「Writing Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The ink has an extended ink line length of ≤20 mm, when subjected to operations comprising test-writing the pressurized ballpoint pen, wiping the pen point, leaving the pen for 5 min., rubbing off the pen point on prescribed paper to a distance of one rotation, and then extending the applied ink with a prescribed eraser in the horizontal direction.例文帳に追加

条件：加圧されたボールペンをためし書き後、ペン先を拭きとり、５分放置後、所定の用紙にペン先部を１回転こすりつけ、所定の消しゴムで水平方向に引き伸ばしたとき、その長さが２０ｍｍ以下であるインキ。 - 特許庁

For a first recording layer 3, a recording condition recorded on the first recording layer 3 is used to perform test writing on the first recording layer 3, deriving an optimum recording condition and performing direct recording according to a direct recording condition.例文帳に追加

第１記録層３に対しては当該第１記録層３上に記録されている記録条件を用いて、第１記録層３上に試し書きを行い最適記録条件を導出し、かつ、直接的な記録条件に従い直接記録を行う。 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

A control part 20 is arranged for selecting a recording condition for making reproduced signal quality favorable by varying the recording condition of a laser beam 44 from an optical head 11 to perform test-writing on the optical disk 10 and reproducing the information written on trial.例文帳に追加

光ヘッド１１からのレーザビーム４４の記録条件を変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行い、試し書きされた情報を再生し、再生信号品質が良好となる記録条件を選択するための制御部２０を設ける。 - 特許庁

After writing data in the memory cells according to a test pattern in which logical values are set so that the memory cells surrounding a target cell have a polarity (logic) repelling that of the target memory cell, all the memory cells are repetitively read to determine that the logical values are equal to those in writing, thereby identifying a defective memory cell.例文帳に追加

本発明は、ターゲットのメモリセルの極性（論理）に対して、周囲のメモリセルの極性が反発になるように論理値が設定されたテストパターンにしたがって、メモリセルにデータを書き込んだ後、全てのメモリセルについて、繰り返し読み出し動作を行い、書き込みのときと同じ論理値であることを判定することによって、不良メモリセルを特定することを特徴とする。 - 特許庁

This device includes: a memory cell array; a plurality of data input/output terminals; a plurality of signal paths for writing data supplied to the data input/output terminals to the memory cell array in parallel; a plurality of latch circuits for temporarily holding the data on the signal paths respectively; and a selector for selectively supplying the data to the latch circuits from a test data terminal during a test operation.例文帳に追加

メモリセルアレイと、複数のデータ入出力端子と、データ入出力端子に供給されたデータをメモリセルアレイに対して並列に書き込むための複数の信号経路と、複数の信号経路上のデータをそれぞれ一時的に保持するラッチ回路と、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータを選択的に供給するセレクタとを備える。 - 特許庁

For test writing, optimum recording power values Pw1 and Pw2 of test write areas are found, corresponding to amplitudes A1 and A2 of the reproduced signal of a preformat part, such as tracking error signals and when actual recording is carried out, corresponding optimum recording power Pw is calculated through interpolation from the amplitude A of the tracking error signal at a jump to a desirable track.例文帳に追加

前記テストライトを行うにあたって、トラッキングエラー信号等のプリフォーマット部の再生信号の振幅Ａ１，Ａ２に対応付けて各テストライト領域での最適記録パワーＰｗ１，Ｐｗ２を求めておき、実際の記録時には、所望トラックへのトラックジャンプ時に検出されたトラッキングエラー信号の振幅Ａから対応する最適記録パワーＰｗを補間演算する。 - 特許庁

To provide a specification creation support device and method for writing functional requirements and non-functional requirements without omission or leakage as the description method of the requirements of software, and for creating eligibility test specifications without omission or leakage for requirement specifications.例文帳に追加

ソフトウェアの要件の記述方法として機能要件と非機能要件を抜け・漏れなく記載することを可能にし、要件仕様書に対し抜け・漏れのない適格性試験仕様書の作成が可能な仕様書作成支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

A coincidence comparing circuit 5 provided on each judging board 10 compares the address and data for a device 20 under test with predetermined values and generates and outputs a trigger allowing the writing on a memory 4 to a read/write control circuit 6 if they coincide.例文帳に追加

各判定ボード１０毎に設けられた一致比較回路５は、被試験デバイス２０に対するアドレスおよびデータを、あらかじめ設定される値と比較し、一致する場合には、リード／ライト制御回路６に対し、メモリ４に書き込みを可能とするトリガを生成・出力する。 - 特許庁

Before information is recorded in a data region Data Block, an output LD Out of the laser diode is adjusted to a target value test-writing information in a plurality of ALPC regions, and information is recorded in a data region of the optical disk with the adjusted output of the laser diode.例文帳に追加

データ領域ＤａｔａＢｌｏｃｋに情報を記録する前に複数のＡＬＰＣ領域に情報を試し書きしながらレーザーダイオードの出力ＬＤ Ｏｕｔを目標値に調整し、調整されたレーザーダイオードの出力で光ディスクのデータ領域に情報を記録する。 - 特許庁

When processing in which information is recorded in a rewritable optical disk with 4-fold speed or more is performed and it is discriminated that the optical disk is unrecorded (step S3), first random information is recorded in the optical disk as first test writing (step S7).例文帳に追加

書き換え可能な光ディスクに情報を４倍速以上で記録する処理を行う際に、光ディスクは未記録であると言うことが判定された場合に（ステップＳ３）、光ディスクに第１のランダムな情報は１回目の試し書きとして書き込まれる（ステップＳ７）。 - 特許庁

This method calculates the amount of data to record before starting, to record and finds the area not to use to record from the calculated results and the recordable capacity of the disk, when performing disk-at-once recording, then decides to use this area for making test writing to optimize the recording laser power.例文帳に追加

ディスク・アット・ワンスによる記録において、記録を開始する前に記録するデータ量を算出し、算出結果とディスクの記録可能量から使用しない領域を判別し、判別された領域を記録レーザーパワーの最適化の試し書き領域とする。 - 特許庁

When disk quality of an m-th layer (m denotes an integer of 2 or more) satisfies a fixed standard by a disk quality checking circuit confirming disk quality for each layer, the optimum laser parameter of the m-th layer is calculated and recording is performed in a data part using the parameter in test writing.例文帳に追加

各層毎にディスク品質を確かめるディスク品質チェック回路により、ｍ層目（ｍは、２以上の整数）のディスク品質が、一定の基準を満たす場合は、試し書きにおいて、ｍ層目の最適なレーザパラメータを算出し、このパラメータを使い、データ部に記録する。 - 特許庁

To provide a quality judging board for a burn-in test system and a quality judgment result memory method capable of writing the real-time quality judgment results of a plurality of judging boards in memories for the judging boards with triggers optionally specified for individual judging boards.例文帳に追加

複数の判定ボードのリアルタイムな良否判定結果を、判定ボードそれぞれ任意に指定したトリガで各判定ボードに対するメモリに書き込むことができるバーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法を提供することである。 - 特許庁

A free area of a recording medium is retrieved before starting to record moving picture data (step S112), and test writing is respectively performed in one block of the first address of the free area and one block of the last address of the free area to measure recording speeds (step S114 and step S116).例文帳に追加

動画データの記録開始前に、記録メディアの空き領域を検索し（ステップＳ１１２）、空き領域の先頭アドレスの１ブロックと、空き領域の最終アドレスの１ブロックでそれぞれ試し書きを実施して記録速度を測定する（ステップＳ１１４，ステップＳ１１６）。 - 特許庁

Test writing is performed in a predetermined area of an optical disk by obtaining a maximum signal amplitude position and a minimum reproduced error signal position of an RF signal by varying a focal offset, setting the focal offset between both positions, and controlling an optical head based on the set focal offset.例文帳に追加

フォーカスオフセットを可変しＲＦ信号の信号振幅の最大位置と再生エラー信号の最小位置とを求め、該両位置間でフォーカスオフセットを設定し、該設定したフォーカスオフセットに基づき光ヘッドを制御し、光ディスクの所定領域に試し書きを行う。 - 特許庁

The current for writing the low frequency test data or the DC is caused to flow through the head at the point of time when the data are actually not recorded, then the normality/ abnormality of the magnetic recording head is detected in accordance with whether the terminal voltage of the head is a value within the predetermined range or not.例文帳に追加

実際にデータを記録していない時点で低周波のテストデータ書込み用、または直流の電流をヘッドに流し、ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた範囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘッドの正常／異常を検出する。 - 特許庁

Thus, an image is confirmed by performing addressing in conformity to the configuration of the mounted expansion memory, writing internally generated test pattern data to all the areas of the expansion memory, further reading all pieces of the written data in the expansion memory and printing them on paper.例文帳に追加

このように、装着した増設メモリ構成にあわせたアドレッシングを行って、増設メモリの全ての領域に対して内部生成テストパターンデータを書き込み、さらに増設メモリへの書き込みデータを全て読み出して、紙に印刷することにより画像確認を行う。 - 特許庁

To verify that the value of written data is right and that unnecessary writing is not performed by a smaller test bench in a shorter time without the interposition of an human error, in a logic verification technique for a plurality of DMAC (Direct Memory Access Controller) circuits accessing a common memory.例文帳に追加

共通のメモリーにアクセスする複数のＤＭＡＣ（ＤｉｒｅｃｔＭｅｍｏｒｙＡｃｃｅｓｓＣｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）回路の論理検証手法において、書き込んだデータの値が正しい事と共に、余計な書き込みを行っていない事を、より小さなテストベンチで、より短時間に、ヒューマンエラーが介在する事無く検証できる事。 - 特許庁

At the time when the recording medium such as the overwritable optical disk is recorded, a test signal is supplied to an optical pickup in the writing period of a temporary memory and recorded around the recording area, then based on the result of evaluation of the above, the intensity of laser beams of the optical pickup is optimized.例文帳に追加

オーバライト可能な光ディスク等の記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書込期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これれを評価した結果に基づき光ピックアップのレーザビームの強度を最適化する。 - 特許庁

Thereby, even if temperature of the light source when information is recorded in the information recording medium is different from the temperature of the light source when recording condition is set last time, a optimum recording condition can be set newly without consuming a test writing region.例文帳に追加

それにより、情報記録媒体に情報を記録する際の光源の温度が、前回記録条件を設定したときの光源の温度と異なっていても、試し書き領域を消費することなく、新たに最適な記録条件を設定することができる。 - 特許庁

When toner remaining level in a development device 4 is L1 or less, a controller 90 determines that replenishment toner in the toner container 5 is zero, and executes test writing to an IC chip 27 mounted to the toner container 5 by using a reader/writer module 30.例文帳に追加

現像装置４内のトナー残量レベルがＬ１以下になった場合は、制御部９０はトナーコンテナ５内の補給トナーが空であると判断し、リーダ／ライタモジュール３０を用いてトナーコンテナ５に装着されているＩＣチップ２７への書き込みテストを実行する。 - 特許庁

Moreover, since data is recorded on the test writing area of the optical disk in order to acquire data with which the relational expression is calculated, the initial value of the laser driving voltage can be calculated in a short period of time without turning a focusing servo off like in the conventional optical disk recording device.例文帳に追加

また、関係式を求めるデータを取得するために、光ディスクの試し書き領域にデータを記録するので、従来の光ディスク記録装置のようにフォーカスサーボをオフにせずに、レーザ駆動電圧の初期値を短時間で算出することができる。 - 特許庁

An IC card carrying part 22 is operated in this state, a card supplying part 21 successively takes out the cards 60, stops them in the area 24, and a communication test with the reader/ writer 31 and initial data writing for card issuing are performed.例文帳に追加

この状態でＩＣカード搬送部２２が稼働され、カード供給部２１よりＩＣカード６０が順次取り出されて、発行処理領域２４で停止され、リード／ライタ装置３１との間で通信テストおよび、カード発行のための初期データの書き込みが行われる。 - 特許庁

Thus, information different from the one actually held by the e-fuse element 12 is read, so that the reading propriety test of the e-fuse element 12 in an unprogrammed state is performed in a pseudo term without performing actual writing.例文帳に追加

こうして、ｅ−ｆｕｓｅ素子１２が実際に保持している情報とは異なる情報を読み出すようにすることで、実際に書き込みを行うことなしに、未プログラム状態のｅ−ｆｕｓｅ素子１２の読み出し可否試験を擬似的に行う構成となっている。 - 特許庁

The test mode decision circuit 40 makes the first sense amplifier signal SAP inactive during the period of data writing in the word line batch write operation mode, and a P channel type MOS transistor Qp4 as the transistor for power supply to the sense amplifier is made to be in an inactive state.例文帳に追加

テストモード判定回路４０は、ワード線一括書き込み動作モード時におけるデータ書き込み期間に第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを非活性とすることにより、センスアンプへの電源供給用トランジスタであるＰチャネル型ＭＯＳトランジスタＱｐ４が非活性状態にされる。 - 特許庁

When a fault is detected in the case of writing the image data to the hard disk 301 or of reading the data as a test after that, the use of an area of the hard disk in the unit of a prescribed size relating to fault detection is inhibited and the image data are written again to the hard disk 301.例文帳に追加

前述のハードディスク３０４への画像データの書き込みの際、またはその後の試験的読み出しの際に、異常を検知した場合は、ハードディスクにおける、異常検知にかかる所定サイズ単位の領域を使用禁止として、再度ハードディスクーの画像データの書き込みを行う。 - 特許庁

To provide a non-magnetic piezoelectric actuator applicable to an electron-beam writing apparatus which dislikes generation of magnetic field extremely, a magnetic sensor, an oscillating test piece, a testpiece version magnetometer, etc., and applicable also to equipment which works by vacuum without lowering accuracy by prolonged use, either.例文帳に追加

磁場の発生を極端に嫌う電子ビーム描画装置、磁気センサ、振動試料型磁力計等に適用することが可能であり、かつ長時間の使用によっても精度が低下せず、真空状態で稼動する装置にも適用可能な非磁性圧電アクチュエータを提供すること。 - 特許庁

In an optical disk device in which a recordable and reproducible optical disk rotates at a constant linear velocity, test writing is performed before recording information data, written data for trial are reproduced, a difference of data width between reproduced data and reference data is detected in a reproduced data processing means, and an error signal is generated.例文帳に追加

記録再生可能な光ディスクが一定線速度で回転する光ディスク装置において、情報データを記録する前に試し書きを行い、試し書きデータを再生し、再生データ処理手段において再生データと基準データとのデータ幅の差を検出し誤差信号を生成する。 - 特許庁

Each layer has a data recording area and test writing areas divided into a plurality of small areas, which should be recorded in such a way that all other layers enables combination of recorded and unrecorded on the small areas on which OPC is performed in the layer on which OPC is performed.例文帳に追加

各層にデータ記録領域と複数の小領域に分割された試し書き領域とを持ち、試し書き領域の小領域は、ＯＰＣを行う層のＯＰＣを行う小領域に対して他の各層が予め記録済み、未記録の組合せができるように記録をおこなっておくこと。 - 特許庁

A backplane test system sequentially transmits signals from some pin among a plurality of electrically conductive pins of a backplane to all the other pins, detects writing formed between pins at which the signals have been received and the pin, and stores pins on both ends of detected wiring.例文帳に追加

バックプレーン試験システムは、バックプレーンが有する複数の導電性のピンのうちあるピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該あるピンとの間に形成されている配線を検出し、検出した配線の両端のピンを記憶する。 - 特許庁

This device is a 64 Mb DRAM, and constituted with four banks Bank0-Bank3 of a reduction unit, at the time of reduction test, write operation is performed by developing writing data of data input/output pads IO2, IO6, IO9, IOD to each four IO in each bank Bank0-Bank3.例文帳に追加

６４ＭｂＤＲＡＭであって、縮約単位の４つのバンクＢａｎｋ０〜Ｂａｎｋ３から構成され、ＩＯ縮約テスト時に、書き込み動作は、各バンクＢａｎｋ０〜Ｂａｎｋ３において、データ入出力パッドＩＯ２，ＩＯ６，ＩＯ９，ＩＯＤの書き込みデータを各４ＩＯに展開して書き込み動作を行う。 - 特許庁

In the optical writing printer printing image information by performing area halftoning and time halftoning, visibility is enhanced in toner save mode at the time of test print, for example, by performing time halftoning with higher resolution.例文帳に追加

本発明は面積階調と時間階調を行い、画像情報を印刷する光書き込みプリンタであり、時間階調についてより高分解能で階調処理を行うことによって、試し印刷等のトナーセーブモードにおいて、より視認性のよい光書き込みプリンタを提供するものである。 - 特許庁

To obtain an optical writing printer having a so-called toner save mode in which the power of expressing color can be exhibited sufficiently in toner save mode, especially at the time of test print, by combining area halftoning with time halftoning thereby increasing the resolution of time halftoning.例文帳に追加

本発明はいわゆるトナーセーブモードを有する光書き込みプリンタに関し、特に試し印刷等のトナーセーブモードの際、面積階調と時間階調を組み合わせて行い、時間階調の分解能を高くしてカラーの色表現力を充分発揮できる光書き込みプリンタを提供するものである。 - 特許庁

In a line image pattern formed by deviating the writing timing in a main scanning direction and/or a sub scanning direction, a toner image of line Y formed by an image forming means for Y in the test pattern is formed so as to be superposed within a matte patch range by M or C toner.例文帳に追加

主走査方向及び／又は副走査方向について書き込みタイミングをずらして形成した線像パターンで、該テストパターン内でＹの画像形成手段によって形成されたＹ線のトナー像はＭ又はＣトナーによるマット状のパッチ範囲内に重ねて形成されている。 - 特許庁

A switching circuit 11 for writing data '1' in the same memory cell by swapping bit line data after reading data '0' is provided between the pair of bit lines BL, BBL and the sense nodes BLSA, BBLSA to write test data if all '1'.例文帳に追加

対をなすビット線ＢＬ，ＢＢＬと第１及び第２のセンスノードＢＬＳＡ，ＢＢＬＳＡとの間には、オール“１”のテストデータを書き込むために、“０”データ読み出しを行った後のビット線データをスワッピングして同じメモリセルに“１”データを書き込むための切り換え回路１１が設けられている。 - 特許庁

This multi-processor system is provided with communication register modules 400-402 corresponding to processors 10-12 one to one, and a lock processing test operation is operated to the corresponding communication register modules, and a lock value set operation and an unlock operation are operated through an inter-communication module bus to all the communication modules by executing simultaneous writing control.例文帳に追加

プロセッサ１０〜１２に１対１対応する通信レジスタモジュール４００〜４０２を設け、ロック処理テスト動作は対応する通信レジスタモジュールに対して行ない、ロック値セット動作およびアンロック動作は通信モジュール間バス７００を介して全通信モジュールに同時書き込み制御して行なう。 - 特許庁

In the optical disk recording and reproducing method, test recording is subjected to a rewritable type optical disk one time while gradually changing writing power, or DOW: Direct OverWrite is performed several times, and subsequently, a recording area is erased by gradually changing DC erasing power with only the erasing power outputted.例文帳に追加

書換え型光ディスクに対し、書込みパワーを段階的に変化させてテスト記録を1回、または重ね書き(DOW：Direct OverWrite)を複数回行った後に、消去パワーのみを出力したDC消去パワーを段階的に変化させて記録領域の消去を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 特許庁

Then, test data is recorded in the outer peripheral writing area of the second recording layer based on the recording power value of the inner periphery OPC, an asymmetry value is obtained from its reproduced signal, and an outer peripheral recording power value is obtained for the second recording layer based on the obtained asymmetry value and the coefficient of the optical disk.例文帳に追加

そして、内周ＯＰＣの記録パワー値に基づいて第２記録層の外周試し書き領域にテストデータを記録し、その再生信号からアシンメトリ値を求め、求められたアシンメトリ値と光ディスクの係数に基づいて第２記録層の外周記録パワー値を求める。 - 特許庁

The controller 90 determines whether test writing has successfully completed or not, and if successful, transmits a control signal to a spiral driving motor 31 to rotationally drive a first spiral 23a together with a second spiral 23b, and starts transfer of the waste toner from the buffer container 20 to the toner container 5.例文帳に追加

制御部９０は書き込みテストが正しく成功したか否かを判断し、成功の場合はスパイラル駆動モータ３１に制御信号を送信し、第１スパイラル２３ａと共に第２スパイラル２３ｂを回転駆動し、バッファ容器２０からトナーコンテナ５への廃トナーの移送を開始する。 - 特許庁

An inspection step for writing and reading a test signal while the positive and negative polarities are inverted by signal lines is carried out twice while the polarities of the test signal are changed, obtained voltages of respective pixels are extracted by the polarities, and the voltages having the same polarities are rearranged as to all the object pixels of the inspection and compared with expected values.例文帳に追加

信号線１本毎に正負極性を反転させてテスト用信号の書き込みと読み出しを行う検査ステップを、前記テスト用信号の極性を入れ替えて２回実行し、得られた各画素の電圧を極性毎に抽出して、検査対象となった全画素について同一極性の電圧が配置されるように並べ替え、この並び替えた同一極性の電圧と期待値とを比較するようにした。 - 特許庁

The information processor includes: a performance test means for carrying out a performance test concerning the respective storage devices so as to acquire data read and write speeds; and a file rearranging means for rearranging the files, based on access frequency information, including the number of reading and writing data to/from the respective files, and read speed and write speed information of the respective storage devices.例文帳に追加

複数の記憶装置のそれぞれについて、性能テストを行うことによりデータの読み出し速度および書き込み速度を取得する性能テスト手段と、各ファイルについて読み出された回数および書き込まれた回数の情報を含むアクセス頻度の情報と、複数の記憶装置のそれぞれの読み出し速度および書き込み速度の情報にもとづいて、ファイルの再配置を行うファイル再配置手段とを備えた。 - 特許庁

In the rewritable optical disk recording/reproducing device capable of setting a laser output by recording a test signal in a trial writing area provided in a disk, and repeatedly recording in the disk, when recording is performed in the signal recorded area, a laser output is set by recording a test signal in the recorded area while changing the laser output and detecting the recording quality of the test signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによりレーザー出力を設定し、且つディスクへの記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、信号が記録されている記録済み領域への記録動作を行うとき、該記録済み領域にテスト信号をレーザー出力を変更しながら記録するともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The optical disk recording and reproducing device constituted to perform the operation to set the laser output by recording test signals in a trial writing region disposed on the inner peripheral side of the disk 1 and to record the signals in a signal recording region by the set laser output performs the operation to set the laser output by performing the operation to record the test signals in the signal recording position of the signal recording region.例文帳に追加

ディスク１の内周側に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録することによってレーザー出力の設定動作を行うとともに設定されたレーザー出力によって信号記録領域に信号を記録するように構成された光ディスク記録再生装置において、信号記録領域の信号記録位置にてテスト信号の記録動作を行うことによりレーザー出力の設定動作を行う。 - 特許庁

This circuit is provided with a normal circuit for performing a scan test, a BIST control circuit having a mode 1 in which operation is automatically stopped after writing a pattern in the memory and a mode 2 in which a value written from the memory is read and compared with the prescribed expected value, and a memory write prohibiting circuit fixing an input signal to the memory while the normal circuit is in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト可能な通常回路と、前記通常回路に接続されるメモリとを有する半導体回路において、前記メモリにパターンを書き込みして自動に停止するモード１と前記メモリから書き込んだ値を読み出して所定の期待値と比較するモード２とを有するＢＩＳＴ制御回路と、通常回路がスキャンテストにある間、前記メモリへの入力信号を固定するメモリ書込禁止回路と、を備える構成とした。 - 特許庁