blood coagulation test, stable for a long time and ready for immediate use例文帳に追加

血液凝固試験に使用するための、長期の安定性を有し、即時に使用可能なリストセチン補因子試験の試薬の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which efficiency of a conduction test can be improved and by which a more detailed test can be performed.例文帳に追加

導通試験の効率を向上させることができるとともによりきめ細かなテストを行うための半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test bench capable of efficiently verifying a semiconductor integrated circuit and performing a test high in quality and diversity.例文帳に追加

効率よく半導体集積回路を検証することができ、高品質で流用性の高いテストが可能なテストベンチを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which memory tests of a plurality of test patterns are performed and its test time can be shortened.例文帳に追加

複数のテストパターンのメモリテストを実行するとともに、そのテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF REMOVING OXIDE FILM ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR ELECTRODE PAD TO BE INSPECTED IN SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体テストシステムおよび半導体テストシステムにおける検査対象となる半導の電極パッド表面の酸化被膜除去方法 - 特許庁

To properly test a semiconductor memory even when the waveform of an input signal supplied to the semiconductor memory in a test is not normal.例文帳に追加

試験時に半導体メモリに供給される入力信号の波形が正常でないときにも、半導体メモリを正しく試験する。 - 特許庁

When determining as the error in the second time, this device determines that the subject does not understand the balance test and performs +1D gradation test as substitute therefor.例文帳に追加

２度目のエラー判定が下された場合、被検者はバランステストを理解できないと判断し、代わりに＋１Ｄぼかしテストを行う。 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device performance test of which can be carried out in a short time with high efficiency regardless of the content of a test pattern or the circuit scale.例文帳に追加

テストパターンの内容、あるいは回路規模によらず、動作試験が短時間且つ高効率で行える半導体装置の実現。 - 特許庁

To solve the problem wherein increase in the width of a safety fence of a vehicle test apparatus causes the safety fence to become an obstacle to the opening of a door of a vehicle under test.例文帳に追加

車両試験装置の安全柵の幅を広げると、該安全柵が試験車両のドアを開く場合の障害になる。 - 特許庁

In addition to a roll call test for checking whether the redundancy circuit is used/unused, the semiconductor storage device is added with a fuse program check mode as a 2nd roll call test mode.例文帳に追加

リダンダンシ回路の使用／未使用をチェックするロールコールテストの他に第２のロールコールテストモードとしてヒューズプログラムチェックモードを追加する。 - 特許庁

To satisfactorily test an inspecting object operated at 10 GHz or more, and to reduce damage in a test substrate.例文帳に追加

１０ＧＨｚ以上で動作する被検査体の試験を良好に行えるようにするとともに、試験基板の損傷を低減化すること。 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE TEST IN MEMBRANE/ELECTRODE JUNCTION BODY CAPABLE OF BEING INCORPORATED INTO PRODUCTION, ESPECIALLY USED FOR FUEL CELL例文帳に追加

製造に組み込まれ得る、特に燃料電池に用いられる膜・電極接合体の非破壊試験のための試験装置及び試験方法 - 特許庁

On the client side 2 remote from a test site 1 for testing a protection relay system 4, a means 7 for relaying a test unit 5 and personal computers 8 and 9 at the test site 1 is arranged with terminals 32, 33 and 34 being transmitted with the conditions of a test performed at the test site 1 and test data in real time through a router 13 and a modem 12.例文帳に追加

保護継電装置４の試験をおこなう試験地１と離間した顧客側２に、試験地１で試験装置５とパソコン８、９とを中継している中継手段７に、ルータ１３とモデム１２を介して、試験地１でおこなわれている試験の状態や試験データがリアルタイムで送られてくる端末装置３２、３３、３４を配置する。 - 特許庁

Since rotating shaft 34 of the first test probe 18A is inserted into an insertion hole of the second test probe 18B, the first test probe 18A and the second test probe 18B are connected to each other in a relatively rotatable manner to allow the first test probe 18A and the second test probe 18B to be integrated thereby providing a scissors-like structure.例文帳に追加

第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔に第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４を挿入することで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが相対的に回動自在に連結され、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。 - 特許庁

(2) A variable thickness spacer 11 in which the thickness is made thicker in curing the adhesive, and the thickness is made thinner in the leakage test is used.例文帳に追加

（２）接着剤硬化時は厚さが厚くなり、リークテスト時は厚さが薄くなる可変厚セパレータ１１。 - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

In this case, the total number of test areas in the entire disk is increased in proportion to the increase of an optical disk capacity.例文帳に追加

このとき、光ディスクの容量の増加に比例してディスク全体におけるテストエリアの総数を増加する。 - 特許庁