「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize simplifying screening (selection) of a defective memory cell in a probing test.例文帳に追加

プロービングテストにおける不良メモリセルのスクリーニング（選別）の簡便化を実現する。 - 特許庁

To provide a memory device in which complete test of a word line can be performed with a low cost.例文帳に追加

低コストでワード線の完全性検査が可能なメモリ装置を提供する。 - 特許庁

A test system may be configured to provide the data in an output report.例文帳に追加

テストシステムは、出力レポートにおけるデータを提供するように構成され得る。 - 特許庁

A model is created to test the condition to result in the potential error.例文帳に追加

モデルを作成してその潜在的なエラーにつながる条件についてテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which yield is high and a test time is short.例文帳に追加

歩留りが高く、テスト時間が短くて済む半導体装置を提供する。 - 特許庁

1) Values for inhalation toxicity are based on a 4-hour test in laboratory animals.例文帳に追加

１）吸入毒性に関する数値は、4 時間の動物試験に基づいている。 - 経済産業省

In all other cases, the substance shall be classified as "Classification not possible" even if the test was carried out.例文帳に追加

○ 皮膚感作性に関する動物試験（ＯＥＣＤで承認されたもの） - 経済産業省

To measure the receiving performance of a receiving module 2 under test approximately in real time.例文帳に追加

試験対象の受信モジュール２の受信性能をほぼ実時間で測定する。 - 特許庁

Also, when coincidence is detected by the logical comparator 4 in a test of the present time, an uncoincidence detected signal detected in a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time, these signals are stored in a multi- bit memory.例文帳に追加

また今回のテストで論理比較器４で一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ７に記憶させた信号に今回のテストで検出された一致検出信号を加えて、これらの信号を多ビットメモリに記憶させる制御回路６を設ける。 - 特許庁

The test areas consisting of at least four tracks are formed by each of zones in such a manner that the test patterns may be recorded in grooves G1 and the crosstalk patterns in adjacent lands L1 and L2 and that the test patterns may be recorded in the lands L2 and the crosstalk patterns in the adjacent grooves G1 and G2.例文帳に追加

グルーブＧ１にテストパターンを記録し隣接するランドＬ１、Ｌ２にクロストークパターンを記録することができるとともに、ランドＬ２にテストパターンを記録し隣接するグルーブＧ１、Ｇ２にクロストークパターンを記録することができるように、少なくとも４トラックからなるテストエリアを、ゾーン毎に形成する。 - 特許庁

Such measurements are used in various applications, such as tests in clinical laboratories, in-home tests or the like, and the test results thus obtained play important roles in diagnosis and management of various disease conditions.例文帳に追加

これらの場合、かかる検査結果は、種々の病態の診断及び管理において顕著な役割を果たす。 - 特許庁

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段１ｅにより、テスト結果判定手段１ｃによる判定結果とテスト用サーバ３から送信されたハッシュ値７とが関連づけられ、テスト実施ログ１ｇとしてテスト実施ログ記憶手段１ｆに格納される。 - 特許庁

A second data analyzing part 106 performs parameter setting and parameter checking which correspond to the conditions from test data 3, generates a test code that makes processing not included in the test range a stub, and also generates test data for achieving a function of the stub.例文帳に追加

第２のデータ解析部１０６は、テストデータ３より、条件に応じたパラメータ設定やパラメータチェックを行い、また、試験範囲に含まれない処理をスタブとするテストコードを生成すると共に、スタブの機能を実現するためのテストデータを生成する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

In a second test mode to test the MB2, the SEL1 outputs the test input signals TIN1 and TIN2 for the MB2 to the MB2, and the SEL2 outputs the signal M2OUT from the MB2 as the test output signal TOUT for the MB2.例文帳に追加

ＭＢ２をテストする第２のテストモードでは、ＳＥＬ１がＭＢ２用のテスト入力信号ＴＩＮ１、ＴＩＮ２をＭＢ２に出力し、ＳＥＬ２がＭＢ２からの信号Ｍ２ＯＵＴをＭＢ２用テスト出力信号ＴＯＵＴとして出力する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

When one or a plurality of test number factors are designated to one or a plurality of levels of the present test flow context 300, the base number in the present test number range is determined by using the test number factor (104).例文帳に追加

１つまたは複数のテスト番号ファクタが現在のテストフローコンテキスト３００の１つまたは複数のレベルに対して指定されている場合には、テスト番号ファクタを使用して（１０４）、現在のテスト番号範囲に関するベース番号を決定する。 - 特許庁

To provide an EMC test estimation system capable of specifying each characteristic deterioration factor in an EMC test site, and to provide a method for improving the EMC test site by use of a result obtained by using the EMC test estimation system.例文帳に追加

ＥＭＣ試験サイトにおける個々の特性劣化要因を特定できるＥＭＣ試験評価システムを提供すると共に、このＥＭＣ試験評価システムを使用して得られた結果を用いてＥＭＣ試験サイトを改良する方法を提供する。 - 特許庁

A test without using a tester can be made, by constructing test circuits on a probe card or on a wafer in which semiconductor chips to be tested are formed and by electrically connecting the test circuits respectively to the semiconductor chips to be tested for performing the test.例文帳に追加

プローブカードもしくはテストされる半導体チップが形成されるウエハ上にテスト回路を構成し、テスト回路とテストされる半導体チップとを電気的に接続してテストを行なうことで、テスタを用いることなくテストを行なえるようした。 - 特許庁

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

When the two test areas on the outer circumferential side among four areas form a first pair and the two test areas on the inner circumferential side form a second pair, the test areas that form the first pair and the test areas that form the second pair are disposed not to overlap each other in the layer direction.例文帳に追加

４つのテストエリアのうち外周側の２つを第１ペア、内周側の２つを第２ペアとしたときに、第１ペアを形成するテストエリアと第２ペアを形成するテストエリアが互いに層方向に重ならないように配置する。 - 特許庁

To execute a precise pressure application test over a long period of time without using expensive apparatuses, etc. and to secure safety even if a test body happens to burst during the test, in the case of executing an inner pressure application test.例文帳に追加

内圧付加試験を実施する場合において、高価な装置類を使用することなく長期間にわたって正確な加圧試験を実施し、また試験中に試験体が破裂するようなことがあっても安全が守られることを課題とする。 - 特許庁

A test timing determination part 1c determines generation timing of event for operation test during test object operation based on timing of detected operation change, and stores determined generation timing of event in a test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験タイミング決定部１ｃは、検出された動作変化のタイミングに基づいて、試験対象動作中の動作試験のためのイベントの発生タイミングを決定し、決定したイベントの発生タイミングを試験タイミング情報記憶部１ｄに格納する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

A storage is stored with test conditional information composed of laser output value and scanning velocity, and test coordinates information regarding each test printing position Pn in which the distance from the optical axis center C of a convergent lens 13 is made almost equal (test radius R2).例文帳に追加

記憶装置に、レーザ出力値と走査速度からなるテスト条件情報と、収束レンズ１３の光軸中心Ｃからの距離が略等距離（テスト径Ｒ２）となるテスト印字位置Ｐｎに関するテスト座標情報を記憶するようにした。 - 特許庁

As a result, when the test timing information of the external pin without signal variation can be made identical to test timing information of other function pattern, test timing information can be carried out in common, so that periods necessary for the LSI test can be reduced.例文帳に追加

したがって、信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンのテストタイミング情報と同じにすることができる場合には、テストタイミング情報を共通にすることができ、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することができる。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress when the dimension of a required test piece is different from that of a standard test piece with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing the static compression test in the dimension of the required test piece.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について標準試験片寸法とは異なる所要試験片寸法の場合でのプラトー応力を、該所要試験片寸法での静的圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

To provide an automatic software test device and an automatic software test method that securely conduct an automatic test in which an operation procedure by an operator on an operation window of man-machine software is reproduced to the end, and shorten the test time.例文帳に追加

マンマシンソフトウェアの操作画面におけるオペレータの操作手順を再現する自動試験を最後まで確実に実施すると共に、試験時間を短縮することが可能なソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法を提供する。 - 特許庁

In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.例文帳に追加

試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

The display control device 214 transmits a command exclusive to the test which is ineffective in the control to the sound lamp control device 272, and a test substrate device 280 receives the command exclusive to the test so that shooting of game balls is suspended when the live-shooting test is implemented.例文帳に追加

表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部２３０では、動作特定情報入力受付部２３１が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部２３２によって生成される。 - 特許庁

FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE PROVIDED WITH TEST PAD HAVING SHARED OUTPUT CHANNEL, TEST METHOD FOR FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE, TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH PATTERN SHARED WITH TEST CHANNEL, AND TESTING METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

To obtain a program debugging apparatus which obtains a test result similar to that in a case where a program for semiconductor test is operated with respect to an actual semiconductor device to be inspected and by which the content of the program for semiconductor test can be verified accurately on the basis of the test result.例文帳に追加

実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。 - 特許庁

In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes.例文帳に追加

本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁

The system acquires two or more synthetic light emission integration images while changing an end test pattern address, and carries out comparison of synthetic light emission integration images on good and defective semiconductor devices in an ascending order of the end test pattern addresses, i.e., in ascending order of the end test pattern addresses close to the starting test pattern address.例文帳に追加

終了テストパターンアドレスを変化させながら複数の合成発光積分画像を取得し、終了テストパターンアドレスが小さい順、すなわち開始テストパターンアドレスに近い終了テストパターンアドレスから順に良品および不良品半導体装置の合成発光積分画像の比較を行う。 - 特許庁

In an environmental test apparatus that comprises an environmental test room 12 where a vehicle M is placed on chassis dynamometers 11 and then an environmental test is performed, an electric heater type device 15 for radiating heat to a road surface is provided that is capable of moving and heating a vehicle M from below, in the environmental test room 12.例文帳に追加

シャーシダイナモメータ１１上に自動車Ｍを配置して環境試験を行う環境試験室１２を備えた環境試験装置において、環境試験室１２内部に、自動車Ｍを下方から加熱する移動可能な電気ヒータ式路面輻射装置１５を設けた環境試験装置。 - 特許庁

The printing processing means conserves a test chart in the storage section 36 when the test chart as image data for image quality adjustment of the printing means is inputted from an external device by an input and output section 22 and registers the identifier of the test chart in a test chart list holding section 38.例文帳に追加

印刷処理手段は、外部装置から前記印刷手段の画質調整用の画像データであるテストチャートが入出力部２２により入力された際にその記憶部３６に保存を行うとともに、テストチャートの識別子をテストチャートリスト保持部３８に登録する。 - 特許庁

The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.例文帳に追加

テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tester and a test method for a semiconductor device to obtain appropriate test results on respective electrical characteristics, without providing equipment for obtaining a constant temperature state or expending time in measuring temperature characteristics on a huge number of test items or in changing test details.例文帳に追加

恒温状態のための設備を設けたり、膨大な試験項目の温度特性の測定や試験内容の変更に時間を費やすことなく、各電気的特性に対し適切な試験結果が得られる半導体装置の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent the deviation of a rotating shaft of a core barrel for excavating a cylindrical test body and to prevent the damage of the cylindrical test body caused by separation of chips of the cylindrical test body in the core barrel during excavation and contact between the inner peripheral surface of the core barrel and the cylindrical test body in the core barrel.例文帳に追加

円柱試験体を掘削するコアバレルの回転軸のぶれを防止すると共に、コアバレルの内周面とコアバレル内の円柱試験体との接触並びに掘削中のコアバレル内の円柱試験体の欠片の剥落による円柱試験体の損傷を防止する。 - 特許庁

Castec started to make earnest efforts to have employees take the national technical skills test after its director in charge of general administrative affairs was told by an official of another manufacturer located in the same industrial zone that it was natural for technical workers to pass at least Level 2 of the test. Thereafter, the company made it a policy to require team leaders or employees with higher positions to pass the national technical skills test so as to differentiate their skill levels from those of subordinates and disclose the qualifications acquired through the test.例文帳に追加

たまたま取締役総務部長が、同じ工業団地内のメーカーの人との会話の中で、「2 級技能検定合格は技術者として当たり前」と言われたことが、従業員の技能検定受検に本格的に取り組むきっかけとなった。 - 経済産業省