「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In a box type housing holder for an exposure test piece, a plurality of housing parts for arranging a rectangular exposure test piece and a rectangular ACM sensor are formed in the case body in a vertical direction.例文帳に追加

上記暴露試験片の箱型収納ホルダーは、ケース本体内に、矩形状の暴露試験片や、矩形状のＡＣＭセンサーを配置する収納部を、縦方向に複数設けている。 - 特許庁

To provide both a test burn-in device to transfer skew correction data to skew correction data register parallelly at high speed and a control method in a test burn-in device.例文帳に追加

本発明の課題は、スキュー補正データをスキュー補正データレジスタに高速且つ並列的に転送するテストバーンイン装置及びテストバーンイン装置における制御方法を提供することである。 - 特許庁

In devices E, F, a test time T1 of a time series 361 is set in a test mode, while in devices A, B, C, D, a system time T0 of a time series 360 is set.例文帳に追加

装置Ｅ，Ｆは試験モードで、時刻系列３６１の試験時刻Ｔ１が設定されており、装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは時刻系列３６０のシステム時刻Ｔ０が設定されている。 - 特許庁

In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir.例文帳に追加

テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。 - 特許庁

The polarization filter 20 is removed as indicated in the figure in a normal visual acuity correction inspection, and the polarization filter 20 is made to face the front surface of the test lens frame in a deflection cross test.例文帳に追加

通常の視力矯正検査においては、図に示すように、偏光フィルター２０を退去させ、偏向十字テストにおいては、偏光フィルター２０をテストレンズ枠前面に臨ませて行う。 - 特許庁

To provide a test method which improves a test method performed in a siloxane gas atmosphere, enhanced in the reliability of the concentration of gas and enables an experiment in a stable concentration.例文帳に追加

シロキサンガス雰囲気中で行う試験方法を改良し、ガス濃度の信頼性が高く、かつ安定した濃度で実験を行うことができる試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To prevent damaging of a test device in a test process, by cutting off damaging due to separating in a transfer process, since a semiconductor element is not normally installed in an insert.例文帳に追加

半導体素子がインサートに正常に装着されないことにより、移送される過程で離脱して破損することを遮断し、更に、テスト過程でテスト装置を損傷させるのを防止する。 - 特許庁

A DRAM 1 of a packet, system operated with an operation frequency of several hundreds MHz is provided with a burn-in mode in which a memory test is performed with an operation frequency of several tens MHZ at the time of a burn-in test.例文帳に追加

数百ＭＨＺの動作周波数で動作するパケット方式のＤＲＡＭ１は、バーンインテスト時には数十ＭＨｚの動作周波数でメモリテストを行うバーンインモードを備えている。 - 特許庁

In this test circuit, a determination circuit 13 conducts a function test for determining whether timing in an inclined portion of a waveform in an analogue signal ANS of a measured device is within a specification range or not.例文帳に追加

このテスト回路では、判定回路１３は、被測定デバイスのアナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜部分のタイミングが規格範囲内にあるかどうかを判定するファンクションテストを行なう。 - 特許庁

Since the dummy clock signal is supplied in wafer-level burn-in test, the NBTI deterioration of the clock tree wiring due to the wafer-level burn-in test can be prevented.例文帳に追加

本発明によれば、ウェハレベルバーンインテスト時においてダミークロック信号を供給していることから、ウェハレベルバーンインテストによるクロックツリー配線のＮＢＴＩ劣化を防止することが可能となる。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

Since the dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the vehicle, if the dolly 13 is separated from the test vehicle 14 in consideration of a stopping distance of the dolly 13, the test vehicle 14 moves closer to a barrier 17.例文帳に追加

ドーリー13は試験用車両14の試験時の移動方向後方にのみ配置されるものであることから、ドーリー13の停止距離を考慮して試験用車両14から切り離しても、試験用車両14はバリア17に十分に近づいた状態となる。 - 特許庁

In a test mode, a CPU 10 can output register information to an external device 16 by transferring a certain program from an external device to a RAM 11 in accordance with a test program stored in a test ROM 12, and executing the program.例文帳に追加

テストモードでは、ＣＰＵ１０が、テストＲＯＭ１２に記憶されたテストプログラムに基づいて外部機器から任意のプログラムをＲＡＭ１１に転送し、このプログラムを実行することでレジスタ情報を外部機器１６に出力することができる。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

A test circuit 14 is connected to the inner bus BLout, and the test circuit 14 outputs a response signal via the inner bus BLout, the output buffer 13 and the output pads DQ0 to DQn, in response to a signal input to the input pads IN, IN0 to INn during a continuity test.例文帳に追加

試験回路１４が内部バスBLoutに接続され、導通試験時において、試験回路１４は入力パッドIN,IN0〜INnに入力された信号に応答して、内部バスBLout、出力バッファ１３、出力パッドDQ0〜DQnを介して応答信号を出力する。 - 特許庁

2-2) Positive results in Mutagenicity tests in germ cells using mammals (chromosome aberration test using mammalian spermatogonia, micronucleus test using mammalian sperm cells, gene mutation test in germ cells using transgenic mice/rats, etc.)例文帳に追加

2-2）ほ乳類を用いる生殖細胞の変異原性試験（ほ乳類精原細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類精細胞を用いる小核試験、トランスジェニックマウス/ラットを用いる生殖細胞の遺伝子突然変異試験など）での陽性結果 - 経済産業省

The semiconductor integrated circuit 1 includes a controlling scanning test component circuit which a test value is scanned therein and outputs the test value to a combination circuit 203 and an observing scanning test component circuit which the test value scanned in the controlling scanning test component circuit is scanned therein in parallel and an output value output by the combination circuit 203 based on a test value from the controlling scanning test component circuit is input thereto to scan out the output value.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路１は、テスト値がスキャンインされ、当該テスト値を組み合わせ回路２０３に出力する制御用スキャンテスト構成回路と、制御用スキャンテスト構成回路にスキャンインされるテスト値が並列的にスキャンインされるとともに、組み合わせ回路２０３が制御用スキャンテスト構成回路から出力されたテスト値に基づいて出力する出力値が入力され、当該出力値をスキャンアウトする観測用スキャンテスト構成回路とを備えたものである。 - 特許庁

In S14, timing is started in accordance with the performance of the test writing data transfer in S32, and in S15, the timing is finished by completion processing in S33.例文帳に追加

Ｓ３２の試し書きデータの転送の実行に伴いＳ１４で計時を開始し、完了処理Ｓ３３によりＳ１５で計時を終了する。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a clock generation circuit, a semiconductor integrated circuit, and a test device therefor which can prevent a decrease in detection rate and an increase in circuit size, reduce the effect of a multi-cycle path, correctly identify problem parts, and test at a higher frequency even if provided with test objects with different frequencies in a non-scanned cell test.例文帳に追加

非スキャンセルの試験において、検出率低下、回路規模の増大を防止でき、マルチサイクルパスの影響を低減でき、不具合箇所を的確に特定でき、異周波数の試験対象があっても高速側の周波数で試験をすることが可能な、クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

A CPU 8 as a test data storing means detects a block failure by checking the test data stored in the test data storing memory 6 against the failure occurrence patterns stored in the memory 5 for storing failure occurrence patterns and determining a block failure in the case that test data similar to a failure occurrence pattern is present.例文帳に追加

テストデータ格納手段としてのＣＰＵ８は、テストデータ格納メモリ６に格納されたテストデータと不良発生パターン記憶メモリ５に格納された不良発生パターンとを照合し、不良発生パターンと相似のテストデータが存在する場合にブロック不良と判定し、これによりブロック不良を検出する。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

The degradation test method of this invention is employed for evaluation of light resistivity of an target to be tested, for irradiation of the test target region in the target to be tested with a laser beam for expediting degradation and for the direct drawing of test information in other region than the test target region in the target to be tested by using the laser beam.例文帳に追加

本発明の劣化試験方法は、被検物の耐光性評価のための劣化試験方法であって、劣化促進用のレーザ光を被検物における試験対象領域に照射するとともに、被検物における試験対象領域とは別の領域に、レーザ光を用いて試験情報を直接描画する。 - 特許庁

To provide a vibration tester to vibrate a test object even in an energization state by tightening the small-sized test object to be vibrated in a very short period of time, easily giving complicated vibration such as reciprocation, rotation and torsion to the test object, and making a vibration test in a production line.例文帳に追加

小型で被振動試験物への締結が極めて短時間で行うことができる他、被振動試験物に往復、回転、捩れなどの複雑な振動を容易に与えることができ、生産ライン上での振動試験ができ、また、被振動試験物が通電状態でも加振ができる振動試験装置を得ること。 - 特許庁

2-3) In the case where the substance is positive in the somatic cell mutagenicity test using mammals (chromosome aberration test using mammalian bone marrow cells, micronucleus test using mammalian red blood cells, mouse spot test, etc.), and there is some evidence that the substance may show mutagenicity in germ cells.例文帳に追加

2-3）ほ乳類を用いる体細胞の変異原性試験（ほ乳類骨髄細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類赤血球を用いる小核試験、マウススポット試験など）において陽性であり、かつ、当該物質が生殖細胞に変異原性を示す可能性についての何らかの証拠がある場合。 - 経済産業省

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

An inhibit region 404m, obtained by expanding a pattern 104m in a test element region by an element isolation width, is formed on a test chip, based on of CAD data D3 provided with a test element pattern 104.例文帳に追加

テスト素子パターン１０４ｍを有するＣＡＤデータＤ３から、テスト素子領域のパターン１０４ｍを素子分離幅だけ拡大してテストチップ上に禁止領域４０４ｍを形成する。 - 特許庁

In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track.例文帳に追加

本発明の一つの実施形態において、磁気ディスクの欠陥検出テストは、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのライト・テストを行い、各データ・トラックにテスト・データをライトする。 - 特許庁

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.例文帳に追加

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁

The present tester is characterized in comprising a display unit provided on a casing and a display processing unit which displays, on the display unit, all test conditions, test items, discrimination conditions and test results.例文帳に追加

本テスタは、筐体に設けられる表示部と、試験条件、試験項目、判定条件、試験結果の全てを表示部に表示させる表示処理部とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time.例文帳に追加

並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The test object mounting surface may be smaller than the terminal contact side of a test object to be mounted, and test object suction holes may be provided in between the top surfaces of the plurality of terminals.例文帳に追加

検査対象載置面は、載置すべき検査対象の端子接触側面よりも小さい面積であっても良く、複数の端子の頂面間に検査対象吸引穴が設けられていても良い。 - 特許庁

To provide a reaction test piece measuring instrument capable of performing dealing-with operation when the moving speed of a reaction test piece 1 inserted in a housing 60 by the manual work of a user is changed, and the reaction test piece 1.例文帳に追加

使用者の手作業で反応試験片１をハウジング６０に挿入させる移動速度が変化するときに対処できる反応試験片測定装置および反応試験片を提供する。 - 特許庁

The sample is collected from the actual product structure 21 by a sample test collection apparatus 11, processed and converted into a test piece by a test piece processing apparatus 12 in the field.例文帳に追加

サンプル試験採取装置１１で実機構造物２１からサンプル試料を採取し、サンプル試料採取装置１１で採取したサンプル試料をその場で試験片加工装置１２により試験片に加工する。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

The switching circuit 4 is electrically connected to the TBIB 1 on which the IC 1A to be tested is mounted, and a first test signal of the IC test circuit 2 and a second test signal of the burn-in board checker 3 are switched.例文帳に追加

切換回路４は、被試験ＩＣ１Ａが実装されたＴＢＩＢ１と電気接続し、ＩＣ試験回路２の第１の試験信号とバーンインボードチェッカ３の第２の試験信号を切り換える。 - 特許庁

The test body comprising a low repulsive material is used to solve a problem wherein the test body is rushed into the junction pipe or the branch pipe by striking the turning blade 32, in the water flow test.例文帳に追加

排水通水試験では、試験体が旋回羽根３２に当たるなどによって合流管又は分岐管に飛び込むという問題を解消するために、低反発性材料からなる試験体を使用する。 - 特許庁

To provide a measuring device which can predefine release position of a destructive origin in thermal shock test to enhance the accuracy of the thermal shock test, as the utility of the test is increasingly grown.例文帳に追加

熱衝撃試験において、破壊始点の発生位置を予め定めることができれば、熱衝撃試験の実験精度を上げることができ、熱衝撃試験の有用性は益々増加している。 - 特許庁

To provide a specimen for bending fatigue detection that does not directly handle a minute test piece and accurately applies a load to a certain position of the test piece, in a bending fatigue test of a micro material.例文帳に追加

マイクロ材料の曲げ疲労試験において、微小な試験片を直接取り扱うことがなく、試験片の一定位置に正確に荷重を負荷させる曲げ疲労検出用試験体を提供すること。 - 特許庁

Each test unit receives the analog output signals of M driving units and selects one of them as a test signal according to a select signal and sends a status signal representing abnormality to a external tester in the case of a voltage of the test signal being higher than a high reference voltage or lower than a low reference voltage.例文帳に追加

テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。 - 特許庁

To reduce test items and to shorten a test time by reducing the number of terminals without complicating a design of an output terminal selection circuit in an isolation test of a large-scale system LSI.例文帳に追加

大規模システムＬＳＩのアイソレーションテストにおいて、出力端子選択回路の設計を複雑化させることなく端子数の削減を可能にし、テスト項目の削減およびテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

A detected violation place is corrected based on the correction method selected in response to a priority degree, and the test result is stored by performing the test by retransmitting the corrected program to the test means.例文帳に追加

そして、検出された違反箇所を、優先度に応じて選択された修正方法に基づいて修正し、修正されたプログラムを再びテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶する。 - 特許庁

The CPU 10 transmits 32 pieces of test data included in one set of test data sequentially to a data bus, and makes an image write section 17 output a set of output images formed from the one set of test data.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、１組のテストデータに含まれる３２個のテストデータを順次データバスに伝送させて、１組のテストデータから形成される１組の出力画像を画像書込み部１７に出力させる。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁