「Writing Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Compare: Writing Test Methods for Vectors.java (JUnit 3) 例文帳に追加

比較: Vectors.java 用のテストメソッドの記述 (JUnit 3) - NetBeans

TEST WRITING METHOD AND INFORMATION-RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法及び情報記録装置 - 特許庁

To perform test writing also in an outer periphery as well as test writing of an inner periphery of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの内周の試し書きと併せて、外周においても試し書きを行う。 - 特許庁

TEST WRITING METHOD AND INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法及び情報記録装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR WRITING DATA AND TEST DEVICE例文帳に追加

データ書込装置、データ書込方法、及び試験装置 - 特許庁

The delay circuit for writing generates a plurality of writing test clock signals.例文帳に追加

前記書き込み用遅延回路は複数の書き込みテストクロック信号を生成する。 - 特許庁

OPTICAL DISK RECORDING/REPRODUCING DEVICE AND ITS TEST WRITING METHOD例文帳に追加

光ディスク記録／再生装置及びその試し書き方法 - 特許庁

After writing the test writing information, a test writing recording state verifying means verifies whether the test writing information are recorded in two recording tracks T1, T2 or in one track.例文帳に追加

試し書き情報の書き込み後、試し書き記録状態検証手段は、試し書き情報が記録トラックＴ１，Ｔ２の２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する。 - 特許庁

By selecting the region 101 (the region 102), a writing test (an erasing test) is conducted.例文帳に追加

領域１０１（領域１０２）を選択して書込テスト（消去テスト）を行なう。 - 特許庁

The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.例文帳に追加

従来行っていたトラック中心へのＳＡＴ試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン（Ａ，Ｂパターン）の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁

When a test signal falls, data writing is performed after inputting writing data.例文帳に追加

テスト信号が立ち下がると、書き込みデータを入力した後にデータ書き込み動作を行う。 - 特許庁

The test writing data is read and one of the designated positions is selected as the focus for writing according to the reproduced test writing data.例文帳に追加

テスト書き込みデータは読み取られ、再生されたテスト書き込みデータにしたがって、所定位置のうちの１つが書き込み焦点として選択される。 - 特許庁

First test writing processing is carried out for checking disk quality, and when the disk quality is bad, a test writing parameter is increased and sequence processing is changed to carry out second test writing processing.例文帳に追加

ディスクの品質をチェックする第一の試し書き処理を行い、ディスクの品質が悪い場合は、試し書きのパラメータを増やし、シーケンス処理を変え、第二の試し書き処理を行う。 - 特許庁

And this optical disk drive writes the information about the test writing area in the test writing control area provided to control the test writing area.例文帳に追加

また光ディスク装置において、前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録する光ディスク装置とする。 - 特許庁

Data to be recorded in a data area is stored in a memory 108 while test writing for a test writing area of an optical disk is performed, recording of data for the data area and test writing for the test writing area are performed alternately.例文帳に追加

光ディスクの試し書き領域へ試し書きが行われている間にメモリ１０８にデータ領域へ記録するデータを記憶させ、データ領域へのデータの記録と試し書き領域への試し書きとを交互に行うことを特徴とする。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

In the optical disk device for maintaining reading power constant during test writing by using the test area of an optical disk, carrying out test writing by sequentially changing writing power, and determining optical writing power for information writing from the result of the test writing, a reading power setting means is provided for setting the reading power so as to obtain the optimal writing power.例文帳に追加

光ディスクのテストエリアを使用し、テスト書込時の読出パワーを一定とし、書込パワーを順次変化させてテスト書込を行わせ、テスト書込結果より情報書込時の最適書込パワーを決定する光ディスク装置において、前記読出パワーを前記最適書込パワーが得られるように設定する読出パワー設定手段を、設ける。 - 特許庁

TEST WRITING METHOD, INFORMATION RECORDING METHOD, AND INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法、情報記録方法及び情報記録装置 - 特許庁

MAGNETIC RESISTANCE RANDOM ACCESS MEMORY, ITS WRITING METHOD AND TEST METHOD例文帳に追加

磁気抵抗ランダムアクセスメモリ、その書き込み方法、およびテスト方法 - 特許庁

in ancient China, the style of writing used for the test given to applicants for official office 例文帳に追加

昔の中国で官吏登用試験に用いられた文体 - EDR日英対訳辞書

A test writing information recording control means performs control so that predetermined test writing information is written in a part of a user area U.例文帳に追加

試し書き情報記録制御手段は、ユーザ領域Ｕの一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する。 - 特許庁

In S13, test writing data transfer to the free area is instructed.例文帳に追加

Ｓ１３で空き領域に対する試し書きデータ転送を指示する。 - 特許庁

When the recording linear velocity of the disk becomes to be equal to or faster than the fixed volocity, the processing part can perform high-speed test writing easily using the outer periphery-side test writing area.例文帳に追加

一定速度以上の記録の際には、外周側の試し書領域を用いて、容易に高速の試し書きを行うことができる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR WRITING DATA IN MEMORY OF INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS例文帳に追加

集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置 - 特許庁

Test writing data are recorded in an optical disk, the test writing data is reproduced from the optical disk, and magnitude of asymmetry is measured from the reproduced signal.例文帳に追加

そして、光ディスクに試し書きデータを記録し、光ディスクから試し書きデータを再生して、再生信号からアシンメトリの大きさを測定する。 - 特許庁

Test writing is performed for a track T1 and a track T2 being adjacent to it with a same test power Pwt.例文帳に追加

トラックＴ１とこれに隣接するトラックＴ２に同じテストパワーＰｗｔで試し書きを行う。 - 特許庁

Next, second random information is over-written in the optical disk of the first test writing with an erase level as second test writing (step S8).例文帳に追加

次に、前記１回目の試し書きされた光ディスクに、２回目の試し書きとして、第２のランダムな情報がイレースレベルで上書きされる（ステップＳ８）。 - 特許庁

To efficiently test durability of a magnetic memory cell with respect to wrong writing of data.例文帳に追加

磁性体メモリセルのデータ誤書込に対する耐性を効率的にテストする。 - 特許庁

This optical disk has a data storage area and a test writing area to be used to adjust the power of the laser used for writing, and it is also provided with a test writing control area to write and control the information about the test writing area.例文帳に追加

データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクで、前記試し書き領域に関する情報を記録し、前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有する光ディスクとする。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加

選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁

A test pattern signal is generated by a test pattern image generating means 11, and the signal is transmitted to a writing means 12.例文帳に追加

テストパターン像発生手段１１ではテストパターン信号が生成され、その信号が書き込み手段１２へ送られる。 - 特許庁

To provide a disk device which can perform test writing at high recording linear velocity surely to a disk on which a test writing area is provided even at an outer peripheral side, a method and a disk.例文帳に追加

外周側にも試し書領域を設けたディスクに、高記録線速度での試し書きを確実に行なえるディスク装置と方法及びディスクを提供する。 - 特許庁

The time P is defined as the time from the timing for writing an image of a page forming the test pattern to the timing for writing an image where the correction value is reflected with the test pattern.例文帳に追加

時間Ｐを、テストパターンを形成するページの画像を書き出すタイミングから、テストパターンによる補正値を反映した画像を書き出すタイミングまでの時間とする。 - 特許庁

In 16, a transfer rate of the test writing data is calculated on the basis of a timing result.例文帳に追加

計時結果に基づき、Ｓ１６で試し書きデータの転送レートを算出する。 - 特許庁

Steps of (1) moving to a test writing area, (2) recording test data into the test writing area, (3) moving to a head position of an area into which the test data are recorded, (4) reproducing the test data, and (5) determining appropriate power, are performed in parallel for two optical pickup units respectively.例文帳に追加

（１）試し書き領域への移動、（２）試し書き領域へのテスト用データの記録、（３）テスト用データが記録された領域の先頭位置への移動、（４）テスト用データの再生、（５）適切なパワーの決定、が２つの光ピックアップ装置について、それぞれ並行して行われる。 - 特許庁

A sector for inhibiting the trial writing in the test track is stored in a storage circuit 14.例文帳に追加

記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test circuit capable of making unnecessary dedicated wiring for each test signal and reducing writing regions.例文帳に追加

テスト信号毎の専用配線を不要とし、配線領域を削減できるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

The system is provided with one or a plurality of test data writers 2, 3 for writing a test data in the RF-ID medium, and a test data reader 4 for reading the test data written in the RF-ID medium.例文帳に追加

ＲＦ−ＩＤメディアにテストデータを書き込むための１つまたは複数のテストデータ用ライター（２，３）と、ＲＦ−ＩＤメディアに書き込まれたテストデータを読み取るためのテストデータ用リーダー（４）とを備えている。 - 特許庁

When both values of EL1 and EL2 are lower than threshold values L1 and L2 at the time of test writing last time, test writing width A(L) is increased by Δa so as to be more than that last time.例文帳に追加

１回前のテストライト時において、ＥＬ１とＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２を下回っている場合には、テストライト幅Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものよりΔａだけ増大させる。 - 特許庁

Moreover, in order to appropriately form the holed mark, a test writing area 95 is prepared on the outer periphery, etc., of a lead-out area 93, and test writing on holed mark recording is performed.例文帳に追加

また穴空きマークが適切に形成されるようにするため、リードアウトエリア９３より外周などに試し書きエリア９５を設け、穴空きマーク記録に関する試し書きを実行する。 - 特許庁

To provide an optical disk recording apparatus without securing a period of time required for test writing specially by repeating alternately recording of data and processing operation of test writing.例文帳に追加

データの記録と試し書きの処理動作を交互に繰り返すことによって、試し書きに要する時間を改めて確保する必要がない光ディスク記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Optimum recording power P(Si) at the prescribed high recording speed Si is obtained by a test writing.例文帳に追加

所定の高速記録速度Ｓｉでの最適記録パワーＰ（Ｓｉ）を試し書きによって求める。 - 特許庁

To take a teaching position for the category of learning writing with brushes at a middle school or a school for teacher training, it was required to pass the test for the category of learning writing with brushes, at bunken. 例文帳に追加

中学校・師範学校の習字科教員として教職に就くためには、この文検習字科に合格する必要があった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A test writing control circuit 12 operates in a test mode and in each regular cell array CA 1-4, writes test data in a regular memory cell at a position corresponding to the position of the parity memory cell where test parity data are written.例文帳に追加

試験書き込み制御回路１２は、試験モード中に動作し、各レギュラーセルアレイＣＡ１−４において、試験データを、試験パリティデータが書き込まれるパリティメモリセルの位置に対応する位置のレギュラーメモリセルに書き込む。 - 特許庁