「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

An original test pattern created by an automatic test pattern generating means (ATPG) is separated into a pattern for a scan chain and patterns except for the scan chain.例文帳に追加

自動テストパターン生成手段（ＡＴＰＧ）で生成されたオリジナルのテストパターンを、スキャンチェーン用のパターンとスキャンチェーン用以外のパターンとに分離する。 - 特許庁

A drain electrode of the spare TFT 20 and the pixel electrode 110 are connected via a first scan branch line 301 cut from the scan line 300.例文帳に追加

予備ＴＦＴ２０のドレイン電極と画素電極１１０との接続を、走査線３００から切断した第１走査分岐線３０１を介して行う。 - 特許庁

To provide a multi-scan electronic view finder capable of supporting plural high-vision signals.例文帳に追加

複数のハイビジョン信号に対応できるマルチスキャン電子ビューファインダーを得る。 - 特許庁

In such a manner, different reproduction waveforms P1, P2 and P3 are obtained according to a scan position during reproduction and the scan position is detected.例文帳に追加

このようにすることで、再生時にスキャン位置に応じて異なる再生波形Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３が得られるようにし、スキャン位置を検出できるようにする。 - 特許庁

Scanning means 5 and 6 scan a work with the laser beam emitted from the laser light source.例文帳に追加

走査手段５，６が、レーザ光源から出射したレーザビームを走査する。 - 特許庁

During a tracking mode switched from the scan mode, on the other hand, deflection scanning is performed at a deflection angle smaller than that during the scan mode, by the light deflecting element 21.例文帳に追加

一方、スキャンモードから切り替わったトラッキングモードでは、光偏向素子２１によってスキャンモード時の偏向角より微小な偏向角で偏向走査する。 - 特許庁

The multiplexer 61 is controlled by a scan enable signal SCANEN.例文帳に追加

マルチプレクサ６１は、スキャンイネーブル信号ＳＣＡＮＥＮにより制御されている。 - 特許庁

The laser beam machining tool 14 is equipped with the laser scan head 18 containing a movable mirror 20 and a movable supporting mechanism 22 movably supporting the laser scan head 18.例文帳に追加

レーザ加工ツール１４は、可動ミラー２０を内蔵するレーザスキャンヘッド１８と、レーザスキャンヘッド１８を移動可能に支持する可動支持機構２２とを備える。 - 特許庁

A keyboard scan part 5 detects the operation states of plural keys constituting respective key areas at every key area of a performing keyboard part 8 by the scan.例文帳に追加

鍵盤走査部５は、演奏用の鍵盤部８の鍵域ごとに各鍵域を構成する複数の鍵の操作状態を走査によって検出する。 - 特許庁

To provide a color copying machine capable of performing copy without performing pre-scan.例文帳に追加

プリスキャンを行うことなく複写を行えるカラー複写機を提供する。 - 特許庁

To generate source data for document processing application using a scan subsystem.例文帳に追加

スキャンサブシステムを用いてドキュメント処理アプリケーション向けのソースデータを生成する。 - 特許庁

Oh, don't forget to give each finger a good lick before you scan them.例文帳に追加

ああ 指に1本ずつ はめるのを忘れるな スキャンの前に それを舌で舐めて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide an image processing system which extends a scan function and provides good operability.例文帳に追加

スキャン機能を拡張し、操作性の良い画像処理システムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit including a user logic circuit is such that a circuit part that constitutes data shift comprises a register other than a scan cell, excluding a part immediately after a combination circuit, and a register constituent part other than the scan cell is utilized as a scan path.例文帳に追加

本発明は、ユーザロジック回路を含む半導体集積回路であって、データシフトをなす回路部分が、組み合わせ回路の直後を除いて、スキャンセル以外のレジスタで構成され、上記のスキャンセル以外のレジスタ構成部分がスキャンパスとして利用されることを特徴とする。 - 特許庁

The liquid crystal display device comprises a liquid crystal display matrix 300 in which a liquid crystal display pixel is formed in correspondence with the intersection of a scan line L and a data line D, a scan line driving circuit 100 for driving a scan line D, and a data line driving circuit 200 for driving a data line D.例文帳に追加

液晶表示装置は、走査線Ｌとデータ線Ｄの交点に対応して液晶表示画素が形成されている液晶表示マトリックス３００と、走査線Ｄを駆動する走査線駆動回路１００と、データ線Ｄを駆動するデータ線駆動回路２００とを有する。 - 特許庁

In a plasma display, an output terminal of a scan integrated circuit 431 is coupled to a plurality of scan electrodes (Cp), a first input terminal of the scan integrated circuit 431 is supplied with a VscH voltage, and a second input terminal thereof is coupled to a source of a transistor (Ynp).例文帳に追加

本発明のプラズマ表示装置は、走査集積回路４３１の出力端に複数の走査電極（Ｃｐ）が連結され、走査集積回路４３１の第１入力端にＶｓｃＨ電圧が供給され、第２入力端にトランジスター（Ｙｎｐ）のソースが連結されている。 - 特許庁

After sequentially shifted signals are set in each scan register in synchronism with a scan clock, the output signal and the inverted signal of the scan register are alternately outputted, and output signals of an internal circuit operating according to the alternately outputted output signal and inverted signal are held in the scan register in synchronism with the scan clock.例文帳に追加

スキャンクロックに同期して、信号を順次シフトして各々のスキャンレジスタに設定した後、スキャンレジスタの出力信号と反転信号を切り替えて出力し、この切り替えて出力された出力信号と反転信号に応じて動作した内部回路の出力信号をスキャンクロックに同期してスキャンレジスタに保持する。 - 特許庁

In a parallel simultaneous receiving system, a real time scan on the whole three-dimensional space and a highly fine scan on a required tomographic face are performed by switching at a specified period by changing the scanning condition.例文帳に追加

並列同時受信方式において、スキャン条件を変えて３次元空間全体のリアルタイムスキャンと、所望の断層面の高精細スキャンとを、所定の周期で切換えて実行する。 - 特許庁

To achieve estimation with a reduced processing time by using a failure dictionary, which specializes in scan chain, for a single permanent failure on the scan chain within a logic circuit and verifying it with a test result.例文帳に追加

論理回路内部のスキャン・チェイン上の単一固定故障に対して、スキャン・チェインに特化した故障辞書を用いて、テスト結果と照合することで、処理時間を短縮して推定する。 - 特許庁

A network scan controller 10 is connected to a network via a computer interface for transmitting the image scan data obtained with an image scanner 12 to a client 16 of the network as a push model.例文帳に追加

イメージスキャナー１２で得られたイメージスキャンデータをネットワークのクラアント１６にプッシュモデルで伝送するため、コンピューターインターフェイスを介してネットワークスキャン制御装置１０が接続される。 - 特許庁

To enable a failure portion to be specified in a single degenerate failure event, using a simple circuit configuration in a scan chain test of a semiconductor integrated circuit that has been scan designed.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路のスキャンチェーンテストにおいて、単一縮退故障に対して、簡易な回路構成で故障箇所を特定することができるようにする。 - 特許庁

A device scan request unit 211 for a device 102 requests a device 104 which is a coordinator (PNC) to transmit a scan instruction to each of devices in the ad-hoc network.例文帳に追加

デバイス１０２のデバイススキャン要求部２１１は、コーディネータ（ＰＮＣ）であるデバイス１０４に対して、アドホックネットワーク内の全てのデバイスそれぞれに対するスキャン指示の送信を要求する。 - 特許庁

To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.例文帳に追加

スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁

To solve the problem that malfunction occurs since changing of a scan test signal becomes a noise occurrence source during a normal mode in a semiconductor integrated circuit having a scan test signal wiring.例文帳に追加

スキャンテスト信号配線を有する半導体集積回路において、ノーマルモード時にスキャンテスト信号が変化することでノイズの発生源となり、半導体集積回路が誤動作してしまう。 - 特許庁

A test pattern (100) which is comprised of a plurality of marks (101 and 102) arranged in the sub-scan direction on a platen plate (31) and disposed by a plurality of the number in the main scan direction is detected by using a reading sensor (30).例文帳に追加

プラテン板（31）上の副走査方向に配列された複数のマーク（101,102）から構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターン（100）を、読取センサ（30）を用いて検出する。 - 特許庁

In order to convert a physical color to a color space, a scanner within a printer is used to scan a color patch.例文帳に追加

物理的な色をプリンタ装置の色空間に変換するため、プリンタ内部のスキャナを用いて色パッチをスキャンする。 - 特許庁

An operation control system (22) directs a pre-operation block (21) a switching of going way scan and returning way scan by signal (α), and performs an operation for detecting the focus for every pixel during the reciprocal scan by using the recorded data in the third memory (M3).例文帳に追加

演算制御系(22)は、往路走査と復路走査との切替を信号(α)で前演算ブロック(21)に指示し、第３メモリ(M3)の記録データを用いて往復走査中に焦点検出のための演算を画素毎に行う。 - 特許庁

The control circuit 114 operates a sub-scan feeding-rate of the recording medium 102, and the sub-scan feed is controlled by sending the control signal to a sub-scan motor driver 120 from the result of the operation.例文帳に追加

制御回路１１４はマーカーの読取信号から、記録媒体１０２の副走査送り量を演算し、この演算結果に基づいて副走査モータードライバー１２０へ制御信号を送って副走査送りを制御する。 - 特許庁

Thus, when the DMDs scan the substrate 22, scan marks (scanning irregularity) are produced discontinuously in two straight lines; and a user cannot recognize the presence of scan marks when watching a display.例文帳に追加

したがって、前記ＤＭＤ４２において、前記基板２２にスキャンする際に発生するスキャンムラが２つの直線上に不連続的に形成された場合でも、使用者がディスプレイを視聴するとき、これを認識しなくなる。 - 特許庁

A channel scan processing part 115 continues to perform the channel scan processing in order to retrieve the channel information concerning the frequency bands without the identification of the channel information, so that a time for the channel scan processing is shortened.例文帳に追加

チャンネルスキャン処理部１１５は、チャンネル情報が判明していない周波数帯について、チャンネル情報を検索すべくチャンネルスキャン処理を続行していくことで、チャンネルスキャン処理にかかる時間を短縮化できる。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus which incorporates a TV tuner, capable of automatically carrying out channel scan without the need for a user to perform an operation for channel scan, when the channel scan is needed.例文帳に追加

ＴＶチューナを内蔵する情報処理装置において、チャネルスキャンが必要なときには、ユーザがそのための操作をすることなく、自動的にチャネルスキャンを実行することができる情報処理装を提供する。 - 特許庁

After performing first scan S1 for gathering magnetic resonance signals from the head of a subject SU as first scan data, a positioning image SI is generated for the head of the subject SU on the basis of the first scan data.例文帳に追加

被検体ＳＵの頭部から磁気共鳴信号を第１スキャンデータとして収集する第１スキャンＳ１を実施後、その第１スキャンデータに基づいて被検体ＳＵの頭部について位置決め画像ＳＩを生成する。 - 特許庁

A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.例文帳に追加

通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁

A sawtooth voltage generating circuit 33 generates a sawtooth voltage Vosc for vertical scan.例文帳に追加

鋸波電圧発生回路３３は垂直走査用の鋸波電圧Ｖosc を発生する。 - 特許庁

A writing scan line 104WS and a video signal line 106HS are provided in wiring layers L1 and L2.例文帳に追加

書込走査線１０４WSや映像信号線１０６HSは配線層Ｌ１，Ｌ２に設ける。 - 特許庁

To provide an electronic signature system with excellent handleability for a user in a scan operation.例文帳に追加

スキャン操作においてユーザに使い勝手の良い電子署名システム等を提供する。 - 特許庁

The substrate holding member moves on the Y step surface table in a scan direction with a long stroke.例文帳に追加

基板支持部材は、Ｙステップ定盤上でスキャン方向に長ストロークで移動する。 - 特許庁

A B-mode tomographic image is obtained as a moving image with excellent real-time properties in the 2D scan.例文帳に追加

２Ｄスキャンでは、リアルタイム性が良好で、Ｂモード断層像が動画として得られる。 - 特許庁

To provide a circuit system capable of reducing an area overhead by a scan circuit.例文帳に追加

スキャン回路による面積オーバヘッドを低減することができる回路方式を提供する。 - 特許庁

To accelerate processing by decoding an encoded pixel block in a direction orthogonal to a scan direction.例文帳に追加

符号化画素ブロックをスキャン方向に直行な方向に復号し、処理を高速化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a scan path test can be conducted at high speed.例文帳に追加

スキャンパステストを高速に実施することのできる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A scan plan is inputted from an operation console (S701) and transmitted to a gantry apparatus (S702).例文帳に追加

操作コンソールでスキャン計画を入力し（Ｓ７０１）、ガントリ装置に送信する（Ｓ７０２）。 - 特許庁

To present suitable preview information to a user according to a degree of progress of scan processing.例文帳に追加

スキャン処理の進行度合いに応じて適切なプレビュー情報をユーザに提示する。 - 特許庁

To improve the quality of a printing performed by a printing head which is driven in the main scan direction.例文帳に追加

主走査方向に駆動する印刷ヘッドにて行う印刷の品質向上を図る。 - 特許庁

To accurately scan an object to be scanned with a plurality of light beams emitted from a light source unit.例文帳に追加

光源ユニットからの複数の光を走査対象物に対して、精度良く走査させる。 - 特許庁