「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scan time setting device which can increase the maximum number of control axes having been limited since a scan time is fixed and eliminate a system down.例文帳に追加

スキャンタイムが固定であったために制限されていた最大制御軸数を増大でき、システムダウンを解消できるスキャンタイム設定装置を提供する。 - 特許庁

To realize a scan function, even if a music processing apparatus 150 is connected to a portable music reproducing apparatus 180, on which the scan function has been omitted.例文帳に追加

楽曲処理装置１５０が、スキャン機能を欠落した携帯型楽曲再生装置１８０を接続されたときでも、スキャン機能を実現できるようにする。 - 特許庁

To improve lithography and precision, by correcting drawing misregistration due to movement or swinging of a stage, in a mask scan system provided with a scan deflector.例文帳に追加

スキャン偏向器を備えたマスクスキャン方式において、ステージの移動や揺動に伴う描画位置ずれを補正して描画精度の向上をはかる。 - 特許庁

To provide a computerized tomographic apparatus for enabling both of an offset scan and a normal scan, and using a single reconstruction method.例文帳に追加

オフセットスキャンと通常スキャンが可能でありながら、再構成方法を同じ再構成法（１種）とすることが可能なコンピュータ断層撮影装置を提供すること。 - 特許庁

A film scanner 10 is configured to make the scale factors of a zoom lens 22a changeable from the prescan scale factor to a main scan scale factor between prescan and main scan.例文帳に追加

フィルムスキャナ１０は、プレスキャンと本スキャンとでプレスキャン倍率から本スキャン倍率へとズームレンズ２２ａの倍率を変更可能に構成される。 - 特許庁

A galvanometer scan mirror is mounted on the optical system lens-barrel of the Raman analytical mechanism, to thereby scan the sample 2 by a laser beam from a Raman excitation laser beam source 7.例文帳に追加

ラマン分析機構の光学系鏡筒にガルバノメータスキャンミラーを設け、試料２上をラマン励起レーザー光源７からのレーザービームで走査出来るように成す。 - 特許庁

A data driver 7 and a sustain driver 8 apply electrode pulses to address electrodes 9 and scan electrodes 10 so as to simultaneously scan a plurality of continuous rows.例文帳に追加

データドライバ７及び維持ドライバ８は、連続する複数行を同時に走査するように、電極パルスをアドレス電極９及び走査電極１０に印加する。 - 特許庁

A scan pattern for driving and controlling an antenna is formed by a scan condition forming device 10 correspondingly to a receiving frequency band received by the feeding part 2.例文帳に追加

給電部２により受信する受信周波数帯に対応して、アンテナを駆動制御するスキャンパターンをスキャン条件生成装置１０により生成する。 - 特許庁

Further, a strip-like reflection board 21 is mounted onto cover glass 7 along a bottom edge of a laser beam scan area SA so as to overlap the laser beam scan area SA.例文帳に追加

また、レーザ光走査領域ＳＡの下端に沿って走査領域ＳＡに重なるように、短冊状の反射板２１をカバーガラス７に取り付けてある。 - 特許庁

To provide an X-ray CT system allowing a user to select a scan prioritizing the reduction of exposure or a scan prioritizing an image quality according to an imaging site or purpose.例文帳に追加

撮影部位又は目的に応じて被曝低減を優先するスキャンと画質を優先するスキャンとを選択できるＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

A scanning register can be accessed internally through internal scan chaining or externally by using a serial test port interface or a boundary scan interface.例文帳に追加

走査レジスタに、内部走査連鎖を介して内部でアクセスするか、シリアル・テスト・ポート・インタフェースまたは境界走査インタフェースを使用して外部からアクセスすることができる。 - 特許庁

If,for example, a scan rate of 500 ms / scan is set, it may last up to a half of a second until the IRT detects the interruption and deactivates the Sleep-Mode.例文帳に追加

例えば、スキャンレートを「500ms/スキャン」に設定している場合、IRT が割り込みを検出してスリープモードをモードを無効にするまでには最大 0.5 秒かかることがある。 - XFree86

Moreover, at the time of performing the pre-scan, the diaphragm totally closed is opened for a specified amount according to the condition when the pre-scan is performed.例文帳に追加

なお、プレスキャンを行うときには、全閉していた絞りはプレスキャンを行うときの条件により所定量開かれる。 - 特許庁

To provide a method for measuring scan optical system light quantity for inspecting optical abnormalities of scan optical system easily and precisely.例文帳に追加

走査光学系の光学異常を容易且つ高精度に検査するための走査光学系光量測定方法を提供する。 - 特許庁

To prevent even an operation unit, too, from being opened by reducing the impact to a scan unit when the scan unit is rotated.例文帳に追加

スキャナユニットを回動させた場合にスキャナユニットにかかる衝撃を低減させて操作ユニットまでもが開くことを防止する。 - 特許庁

As a result, the apparatus improves an image quality of the plasma display panel, and increases operation efficiency of the plasma display panel driving including use of single scan rather than dual scan.例文帳に追加

デュアルスキャンではないシングルスキャンの使用を含むプラズマディスプレイパネル駆動の効率性を増加させ、画質を改善する。 - 特許庁

If a scan parameter that is not present locally is obtained from the server to perform scanning, the scan parameter is automatically registered locally (S19).例文帳に追加

ローカルに存在しないスキャンパラメータをサーバから取得してスキャンすれば、このスキャンパラメータがローカルに自動登録される（Ｓ１９）。 - 特許庁

The outputs of the multiple scan chain is successively selected by a multiplexer 32 and is outputted to one scan output terminal 34.例文帳に追加

多重スキャンチェーンの出力は、マルチプレクサ３２で順次選択されて１つのスキャン出力端子３４に出力される。 - 特許庁

To provide a vacuum seal mechanism which can enhance vacuum seal performance even in case of substrate scan of high speed long scan.例文帳に追加

高速かつ長スキャンの基板スキャンであっても、真空シール性能の向上を実現可能な真空シール機構を提供する。 - 特許庁

To provide a boundary scan cell circuit which reduces the inspection time for boundary scan test and facilitates the analysis obtained inspection results.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストの検査時間を短縮し、また得られた検査結果の解析を容易にするバウンダリスキャンセル回路を提供する。 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

To reduce the total of scan path lengths in the layout design of a test-facilitated semiconductor integrated circuit having plural scan paths.例文帳に追加

複数のスキャンパスをもつテスト容易化半導体集積回路のレイアウト設計において、スキャンパス長の合計を小さくする。 - 特許庁

A vector processor 30 receives the scan-in sequence 14 and the predicted scan-out sequence 16 to allow the exchange of the multiplexed state data.例文帳に追加

ベクトルプロセッサ(30)が、スキャンインシーケンス(14)と予測されたスキャンアウトシーケンス(16)を受け取り、多重化された状態データの交換を可能にする。 - 特許庁

The mechanism for notifying the influence of scan data editing or CAD remodeling work on accuracy of scan data to a user is provided.例文帳に追加

スキャンデータ編集又はキャドリモデリング作業がスキャンデータの精密度に与える影響をユーザーに通知するメカニズムを提供する。 - 特許庁

To acquire scan chain reorder information enabling optimum scan chain reordering in a layout routing processing.例文帳に追加

配置配線処理においてより最適なスキャン・チェーン・リオーダをおこなうことが可能なスキャン・チェーン・リオーダ情報を取得すること。 - 特許庁

A scan pass test circuit 20 of the semiconductor device 10 includes scan chains 102, 107, an EXOR 201, and an SC control circuit 402.例文帳に追加

半導体装置１０が備えるスキャンパステスト回路２０は、スキャンチェーン１０２，１０７、EXOR２０１、及びＳＣ制御回路４０２を含む。 - 特許庁

A vertical scan conveying device is fitted with an acceleration pickup 178 to measure the acceleration of the vertical scan conveying device.例文帳に追加

副走査搬送装置に加速度ピックアップ１７８を取付け、副走査搬送装置加速度の測定を行うようにしている。 - 特許庁

In net replacement processing (P3), concerning net lists (NL1, NL2) before and after a scan order, the nets of the scan input terminals of the second and following scan flip flops are successively replaced with the net of the scan input terminals of the first scan flip flop for every scan chain so that net lists (NL3, NL4) for logic equivalence verification can be created.例文帳に追加

ネット置換処理（Ｐ３）において、スキャンリオーダー前後のネットリスト（ＮＬ１、ＮＬ２）について、スキャンチェーン毎に２番目以降のスキャンフリップフロップのスキャン入力端子のネットが１番目のスキャンフリップフロップのスキャン入力端子のネットに順次置換されることにより、論理等価性検証用のネットリスト（ＮＬ３、ＮＬ４）が生成される。 - 特許庁

Thereby, the system and method for real time image transmission and preview of the present invention generate scan image under a predetermined scan image format after performing the specified number of times of scanning, display the scan image in a set scan image format in real time to attain the function of real time scan and real time preview.例文帳に追加

これにより、本発明のリアルタイム画像伝送とプレビューのシステム及び方法は所定走査画像形式の下で、特定回数の線状走査を実行した後に走査画像を発生し、走査画像を設定走査画像形式によりリアルタイムで表示し、リアルタイム走査リアルタイムプレビューの機能を達成する。 - 特許庁

At the burn-in time, the scan chain 11 is set in the enable state, based on a scan enable signal, and the scan chain 21 is set in the disenable state, based on the scan enable signal and a memory test start signal; and stress is applied simultaneously to the user logic circuit 10 by the scan test, and to the memory 40 by BIST.例文帳に追加

バーンイン時には、スキャンイネーブル信号に基づきスキャンチェーン１１がイネーブルに設定されると共に、スキャンイネーブル信号及びメモリテスト開始信号に基づきスキャンチェーン２１がディスイネーブルに設定され、ユーザロジック回路１０はスキャンテストにより、メモリ４０はＢＩＳＴにより同時にストレス印加される。 - 特許庁

Image data are read one scan by one scan by an image reading part 11, and after a color correcting processing and rendering are performed, the image data are accumulated into the n-th scan storing part 14a of a memory 14.例文帳に追加

画像読み取り部１１によって、１スキャン分ずつ画像データを読み取り、色補正処理、レンダリングを行った後に、メモリ１４のｎ番目スキャン格納部１４ａに画像データを蓄積する。 - 特許庁

A component module constituting this scan test system has an input scan cell 76 and an output scan cell 102 if the input and output are not on a boundary of an integrated circuit 10.例文帳に追加

この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路１０の境界上になければ、入力走査セル７６と出力走査セル１０２とを有する。 - 特許庁

The DSP control circuit 10 compares an amount of reflected beams P0 at a scan position (reference position) on the target region with an amount of reflected beams Pk at a scan position adjacent to the scan position.例文帳に追加

ＤＳＰ制御回路１０は、目標領域上におけるスキャン位置（参照位置）の反射光量Ｐ０と、当該スキャン位置に隣接する各スキャン位置の反射光量Ｐｋとを比較する。 - 特許庁

The subfields include the subfields having an address interval in which scan pulses are applied to the N scan electrodes in a rising order and the subfields having an address interval in which scan pulses are applied to the electrodes in a falling order.例文帳に追加

その複数のサブフィールドは、Ｎ本のスキャン電極に昇順にスキャンパルスを印加するアドレス期間を有するサブフィールドと、降順にスキャンパルスを印加するアドレス期間を有するサブフィールドとを含む。 - 特許庁

The plasma display apparatus comprises: a plasma display panel comprising a scan electrode and a sustain electrode; a scan driver for applying a negative voltage to the scan electrode before a reset period when the scan electrode is applied with a positive voltage; and a sustain driver for applying a positive voltage to the sustain electrode while the scan electrode is applied with a negative voltage.例文帳に追加

本発明に係るプラズマディスプレイ装置においては、スキャン電極とサステイン電極が形成されたプラズマディスプレイパネルと、前記スキャン電極に正極性電圧が印加されるリセット期間の以前に負極性電圧を印加するスキャン駆動部と、前記スキャン電極に負極性電圧が印加される間に前記サステイン電極に正極性電圧を印加するサステイン駆動部と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

A shift-scan chain composed of logic circuit blocks 11-18 and scan registers 21-28 connected to the poststages of the blocks 11-18 is divided into split chains of scan registers 21-24 and 25-28.例文帳に追加

論理回路ブロック１１〜１８とその後段に接続されたスキャンレジスタ２１〜２８からなるシフトスキャンのチェーンは、スキャンレジスタ２１〜２４と、スキャンレジスタ２５〜２８の分割チェーンに分けられる。 - 特許庁

Boundary scan cells are installed at respective input/output pins of the semiconductor device, the boundary scan cells in the prescribed number are connected in series, and the boundary scan register of a feedback shift register constitution is constituted.例文帳に追加

半導体装置のそれぞれの入出力ピンにバウンダリスキャンセルを設け、このバウンダリスキャンセルを所定数直列に接続して、フィードバックシフトレジスタ構成のバウンダリスキャンレジスタを構成する。 - 特許庁

According to a scan signal, the scanning device causes coherent light from the first light source to scan on the optical element, and causes non-visible light from the second light source to scan on the projection surface.例文帳に追加

走査デバイスは、走査信号に応じて、第１の光源からのコヒーレント光を光学素子上で走査させ、第２の光源からの非可視光を投射面上で走査させる。 - 特許庁

The scan output signal cut-off means 3 is provided between the scan cell 1a and the scan cell 1b, and a buffer BUFF1 and an Nch insulated gate type field effect transistor NT1 are provided.例文帳に追加

スキャン出力信号遮断手段３は、スキャンセル１ａとスキャンセル１ｂの間に設けられ、バッファＢＵＦＦ１とＮｃｈ絶縁ゲート型電界効果トランジスタＮＴ１が設けられる。 - 特許庁

Upon pressing the scan and transmit button, a document is scanned in the scan settings associated therewith and the acquired document data is transmitted to the transmission destination associated with the scan and transmit button.例文帳に追加

そのスキャン送信ボタンが押されると、文書を関連づけたスキャン設定でスキャンして文書データを獲得し、その文書データをスキャン送信ボタンに関連づけた送信先に送信する。 - 特許庁

Scan result data output from the scan path are compared with the scan output expected value data read out of an other RAM by a comparison circuit 6 inside the semiconductor integrated circuit 1.例文帳に追加

そして、スキャンパスから出力されるスキャン結果データと、他方のＲＡＭから読み出したスキャン出力期待値データとを半導体集積回路１の内部の比較回路６で比較する。 - 特許庁

An organic EL device as one of electro-optical devices includes a plurality of write scan lines, a plurality of erase scan lines provided corresponding to the write scan lines, a plurality of data lines extending crossing those scan lines, light emitting elements disposed corresponding to intersections of the scan lines and data lines, and a drive device driving them.例文帳に追加

電気光学装置の一種である有機ＥＬ装置は、複数の書き込み用走査線、書き込み用走査線に対応して設けられた複数の消去用走査線、これらの走査線に対して交差する方向に延びる複数のデータ線、走査線とデータ線との交点に対応して配設された発光素子、及びその駆動装置を備えている。 - 特許庁

In this scan test circuit device, an initialization reset means performs in a scan mode, initialization reset in the integrated circuit constituted of a combination circuit 11 and scan test circuits S1 to Sn+m, and D-FF-1 to D-FF-n+m, based on an initialization reset signal CL synchronized with a scan clock pulse CK for performing operation of a scan test.例文帳に追加

本発明のスキャンテスト回路装置では、初期化リセット手段は、スキャンテストの動作を行うスキャンクロックパルスＣＫと同期する初期化リセット信号ＣＬに基づいて、組み合わせ回路１１と、スキャンテスト回路Ｓ１〜Ｓｎ＋ｍおよびＤ−ＦＦ−１〜Ｄ−ＦＦ−ｎ＋ｍにより構成される集積回路内の初期化リセットをスキャンモードにより行う。 - 特許庁

A request origin ID is imparted to each of scan start requests from two or more parts to a control part, one scan start request is received (S1), the scan request origin ID is stored as a permission ID (S2), and the scan start request having a request origin ID different from the permission ID is not received until the scan is ended (S3).例文帳に追加

制御部に対する複数箇所からのスキャン開始要求のそれぞれに、要求元ＩＤが付与されており、１つのスキャン開始要求を受け付けて（Ｓ１）、そのスキャン要求元ＩＤを許可ＩＤとして記憶しておき（Ｓ２）、そのスキャンが終了するまで、この許可ＩＤと異なる要求元ＩＤを持つスキャン開始要求を受け付けない（Ｓ３）。 - 特許庁

When a scan transmission remote station 28 detects a scan transmission abnormality based on that a transmission request from a master station 23 has not been received for a prescribed time, a message transmission remote station 29 transmits a scan transmission abnormality to a site remote station 31.例文帳に追加

スキャン伝送用リモートステーション２８がマスターステーション２３からの送信要求が一定時間無いことに基づいてスキャン伝送異常を検出すると、メッセージ伝送用リモートステーション２９が現場用リモートステーション３１にスキャン伝送異常を送信する。 - 特許庁