「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To confirm that a difference occurs between a scan image and a confirmation image as the result of image editing.例文帳に追加

画像編集の結果、走査画像と確認用画像とに相違点が生じたことを確認する。 - 特許庁

A signal processing device 3 comprises: a scan correlation processing section 33; and a target state discrimination section 38.例文帳に追加

信号処理装置３は、スキャン相関処理部３３と、物標状態判別部３８と、を備える。 - 特許庁

The scan driver control circuit device is provided with a level shift part 8, a CMOS output part 12, and a delay time control part 7.例文帳に追加

レベルシフト部８、ＣＭＯＳ出力部１２及び遅延時間制御部７と備える。 - 特許庁

When the deep black original is detected on a scan line 8, a count A at that time is stored.例文帳に追加

スキャンライン８上で真っ黒原稿を検出したら、その時点でのカウント値Ａを記憶する。 - 特許庁

The executing unit executes a pre-scan while using a pulse sequence by which a plurality of echo signals are collected.例文帳に追加

実行部は、複数のエコー信号を収集するパルスシーケンスを用いてプリスキャンを実行する。 - 特許庁

To obtain a bloodstream image of high image quality in a short scan time without administering a contrast medium.例文帳に追加

造影剤を投与することなく、短いスキャン時間で、且つ、高画質の血流画像を得る。 - 特許庁

To perform a process for enhancing image quality of a scan-in image after reading a structure of areal gradation in an image.例文帳に追加

画像の面積階調構造を読み取ってスキャンイン画像の高画質化処理を施すこと。 - 特許庁

To provide a high-speed pulse based flip-flop with a scan function and a data retention function.例文帳に追加

スキャン機能及びデータリテンション機能を有する高速パルス基盤のフリップフロップを提供する。 - 特許庁

Therefore, data lines are put into a floating state during a scan line selection period to perform a common inversion.例文帳に追加

これにより、走査線選択期間中にデータ線をフローティング状態にしてコモン反転を行う。 - 特許庁

To provide a memory cell layout of a dual port semiconductor memory device including a PMOS scan transistor.例文帳に追加

ＰＭＯＳスキャントランジスタを含むデュアルポート半導体メモリ装置のメモリセルレイアウトを提供する。 - 特許庁

An input part 110 receives a net list A showing the spare cell including a scan flip-flop.例文帳に追加

入力部１１０は、スキャンフリップフロップが含まれるスペアセルを示すネットリストＡを受け付ける。 - 特許庁

A scan line SL transmits a switching controlled bias voltage to a light sensing element QOS.例文帳に追加

スキャンラインＳＬはスイッチング制御されたバイアス電圧を光感知素子ＱＯＳに伝達する。 - 特許庁

The pickup 584 comprises a lens system 583 forming a laser beam 582, and a pickup scan system 597.例文帳に追加

ピックアップ５８４は、レーザビーム５８２を形成するレンズ系５８３と、ピックアップスキャン系５９７を有する。 - 特許庁

Each test cycle includes a functional phase 315, a scan moving phase 320, and a hold phase 325.例文帳に追加

テストサイクルの夫々は、機能フェーズ３１５と走査移動フェーズ３２０とホールドフェーズ３２５とを含む。 - 特許庁

To execute a scan of a disk even when a command is always issued at prescribed intervals.例文帳に追加

一定間隔で常にコマンドが発行される場合であっても、ディスクのスキャンを実行すること。 - 特許庁

To complete a scan of a database (DB) and selective specific processing in a short time.例文帳に追加

データベース（ＤＢ）をスキャンして選択的に所定処理を行うことを短時間で完了させる。 - 特許庁

To prevent a malfunction by reducing peak power consumption in a scan test, especially, in a capture mode.例文帳に追加

スキャンテスト時、特にキャプチャモード時におけるピーク消費電力を削減し、誤動作を防止する。 - 特許庁

To accurately make a product test in connecting a scan path to a plurality of flip-flops to make a product test.例文帳に追加

複数のフリップフロップにスキャンパスを接続して製品テストを行う場合、製品テストを正確に行う。 - 特許庁

A ramp waveform La2 is applied to a scan electrode 12 in a sustaining period of a first sub-field SF1.例文帳に追加

第１のサブフィールドＳＦ１の維持期間では、スキャン電極１２にランプ波形Ｌａ２が印加される。 - 特許庁

To provide a microscope device that easily makes a scan with illumination rays and is suitable for observation of a deep part of a living organism.例文帳に追加

照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適した顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To improve a detection rate of a failure, and to shorten a test time, in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおいて、故障の検出率を向上し、テスト時間を短縮することができるようにする。 - 特許庁

A B-image is fed from a scan converter section 1 and sent to a work memory 222 via a B-image frame buffer memory 21.例文帳に追加

Ｂ画像は、スキャンコンバータ部１から送られ、Ｂ画像Frame Bufferメモリ21を介してワークメモリ222に転送される。 - 特許庁

Electron guns which divide a phosphor screen into two scan area to scan them with electron beams are arranged in two necks of a vacuum housing.例文帳に追加

真空外囲器の２つのネックには、電子ビームにより蛍光体スクリーンを２つの走査領域に分割して走査する電子銃がそれぞれ配置されている。 - 特許庁

The signal of the boundary scan test of a circuit board or test result is transmitted.例文帳に追加

回路基板のバウンダリスキャンテストの信号またはテスト結果を送信する。 - 特許庁

Accordingly, for a color patch P, whose colorimetric results in the line scan is normal, spot scan is made to be executed so as to obtain a proper colorimetric result.例文帳に追加

そこで、ラインスキャンにおいて測色結果が異常であったカラーパッチＰについてはスポットスキャンを実行させ、適正な測色結果が得られるようにしている。 - 特許庁

The select signal applied to a select scan line and a light emission signal for light emission in each subfield can be outputted from one scan driving section.例文帳に追加

そして，選択走査線に印加される選択信号と各副フィールドで発光のための発光信号を一つの走査駆動部から出力することができる。 - 特許庁

To provide a scanning type image display device in which it is possible to ensure a favorable display quality by reliably synchronizing the horizontal scan and the vertical scan.例文帳に追加

水平走査と垂直走査の同期を確実に取ることによって良好な表示品位を確保し得る走査型画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal generator suitable for surely presetting only the channel of a specified frequency band in initial scan or re-scan.例文帳に追加

初期スキャン又は再スキャンにおいて、特定の周波数帯域のチャンネルだけを確実にプリセットするために好適な信号発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device with a common inversion drive that is able to decrease amplitude voltage produced by scan signals of scan lines.例文帳に追加

走査線の走査信号の振幅電圧を小さくすることができるコモン反転駆動を用いた液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The scan flip-flop of this embodiment includes a selecting circuit and the flip-flop.例文帳に追加

実施形態のスキャンフリップフロップは、選択回路とフリップフロップとを有する。 - 特許庁

To provide a scan-type AD conversion method, and to provide an AD conversion system.例文帳に追加

スキャン型のＡＤ変換方法及びＡＤ変換システムを提供する。 - 特許庁

To easily perform an assembly operation of a scan unit even when a projected part, etc. is formed on the lower surface of the scan unit in an image forming apparatus.例文帳に追加

画像形成装置において、スキャンユニットの下面に突起部等が形成されていても、スキャンユニットの組立作業を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

The processor is configured to color scan the image pattern in a first direction and monochrome scan the image pattern in a second direction different from the first direction.例文帳に追加

この装置のプロセッサーは、第１の方向に前記イメージパターンをカラースキャンし、第１の方向と異なる第２の方向にイメージパターンをモノクロスキャンする。 - 特許庁

When a scan direction control signal indicating the reverse scan is inputted, the timing control section performs sequence change processing by utilizing a line memory 304.例文帳に追加

逆スキャンを示すスキャン方向制御信号が入力されると、タイミング・コントロール部は、ライン・メモリ３０４を利用して、順序変更処理を行う。 - 特許庁

To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加

集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁

To appropriately suppress rotation of a carriage with respect to the main scan direction.例文帳に追加

適切にキャリッジが主走査方向に対して回転することを抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having the fewest terminals for a scan test as possible, and easily configuring the scan test.例文帳に追加

スキャンテスト用の外部端子の数をなるべく少なくしながら、スキャンテストの設定を容易に行なうことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The TFT array substrate comprises a substrate, data lines, scan lines and pixel structures.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板は、基板、データ線、走査線および画素構造を有する。 - 特許庁

Those observation flip-flops are interconnected to constitute a scan path chain.例文帳に追加

これら観測用フリップフロップがスキャンパスチェーンを構成するように接続する。 - 特許庁

A second subtractor 46 performs phase compensation of a phase difference between the first reference position operation signal of the n-th scan and the reference position signal of the n-th scan.例文帳に追加

そして、第２減算器４６は、n回目スキャンの第１基準位置演算信号とn回目スキャンの基準位置信号との位相差を位相補償する。 - 特許庁

Each device, which has received the scan instruction from the device 104, executes a scan process for detecting all devices which belong to a communication range thereof.例文帳に追加

デバイス１０４からスキャン指示を受信した各デバイスは、自身の通信範囲内に属する全てのデバイスを検出するためのスキャン処理を実行する。 - 特許庁

To prevent the fraudulent scan of a non-contact IC in portable terminal equipment.例文帳に追加

携帯端末装置における非接触ＩＣの不正スキャンを防止する。 - 特許庁

To improve a deteriorated image by performing scan line conversion in accordance with an input image.例文帳に追加

入力画像に応じて走査線変換して劣化画像を改善する。 - 特許庁

A source electrode of the spare TFT 20 and the image signal line 200 are connected via a second scan branch line 302 cut from the scan line 300.例文帳に追加

予備ＴＦＴ２０のソース電極と映像信号線２００との接続を、走査線３００から切断した第２走査分岐線３０２を介して行う。 - 特許庁

Methods of judging whether the patient has had a stroke by observing the image obtained by the MRI scan. 例文帳に追加

MRI検査で得られた画像を見て脳梗塞であると判断する方法。 - 特許庁