「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

A calculation part calculates, as a correction amount, the amount of the phase shift from phase differences present in a plurality of echo signals collected during the first pre-scan and the second pre-scan.例文帳に追加

算出部は、前記第１及び第２のプリスキャンにより収集された複数のエコー信号における位相差から位相ずれの量を補正量として算出する。 - 特許庁

Or, a plurality of electron beams are successively made to scan as the scan starting times of the electron beams are staggered, and a pattern measurement is made at a scanning distance equal to each exposure deflection distance or above.例文帳に追加

または、複数の電子ビームの走査開始時刻をずらして順次走査することにより、個々の描画偏向距離以上の走査距離でパターン計測を行う。 - 特許庁

A document scan control part 32 controls an image scanner 33 so as to scan document images corresponding to a document size detected by a document size detection part 31.例文帳に追加

原稿読取制御部３２は、原稿サイズ検出部３１により検出された原稿サイズ分の原稿画像を読み取るように画像読取部３３を制御する。 - 特許庁

A document, to which variable resolution preview scan is performed, is displayed on a variable resolution preview window 202 of a scanner software window 200 as variable resolution preview scan 204.例文帳に追加

可変解像度プレビュー・スキャンされた文書は、スキャナ・ソフトウェア・ウィンドウ２００の可変解像度プレビュー・ウィンドウ２０２に可変解像度プレビュー・スキャン２０４として表示される。 - 特許庁

The pseudo error signal generating circuit 30 has a scan chain circuit, a setting signal is set to this scan chain circuit, and a pseudo error signal is generated un accordance with this setting signal.例文帳に追加

擬似エラー信号発生回路３０は、スキャンチェーン回路を有し、このスキャンチェーン回路には設定信号がセットされ、この設定信号に応じて、擬似エラー信号を発生する。 - 特許庁

In the scan system 100, a plurality of scan applications 52a and 52b exist in a PC 1a that can switch and use a plurality of user accounts without logging off.例文帳に追加

スキャンシステム１００は，複数のユーザアカウントをログオフすることなく切り替えて使用することができるＰＣ１ａ内に複数のスキャンアプリ５２ａ，５２ｂが存在する。 - 特許庁

A passive scan performing part 1230 performs passive scan on a packet flowing a sub-network 2100 and generates network configuration information of certain network equipment 1300.例文帳に追加

パッシブスキャン実行部１２３０はサブネットワーク２１００を流れるパケットを対象にパッシブスキャンを実行し、あるネットワーク機器１３００のネットワーク構成情報を生成する。 - 特許庁

Things that the generation program GP changes can be, for example, scan target regions 130, the order of addresses for scanning, a calculation of a scan result, an arithmetic process for sending back the calculated scan result to the secure module 110, a code of the scan program SP, and the position of an information processor 100 on a memory.例文帳に追加

生成プログラムＧＰによりランダムに変化させるのは、たとえば、スキャン対象領域１３０、スキャン対象アドレスの順序、スキャン結果演算、演算したスキャン結果をセキュアモジュール１１０に戻す演算処理、スキャンプログラムＳＰコード、情報処理装置１００のメモリ上の位置などが挙げられる。 - 特許庁

The scan file generating apparatus is configured as an apparatus for generating a scan file as an image data file of an original when the generation of a scan file is instructed, storing (S104) the file into a file server, and then, storing a shortcut file of the scan file stored in the file server into an USB memory set in its apparatus.例文帳に追加

スキャンファイル生成装置を、スキャンファイルの生成が指示されたときに、原稿の画像データファイルであるスキャンファイルを生成して、ファイルサーバ内に記憶した後、自装置にセットされているＵＳＢメモリ上に，ファイルサーバ内に記憶したスキャンファイルへのショートカットファイルを記憶（Ｓ１０４）する装置として構成しておく。 - 特許庁

When performing the logic scan test of the logic sections 80, 81, a test mode signal TEST is set to "1", and a normal scan test is performed by a simple scan path having the same number of bits as that of written data using a scan flip flop in which the selectors 10-12 and the flip flops 30-32 are paired.例文帳に追加

ロジック部８０，８１のロジックスキャンテストを行う際にはテストモード信号ＴＥＳＴを“１”とし、セレクタ１０〜１２とフリップフロップ３０〜３２とがそれぞれ対をなして構成するスキャンフリップフロップを用いた、書き込みデータ数と同じビット数の単純なスキャンパスによって、通常のスキャンテストを行うことができる。 - 特許庁

The KBC 2 has a first buffer 21 that is used to temporarily store the scan codes of the keys depressed and to transfer the scan codes to a register used by the BIOS, and a second buffer 22 that stores the scan codes of the keys depressed and outputs the scan codes when a dump list command is issued from the BIOS.例文帳に追加

ＫＢＣ２は、押下されたキーのスキャンコードを一時記憶し、前記ＢＩＯＳが使用するレジスタへ転送するために使用される第１のバッファ２１と、押下されたキーのスキャンコードを記憶し、前記ＢＩＯＳからダンプリストコマンドが発行された場合に当該スキャンコードを出力する第２のバッファ２２とを有する。 - 特許庁

The panel includes a signal line driver circuit, a scan line driver circuit, a pixel portion, a monitoring element portion, a D/A converter and a constant current source.例文帳に追加

パネルは信号線駆動回路、走査線駆動回路、画素部、モニタ素子部、Ｄ／Ａ変換部及び定電流源を有している。 - 特許庁

A multiphase clock supplying circuit 50 is installed, which generates a scan clock signal SCK (k) of (n+1) arising from the clock signal SCLK for test indicating implementation of scan path test, with no overlap mutually and in sequence, to supply the generated scan clock signal SCK (k) to scan flip-flop SFF of (n-1) and one scan flip-flop SFF*.例文帳に追加

スキャンパステストの実行を示すテスト用クロック信号ＳＣＬＫから互いに重複せず順に立ち上がる（ｎ＋１）個のスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を生成する多相クロック供給回路５０を設け、生成したスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を（ｎ−１）個のスキャンフリップフロップＳＦＦと１個のスキャンフリップフロップＳＦＦ＊とに供給する。 - 特許庁

At the time of operating key input, the operation of the second scan circuit 3 is stopped so that the detection sensor A can be scanned by the first scan circuit 2, and at the time of operating fingerwriting input, the second scan circuit 3 is also turned into an operating state, and the detection sensors A and B can be scanned by the first scan circuit 2 and the second scan circuit 3.例文帳に追加

そして、キー入力を行うときは第２のスキャン回路３の動作を停止させて第１のスキャン回路２により検知用センサＡに対するスキャンを行い、指書き入力を行うときは第２のスキャン回路３も動作状態にして、第１のスキャン回路２と第２のスキャン回路３により検知用センサＡ，Ｂに対するスキャンを行う。 - 特許庁

At least one of a scan line drive part and a data line drive part can be inverted in at least one of the supply direction of scan signals to a plurality of scan lines and the supply direction of image signals to a plurality of data lines.例文帳に追加

走査線駆動部及びデータ線駆動部の少なくとも一方は、複数の走査線に対する走査信号の供給方向及び複数のデータ線に対する画像信号の供給方向の少なくとも一方が反転可能である。 - 特許庁

In the scan flip-flop circuit, a 2-to-1 selector 13 executes a first selection operation of selecting one of the ground level received by "0" input and "1" input and the scan-in signal SIN based on a scan enable signal SEN received by a control input.例文帳に追加

２ｔｏ１セレクタ１３は、制御入力に受けるスキャンイネーブル信号ＳＥＮに基づき、“０”入力及び“１”入力に受ける接地レベル及びスキャンイン信号ＳＩＮのうち一方を選択する第１の選択動作を実行する。 - 特許庁

During a scan measuring, a control part 40 controls DC voltage sources 51 to 55 following the voltage scan pattern synchronously with a scan of an impressed voltage for a quadrupole mass filter, thereby scanning the impressed voltage for the desolvation pipe 23 and the deflector electrode 23.例文帳に追加

スキャン測定時に、制御部４０は四重極フィルタへの印加電圧の走査と同期して、電圧走査パターンに従って直流電圧源５１〜５５を制御し、脱溶媒管２３とデフレクタ電極３４への印加電圧を走査する。 - 特許庁

In the case of detecting an access point, the wireless communication apparatus 10 executes detection of the access point in a particular scan mode for only access points not detected by the ANY scan and incompatible with the ANY scan after detecting the access point in the ANY scan mode.例文帳に追加

アクセスポイントを検出する際には、ＡＮＹスキャンモードによるアクセスポイント検出が行われた後、ＡＮＹスキャンによって検出されず且つＡＮＹスキャンに非対応とされているアクセスポイントに対してのみ、特定スキャンモードによるアクセスポイント検出が実行される。 - 特許庁

The flip-flop comprises: a pulse generation part for generating a pulse for synchronizing the operation of the flip-flop; a multiplexer to which data, scan input and a scan enable signal is input and which selects and outputs the data or scan input in response to the scan enable signal; and a latch part for synchronizing the data or scan input output from the multiplexer part with a pulse signal and transmitting it to outside.例文帳に追加

フリップフロップの動作を同期させるためのパルスを生成するためのパルス生成部、データ、スキャン入力及びスキャンイネーブル信号を入力され、スキャンイネーブル信号に応答して、データ及びスキャン入力のうち、何れか一つを選択して出力するマルチプレクサと、マルチプレクサ部から出力されるデータまたはスキャン入力をパルス信号に同期して、外部に伝達するラッチ部とを備えるフリップフロップである。 - 特許庁

An oscillating scan is mixed with a frame set with different view angles by a diagnostic object, a broad scan where the view angle is set widely for imaging a target site for grasping the position of the diagnostic object, and a narrow scan where an view angle θ2 is set narrower than the broad scan for imaging the diagnostic object with high time resolution, and a volume data is collected by the oscillating scan.例文帳に追加

診断対象と、当該診断対象の位置を把握するための指標部位とを映像化するために画角が広く設定された広域スキャンと、診断対象を高い時間分解能で映像化するために広域スキャンに比して画角θ２が狭く設定された狭域スキャンとによって、異なる画角設定によるフレームを混在させた揺動走査によってボリュームデータを収集する。 - 特許庁

When signals in a scan clock unit outputted from a random pattern generator 102 for generating pseudo random signals at prescribed periods are matched with patterns in a scan clock unit inputted to the scan chain 101 of the ATPG patterns, a scan clock selection decoder 103 supplies a clock for inputting the signals in a scan clock unit outputted from the random pattern generator 102.例文帳に追加

スキャンクロック選択デコーダ１０３は、所定周期の擬似ランダム信号を発生するランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号とＡＴＰＧテストパタンの前記スキャンチェーン１０１に入力されるスキャンクロック単位のパタンとが一致するときに、前記ランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号を入力するためのクロックをスキャンチェーン１０１に供給する。 - 特許庁

To achieve a shift from a monitoring scan to a main scan at a correct timing free from changes in the average CT value as caused by breathing of a subject in a contrast examination with an X-ray CT apparatus.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴ装置の造影検査において、被検体の呼吸による平均ＣＴ値の変動に影響されることなく、正確なタイミングで監視スキャンから本スキャンへの移行を図る。 - 特許庁

A control section 9 writes an image of a scan in the A direction after a lapse of a period of T_DTL from detection of the laser beam LB by the BD23L1 and the BD23L2 during the scan in the A direction.例文帳に追加

制御部９は、Ａ方向の走査時にＢＤ２３Ｌ１とＢＤ２３Ｌ２がレーザビームＬＢを検知したタイミングから期間Ｔ_ＤＴＬ経過後にＡ方向の走査における画像の書き出しを行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can reduce a chip surface area by making small the scale of a wiring resource for obtaining a control signal, for example, during a scan chain or a scan test to increase wiring utilization efficiency.例文帳に追加

半導体集積回路において、例えばスキャンチェーンやスキャンテスト時の制御信号を実現するための配線リソースの規模を小さくし、配線の利用効率を高めて、チップ面積の削減を図る。 - 特許庁

When a scan signal Ysi supplied to a scan line 112 is set to a high (H) level, the data signal Sj having a voltage corresponding to a gradation and a write polarity is applied to the data line 114.例文帳に追加

走査線１１２に供給される走査信号ＹｓｉをＨレベルにした場合に、階調に応じ、かつ、書込極性に応じた電圧のデータ信号Ｓｊをデータ線１１４に印加する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a scan test circuit, which can perform a scan pass test at a substantially high speed using a low speed tester by suppressing a cost, is integrated.例文帳に追加

コストを抑えながら、低速なテスターを用いて実質的に高速な動作速度においてスキャンパステストを実施することができる、スキャンテスト回路が組み込まれている半導体装置を提供する。 - 特許庁

When a scan signal Ysi supplied to a scan line 112 is set to a high level, the data signal Sj having a voltage corresponding to a gradation and a write polarity is applied to the data line 114.例文帳に追加

走査線１１２に供給される走査信号ＹｓｉをＨレベルにした場合に、階調に応じ、かつ、書込極性に応じた電圧のデータ信号Ｓｊをデータ線１１４に印加する。 - 特許庁

In a DP matching section 21, a cost computing section 22 uses pixels on a scan line of left image as a longitudinal axis, and pixels on a scan line of right image as a lateral axis, and computes matching costs for corresponding points.例文帳に追加

ＤＰマッチング部２１のうち、コスト計算部２２は、左画像のスキャンライン上の画素を縦軸、右画像のスキャンライン上の画素を横軸として、各対応点についてマッチングコストを計算する。 - 特許庁

This laser radar device 2 acquires a two-dimensional scan image by using a laser beam to two-dimensionally scan the backside of a vehicle or the front side thereof, calculates a pixel average value on the scan image, subtracts the average value from the scan image, and determines whether or not a two-dimensional image includes a true target object after the subtraction.例文帳に追加

レーザレーダ装置２は、レーザビームを用いて車両後方又は車両前方を二次元スキャンしてその二次元スキャン画像を取得し、前記二次元スキャン画像の画素平均値を算出し、前記二次元スキャン画像から前記画素平均値を減算し、減算後の二次元画像に真の目標物が含まれているか否かを判定する。 - 特許庁

In the scan distribution compression mode, a test pattern is supplied from supply terminals 301-30N to scan chains 201-20N provided at stages.例文帳に追加

スキャン分配圧縮モードでは、各段のスキャンチェイン２０１乃至２０Ｎに供給端子３０１乃至３０Ｎからテストパターンが供給される。 - 特許庁

Usually, the width of incoming light on a scan line L of laser reflection light R2 is wider than the width of incoming light on the scan line L of disturbance light.例文帳に追加

通常、レーザ反射光Ｒ２の走査線Ｌ上における入光幅は、外乱光の走査線Ｌ上における入光幅よりも広い。 - 特許庁

Lateral translation of the image plane during the scan in the z direction may allow large areas to be imaged in a single scan sequence.例文帳に追加

ｚ方向へのスキャン中における画像面の横方向への平行移動により、単一のスキャンシーケンスによる大面積の画像化が可能になる。 - 特許庁

In an LSI in which a scan register type circuit is held, passwords input from scan input terminals 181 to 183 are held in password input registers 101 to 103.例文帳に追加

スキャンレジスタ方式の回路を保持したLSIにおいて、スキャン入力端子181〜183から入力したパスワードを、パスワード入力レジスタ101〜103に保持する。 - 特許庁

To stably acquire homogeneous images of components irrespective of the moving direction of a scan unit by reducing the control burden of the scan unit.例文帳に追加

スキャンユニットの制御負担を軽減し、同ユニットの移動方向に拘わらず安定的に同質の部品画像を取得し得るようにすること。 - 特許庁

At this time, the scan driver 13b2 outputs the generated erasure signal to a scan electrode SuB to neutralize and erase wall charges.例文帳に追加

このとき、スキャン駆動部１３ｂ２は、生成した消去信号をスキャン電極ＳｕＢに出力して壁電荷を中和させて消去する。 - 特許庁

A scan conversion part 101, according to the determination, performs scan conversion with the two blocks that are inputted in parallel or performs it with only one.例文帳に追加

スキャン変換部１０１は、この決定に応じて、入力した２つのブロックを並列にスキャン変換するか、一方のみをスキャン変換する。 - 特許庁

To enable both of an interlaced san and a non-interlaced scan and further to reduce power consumption in the interlaced scan in an image display device.例文帳に追加

映像表示装置において、インタレース走査とノンインタレース走査のいずれも可能とし、しかもインタレース走査時の消費電力を削減する。 - 特許庁

This step-and-scan type projection aligner is provided with a controller for setting the step drive profile for each step drive, based on scan synchronization errors.例文帳に追加

ステップ駆動プロファイルを、スキャン同期誤差に基づいて、ステップ駆動毎に設定する制御装置を備えるステップ＆スキャン式投影露光装置。 - 特許庁

When scan action incapable of detecting coherent light in nonprojection periods have continued a specified number of times, this photoelectric sensor varies the scan cycle at random.例文帳に追加

非投光期間において干渉光を検出できないスキャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をランダムに可変する。 - 特許庁

When the scan execution frequency counter of the user exceeds a predetermined value (S107; YES), the scan image is abandoned (S109), and the user is notified (S111).例文帳に追加

ユーザのスキャン実行回数カウンタが所定の値を超えた場合（Ｓ１０７でＹＥＳ）、スキャン画像を破棄し（Ｓ１０９）、ユーザへ通知する（Ｓ１１１）。 - 特許庁

The control means performs a second AF scan operation different from the first AF scan operation to perform focus adjusting operation when performing the image-taking preparation operation.例文帳に追加

制御手段は、撮影準備時に、第１のＡＦスキャン動作と異なる第２のＡＦスキャン動作を行って合焦動作を実施する。 - 特許庁

To provide a scanner in which movement of documents to copy/scan glass is automatically detected for automatically performing scan/copy operation.例文帳に追加

スキャン／コピー操作を自動的に行うためにコピー／スキャンのガラスに対する書類の動きを自動的に検出させるスキャン装置を提供する。 - 特許庁

When starting next scan, the maximum value held in the maximum value hold register 38 in starting the last time scan is set to a variance estimated value register 37.例文帳に追加

次のスキャン開始時に、前回のスキャン開始時に最大値ホールドレジスタ３８に保持された最大値を分散推定値レジスタ３７にセットする。 - 特許庁

To perform retrieval in cooperation between index type retrieval and scan type retrieval while redeeming defects each other, in a document retrieval device comprising index type retrieval and scan type retrieval.例文帳に追加

インデックス型検索とスキャン型検索からなる文書検索装置において、双方で欠点を補いながら連携して検索を行う。 - 特許庁

At this time, by adjusting a rotary phase difference between polygon mirrors 73a, 73b of both laser units, the positional deviation of respective scan lines in the sub-scan direction are adjusted.例文帳に追加

その際、両レーザユニットのポリゴンミラーの回転位相差を調整することにより、各スキャンラインの副走査方向の位置ズレを調整をする。 - 特許庁