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Test Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14612件
To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加
半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
In a target device 30a and a handling device 30b, image forming parts 50 output test patterns and image reading parts 60 read the outputted test patterns and previously prepared test patterns.例文帳に追加
ターゲット装置30a及びハンドリング装置30bでは、画像形成部50がテストパターンを出力し、画像読取部60が出力されたテストパターン及び予め用意されたテストパターンを読み取る。 - 特許庁
To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加
少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁
In this method, an appearance of a test patch which is printed by an image forming system after the test patch is stabilized, is predicted by applying a transfer function to the color of the test patch newly printed.例文帳に追加
本発明による方法は、新たに印刷されたテストパッチのカラーに伝達関数を適用することによって、画像形成システムにより印刷されたテストパッチの安定後の外観を予測する。 - 特許庁
In this device, signal waveforms of a test signal and the response signal are generated and displayed by test signal generation data serving to test signal generation and determination data which is a determination standard for the response signal.例文帳に追加
本発明は、テスト信号の生成に供するテスト信号生成データ、応答信号の判定基準である判定データより、テスト信号、応答信号の信号波形を生成して表示する。 - 特許庁
At least 2 of the plurality of test regions, in a preferred embodiment at least 20 of the test regions, are substantially identical, wherein each of the test regions includes an array of general anchor molecules.例文帳に追加
その試験領域複数の中で少なくとも2個、好適な態様では少なくとも20個が実質的に同等であり、その試験領域は各々一般的なアンカー分子のアレイを有する。 - 特許庁
In this test data collation circuit 14, the test data are collated with expectation data within an expectation data ROM 16 and a collation result is extracted to an external CPU via a test result register 15.例文帳に追加
この試験データ照合回路14において、期待値データROM16内の期待値データと照合し、その照合結果を試験結果レジスタ15を介して外部のCPUに取出すように構成する。 - 特許庁
In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加
スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第1の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁
The test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc1 having a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS1 and generates a test mode signal TM of a L level.例文帳に追加
テストモード回路280は、テストモード移行信号MRS1に応じて通常動作時の電圧レベルを有する電源電圧Vcc1を検出してLレベルのテストモード信号TMを発生する。 - 特許庁
To start test without operating any pre-processing such as stab preparation or external variables setting in the simplex test and partial connection test of a program composed of multiple modules to be performed by using a debugger.例文帳に追加
デバッガを用いて行う複数モジュールからなるプログラムの単体テストおよび部分結合テストにおいて、スタブ作成や外部変数の設定等の前処理を行わずに、テストを開始できるようにする。 - 特許庁
To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加
テスト対象となるDUTとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁
To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
A test signal generating section 12 and a test signal switching section 13 divides a plurality of speakers into two groups of speakers, and supply test signals having two phase signals, i. e. positive and negative to two speakers in each group.例文帳に追加
試験信号発生部12および試験信号切換部13は、複数のスピーカを2個のスピーカの組に分け、各組における2個のスピーカに対し、正逆2相の試験信号を供給する。 - 特許庁
To provide a remote test system for a mobile phone in which an event to be grasped by naked eyes is confirmed at a test implementation base where a test is implemented so as to also cope with the case that an abnormal state occurs.例文帳に追加
試験を実施している試験実施拠点での肉眼で把握すべき事象を確認し、異常状態が発生した場合にも対応可能な携帯電話のリモート試験システムを提供すること。 - 特許庁
The data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter by the central management device 6, after receiving a test request from the central management device 6, and to perform a test communication (test call).例文帳に追加
データ通信装置7は、中央管理装置6からのテスト要求により、中央管理装置6により設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信(テストコール)を実施する。 - 特許庁
To provide a towing test apparatus enabling a model test for towing of a high speed vessel even in a short water tank, providing highly accurate measurement data, and also enabling a model test for the takeoff and landing of a flying boat.例文帳に追加
短い水槽でも高速船の曳航模型試験が可能であると共に計測データの精度が高く、かつ、飛行艇の離着水模型試験が可能な曳航試験装置を提供するものである。 - 特許庁
In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2).例文帳に追加
オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第1基板を、第1セットのテスト構造を用いて第1テスト露光シーケンスの露光(S1)しテスト構造を測定(S2)して第1セットの位置誤差データを得る。 - 特許庁
Even for BGA structure semiconductor devices having different external shapes, pin pitches, and arrangements, a test is performed with the position of the contact pin 33 being in contact with the test pads 22 unchanged by standardizing the arrangement of the test pads 22.例文帳に追加
BGA構造の半導体装置の外形、ピンピッチおよび配置が異なっても、テストパッド22の配置を共通化して、テストパッド22と接触するコンタクトピン33の位置を変えずにテストを行う。 - 特許庁
To provide an automatic preparation apparatus of a test solution of a soil sample capable of preparing the test solution of the soil sample, without requiring labor until the oscillation in an oscillator is completed, after the weighing of the soil sample to a test container.例文帳に追加
土壌試料を試験容器へ秤量した後は、振とう機での振とうが終了するまで、人手をかけずに行える土壌試料の試験溶液自動作製装置を提供すること。 - 特許庁
The test circuit 100 is provided with a first clock generator 101, a second clock generator 102, the circuit 103 to be tested, a built-in self test circuit 104 for performing the test, and a tester synchronization circuit 105.例文帳に追加
テスト回路100は、第1のクロックジェネレータ101と、第2のクロックジェネレータ102、テスト対象回路103と、テストを行う組み込み自己テスト回路104と、テスタ同期回路105を備える。 - 特許庁
When the coincidence signal SWp is outputted, an interruption control circuit 154 outputs the test data held in the test data register 151 to heads of a plurality of test data latch circuits 114.例文帳に追加
割込み制御回路154は、一致信号SWpが出力された場合に、複数のテストデータラッチ回路114の先頭に対しテストデータレジスタ151に保持されているテストデータを出力する。 - 特許庁
A tensile test is performed to a tensile test piece made of a metal material where hydrogen has penetrated, and destruction with a nonmetal inclusion affected by hydrogen as a starting point is generated in the tensile test piece.例文帳に追加
水素を侵入させた金属材料製の引張試験片に対して引張試験を行い、水素の影響を受けた非金属介在物を起点とする破壊を引張試験片に生じさせる。 - 特許庁
When the capsules 16 are at positions separated by an angle interval of 90° from the air leakage test positions, an helium leakage test is performed for the works put in the capsules 16 by a helium leakage test mechanism 40.例文帳に追加
カプセル16が上記エアリークテスト位置から90°の角度間隔だけ離れた位置にある時、カプセル16に収容されたワークに対して、ヘリウムリークテスト機構40によりヘリウムリークテストが実行される。 - 特許庁
To provide a simple solution not requiring tracking/control of an inversion characteristic executed by a test developer in developing a test code, and capable of maintaining the algorithmic side of a test pattern.例文帳に追加
試験コードを開発する際に、試験開発者が反転特性の追跡・管理を行なう必要がなく、なおかつ試験パターンのアルゴリズム的側面を維持することができる単純なソリューションを提供する。 - 特許庁
The main control unit changes test value to be changed shown by information to be changed, associated with the first test value or the second test value in advance, on the basis of the generated expected value changing data.例文帳に追加
主制御部は、第1検査値又は第2検査値に予め対応付けられた変更対象情報が示す変更対象の検査値を、前記生成した期待値変更用データに基づいて変更する。 - 特許庁
To provide a test case dynamic configuration device, for easily implementing a test even if an unknown function occurs for configuring a test case by receiving information from a plug-in module.例文帳に追加
プラグインモジュールからの情報を受けてテストケースを構築するために未知なる機能が発生したとしても、容易にテストの実施が可能となるテストケース動的構築装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To contribute to improvement of yield of products and reliability by enabling minute adjustment of timing of activation of wordlines of first and second ports during a test, by enabling a test in the worst case, and by improving accuracy of a test.例文帳に追加
テスト時、第1、第2のポートのワード線の活性化のタイミングの微調整を可能とし、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度を向上し、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁
3-1) Positive results in somatic cell mutagenicity tests using mammals (chromosome aberration test using mammalian bone marrow cells, micronucleus test using mammalian red blood cells, mouse spot test, etc.)例文帳に追加
3-1)ほ乳類を用いる体細胞の変異原性試験(ほ乳類骨髄細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類赤血球を用いる小核試験、マウススポット試験など)での陽性結果 - 経済産業省
To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加
製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁
Test signals are transmitted through a transmission electrode at test frequencies which are changed monotonously in a specified frequency band (S410), the test return loss value and insertion loss value for each test signal are derived, and then the test return loss value and insertion loss value thus derived are stored in a memory (S420).例文帳に追加
規定周波数帯域内において単調に変化させたテスト周波数でのテスト信号が送信電極を介して送信され(S410)、それらのテスト信号それぞれに対するテスト反射損失値及び挿入損失値を導出すると共に、それらの導出したテスト反射損失値及び挿入損失値をメモリに記憶する(S420)。 - 特許庁
During a test in a wafer state, the electric power and the test start signal are supplied from the wireless receiving circuit 2 through a wiring between chips, the all non-volatile memory chips 3 on the wafer 1 execute simultaneously the test by the self-diagnosis test circuit, respective non-volatile memory chips 3 write the test result in the self-memory region.例文帳に追加
ウェーハ状態でのテスト時に、無線受信回路チップ2からチップ間配線を介して電力および試験開始信号の供給を受けて、ウェーハ1上の総ての不揮発性メモリチップ3が、自己診断試験回路によるテストを同時に実行し、それぞれの不揮発性メモリチップ3が、自身のメモリ領域にそのテストの結果を書き込む。 - 特許庁
In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加
このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁
To prevent informaiton about a test piece from disagreeing with detection information in a gene expression analysis which uses the test piece on which an object to be detected is plotted in an array shape.例文帳に追加
アレイ状に検出体がプロットされた試験片を用いる遺伝子発現解析において、試験片に関する情報と検出情報との不一致を防止する。 - 特許庁
To provide a test method for an integrated circuit with a memory cell arranged in a circumference of a core that a conditional blocking in a test mode is applied to a clock input of the core.例文帳に追加
テストモードにおける条件付き抑止がそのクロック入力に適用されるコアの周りに配列されたメモリセルを有する集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test method for a program, allowing a test in error processing when a dynamic error occurs in the program, without depending on a type of an operating system.例文帳に追加
オペレーティング・システムのタイプに依存することなくプログラムで動的なエラーが発生した場合のエラー処理のテストを行うことができるプログラムのテスト方法を提供する。 - 特許庁
In a state where the automatic recovery function is in use, the movable member 14 is automatically displaced downward; and since the test plug insertion opening 4 is closed, insertion of the test plug is prevented.例文帳に追加
また、自動復旧機能が使用状態のときには、自動的に可動部材14が下方に変位して、テストプラグ挿入口4が閉鎖され、テストプラグの挿入が阻止される。 - 特許庁
To perform pull-down operation in a short time at a test run, and to set proper target suction pressure even if a season at the test run is in either case.例文帳に追加
試運転時のプルダウン運転を短時間で行うことができ、また、試運転時の季節が何れであっても適切な目標吸入圧力を設定することができる。 - 特許庁
Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加
発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁
To provide a synchronous type semiconductor device in which applying efficiency of electric stress for a device is improved to perform efficiently a burn-in/stress test, and a test system.例文帳に追加
バーンイン・ストレス試験を効率的に実行するため、デバイスへの電気的ストレスの印加効率を高めた同期型半導体装置、及び試験システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which damage of terminals caused by a test in a wafer state can be reduced and a time required for a test can be shortened.例文帳に追加
ウエハ状態における検査による端子の損傷を低減することができ、検査に要する時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
In that case, a radio wave from a GPS satellite is received by a GPS receiver 2 in a position wherein a penetration test is to be performed, and the positional information on the test position is identified from the radio wave.例文帳に追加
その際、貫入試験を行う位置でGPS受信機2により、GPS衛星からの電波を受信し、これから当該試験位置の位置情報を割り出す。 - 特許庁
In this method, a test ligand and a target compound are mixed together, and the test ligand and the target compound are mixed together, in the presence of at least one kind of blocker.例文帳に追加
該方法はテストリガンドと標的化合物とを併合すること、および少なくとも1種の遮断剤の存在下にテストリガンドと標的化合物とを併合することからなる。 - 特許庁
To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加
動作シミュレーションとRTLシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
In an airtightness test, the measurement object 1 is brought into contact with the base plates after deforming the seals, whereby change in internal capacity of the measuring object can be prevented to enhance the reliability of the airtightness test.例文帳に追加
気密試験時、被測定物(1)は、シールを変形させた後ベース板と接触することで内容積の変化を防ぎ、信頼性の高い気密試験を実施できる。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display polarizing plate exhibiting improvement in reduction of polarizing characteristics and color change in a wet heat durability test and a dry heat durability test.例文帳に追加
湿熱耐久性試験および乾熱耐久性試験において、偏光特性の低下および色変化が大いに改良した液晶ディスプレイ用偏光板を提供する。 - 特許庁
The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).例文帳に追加
データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する(ステップ1006)。 - 特許庁
In addition, the sense of discomfort where a worker, performing cross-wind stability test feels, is reduced and the working environment in which the cross-wind stability test is performed is improved.例文帳に追加
また横風安定性試験を行う作業者が感じる不快感を低減して、横風安定性試験が行われる作業環境を改善することができる。 - 特許庁
To provide a test method and a test circuit in which confirmation of operation when a time interval between refresh-operation and read-out/write- in operation is forcedly approached can be performed.例文帳に追加
リフレッシュ動作と読出し・書込み動作との時間間隔を強制的に近接させたときの動作確認を行なうことができるテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁
In the method for adjusting the lens for spectacles for the moving astigmatic testee, the eye examination data are obtained in a test stage using an eye test instrument, and the lens is worked and formed on the basis of the examination data.例文帳に追加
特に、移動乱視の被検者に対しては、眼鏡用レンズの調整がうまくいかない場合が多く、かえって眼精疲労の要因にもなっていた。 - 特許庁
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