「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

Ability to recover multiple indexes over a table space with a single scan of the table space 例文帳に追加

表スペースの複数の索引を,1回の表スペース走査で回復できる能力 - コンピューター用語辞典

To shorten a test time by reducing the number of S-FF of a signal scan pass by half.例文帳に追加

１本のスキャンパスのＳ−ＦＦの数を半減してテスト時間を短縮する。 - 特許庁

A scan operation is initiated to detect the presence or absence of a source document.例文帳に追加

ソース文書の存在または不在を検出するために、スキャン操作が開始される。 - 特許庁

To provide a scan type display device for displaying a video with little speckle noise.例文帳に追加

スペックルノイズが目立たない映像を表示する走査型表示装置を提供する。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

A non-contact type scanner 10 images a two-dimensional area including a slip while executing pixel sliding, and successively writes imaged scan image data in a scan image memory 21.例文帳に追加

非接触型スキャナ１０は、画素ずらしを行ないながら帳票を含む２次元領域を撮像し、撮像したスキャン画像データをスキャン画像メモリ２１に順次書き込む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a scan test circuit, satisfying the overall fault coverage and reduced in a chip size by simplifying the scan test circuit, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

スキャンテスト回路の単純化でチップサイズが低減し、全体フォールトカバレージも満足するスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Additionally, in response to the scan operation instruction, a scan operation is performed on a sequence of single-bit values using a parallel processor architecture with a plurality of processing elements.例文帳に追加

さらに、スキャン演算命令に応答して、スキャン演算が、複数の処理要素を備えた並列プロセッサアーキテクチャを使用して、単一ビット値のシーケンスに対して実施される。 - 特許庁

To provide a document computerization apparatus, a document computerization method, a document computerization program and a recording medium that can scan paper documents on appropriate scan conditions.例文帳に追加

紙文書を適切なスキャン条件によってスキャンすることのできる文書電子化装置、文書電子化方法、文書電子化プログラム及び記録媒体の提供を目的とする。 - 特許庁

At scan shift operation, a signal of a signal level Hi is inputted to an operation mode switching signal input terminal SE of a selector 29 to select a scan test signal of SI.例文帳に追加

スキャンシフト動作時は、セレクタ２９の動作モード切替信号入力端子ＳＥに信号レベルＨｉの信号を入力してＳＩのスキャンテスト信号を選択する。 - 特許庁

To provide a side-view scan type confocal probe with a smaller size and a finer diameter, which can simplify the assembling process containing the positioning work of a scan mirror.例文帳に追加

走査ミラーの位置決め作業を含めた組立工程が簡略化することができ、かつ小型化、細径化された側視タイプの走査型共焦点プローブを提供すること。 - 特許庁

To dispense with the addition of separate members for instructing a reading direction in the case of slanted scan in a co-used case for a straight type and a slanted scan type bar code reader.例文帳に追加

ストレートタイプと斜め読みタイプとでケースを共用化するようにしたものにあって、斜め読みタイプの場合の読取方向を指示するための別部材の追加を不要とする。 - 特許庁

To preferably change a response time until image information related to a scan is transmitted after starting the scan in accordance with a model of a complex machine to be simulated or the like.例文帳に追加

模倣する複合機の機種などに応じて、スキャン開始後スキャンに係る画像情報を送信するまでの応答時間を好適に変更することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for supplying a clock in-phase with normal action in scan test action to a scan flip flop and for conforming a hold margin.例文帳に追加

スキャンテスト動作時に通常動作と同位相のクロックをスキャンフリップフロップに供給してホールドマージンの確認を行うことができる半導体集積回路を提供すること。 - 特許庁

The diffraction element is set, for example, between a lens 112 and the lens 114, which compose a first relay optical system disposed between a horizontal scan system and a vertical scan system.例文帳に追加

その回折素子は、例えば、水平走査系と垂直走査系との間に配置された第１リレー光学系を構成するレンズ１１２と１１４との間に設置する。 - 特許庁

A part or the whole of the flip-flop in a peripheral logic circuit of the hard macro 110 is constituted of a scan flip-flop 131 for outputting a predetermined value by scan shift.例文帳に追加

ハードマクロ１１０の周辺論理回路内におけるフリップフロップの一部又は全部を、スキャンシフトにより所定の値を出力するスキャンフリップフロップ１３１で構成する。 - 特許庁

To provide an ultrasound imaging system for forming a plurality of scan lines and frames from received signals provided by a plurality of transducers in a probe and a scan line data forming method.例文帳に追加

プローブ内の複数の変換子の受信信号から複数のスキャンライン及びフレームを形成する超音波映像システム及びスキャンラインデータ形成方法を提供する。 - 特許庁

A template scan device 26 repeatedly performs a raster scan of each template on the image with a predetermined sampling pitch, according to the size and obtains a first shape fit at each position.例文帳に追加

テンプレート走査装置２６は、各テンプレートをそれぞれ画像上でその大きさに応じたサンプリングピッチでラスタースキャンし、各場所で第１の形状適合度を求める。 - 特許庁

The image display device provided with a high speed scan chip and a low speed scan chip has a high speed scanner controller 51, a low speed scanner controller 52, and an RGB laser controller 53.例文帳に追加

高速走査素子および低速走査素子を備えた画像表示装置は、高速スキャナコントローラ５１、低速スキャナコントローラ５２、およびＲＧＢレーザコントローラ５３を有する。 - 特許庁

A calculating unit repetitively compares a first scan with the subsequent scan, detects a new relative position of the mobile unit at each point of the subsequent scan to the position in the first scan and takes into account the last relative position in each case as prior information.例文帳に追加

計算ユニットが第１のスキャンを反復的に後続のスキャンと比較し、第１のスキャンの時点における位置に対する後続のスキャンのそれぞれの時点における移動ユニットの新たな相対位置を検出し、その都度最後に求められた相対位置を先験情報として考慮する。 - 特許庁

If an activity to be executed includes a scan process of a document and an upload process of scan data generated by the scan process, a workflow server 104 stores upload destination data so that an MFP 103 uploads the scan data to an upload destination that is determined corresponding to the upload process.例文帳に追加

ワークフローサーバ１０４は、実行すべきアクティビティが、ドキュメントのスキャン処理と、スキャン処理によって生成されるスキャンデータのアップロード処理とを含む場合、ＭＦＰ１０３がアップロード処理に対応して定められたアップロード先にスキャンデータをアップロードするようにアップロード先データを保存する。 - 特許庁

The scan lens group includes: an incident plane which the light enters and an emission plane from which the light is emitted; a scan lens 21 having a negative power in a sub-scanning direction; and scan lenses 22 and 23 provided in the downstream side of the scan lens 21 in the light advancing direction.例文帳に追加

走査レンズ群は、光が入射する入射面及び該光が射出する射出面を有し、かつ、副走査方向に負のパワーを有している走査レンズ２１と、走査レンズ２１よりも、光の進行方向の下流側に設けられている走査レンズ２２，２３と、を含んでいる。 - 特許庁

At the scan angle control part 11, the scan angle or the like on traveling in a curve is controlled in the case of a fixing-type radar, and the scan angle is controlled in the case of a scan-type radar.例文帳に追加

反射されたビームのパワーのピークが数が複数であり、該複数のピークが形成する山の数が１である場合、複数のピークの内で最も大きいパワーのピークとその両側のピークの３つのピークのパワーの大きさが均衡する角度を物体の中心位置として検出する。 - 特許庁

To provide a scan file generating apparatus including a scan file generating function that is effective also for a user who wants to adjust the generation condition of a scan file (image data file generated by scanning an original) into his own favorite conditions.例文帳に追加

スキャンファイル（原稿をスキャンすることによって生成される画像データファイル）の生成条件を自身の好みのものに調整したいユーザにとっても有効なスキャンファイル生成機能を有するスキャンファイル生成装置を、提供する。 - 特許庁

In the scan, a scan SNsys for systole started by a time phase in the systole and a scan SNdia for diastole started by a time phase in the diastole are performed by separate pulse sequences to the same slice encoding.例文帳に追加

スキャンは、収縮期内の時相で開始する収縮期用スキャンＳＮ_ｓｙｓと、拡張期内の時相で開始する拡張期用スキャンＳＮ_ｄｉａとを同一スライスエンコードに対して別々のパルスシーケンスで実行される。 - 特許庁

To eliminate electric charges of the parasitic capacitor of a pixel by applying an equal potential on a data line and a scan line and by applying a reverse potential to them for performing initialization which making scan lines have an initialization section in order to eliminate effect of electric charges to be generated among scan lines.例文帳に追加

ライン間に電荷の影響をなくすために初期化区間を持つが、初期化のために同一電位をデータラインとスキャンラインとに印加したり、逆電位を印加することにより、ピクセルの寄生キャパシタの電荷を消去する。 - 特許庁

Each of the scan sub-chains belonging to the same first kind of groups is connected to a different scan shift input terminal, and each of the scan sub-chains belonging to different first kind of groups is connected to one scan shift input terminal in parallel.例文帳に追加

スキャンサブチェーンは、同一の第１種のグループに属するスキャンサブチェーンのそれぞれが、異なるスキャンシフト入力端子に接続され、かつ、異なる第１種のグループに属するスキャンサブチェーンが、一のスキャンシフト入力端子に並列に接続されている。 - 特許庁

After an external scan instruction mode to carry out the scanning of the film image in accordance with the scan instruction from the information processor is instructed by a scan instruction button 9, the detection state of the scan start instruction from a controller 20 is monitored and the reading by the scanning of a scanning body is controlled every time the scan start instruction from the controller 20 is detected.例文帳に追加

フィルム画像の走査を情報処理装置からの走査指示に基づき行う外部走査指示モードがスキャン指示ボタン９により指示された後、制御装置２０からの走査開始指示の検知状態を監視して、制御装置２０からの走査開始指示を検知する毎に、走査体の走査による読み取りを制御する構成を特徴とする。 - 特許庁

A decoder is provided for a scan line driver circuit and operates such that, in accordance with a signal input to the scan line driver circuit, a pulse is sequentially input only to scan lines included in pixels of rows performing display and a pulse is not input to scan lines included in pixels of rows at which display is not performed.例文帳に追加

走査線駆動回路にデコーダを設けて、走査線駆動回路に入力される信号に従って、表示を行うラインの画素が有する走査線にのみ順にパルスを入力し、それ以外の表示を行わないラインの画素が有する走査線にはパルスの入力を行わないように動作させる。 - 特許庁

When a desired scan line velocity (setting scan line velocity) for irradiation light (laser light) is inputted through a scan line velocity input section 101, an amplitude calculation section 103 calculates a driving amplitude based on a driving frequency obtained from a driving frequency memory section 102 so as to achieve the setting scan line velocity.例文帳に追加

走査線速度入力部１０１を通じて照射光（レーザ光）に対する所望の走査線速度（設定走査線速度）が入力されると、振幅算出部１０３では、設定走査線速度を実現するために、駆動周波数記憶部１０２から得た駆動周波数を基にして駆動振幅を算出する。 - 特許庁

A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加

制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁

During a scan test, first and second clock control sections 106, 107 select a scan clock input terminal 104 by a control signal from a control signal input terminal 105 to supply clock paths 108, 109 with a clock during the scan test.例文帳に追加

第１、第２のクロック制御部１０６、１０７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によってスキャンクロック入力端子１０４を選択し、クロックパス１０８、１０９へスキャンテスト時のクロックを供給する。 - 特許庁

The scanner calibration method includes a step of performing an initial full calibration scan, a step 104 of performing partial calibration scans at least once, a step 108 of comparing the full calibration scan with the partial calibration scans, a step of executing again the full calibration scan when the difference between the partial calibration scan and the full calibration scan is equal to, or more than, a prescribed amount.例文帳に追加

完全較正走査を実行するステップと、少なくとも１回の一部較正走査を実行するステップ１０４と、前記完全較正走査を前記一部較正走査と比較するステップ１０８と、前記一部較正走査と前記完全較正走査との差が少なくとも所定の量に等しい場合、前記完全較正走査を再度実行するステップと、を備えて成る。 - 特許庁

A scan line drive circuit 350 sequentially selects 320 lines of scan lines, applies selected voltage to the selected scan lines, turns a predetermined one among scan lines other than the selected scan lines into a high impedance state when low-order voltage is applied to the common electrodes 111 and applies non-selected voltage to the predetermined scan line when the high-order voltage is applied to the common electrodes 111.例文帳に追加

走査線駆動回路３５０は、３２０行の走査線を順番に選択するとともに、選択した走査線に対しては選択電圧を印加する一方、選択した走査線以外の走査線のうち、所定のものに対しては、共通電極１１１に低位電圧が印加されたときにハイ・インピーダンス状態とし、共通電極１１１に高位電圧が印加されたときに非選択電圧を印加する。 - 特許庁

Also, a path bypassing some flip-flops is provided on the scan paths 3 and flip-flops out of the test object are removed from the scan paths.例文帳に追加

また、スキャンパス３上にいくつかのフリップフロップをバイパスする経路を設け、テスト対象外とするフリップフロップをスキャンパスから除外する。 - 特許庁

To generate an omni-directional scan pattern having high scan line density without dead zones, especially in the upper part and the lower part of a vertical window.例文帳に追加

高い走査線密度をもち、特に垂直型ウィンドウの上部及び下部にデッドゾーンがない全方向性走査パターンを生成すること。 - 特許庁

To enhance the versatility of an LSI by eliminating the need, wherein scan FF inside a hard-macro and scan FF of the LSI must have the same scanning system.例文帳に追加

ハードマクロ内部のスキャンＦＦとＬＳＩのスキャンＦＦを同じスキャン方式とする必要をなくしＬＳＩの汎用性を上げる。 - 特許庁

Thus, the several sets of operation conditions are stored in a batch by one time scan so that the operation conditions can be changed in the middle of the next scan.例文帳に追加

１回のスキャンで、複数セットを一括して格納することにより、次のスキャンの途中で動作条件を変えることができる。 - 特許庁

A 2-port RAM 20e is provided with an area for storing the number of times of last time sequence scan at present and the number of times of last time data link scan at present.例文帳に追加

現在、前回シーケンススキャン回数、現在、前回データリンクスキャン回数を格納するエリアを２ポートＲＡＭ２０ｅに設ける。 - 特許庁

In the case, a scan number indicating that reproduction is performed by which number of scan out of three times scans is added to the synch-block.例文帳に追加

その場合、シンクブロックには、３回のスキャンのうちの何番目のスキャンによって再生されたかを示すスキャン番号が付加される。 - 特許庁

To provide an image processing system and an image processing method for correcting a scan image in order to faithfully express an already known scan object.例文帳に追加

既知のスキャン対象物を忠実に表すようにスキャン画像を補正できる画像処理システム及び画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To perform labeling in real time by one time of scan when applying labeling processing to binary image data inputted by a raster scan system.例文帳に追加

ラスタスキャン方式により入力される２値画像データにラベリング処理を行う際に、１回のスキャンでリアルタイムにラベル付けを行う。 - 特許庁

In a scan electrode drive circuit for the plasma display device, a drain of a first transistor is coupled to a scan electrode, and a driving part of the first transistor is coupled to a gate and a source of the first transistor.例文帳に追加

プラズマ表示装置の走査電極駆動回路において，走査電極に第１トランジスタのドレーンが連結され，第１トランジスタのゲート及びソースには第１トランジスタの駆動部が連結されている。 - 特許庁

The multiplexer 11 comprises a first input terminal P1 to which a BIST clock is applied in a BIST mode and a scan clock is applied in a scan mode, and a second terminal P2 to which a system clock is applied.例文帳に追加

マルチプレクサ１１は、ＢＩＳＴモード時にＢＩＳＴクロックが印加され、スキャンモード時にスキャンクロックが印加される第１の入力端子Ｐ１と、システムクロックが印加される第２の端子Ｐ２を備える。 - 特許庁

An image photographing method includes steps for performing a scan operation by half-pressing a shutter key, and fixing a focus and an iris.例文帳に追加

シャッター・キーの半押しによりスキャン動作を行ない、フォーカス及びアイリスを固定しておく。 - 特許庁