「Writing Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To decide an optimal recording pulse for each mark and space by shortening switching timing of each test write pulse to the limited test writing area of a disk-like recording medium, and writing various kinds of test write pulses as many as possible.例文帳に追加

ディスク状記録媒体の限られた試し書き領域に対して、各試し書きパルスの切り替えタイミングを早くしてできるだけ多くの種類の試し書きパルスを書き込んで各マーク及びスペースに対して最適な記録パルスを決定する。 - 特許庁

The recording medium functions as a writing means for writing a data, if it exists, on the basis of the start signal and the code of the test battery taken as a sample.例文帳に追加

データがあれば、それらと共にサンプリングされた開始信号及び試験電池の符号に基づいて該当するファイルに書き込む書込手段として機能する。 - 特許庁

To realize a single pass self-servo writing process capable of realizing the desired number of tracks on a disk drive for reducing test time and the number of servo writing devices.例文帳に追加

セルフ・サーボ書込プロセスを用いるドライブ・プログラムの多くでは、希望するフォーマットのための正しいトラック数を得るために２回パス・プロセスが用いられる。 - 特許庁

To provide a novel test writing method for making recording laser power follow a substantially intermediate part of a limit value of cross erasure suppression and a limit value of writing error suppression.例文帳に追加

記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値と書き込みエラー抑制の限界値の中間近傍に追従させる新たなテストライトの手法を提供する。 - 特許庁

The optimal positions of a mark start end and a mark tail end are obtained by actual writing in a test disk.例文帳に追加

マーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置を、テストディスクに実際に書き込んで求める。 - 特許庁

Respective current supply circuits supply data write current being less than the current during data writing at the test time.例文帳に追加

各電流供給回路は、テスト時にデータ書込時よりも少ないデータ書込電流を供給する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device by time for writing patterns in test is shortened.例文帳に追加

テスト時におけるパターンの書き込み時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A writing-in circuit 15 outputs a control signal RGT allowing writing-in of the data to the test register 16, in response to the writing-in command WR output from the operation control part 12.例文帳に追加

書き込み回路１５は、前記動作制御部１２から出力される書き込みコマンドＷＲに応答して、テストレジスタ１６へのデータの書き込みを許可する制御信号ＲＧＴを出力する。 - 特許庁

An image forming apparatus regards a start signal as a trigger, and writes the positioning test pattern between papers (Lb) when continuously writing a plurality of normal images, and reads the test pattern with a sensor on an intermediate transfer belt in order to regulate an image formation control condition to be fed back.例文帳に追加

スタート信号をトリガとし、複数枚の通常画像を連続して書込む際の紙間（Lb）で位置合わせ用等のテストパターンを書込む。 - 特許庁

To improve the accuracy of evaluation of the reproduced quality of test pattern data for deciding optimum laser power at the time of recording data even if high speed test writing is performed.例文帳に追加

高速試し書きの場合でも、データ記録時の最適なレーザパワーを決めるためのテストパターンデータの再生品質の評価を精度良くできるようにする。 - 特許庁

When a disk of the same model number with a tested disk is set, the test results are read from the test result storage area 107 and writing of the data is performed.例文帳に追加

テスト済みディスクと同型番のディスクがセットされた場合、テスト結果格納領域１０７からテスト結果を読み出して、データの書き込みを行う。 - 特許庁

The method for obtaining the optimal power (electric power) (10) for writing in an optical disk (40) includes a method for executing a power calibration test in which writing test data (30) in a user data area (25) on the optical disc (40) and reading the test data (30) are included.例文帳に追加

光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。 - 特許庁

In the recording/reproducing method of the magnetic thin film memory, test writing of information in the memory cell is performed before the information is recorded and normal data is recorded after recording the test writing is confirmed.例文帳に追加

磁気薄膜メモリ装置の記録再生方法において情報の記録を行なう前に、メモリセルに情報の試し書きを行ない、試し書きの記録確認を行った後、正規のデータを記録することによって達成される。 - 特許庁

To reduce the failure of writing in a medium by determining a compatibility level at the stage of test writing in the medium and enabling a user to confirm this test.例文帳に追加

光ディスク装置に適用されるメディア相性判定方法及びその装置において、メディアへのテスト書き込みの段階で相性レベルを判定し、ユーザがこれを確認可能となることで、メディアへの書き込みの失敗を少なくする。 - 特許庁

The input data comparison circuit compares the corresponding data items of the plurality of input test writing data and the plurality of test output data, and identifies the matching test output data.例文帳に追加

前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, LUMINOUS ENERGY CORRECTION TEST CHART OUTPUT METHOD AND LUMINOUS ENERGY CORRECTION DEVICE FOR OPTICAL WRITING HEAD例文帳に追加

画像形成装置、光量補正用テストチャートの出力方法及び光書き込みヘッドの光量補正装置 - 特許庁

In the case noise enters before the input start of writing data after the fall of the test signal, the operation is reset.例文帳に追加

テスト信号が立ち下がった後において書き込みデータ入力開始前にノイズが入った場合にはリセットする。 - 特許庁

In the hub, memory module, memory system and reading method and writing method, test writing and test reading can be carried out on all the memory modules, memory devices and memory units by bypassing identification information on the memory modules, memory devices and memory units in a test mode.例文帳に追加

ハブ、メモリモジュール、メモリシステム、及びこれについての読み込み方法及び書き込み方法は、テストモードである時には、メモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニット識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットにテスト書き込み又はテスト読み込みを行うことができる。 - 特許庁

In an exchange of storage media, in S11, a calculation of a free area is instructed, and then, the free area is calculated to acquire the address of a continuous area for writing test writing data.例文帳に追加

記憶媒体の交換で、Ｓ１１で空き領域の計算を指示し、続けて空き領域を求めて試し書きデータを書き込む連続領域のアドレスを取得する。 - 特許庁

On the basis of relation between a result of "0" margin test and writing data DI, the writing data DI are inverted by write data inversion sections 36 and written into the memory cells 1.例文帳に追加

“０”マージンテストの結果と、書き込みデータＤＩとの関係に基づいて、書き込みデータＤＩを書き込みデータ反転部３６で反転させてメモリセル１に書き込む。 - 特許庁

An optical disk device is provided, which is capable of preventing writing twice in a test light emitting area by detecting whether a disk is a write-once type and whether writing occurs twice, and switching a power correction method based on test light emission.例文帳に追加

追記型ディスクであるか否か、２度書きになるか否かを検出して、テスト発光によるパワー補正方法を切り替えることでテスト発光領域への２度書きを防止することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

A test I/O data control circuit 1-2 is synchronized with a clock signal and performs writing and reading of test data to/from a memory cell included in a memory core 1-1.例文帳に追加

テスト入出力データ制御回路１−２は、クロック信号に同期してメモリコア１−１が有するメモリセルに対しテストデータの書き込み及び読み出しを行う。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.例文帳に追加

サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device which dispenses with member addition and test writing in gain adjustments for the time of recording.例文帳に追加

記録時用のゲイン調整において部材追加やテスト書き込みを行う必要のない光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To record data in a recordable counter area to indicate that recording is conducted in the test area of a trial writing area.例文帳に追加

試し書き領域のテスト領域に記録されたことを示すために記録されるカウント領域にデータを記録する。 - 特許庁

The test writing data consists of a plurality of logical blocks of a file system and is in a data size for one GOP of an MPEG2.例文帳に追加

試し書きデータは、ファイルシステムの複数論理ブロックからなり、且つ、ＭＰＥＧ２の１ＧＯＰ分のデータサイズとされる。 - 特許庁

To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁

The 2nd test writing processing is attained using not only one partition of a PCA but also any two or more partitions of the PCA.例文帳に追加

PCAの１パーティションだけでなく、PCAのいずれか複数のパーティションを使用することで、第二の試し書き処理が可能となる。 - 特許庁

In a magnetic memory provided with a memory cell array in which memory cells having magnetic resistance elements being writable by changing resistance by making current flow are arranged in a matrix state, the test method of the memory includes a writing step performing writing of test data for the memory cell by using a writing pulse having height of writing pulse height or less during use also having narrower width than width of the writing pulse.例文帳に追加

電流を流して抵抗を変化させることにより書き込みが可能な磁気抵抗素子を有するメモリセルがマトリクス状に配列されたメモリセルアレイを備えた磁気メモリにおいて、使用時の書き込みパルスの高さ以下の高さを有しかつ当該の書き込みパルスの幅よりも狭い幅を有する書き込みパルスを用いて前記メモリセルに試験データの書き込みを行う書き込みステップを備えている。 - 特許庁

A recording pulse condition for the shortest recording mark in a recording pulse standard condition is changed to perform test writing on an optical disk (S2 and S3), the test writing is reproduced (S4), and a recording pulse condition for making reproduced signal quality good is selected (S5).例文帳に追加

記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ２、Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する（Ｓ５）。 - 特許庁

In a first IC 510 in an LED writing control circuit 502 of a writing section 500, a test pattern is formed, image data from an image memory section 301 and the test pattern formed in the first IC 510 are composed, and the composite pattern is lighted on an LED head 503.例文帳に追加

書込部５００のＬＥＤ書込制御回路５０２内の第１ＩＣ５１０にて、テストパターンを形成し、画像メモリ部３０１からの画像データと第１ＩＣ５１０で生成したテストパターンとを合成しＬＥＤヘッド５０３にて点灯させる。 - 特許庁

First, a test (20) is performed of items which are assumed to be unrepairable and to be unrecoverable to normal one even if switched over to a redundant cell including the test of circuit current with power supply applied, and a test (30) of a circuit current after writing '0' to all cells is performed.例文帳に追加

まず、セルの切り替えにより修復し良品化することが出来ない項目を電源投入時の回路電流を含んで検査（２０）し、パス品に対して、全セルに「０」を書き込み後の回路電流の検査３０を行う。 - 特許庁

A power calibration area composed of a test area for test writing and a count area for recording the used state of the test area is provided in the disk inner peripheral position of an optical disk, and information is recorded while calibrating laser power.例文帳に追加

光ディスクのディスク内周側位置に、試し書きを行うテストエリアと当該テストエリアの使用状況を記録するカウントエリアとから構成されるパワーキャリブレーションエリアを設け、レーザパワーの校正を行いながら情報を記録する。 - 特許庁

In the test mode, a row decoder fixes pre-decoding signals RX0-RX3 to an activated state, and word lines selected for writing a test pattern in a short time are activated en bloc by controlling pre-decoding signals X0-X3 in accordance with the test signal in the test mode.例文帳に追加

テストモードにおいて、ロウデコーダは、プリデコード信号ＲＸ０〜ＲＸ３を活性化状態に固定し、プリデコード信号Ｘ０〜Ｘ３をテストモードにおいてテスト信号に応じて制御することにより、テストパターンを短時間で書込むために選択したワード線を一括して活性化する。 - 特許庁

This method is applied for read/write test on a check data, part and at the writing time of memory test, it is constituted so as to concurrently write the same date on a check data part as a data and certain specific part in the check data part.例文帳に追加

チェックデータ部分のリード・ライト試験の方法であって、メモリ試験のライト時に、チェックデータ部分にはデータ部のある特定部分と同じデータを同時にライトするように構成する。 - 特許庁

When modulation degree change obtained by test-writing of test data in actual drive is included in the allowable range, optimum recording power is calculated from the modulation degree change as it is.例文帳に追加

実際のドライブでテストデータを試し書きして得られる変調度変化が許容範囲に含まれる場合にはそのまま変調度変化特性から最適記録パワーを算出する。 - 特許庁

To solve such problems that a time for writing test data or the like increases and switching between different memory capacity products is complicated.例文帳に追加

テスト用データ等の書き込み時間が長くなったり、異なるメモリ容量製品間の切り替えが煩雑になることを解決する。 - 特許庁

To increase the usable times of an optical disk by delaying deterioration of a test writing region , in an optical disk processing apparatus.例文帳に追加

光ディスク処理装置において、試し書き領域の劣化を遅らせ、光ディスクの使用可能回数を増加させることができる。 - 特許庁

The IC card tester integrally judges the writing function test of the EEPROM based on the final rest result (616).例文帳に追加

ＩＣカードテスタは、この最終的な試験結果に基づいてＥＥＰＲＯＭの書き込み機能試験の総合判定を行う（６１６）。 - 特許庁

A check sheet writing part 653 write a result in a test result column based on the comparison result in the comparison part 652.例文帳に追加

チェックシートファイル書き込み部６５３は、比較部６５２の比較の結果に基づいて、試験の合否欄に合否結果を書き込む。 - 特許庁

This can test the device 1 to be tested incapable of writing a program 8 to the nonvolatile memory 4.例文帳に追加

これにより不揮発メモリ４にプログラムを書き込むことができない試験対象装置１に対して試験を行なうことが出来る。 - 特許庁

An AWS (auto write strategy) is performed in a test area of a disk by a reference write strategy to correct a write strategy before writing.例文帳に追加

書き込みを行う前に基準ライトストラテジによりディスクのテストエリアでＡＷＳを行ってライトストラテジの補正を行う。 - 特許庁