「Writing Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, writing proper for a common register and the redundant register is performed by a wiring connecting part 108, so that a semiconductor integrated circuit configured to be suitable for a scan test can be generated.例文帳に追加

配線接続部１０８で共通レジスタと冗長レジスタに適切な配線が行われ、スキャンテストに適した構成をした半導体集積回路が生成される。 - 特許庁

A focus lens of an optical pickup head is driven in order to be a focal position of a laser beam in multiple designated positions and the laser beam with designated power is provided for writing test writing data when the focal position is in the designated position.例文帳に追加

最初に、光学ピックアップヘッドの焦点レンズは、複数の所定位置でのレーザビームの焦点位置をなすように駆動され、焦点位置が所定位置にあるときに、一定パワーのレーザビームが、テスト書き込みデータを書き込むために提供される。 - 特許庁

A test method comprises writing a first data signal which is an input data signal representing a first logical level in each of memory banks in series, and simultaneously writing a second data signal which is an input data signal representing a second logical level in each of the memory banks.例文帳に追加

テスト方法は、第１の論理レベルを示す入力データ信号である第１データ信号を各メモリバンクに順番に書き込み、第２の論理レベルを示す入力データ信号である第２データ信号を各メモリバンクに同時に書き込む。 - 特許庁

Test data is recorded in the inner peripheral trial writing areas of an optical disk from an optical pickup side by a plurality of test recording power values, and a recording power value is set for an inner periphery OPC according to recording power value characteristics obtained from an asymmetry value for each test recording power value obtained from its reproduced signal.例文帳に追加

光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。 - 特許庁

The optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk, where the test signal is recorded by varying the laser output to the trial writing area and then the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The medium is characterized by arranging a plurality of test areas (TEST1-TESTn) for writing on trial by the optical beam and a plurality of power setting information areas (PREC1-PRECn) which are disposed between the respective test areas to record an optimum power setting parameter and equipment identifying information of a recording device which performs writing on trial.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

An optical disk and a BCA information recording method are provided which enable correction of laser power for recording the BCA information by test writing to be performed by arranging a test area via a mirror area on the inner circumferential side of the BCA outside a user data recording area.例文帳に追加

ユーザーデータ記録領域外のＢＣＡの内周側にミラー領域を介してテスト領域を設け、試し書きによるＢＣＡ情報の記録レーザーパワー補正を実行できる光ディスク及びＢＣＡ情報記録方法を提供する。 - 特許庁

Test data including a data row having at least one of consecutive multi-valued data forming a recording mark on a recording surface among M kinds of multi-valued data, are written on trial (steps 621-633) on a test writing area while changing stepwise a recording pulse width.例文帳に追加

Ｍ種類の多値化データのうち、記録面に記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、試し書き領域に記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする（ステップ６２１〜６３３）。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器１は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ１５と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ１３ａに書き込む機能を有している。 - 特許庁

To provide a method and device for finding recording condition of optical disk being suitable for high speed recording even when trial writing of high speed recording cannot be performed in an inner peripheral test track, and even when relationship between a property of an outer peripheral test track and a property of a user data track is unknown.例文帳に追加

内周テストトラックで高速記録の試し書きが不可能な場合や、外周テストトラックの特性とユーザデータトラックの特性の関係が不明な場合でも、高速記録に適した光ディスクの記録条件を求める方法および装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 is provided with a logic circuit 2 connected to external terminals 10-12, a built-in memory 3 connected to this logic circuit, and a burn-in test circuit 4 writing the prescribed data in the built-in memory when a burn-in test of this built-in memory is performed.例文帳に追加

半導体集積回路１に、外部端子１０〜１２と接続されたロジック回路２と、このロジック回路と接続された内蔵メモリ３と、この内蔵メモリのバーンイン・テストを行う際に、前記内蔵メモリに所定のデータを書き込むバーンイン・テスト回路４とを設けた。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

Consequently, lead terminals of all devices 1 being mounted on the test tray 5 and having the need to be tested and the need for writing the programs and the data therein, are connected to the writer or the tester collectively.例文帳に追加

従い５のテストトレーに搭載されているテストやプログラムやデータの書き込みなどが必要な１の全デバイスのリード端子が一括でライタもまたはテスタに接続される事になる。 - 特許庁

After making test writing, the optimal laser power is decided (Step 1-3), and the laser power control IC 183 reads the electric current of the laser diode-driving circuit 182 (Step 1-4).例文帳に追加

テスト書き込みを実施し、最適なレーザパワーが確定されると（ステップ１−３）、レーザパワーコントロールIC１８３が、レーザダイオードを駆動する駆動回路１８２の電流値を読み取る（ステップ１−４）。 - 特許庁

To determine an optimal recording power even when, in adjustment of the recording power of an optical disk comprising a plurality of recording layers, data on test writing is varied due to the influence of the layers other than the concerned layer.例文帳に追加

記録層を複数有する光ディスクの記録パワー調整で、当該層以外の層の影響によって試し書きのデータが変動しても，最適な記録パワーの決定を行う。 - 特許庁

When writing in data, a test device 600 outputs a chip enable- signal/CE of L level and selecting signals GE0, GE1 of L level and activates simultaneously semiconductor memories 1-8.例文帳に追加

データの書込時、テスト装置６００は、Ｌレベルのチップイネーブル信号／ＣＥおよびＬレベルの選択信号ＧＥ０，ＧＥ１を出力して半導体記憶装置１〜８を同時に活性化する。 - 特許庁

Therefore, it is unnecessary to obtain a correction amount by performing test writing on all the combinations of the space length and mark lengths, but the write strategy can be built simply and suitably.例文帳に追加

このため、スペース長／マーク長の全ての組み合わせについて試し書きを行って補正量を求める必要がなく、簡易的且つ適切にライトストラテジを構築することができる。 - 特許庁

To eliminate a learning process after assembly by writing a result of a characteristic test process by a solenoid valve single body, which is dispersion of a solenoid valve, into a recording medium without using control software.例文帳に追加

ソレノイドバルブのばらつきを制御ソフトを用いず、ソレノイドバルブ単体での特性試験工程の結果を記録媒体に書き込むことにより、組付け後の学習工程が不要となる。 - 特許庁

While the E2PROM 4 writes for the prescribed byte part, the circuit 6 gives signals necessary to reading from a ROM 1 and writing/reading to/from a RAM 3 and performs a test.例文帳に追加

Ｅ^2 ＰＲＯＭ４が所定バイト分書き込んでいる間、タイミング発生回路６がＲＯＭ２の読み出しやＲＡＭ３の書き込み及び読み出しに必要な信号を与え、テストを行う。 - 特許庁

This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁

Test writing of the same multilevel data is performed continuously at the prescribed test region so that length of a track in the tangential direction is longer than a spot diameter of a light spot formed in a track at the time of reproduction (step 407), and appropriate recording power and recording strategy are obtained based on a level of a reproduction signal from its test region (step 409-423).例文帳に追加

同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし（ステップ４０７）、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する（ステップ４０９〜４２３）。 - 特許庁

Two AND gates 9, 10 controlled by an output from an external writing mode detection circuit 6 are connected on the way of control signals TEST, CHIP-ERASE outputted only by the external writing mode out of outputs from a command decoder 8 for detecting commands, and in the case of the MC mode, the output of the control signals TEST and CHIP-ERASE is interrupted.例文帳に追加

コマンドを検出するコマンドデコーダ８の出力の内、外部書込モードの時にのみ出力される制御信号ＴＥＳＴ、ＣＨＩＰ−ＥＲＡＳＥの途中に外部書込モード検出回路６の出力によって制御されるＡＮＤゲート９及び１０を設け、マイコンモードの場合に、制御信号ＴＥＳＴ及びＣＨＩＰ−ＥＲＡＳＥの出力を遮断する。 - 特許庁

Test writing is performed with a ratio ε of a recording power Pp to an erasing power Pe, Pe corresponding to target modulation is multiplied by a coefficient ρ to calculate the optimum value of Pp, only Pp is changed by the recording power of the optimum value to perform test writing (step 431 to 441), and Pe corresponding to a target asymmetry is defined as the optimum value of Pe (step 443 to 447).例文帳に追加

記録パワーＰｐと消去パワーＰｅとの比εを一定として試し書きを行い、目標変調度に対応するＰｐに係数ρを乗算してＰｐの最適値を求め、最適値の記録パワーでＰｅのみを変化させて試し書きを行い（ステップ４３１〜４４１）、目標アシンメトリに対応するＰｅをＰｅの最適値とする（ステップ４４３〜４４７）。 - 特許庁

To resolve a problem that a method for detecting jitter to optimize a write strategy of an optical disk by test writing and reproducing all the combinations of the assignable write strategies in a test area cannot be carried out in a short period of time right before starting up the drive and actual recording.例文帳に追加

光ディスクのライトストラテジ最適化のために、設定可能な全てのライトストラテジの組み合わせを光ディスクのテスト領域に試し書きした後再生して、ジッタを検出する方法は、ドライブの起動時や実際に記録する直前の短時間で行うことはできない。 - 特許庁

When recording is performed to an overwritable recording medium such as an optical disk, a test signal is supplied to an optical pickup during writing period of a temporary storage memory and recorded in the vicinity of a recording region and intensity of a laser beam of the optical pickup is optimized based on the evaluated result of the reproduced test signal.例文帳に追加

オーバライト可能な光ディスク等の記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書込期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これを評価した結果に基づき光ピックアップのレーザビームの強度を最適化する。 - 特許庁

To provide an optical disk recording and reproducing apparatus in which stable detection of land pre-pit signal can be performed even in a part where a single frequency signal of a high frequency of a test writing region is recorded.例文帳に追加

試し書き領域の高い周波数の単一周波数信号が記録されているところでも、安定したランドプリピット信号の検出が可能となる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁

The diagnostic test that is scheduled can include writing known data in the register (702), reading data from the register (704), and comparing the known data with the read data (706).例文帳に追加

スケジューリングされる診断テストは、レジスタに既知データを書き込むこと（７０２）と、レジスタからデータを読み取ること（７０４）と、既知のデータを読み取られたデータと比較すること（７０６）とを含むことができる。 - 特許庁

To provide an optical disk device and its recording power control method in which the control of recording power by test writing at a prescribed high recording speed can be omitted when a new high recording speed is selected and easiness to use for a user can be improved if the control of recording power by test writing at the prescribed high recording speed is performed for an attached optical disk.例文帳に追加

この発明は、装着されている光ディスクに対して所定の高速記録速度での試し書きによる記録パワーの制御が行なわれていれば、新規な高速記録速度を選定した場合にその速度での試し書きによる記録パワーの制御を省略することを可能とし、ユーザにとっての使い勝手を便利にし得る光ディスク装置とその記録パワー制御方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit test method is applicable to inspection of a semiconductor integrated circuit having multiple memory macros, wherein the number of memory macros to be selected in execution of a simultaneous read-out operation for simultaneously reading out written test data is smaller than the number of memory macros to be selected in execution of a simultaneous write-in operation for simultaneously writing in input test data.例文帳に追加

本発明の第１の態様にかかる半導体集積回路のテスト方法は、複数のメモリマクロを備える半導体集積回路のテスト方法であって、複数のメモリマクロの内、テストデータを同時に書き込む動作である同時書き込み動作をさせるメモリマクロの数よりも、書き込まれたテストデータを同時に読み出す動作である同時読み出し動作をさせるメモリマクロの数を少なく選択する。 - 特許庁

In the information recording and reproducing device, trial writing is performed for only a part of information layers, predetermined calculation is performed by using the result of test writing and predetermined temporary recording conditions information, recording conditions of each whole information layers are optimized.例文帳に追加

本発明の目的を達成するために、本発明に係る情報記録再生装置においては、一部の情報層に対してのみ試し書きを行い、その試し書きの結果と予め定められた暫定記録条件情報を用いて所定の計算を行って、全情報層ごとの記録条件を最適化する。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor element 5 provided with an input/output circuit, when a writing signal conflicts with a read signal, expectation values are corrected according to a level difference between the expectation values of the writing signal and the read signal, and the corrected expectation values are compared with conflicting data for determination.例文帳に追加

入出力回路を備えた半導体素子の試験において、書き込み信号と読み出し信号とが衝突したときには、書き込み信号と読み出し信号の期待値とのレベル差により期待値を補正し、補正した期待値と衝突データとを比較判定する半導体素子の試験方法、及び半導体試験装置が得られる。 - 特許庁

In the disk drive 20 having an independent servo writing function, a CPU 29 is so constituted as to compute only correction values of designated tracks of a plurality of servo tracks to store the correction values in servo sectors when the computing process for computing a correction value of an STW-RRO (servo track writing-repeatable runout) variation component is performed in the self-running test step.例文帳に追加

自立サーボライト機能を有するディスクドライブ２０において、ＣＰＵ２９は、自走テスト工程時にＳＴＷ−ＲＲＯ補正値を算出する計算処理を実行するときに、複数のサーボトラックの中で、指定のトラック分の補正値のみを算出して、当該補正値をサーボセクタに記憶するように構成されている。 - 特許庁

A multi-election circuits 320 and 330 activate more write digit lines WDL in parallel than in the case of normal data writing, by responding to the multi selection signals MSLa and MSLb when a disturbing test is carried out.例文帳に追加

マルチセレクション回路３２０，３３０は、ディスターブ試験時には、マルチセレクション信号ＭＳＬａ，ＭＳＬｂに応答して、通常のデータ書込時よりも多い本数のライトディジット線ＷＤＬを並列に活性化する。 - 特許庁

Thereby, the recording condition can be accurately corrected without consuming test writing region even when temperature of the light source when information is recorded is different from the temperature of the light source when the recording condition is set last time.例文帳に追加

これにより、情報を記録する際の光源温度が、前回記録条件を設定したときの光源温度と異なっていても、試し書き領域を消費せずに精度良く記録条件を補正することができる。 - 特許庁

To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.例文帳に追加

本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁

To allow omission of a series of processing such as transmission of writing/reading operation with respect to a fail memory in the case where a semiconductor device to be measured is tested, of which a high speed test for a flash memory, etc. is unnecessary.例文帳に追加

フラッシュメモリなどのように高速の試験を行う必要のない被測定半導体デバイスを試験する場合におけるフェイルメモリへの書込み・読出転送という一連の処理を省略できるようにする。 - 特許庁

To overcome the problem with adjustment of the recording power of an optical disk comprising a plurality of recording layers, wherein it is difficult to determine an optimal recording power because data on test writing is varied due to the effect of the layers other than the concerned layer.例文帳に追加

情報記録層を複数有する光ディスクの記録パワー調整では，当該層以外の層の影響によって試し書きのデータが変動するため，最適な記録パワーの決定が困難である。 - 特許庁

To reduce circuit scale and to shorten a test time without requiring a data selector for writing data directly to an ECC memory in a semiconductor memory device having an ECC function for data having 32 bits data width.例文帳に追加

３２ビットデータ幅のデータに対するＥＣＣ機能を有する半導体メモリ装置において、ＥＣＣメモリに直接データを書き込むためのデータセレクタを必要とせず、回路規模の縮小と検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

In this configuration, test writing becomes possible, in the location close to the actual recoding area by utilizing the wasteful area caused by disk at once recording, and optimum laser power can be found accurately.例文帳に追加

この構成により、ディスク・アット・ワンスにより生じる無駄な領域を利用し、且つ実際のデータの書き込み領域に近接した場所で試し書きが可能となり、最適なレーザーパワー値を正確に知ることが可能となる。 - 特許庁

I think it goes deeper than just that: the natural attitudewhen writing a doctest-based test is that you want to explain the finepoints of your software, and illustrate them with examples. 例文帳に追加

私はもう少しうがった見方もしています: doctest ベースのテストを書くときの自然な態度は、自分のソフトウェアのよい点を説明しようとして、例題を使って説明しようとするときの態度そのものだからだ、という理由です。 - Python

In the optical disk recording device, data for determining the initial value of the laser driving voltage is acquired by performing a test recording in the test writing area of an optical disk and the initial value of the laser driving voltage in a target recording power is obtained using the relational expression between the laser driving voltage and recording power calculated based on these data.例文帳に追加

光ディスク記録装置は、光ディスクの試し書き領域にテスト記録を行って、レーザ駆動電圧の初期値決定用のデータを取得し、これらのデータに基づいて算出したレーザ駆動電圧と記録パワーとの関係式を用いて目標記録パワーにおけるレーザ駆動電圧の初期値を得る。 - 特許庁

To provide a test tube rack constituted so as to store the data necessary for the transport and keeping a specimen-containing test tube in a wireless tag, to enable the reading of the memory data of the wireless tag by radio communication and capable of later writing the data necessary for the re-inspection presence data or the like of a specimen in the wireless tag.例文帳に追加

検体入り試験管の輸送保管に必要な情報を無線タグに記憶させておき、この無線タグの記憶情報を無線通信によって読み取ることができ、また無線タグに検体の再検査有無情報等の必要な情報を後で書き込むこともできる試験管ラックを提供することにある。 - 特許庁

In the optical disk recording/playback device constituted so that laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area arranged on the disk, the test signal is recorded on the trial writing area by changing the laser output, and then the laser output is set by recognizing the recording properties of the recorded signal in the state that the gain of a PLL servo circuit incorporated in a clock signal producing circuit is reduced.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性をクロック信号生成回路に組み込まれているＰＬＬサーボ回路の利得を低下させた状態にて認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The writable optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk and can repetitively execute a record operation, in which the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal after executing two times of operations recording the test signal by varying the laser output to the trial writing area.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成され、且つ記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録する動作を２回行った後、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

To provide a recording/reproducing type optical disk device to reduce a learning time required for deciding optimum laser power or the like and also to effecctively utilize a PCA (Power Calibration Area) used for test writing.例文帳に追加

記録・再生型の光ディスク装置において、最適な記録レーザパワー等の決定に必要な学習時間の低減を行うと共に、試し書きを行うＰＣＡの有効活用を行うことができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁