「Test Program」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

An instruction execution part 121 selects an input variable combination 193, and executes a test object program 191 step by step.例文帳に追加

命令実行部１２１は入力変数値組み合わせ１９３を選択し、試験対象プログラム１９１を一ステップずつ実行する。 - 特許庁

To provide a method for generating a trigger signal in a scope mode of a memory tester for executing a test program having an algorithmic property.例文帳に追加

アルゴリズム的性質を持つテストプログラムを実行するメモリテスタのスコープモードにおいて、トリガ信号を生成するための方法を提供する。 - 特許庁

This vehicle operation program creation part 120 assumes a frequency of check-up tests minimally necessary for satisfying the test period.例文帳に追加

車両運用計画作成部１２０は、検査周期を満足するために最低限必要な仕業検査の検査回数を想定する。 - 特許庁

The test program stored in the first address is then executed while referring to the argument stored in the second address.例文帳に追加

さらに、前記第２のアドレスに格納された引数を参照しつつ、前記第１のアドレスに格納された前記テストプログラムを実行する。 - 特許庁

To precisely and automatically convert a test program for an IC tester into a format fitted to a different IC tester.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタのためのテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式に正確に自動変換することである。 - 特許庁

Each program using the readline library sets the application name, and an initialization file can test for a particular value. 例文帳に追加

readline ライブラリを使っているプログラムはそれぞれアプリケーション名 (application name) を設定するので、初期化ファイルはそれが特定の値かどうかを調べられます。 - JM

SOFTWARE TEST SYSTEM, METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING PROGRAM STORED FOR EXECUTING THIS METHOD例文帳に追加

ソフトウェアテストシステム、ソフトウェアのテスト方法、および、そのテスト方法を実行するためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

Thus, man hours relating to the definition 22 of the requirements for creating the test data and the operation of verifying the operation of the program can be reduced.例文帳に追加

従って、テストデータ作成条件の定義２２およびプログラムの動作検証作業に関わる工数を削減できるものである。 - 特許庁

A plurality of site CPUs 10 respectively start the execution of the test program by using a start instruction S12 from a work station 110 as an opportunity.例文帳に追加

ワークステーション１１０からの起動命令Ｓ１２を契機として、複数のサイトＣＰＵ１０がそれぞれテストプログラムの実行を開始する。 - 特許庁

The function extraction part may comprise: a program control part for making execute the test program previously stored in the test device; a state detection part for detecting each state of constitutional components; and an extraction part for extracting the constitutional element operated according to the test program and on the basis of the state of the constitutional element detected by the state detection part.例文帳に追加

機能抽出部は、試験装置に予め格納されている前記試験プログラムを実行させるプログラム制御部と、試験プログラムを実行させた後に、試験装置のそれぞれの構成要素の状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出したそれぞれの構成要素の状態に基づいて、試験プログラムに応じて動作した構成要素を抽出する抽出部とを有してよい。 - 特許庁

To provide the debug device of a program for an IC tester, a debug method and a debug program for efficiently realizing the debug of a program for an IC tester by easily executing debug for each test item even when any commented instruction does not exist in the optimized program for the IC tester.例文帳に追加

最適化されたＩＣテスタ用プログラムに、コメント化された命令が存在しなくても、テスト項目毎のデバッグが容易に行え、効率的にＩＣテスタ用プログラムのデバッグが実現できるＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置、デバッグ方法及びデバッグプログラムを提供する。 - 特許庁

Respective client devices 20-1, ..., 20-n cooperating with the server 10 through a network 30 are configured to include an information transmitting and receiving part 200, a test reproducing part 201, a test script 202, an information acquiring part 203 and a program 300 to be a test object in a client.例文帳に追加

サーバ１０と、ネットワーク３０を介して連携される各クライアント装置２０−１、・・・２０−ｎは、情報送受信部２００、テスト再生部２０１、テストスクリプト２０２、情報取得部２０３、およびクライアント内においてテスト対象となるプログラム３００と、を包含するように構成される。 - 特許庁

The program circuit 40 writes an address inputted from the outside together with a first test command in the fuse circuit 50 when the first test command is issued, and writes the address held in the fuse address register 70 in the fuse circuit 50 when a second test command is issued.例文帳に追加

プログラム回路４０は、第１のテストコマンドが発行された場合には該第１のテストコマンドと共に外部から入力されたアドレスをヒューズ回路４０に書き込み、第２のテストコマンドが発行された場合には際にヒューズアドレスレジスタ７０に保持されたアドレスをヒューズ回路５０に書き込む。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

A test signal is supplied to the semiconductor device so as to be tested, the test signal is supplied to the ideal semiconductor device so as to be tested equally, and the accuracy of a debugging operation about whether a program for semiconductor test is operated normally can be increased.例文帳に追加

この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。 - 特許庁

The management computer 21 specifies the worker executing a peer review or a test on the basis of a peer review skill or a test execution skill of a skill data storage part 32 and the difficulty of the changed program, and transmits an electronic mail instructing the execution of the test or the peer review to an electronic mail address of the worker.例文帳に追加

そして、変更されたプログラムの難易度とスキルデータ記憶部３２のピアレビュースキル又はテスト実施スキルとに基づいて、ピアレビュー又はテストを実施する作業者を特定し、この作業者の電子メールアドレスに、ピアレビュー又はテストの実施を指示する電子メールを送信する。 - 特許庁

Also, at redundant memory cell test, a defective region is caused forcedly in the redundant memory cell being used already for redundancy replacement by the redundant memory cell decoder 15, the number of effective loaded redundant memory cells of the semiconductor memory is recognized for a test device/test program.例文帳に追加

また冗長メモリセルテスト時に、冗長メモリセルデコーダ１５により、既に冗長置換に使用されている冗長メモリセルに強制的に不良帯を発生させ、当該半導体記憶装置の実効的な冗長メモリセル搭載数を検査装置/検査プログラムに対して認識させる。 - 特許庁

This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.例文帳に追加

フラッシュメモリ（メモリ部）１１０と、ＣＰＵ（ロジック部）１２０と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストＲＯＭ１３０と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段１５０，１１２とを備える。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to rewrite a program for each type of an LSI while it is necessary when using a test device connected to the outside, and it is possible to simultaneously test the cache memory in parallel with the memory such as the SRAM other than the cache memory built in the same LSI, and to shorten the test time.例文帳に追加

これにより、外部に接続したテスト装置を用いた場合のようにＬＳＩの品種毎のプログラムの書き換えが不要となる上、同一ＬＳＩに内蔵されているキャッシュメモリ以外のＳＲＡＭ等のメモリと同時並行してキャッシュメモリのテストが可能となり、テスト時間の短縮が図れる。 - 特許庁

Each of test programs for IC test is stored in a program managing directory 13 of a host system 10 as an archive 13a together with an archive managing file 13b, and corresponding to a program designating instruction, the archive 13a and the archive managing file 13b are transferred from the host system 10 to a testing device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験の各試験プログラムは、ホストシステム１０のプログラム管理ディレクトリ１３内に、アーカイブ１３ａとしてアーカイブ管理ファイル１３ｂとともに格納され、プログラム指定指示に応じて、ホストシステム１０から試験装置２０にアーカイブ１３ａとアーカイブ管理ファイル１３ｂとが転送される。 - 特許庁

The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加

この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁

In a processor 1, a program executing command code 5a is supplied to a selecting means (MUXC) 8 via an instruction register (IR) 5 from a program memory 3, and a memory test executing pseudo-command code 7a is supplied to the selecting means (MUXC) 8 from a test circuit 7.例文帳に追加

プロセッサ１において、プログラムメモリ３からはプログラム実行のための命令コード５ａがインストラクションレジスタ（ＩＲ）５を介して選択手段（ＭＵＸＣ）８へ、テスト回路７からはメモリテスト実行のための擬似命令コード７ａが選択手段（ＭＵＸＣ）８へ供給される。 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

A start test program selection means 21 started from an input device 1 decides a test program able to be tested from information stored in a device mount information storage section 31, obtains scheduling information from a start information storage section 32 for parallel execution to generate start information.例文帳に追加

起動試験プログラム選択手段２１は、入力装置１から起動を受けると、装置実装情報記憶部３１の情報から起動可能な試験プログラムを決定し、起動情報記憶部３２から並列実行するためのスケジューリング情報を得て、起動情報を作成する。 - 特許庁

To solve the problem wherein the replacement/addition of a program module for an information processing apparatus requires the step of transferring a target module to the information processing apparatus in order to test the program module on the information processing apparatus, irrespective of whether the test result is a normal/abnormal end.例文帳に追加

情報処理装置のプログラムモジュールを交換・追加する場合に、該プログラムモジュールの情報処理装置上でのテストのために、ターゲットモジュールを該情報処理装置に転送する手順がテスト結果に正常・異常終了に係わらず必要となる点を解決すること。 - 特許庁

An analysis and conversion processing part 1041 reads a test program 310 for another kind of equipment inputted from an input and output device 101 and stored in a storage part 1044, and executes following IC test processing.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、入出力装置１０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機種用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩＣテスト処理を実行する。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.例文帳に追加

同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁

At the burn-in test, an output signal of the program circuit 3b is selected by a selection circuit 4 and input to the boosted voltage generating circuit 2 to generate the voltage necessary at the burn-in test by the boosted voltage generating circuit 2.例文帳に追加

バーンインテスト時には、プログラム回路３ｂの出力信号をセレクタ回路４で選択して、昇圧電圧発生回路２に入力させ、バーンインテスト時に必要な電圧を昇圧電圧発生回路２に発生させる。 - 特許庁

To perform redundant replacing test having higher efficiency of replacement and to improve productivity by discriminating whether a redundant program means is used for a redundant memory cell operation test function before redundancy replacement or not.例文帳に追加

冗長置換前の冗長メモリセル動作試験機能に冗長プログラム手段使用の有無を判別可能とさせることにより、より置換効率の高い冗長置換試験を可能とし、生産性向上を図ることである。 - 特許庁

To provide a method of creating test data effective in verifying the operation of a data conversion program for coordinating a plurality of data formats, in a system for creating test data using the names of data items.例文帳に追加

データ項目名を利用したテストデータを生成するシステムであって、複数のデータフォーマットを連携させるためのデータ変換プログラムの動作検証を行う上で効果的なテストデータの生成方法を提供すること。 - 特許庁

This test specification generation device has a generation means generating the specifications for a test of the conversion program for the conversion of deign information of the program on the basis of: combination conversion processing information showing combination conversion processing wherein conversion items to the design information of the program are combined; between-item order information showing the priority order of the conversion item.例文帳に追加

テスト仕様生成置が，プログラムの設計情報に対する変換項目を組み合わせた組み合わせ変換処理を表す組み合わせ変換処理情報と，前記変換項目の優先順位を表す項目間順位情報と，に基づき，プログラムの設計情報の変換のための変換プログラムのテスト用の仕様を生成する生成手段を有する。 - 特許庁

This microcomputer is provided with a reference signal generation circuit for generating a reference signal in a predetermined cycle, and a checking signal in the same cycle as that of the reference signal is generated by a test program, and the reference signal is compared with a collation signal generated in the program, and the comparison result is outputted, and for the error decision, the test program is erased.例文帳に追加

所定周期の基準信号を発生させる基準信号発生回路を有し、この基準信号と同じ周期の照合信号を試験プログラムで発生させ、基準信号とプログラムで発生させた照合信号とを比較し、比較の結果を出力し、エラー判定の場合は試験プログラムを消去するマイクロコンピュータの試験方法。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to generate or correct the flow after the automatic conversion of the test program and work efficiency can be improved.例文帳に追加

したがって、テストプログラムの自動変換後に、フローの作成あるいは修正といった作業をする必要がなく、作業効率の向上が図れる。 - 特許庁

To provide an automatic test program generation system not complicating operation even in the case of providing a plurality of generation screens for specifying operation.例文帳に追加

指定操作の生成画面を複数の生成画面にした場合にも操作が複雑化しないテストプログラム自動生成システムを提供すること。 - 特許庁

A trigger specification is defined based on parts executed in an existing hardware for operating a DUT 14 and the test program.例文帳に追加

ＤＵＴ１４を動作させるための既存ハードウエアおよびテストプログラムのどの部分が実行されているかに基づいてトリガ仕様が定義される。 - 特許庁

To provide a transfer file processing program for processing binary data of test format which is integrated to an HTML for easy use.例文帳に追加

ＨＴＭＬファイルに組み込まれたテキスト形式とされたバイナリデータを容易に利用できるように処理する転送ファイル処理プログラムを提供する。 - 特許庁

Only an approved test program 7 is automatically transferred from the EWS server for submission 8 to an EWS server for storage 9 and is stored therein.例文帳に追加

そして、承認されたテストプログラム７のみ、提出用ＥＷＳサーバ８から保存用ＥＷＳサーバ９に自動転送されて保存される。 - 特許庁

To provide a debug supporting method which uses the display part of a memory dump and performs a test operation to reduce time needed to debug program.例文帳に追加

プログラムのデバッグに要する時間を短縮するために、メモリダンプの表示部分を使って、テスト操作を行うデバッグ支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus and a program capable of reducing an overhead of a processing time caused by a test at the start of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの起動時に実行されるテストによる処理時間のオーバーヘッドを低減することができる電子機器、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a usability evaluation support device and a usability evaluation support program for efficiently performing a usability evaluation test.例文帳に追加

従来よりも操作性評価試験を効率的に行うことができる操作性評価支援装置及び操作性評価支援プログラムを提供する。 - 特許庁