「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

In a first conveyance, four test patterns (consisting of 10 test printing regions having different concentrations from each other) are formed in a region R1 on the first surface S1 of a printing paper P.例文帳に追加

１回目の搬送時に、用紙Ｐの第１面Ｓ１の領域Ｒ１に４つのテストパターン（互いに濃度が異なる１０個のテスト印字領域からなる）を形成する。 - 特許庁

The reference-signal generating circuit 34 provides the reference signal PSE in response to the test signal DQM input through the external connecting pad 32 in a test mode under the state of the package.例文帳に追加

基準信号発生回路34はパッケージ状態におけるテストモードでは外部連結パッド32を通して入力されるテスト信号DQMに応答して基準信号PSEを提供する。 - 特許庁

To provide a boundary test architecture usable for executing a boundary test in an integrated circuit when the integrated circuit is in an operation mode.例文帳に追加

集積回路において、該集積回路が動作モードである時に境界試験を行うために使用することができる境界試験アーキテクチャを提供することをその課題とする。 - 特許庁

In the test substance immunomodulatory function evaluating method, the test substance is cultured with peripheral blood mononuclear cells, and granulysin in a culture supernatant is detected.例文帳に追加

被検物質を末梢血単核球とともに培養し、培養上清のグラニュライシンを検出することを特徴とする、被検物質の免疫賦活能評価方法。 - 特許庁

To develop a high-quality product in a short term by analyzing change points in a module and automatically executing a test case and a test with an expectation value changed.例文帳に追加

モジュールの変更点を解析し、自動的にテストケースおよび期待値を変更したテストを実施することにより、品質の高い製品開発を短期間で実現する。 - 特許庁

In a test sequence, output signals 194, 184 from the row test circuits are monitored to identify whether a defect, such as a short circuit, is likely to exist in the row or row driver.例文帳に追加

テストシーケンスでは、行テスト回路からの出力信号（１９４，１８４）が監視されて、欠陥、例えば、短絡が行や行ドライバーに存在していそうかどうかを識別する。 - 特許庁

In a test mode, the center device 12 makes one terminal device 16 to generate test sound and detects the levels of pickup the sound in the other terminal devices 16, 16, ..., at that point.例文帳に追加

テストモードにおいて、センタ装置１２は、１台の端末装置１６からテスト音を発生させ、このときの他の端末装置１６，１６，…による収音レベルを検出する。 - 特許庁

To provide a boundary test architecture for use in an integrated circuit to perform a boundary test when the integrated circuit is in operation mode.例文帳に追加

本発明は、集積回路において、該集積回路が動作モードである時に境界試験を行うために使用することができる境界試験アーキテクチャを提供する。 - 特許庁

For example, the computer generating a test case doesn't distinguish between 0 and -0 in some cases, and in these cases, a test vector including input data of not -0 but 0 is generated.例文帳に追加

例えばテストケースを生成するコンピュータでは０と−０の扱いを区別しない場合があり、この場合には、−０ではなく０を入力データとしたテストベクタが生成される。 - 特許庁

To generate destruction without causing the deformation of a rubber test piece quickly in a rubber destructive testing machine for generating destruction such as cutout in the rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片に対して欠け等の破壊を生じさせるゴム破壊試験機において、短時間でゴム試験片の変形を促すことなく破壊を生じさせるようにする。 - 特許庁

It is preferable that the total amount of ions extracted in an ion extraction test is 0.1 μg/cm2 or less and that the total amount of outgas in an outgas test is 0.5 μg/g or less.例文帳に追加

好ましくはイオン抽出試験にて抽出されるイオン総量が０．１μｇ／ｃｍ^2 以下であり、アウトガス試験にてアウトガス総量が０．５μｇ／ｇ以下である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can sufficiently activate the inside of a circuit at burn-in test, and to reduce the overhead of the circuits required for the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト時に回路内部を十分に活性化させることができる上に、そのバーンインテストに必要な回路のオーバヘッドを小さくできる半導体集積回路の提供。 - 特許庁

When a parallel test in a semiconductor memory device is performed, write data is held in a dedicated latch circuit by using a command dedicated to the parallel test prior to issuing a WRITE command.例文帳に追加

半導体記憶装置のパラレルテスト実施時は、ＷＲＩＴＥコマンドの発行に先立ちパラレルテスト専用のコマンドにより書き込みデータを専用のラッチ回路に保持しておく。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for a semiconductor memory device in which the number of test patterns being performable can be increased in spite of a simple constitution of the device.例文帳に追加

簡易な装置構成でありながら、実行可能な試験パターン数を増加させることが可能な半導体記憶装置に対する半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

The device 22 reciprocates the work carriage 42 or 43 carrying the work 2 between a first position taking in/out to the test machine from its side and a work processing position in the test machine.例文帳に追加

装置22は、ワーク２が載置されたワーク台車42又は43を試験機にその側方から出し入れする第１位置と試験機内のワーク処理位置とにわたって往復移動させる。 - 特許庁

To provide a Weibull slope in a safe and proper range, even for few number of test times, when determining a result value of the Weibull slope in order to design or interpret a lifetime test.例文帳に追加

寿命試験の設計や解釈を行うためにワイブルスロープの実績値を求めるにつき、試験回数が少なくても、安全で適切な範囲のワイブルスロープを提供。 - 特許庁

To provide a testing system capable of providing a test environment in which a wireless communication apparatus can be tested as if the test were performed in a place where the wireless communication apparatus is actually used.例文帳に追加

無線通信機器が実際に使用される場所で試験が実際的に行われるような試験環境を提供することができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

In a sample prepared by embedding a metal test piece 2 in resin 1, a plating layer 3 is provided for the most surface layer of the metal test piece 2.例文帳に追加

図２に示すように、金属試験片２を樹脂１に埋め込むことにより作製する試料において、金属試験片２の最表層にメッキ層３を付与させる。 - 特許庁

A method is provided which uses this analytical test element, to determine analytes in a liquid and analytes in the liquid with the aid of this analytical test element.例文帳に追加

また、液体中のアナライトを定量するための、この分析用テストエレメントの使用、ならびにこの分析用テストエレメントを用いた、液体中のアナライトを定量する方法。 - 特許庁

To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.例文帳に追加

サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of developing a pattern for a connection test between logic blocks in a logic circuit with less man-hours, and in which an increase of a chip area is suppressed.例文帳に追加

論理回路における論理ブロック間の接続テスト用パターンをより少ない工数で開発でき且つチップ面積の増大を抑えたテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test cost calculation system which reduces a burden of a person who is in charge of calculating a test cost of a semiconductor device and also increases reliability in calculated results.例文帳に追加

半導体装置のテストコストを算出する場合の担当者の負担を軽減するとともに、計算結果の信頼性を高めたテストコスト算出システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which damage of terminals due to a test in a wafer state can be reduced and a time required for a test can be shortened.例文帳に追加

ウエハ状態における検査による端子の損傷を低減することができ、検査に要する時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a reference voltage generation circuit and a semiconductor storage apparatus using the same which are capable of performing a sufficient burn-in test in a whole temperature range of acceleration test.例文帳に追加

加速試験の全温度範囲において十分なバーンインテストを実施することができる参照電圧発生回路およびそれを用いた半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

The device test program is constituted of a program 12 described in general-purpose programming language and a program 13 described in programming language exclusive for semiconductor test.例文帳に追加

デバイステストプログラムは、汎用プログラミング言語で記述されたプログラム１２と、半導体試験用の専用のプログラミング言語で記述されたプログラム１３によって構成されている。 - 特許庁

A deviation value of the position of test image in the image data of test original supplied from the read unit 31 from a predicted position in the sub-scanning direction is detected.例文帳に追加

読取ユニット３１から与えられたテスト原稿の画像データ中におけるテスト画像の位置の想定された位置からの副走査方向に対するずれ量を検出する。 - 特許庁

To provide a terminal strip with high efficiency capable of eliminating a process for erecting a test pin which is an additional component in a printed board in tinuiry/insulation test on the printed board.例文帳に追加

プリント基板上での導電性／絶縁性試験において、別部品であるテストピンをプリント基板に立てる工程が不要な、作業性の良い端子台を提供する。 - 特許庁

To provide a test paper conveyance mechanism positioning accurately a test paper in a longitudinal direction and in a width direction, and a chemical analyzer equipped with the conveyance mechanism.例文帳に追加

試験紙の長手方向および幅方向の位置決めを正確に行なうことが可能な試験紙搬送機構および該搬送機構を備えた化学分析装置を提供する。 - 特許庁

When you run UtilsJUnit4Test.java the IDE only runs the tests in the test class.If the class passes all the tests you will see something similar to the following image in the JUnit Test Results window. 例文帳に追加

UtilsJUnit4Test.java を実行するときは、テストクラス内のテストのみが実行されます。 クラスがすべてのテストに合格すると、次の画像に似た内容が「JUnit テスト結果」ウィンドウに表示されます。 - NetBeans

In a test mode, a test signal is given to each amplifier and the user registers from which loudspeaker an audio signal is outputted to a direction of listening control manager 36 in cross-reference with each amplifier.例文帳に追加

テストモードでは、各アンプへテスト信号を入力し、ユーザは、どのスピーカからオーディオが出力されるかを各アンプに対して聴取方向制御マネージャ３６に登録する。 - 特許庁

A programmable logic device 150 is formed on a burn-in board BIB, and when performing a burn-in test, a test pattern signal and a logical value are supplied to the programmable logic device 150.例文帳に追加

バーンインボードＢＩＢ上に、プログラマブルロジック装置１５０を設け、バーンイン試験の際には、このプログラマブルロジック装置１５０に、テストパターン信号と論理値を供給する。 - 特許庁

The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。 - 特許庁

Although the Community Bus Yawata Route was at first established for testing purpose to conduct a real-world evaluation for the period of one year, the operation period of the route was later extended for another year from the first expiration date of the test in 2006, and again another year from the second expiration date of the test in 2007. 例文帳に追加

この経路は、当初は1年間の試験運行とされていたが、現在はその期間を1年延長し、2007年に更に1年延長している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The selection circuit 9, at the time of the burn-in test, selects the burn-in test data written to the storage circuit 7 and distributes it into the sequential circuits 1 to 3.例文帳に追加

選択回路９は、バーンインテスト時に、記憶回路７に書き込まれているバーンインテスト用データを選択して順序回路１〜３に分配するようになっている。 - 特許庁

A control register 31 essentially contained in an IC test device in which a control result that a control program 64 imitates an operation of the IC test device to obtain is stored.例文帳に追加

制御用レジスタ３１は本来ＩＣ試験装置に内蔵され、制御プログラム６４がＩＣ試験装置の動作を模倣して得た制御結果が格納される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for an automatic permeability test, wherein a change in a water level coming into contact with a fluctuating negative-pressure space can be measured precisely in a constant water level-type permeability test.例文帳に追加

定水位式の透水試験において変動負圧空間と接する水位の変動を正確に測定できる自動透水試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁

To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.例文帳に追加

論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁

To reduce time and cost relating to the testing process by improving the uniformity and the precision of the burn-in test conditions and widening the testing items executable during a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験条件の均一性と精度を高め、バーンイン試験中に行うことのできる試験項目の幅を広げ、検査工程に係る時間と費用を削減する。 - 特許庁

CUTTING TOOL AND METHOD OF FORMING CUT LINE FOR USE IN PAINT FILM ADHESION TEST例文帳に追加

塗膜付着試験用切り込み線形成刃具および切り込み線形成方法 - 特許庁

With this setup, a test chip pattern is set equal in pattern density to a main chip pattern.例文帳に追加

これによって、テストチップのパターン密度を本チップのパターン密度と同等にする。 - 特許庁

A piston 2 is mounted on a pressure container 1 for material test in a state of being advanced and retracted.例文帳に追加

材料試験用の圧力容器１にピストン２を進退自在に設ける。 - 特許庁

In one aspect, the diagnostic test system has a housing, a reader and a data analyzer.例文帳に追加

一態様では、診断テストシステムは、ハウジング、読み取り器及びデータ分析器を備える。 - 特許庁

The dummy for collision tests is used suitably for a collision test, or the like in a vehicle.例文帳に追加

衝突試験用ダミーは、車両の衝突試験などに好適に用いられる。 - 特許庁