「Test Program」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

When the test of a test object program is executed by a tester on the verification support system, a storage trigger event detection part 31 repeatedly determines the presence/absence of the recording trigger event.例文帳に追加

検証支援システムの上で試験者により試験対象プログラムの試験が実行されると、記憶契機事象検出部３１が記録契機事象の有無を繰り返し判断する。 - 特許庁

To provide a subscriber line testing system, a subscriber line testing method and a program, for making it possible to perform a test reception board connection service (test reception, fault reception) in an IP network.例文帳に追加

ＩＰ網において、試験受付台接続サービス（試験受付、故障受付）を行うことを可能にする、加入者線試験システム、加入者線試験方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To avoid much time and labor from being required for exchanging a test result and a mobile unit program between a mobile unit development department and a mobile unit test execution department even when the distance between both the departments is far.例文帳に追加

移動機の開発部門と試験実施部門が離れていても部門間の試験結果や修正した移動機プログラムのやりとりに時間と人手が掛からないようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method, and a program for generating test patterns and capable of preventing increases in the number of test patterns and highly accurately detecting bridge faults and open faults.例文帳に追加

テストパターン数の増大を抑制し、ブリッジ故障及びオープン故障を高精度で検出可能なテストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラムを提供する。 - 特許庁

Beta test versions of software are now distributed to a wide audience on the Web partly to give the program a "real-world" test and partly to provide a preview of the next release. 例文帳に追加

ソフトウェアのベータテスト・バージョンは,ひとつには,プログラムを"実世界"でテストするため,またひとつには,次期リリースのプリビューを提供するため,今ではウェブ上で広範な観衆に配布されている． - コンピューター用語辞典

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

To provide a CCTV system in which, when altering a program, a necessity to perform operation tests on all functions of the program is eliminated while also considering influences on other portions than a program to be corrected, the alteration of the program is facilitated and the need of an operational test on any other portion than the program to be corrected is eliminated.例文帳に追加

プログラムの改造において、修正するプログラム部分以外への影響も考慮し、プログラムの全機能の動作試験を行う必要を除去し、プログラムの改造が容易で、修正するプログラム部分以外の動作試験を不要としたＣＣＴＶシステムを提供する。 - 特許庁

This device has an extraction means which extract parameter data to be used for an analog test model from the test program, and an analog simulation means which performs simulation using an analog DUT model for simulation of operations of the analog circuit of the test object and an analog test model connected to the analog DUT model for simulation of operations of an analog test part to be used for the analog test of the tester.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

Then, the host 4 collates the error code with maintenance information and returns a fault analysis program and on the basis of that program, the laundry equipment control part performs test operation.例文帳に追加

すると、ホスト４は、エラーコードとメインテナンス情報とを照合して故障解析プログラムを返信し、それに基づいてランドリー機器制御部はテスト運転を実行する。 - 特許庁

To obtain an exchange system device that executes a new program as a test and executes smooth replacement with an old program and to obtain the method for revising a version of the exchange system.例文帳に追加

新規プログラムを試験的に実行し、旧プログラムとの入れ替えをスムーズに実行することができる交換機システム装置および交換機システムのバージョンアップ方法を得る。 - 特許庁

To test a business program using actual operation data or an actual transaction load, and to enhance the quality of maintenance and development of the business program.例文帳に追加

実際の運用データを用いた業務プログラムや、実際のトランザクション負荷を試験することができ、業務プログラムの保守、開発の質を向上させることができるようにする。 - 特許庁

To reduce the amount of time to check that a semiconductor integrated circuit such as a microcomputer functions normally in a user mode without storing a test program in a program memory.例文帳に追加

マイクロコンピュータ等の半導体集積回路がユーザモードで正常に動作することをプログラムメモリに試験用プログラムを格納せずに短時間で確認できるようにする。 - 特許庁

While test processing is being executed for the semiconductor integrated circuit after the control program has been started (S12), a new control program is written to the semiconductor integrated circuit (S13).例文帳に追加

制御プログラムが起動して半導体集積回路の試験処理を行っている最中に（Ｓ１２）、新たな制御プログラムを半導体集積回路に書き込む（Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.例文帳に追加

フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁

To achieve the improvement of the debugging efficiency of program components including macro description by providing an environment for achieving the efficiency of the unit test operation of ladder program components including macro.例文帳に追加

マクロを含むラダープログラム部品の単体テスト作業を効率化する環境を提供し、マクロ記述を含むプログラム部品のデバッグ効率の向上を実現すること。 - 特許庁

Then, the host 4 collates the error code with maintenance information and returns fault analysis program and on the basis of that program, the laundry equipment control part carries out test operation.例文帳に追加

すると、ホスト４は、エラーコードとメインテナンス情報とを照合して故障解析プログラムを返信し、それに基づいてランドリー機器制御部はテスト運転を実行する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument.例文帳に追加

テストプログラム作成部１１は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム２２を作成して出力する。 - 特許庁

When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭ４０は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

To provide a characteristic test learning system which enables learners to sufficiently learn the characteristic test of an apparatus even if facilities to be exclusively used, such as training facilities, are not disposed and a characteristic test learning program used for the same.例文帳に追加

研修設備等のような専用の施設を設けなくても装置の特性試験について、パソコンにより学習者が十分に習得することのできる特性試験学習システムと、それに用いる特性試験学習プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

Only a change due to updating of a test program is efficiently extracted by comparison-verifying fluctuations before and after the updating of the test program with a production time-serial fluctuation, in each of a plurality of measuring items.例文帳に追加

本発明は、複数の測定項目毎の、試験プログラムの更新前後での変動と製造された時系列での変動とを比較検証することにより、試験プログラムの更新による変化のみを効率的に抽出することを特徴とする。 - 特許庁

The test program comprises the program main body part PH, and the cycle definition part CP, and only rewriting for the cycle definition part CP for defining the information depending on the semiconductor memory is enough to conduct the test easily when the different kind of the semiconductor memory is tested.例文帳に追加

テストプログラムはプログラム本体部ＰＨとサイクル定義部ＣＰとからなり、異なる種類の半導体メモリをテストする際には、半導体メモリに依存した情報を定義するサイクル定義部ＣＰを書き換えるだけで、テストを容易に行うことができる。 - 特許庁

The test system includes an IC tester for performing a test on a device under test, inputting a trigger signal, and recording the position data of the test program in execution when the trigger signal is input and the oscilloscope for performing waveform observations on the IC tester and outputting the trigger signal to the IC tester.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するＩＣテスタと、このＩＣテスタを波形観測し、トリガ信号をＩＣテスタに出力するオシロスコープとを備えたことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test device and its test system in which conditions separation of a test program is controlled without measuring a semiconductor memory actually, skewness correction under an arbitrary condition is performed and correction data are stored, skewness compensation can be performed by only read-out of data when a measurement test is performed actually.例文帳に追加

実際に半導体メモリを測定せずともテストプログラムの条件分離を制御し、任意の条件下のスキュー補正を実施して補正データを保存し、実際に測定試験を実行する際にはデータを読み出すだけでスキュー補正が行える半導体メモリ試験装置、及びその試験方式を提供することである。 - 特許庁

One routing processor or more is assigned to a test router among the routing processors, and a test program working on the routing processor assigned to the test allows one router to realize functions of a conventional network test tool, such as generation of transmission packets, checking of reception packets, and transmission of error packets or the like.例文帳に追加

複数のルーティングプロセッサの内、一つ又は、一つ以上のルーティングプロセッサをテスト用として割り当て、これらテスト用に割り当てられた、ルーティングプロセッサ上で動作するテストプログラムにより、送信パケットのジェネレート、受信パケットのチェック、エラーパケットの送信など、汎用的なネットワークテストツールの機能を一つのルータ装置で実現した。 - 特許庁

When item information, the repeated frequency of test data, etc., are inputted, a form program preparing device 11 prepares form item information defining the items of a form and the repeated frequency of test data, test information consisting of test data in each item and link table information defining a link between plural items.例文帳に追加

項目情報、テストデータの繰り返し件数等を入力すると、帳票プログラ作成装置１１により、帳票の項目とテストデータの繰り返し件数を定義した帳票項目情報と、項目毎のテストデータからなるテスト情報と、項目間のリンクを定義したリンクテーブル情報が作成される。 - 特許庁

A tester 2 receives testing conditions, and tests the semiconductor chip on a wafer via a probe 6, according to the accept/reject test program.例文帳に追加

テスタ２は、テスト条件を受信して、合否判定テストプログラムに従い、プローバ６を介してウエハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON例文帳に追加

自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

The program 300 displays the test result on the transition diagram while referring to the definition result 160 and the result list 200.例文帳に追加

前記プログラム３００は、前記定義データ１６０と前記結果リスト２００とを参照して、テスト結果を遷移図上に表示する。 - 特許庁

To check whether a test pattern is transferred normally or not, when a pattern data written in a device program is transferred to a pattern memory.例文帳に追加

デバイスプログラムに記述されたパタンデータをパタンメモリに転送する際に正常にテストパタンが転送されたか否かをチェックすること。 - 特許庁

Integrated circuits according to the present invention individually changes the order of execution of a plurality of subprograms contained in a burn-in test program.例文帳に追加

本発明による集積回路は、バーンインテスト用プログラムに含まれる複数のサブプログラムの実行順序を個別に変更する。 - 特許庁

The program circuit 24 confirms a cut-off state of a fuse with a severer condition in a test mode than that in the normal condition.例文帳に追加

プログラム回路２４は通常モードにおけるよりもテストモードにおいて厳しい条件でヒューズの切断状態を確認する。 - 特許庁

The control unit executes the radio device measuring instrument control program to instruct the radio device measuring instrument to perform the test and adjustment.例文帳に追加

制御部は、前記無線機測定器制御プログラムを実行して、前記無線機測定器に前記試験・調整の指示を行う。 - 特許庁

The external system 12, in a development stage, for instance, starts a test program externally or runs a remote check on an application.例文帳に追加

これは、開発の段階では、例えばテスト用のプログラムを外部から起動したり、あるいはアプリケーションのリモートチェックを実施する。 - 特許庁

HIGH-VISION MOVING PICTURE TEST SIGNAL GENERATOR, GENERATING PROGRAM THEREOF AND GENERATING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ハイビジョン動画テスト用信号生成装置、ハイビジョン動画テスト用信号生成プログラムおよびハイビジョン動画テスト用信号生成方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF FOR EXTERNAL EQUIPMENT, AND STORAGE MEDIUM STORED WITH CONTROL PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

The server computer 104 has a JTAG scan program 103 and capable of issuing a scan test to a desired device to be tested.例文帳に追加

該サーバコンピュータ104は、JTAGスキャンプログラム103を備えており、所望の被試験装置へスキャンテストを発行することが可能なものである。 - 特許庁

When the inside of the IC chip is judged to come within a prescribed temperature (processing S2), a prescribed test program is executed under the high-temperature environment (processing S3).例文帳に追加

所定温度範囲内と判断されれば（処理Ｓ２）、高温環境下による所定のテストプログラムを実行する（処理Ｓ３）。 - 特許庁

The load test program retains an assignment rule table 7 in which rules for assigning hardware resources of large computer are arranged.例文帳に追加

また、負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア資源を割り当てるルールが配置された割り当てルールテーブル７を保持する。 - 特許庁

Each program development resource is effectively used by automation by a make execution part 105 and a test execution part 106.例文帳に追加

そして、ｍａｋｅ実行部１０５、及びテスト実行部１０６により、自動化して各プログラム開発資源を有効に活用する。 - 特許庁

To provide a test tool of a Java language program for detecting the mismatching of a value and type according to the input and prediction data of a text base.例文帳に追加

テキストベースの入力及び予想データで値及び型の不一致を検出できるJava言語プログラムのテストツールを提供する。 - 特許庁

This can test the device 1 to be tested incapable of writing a program 8 to the nonvolatile memory 4.例文帳に追加

これにより不揮発メモリ４にプログラムを書き込むことができない試験対象装置１に対して試験を行なうことが出来る。 - 特許庁

To provide a device for creating automatically a program for input vector creation for a test at the manufacturing time of an LSI for loading a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵを搭載するＬＳＩの製造時テスト用の入力ベクタ作成のためのプログラムを自動的に作成すること。 - 特許庁