「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a colorimetric device, colorimetric method and a colorimetric program, with which the usage distinction of line scan and spot scan can be properly done.例文帳に追加

ラインスキャンとスポットスキャンの使い分けが的確に行われる測色装置、測色方法および測色プログラムの提供を課題とする。 - 特許庁

The variable length coding section 30b uniquely determines a scan sequence being one of ordinary zigzag scan, horizontal priority scan, and vertical priority sequence on the basis of an aspect scaling ratio of the image to scan the DCT coefficient in the scan sequence determined in the DCT block thereby applying the variable length encoding to the image.例文帳に追加

可変長符号化部３０ｂは、画像の縦横スケーリング比にもとづいて、通常ジグザグスキャン、水平優先スキャン、垂直優先スキャンのいずれかのスキャン順序を一意に決定し、ＤＣＴブロック内で決定されたスキャン順序でＤＣＴ係数をスキャンして可変長符号化する。 - 特許庁

A non-scan selecting voltage data are read out from a lookup table 14 based on the lighting rate and dimmer set data, and thereby, a non-scan selecting voltage VM in a non-scan selecting voltage setting means 21 is determined.例文帳に追加

前記点灯率およびディマー設定データに基づいてルックアップテーブル１４より非走査選択電位データが読み出され、これにより非走査選択電位設定手段２１における非走査選択電位ＶＭが決定される。 - 特許庁

The system has a scan head 500 containing an energy applicator, a mechanical arm 200 for carrying the weight of the scan head, and a therapy controller 250, such as, a computer for controlling the operation of the scan head 500.例文帳に追加

このシステムは、エネルギーアプリケーターを含む走査ヘッド５００、このスキャンヘッドの重量を保持するための機械的アーム２００、この走査ヘッド５００の作動を制御するためのコンピューターのような処置コントローラー２５０を有する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a circuit 102 to be tested having a scan chain composed of a flip-flop; and a mode control circuit 103 for switching from the normal operation of the scan chain to the shift mode of the scan test at arbitrary clock timing.例文帳に追加

フリップフロップにより構成されたスキャンチェーンを有するテスト対象回路１０２と、任意のクロックタイミングでスキャンチェーンのノーマル動作からスキャンテストのシフトモードに切り替えるモード制御回路１０３とを備えている。 - 特許庁

To provide a transforming device or the like, which transforms a test vector set so as to reduce differences of logical values occurring before and after scan capture about outputs of a scan cell contained in a full-scan sequence circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。 - 特許庁

The sample-hold circuit 102 configures a portion or all of scan paths, and outputs a signal held so as to verify the duty ratio from a scan output SCANOUT by a scan clock signal SCANCK.例文帳に追加

サンプルホールド回路１０２は、スキャンパスの一部又は全体を構成し、ホールドされているデューティ比検証のための信号をスキャンクロック信号ＳＣＡＮＣＫによってスキャン出力ＳＣＡＮＯＵＴから出力する。 - 特許庁

The plasma display apparatus comprises a plasma display panel including scan electrodes, and a scan driving part for supplying a setup pulse to the scan electrodes by resonance between the plasma display panel and a setup inductor.例文帳に追加

本発明によるプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極を含むプラズマディスプレイパネルと前記スキャン電極に前記プラズマディスプレイパネルとセットアップインダクタとの共振によりセットアップパルスを供給するスキャン駆動部を含む。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

During a period where such a recording scan as a discharge opening not used in previous recording scan is used in next recording scan is performed a specified number of times continuously, preliminary discharge is performed frequently as compared with other periods.例文帳に追加

前回の記録走査時に使用されなかった吐出口を次の記録走査時に使用する記録走査が所定回数連続する期間中は、それ以外の期間に比べて予備吐出を頻繁に行う。 - 特許庁

In the case where the radio connection request is received, the control part 30 receives, prior to a scan result based on the radio connection request, a designation of the radio terminal of a transmission destination from the user by utilizing a scan result of the pre-scan.例文帳に追加

制御部３０は、無線接続要求を受けた場合、無線接続要求に基づくスキャン結果に先立って、事前スキャンのスキャン結果を利用してユーザから送信先の無線端末の指定を受け付ける。 - 特許庁

The scan chain 102 latches the scan data in synchronization with a first clock signal supplied to an SC external input terminal 113, and the scan chain 107 latches the scan data in synchronization with a second clock signal outputted by the SC control circuit 402.例文帳に追加

スキャンチェーン１０２はＳＣ外部入力端子１１３に供給される第１クロック信号に同期して、またスキャンチェーン１０７はＳＣ制御回路４０２が出力する第２クロック信号に同期してそれぞれスキャンデータをラッチする。 - 特許庁

A data input device 22 is provided with a casing having a scan plane, a distance sensor 40 for outputting a distance signal by measuring a distance between the scan plane and the object of scan and an RGB sensor 44 provided in the casing for outputting a measuring signal by detecting a prescribed attribute (color) on the surface of the scan object facing the scan plane.例文帳に追加

データ入力装置２２は、スキャン面を有する筐体と、筐体内に設けられ、スキャン面とスキャンの対象物との距離を測定して距離信号を出力するための距離センサ４０と、筐体内に設けられ、スキャン対象物の、スキャン面に対向した面の所定の属性（色彩）を検知して測定信号を出力するためのＲＧＢセンサ４４とを含む。 - 特許庁

For example, an F/F (frip-frop) chain circuit 21 for a SCAN test to activate the critical path 12 in the combination circuit 11 is configured by using SCAN F/F (frip-frop for scan test) (1) 21a to SCAN F/F (5) 21e having MUXs 22a-22e.例文帳に追加

たとえば、組み合わせ回路１１のクリティカルパス１２を活性化させるためのＳＣＡＮテスト用Ｆ／Ｆチェーン回路２１を、ＭＵＸ２２ａ〜２２ｅ付きのＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（１）２１ａ〜ＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（５）２１ｅを用いて構成する。 - 特許庁

To provide a flip-flop circuit where the controllability and observability of a signal at the time of a scan test is improved by making a latch circuit a scan flip-flop circuit.例文帳に追加

ラッチ回路をスキャンフリップフロップ回路化することを可能にすることで、スキャンテスト時の信号の制御性および観測性を向上するフリップフロップ回路を得る。 - 特許庁

To provide a scan driver control circuit device which prevents a through current and has a high reliability.例文帳に追加

貫通電流を防止し、信頼性の高いスキャンドライバー制御回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional photographing device that improves a photographing condition by a scan head.例文帳に追加

３次元撮影装置において、スキャンヘッドによる撮影条件を良好とすること。 - 特許庁

To enable reduction of exhaustion of a battery of a smart key by changing a scan scheme.例文帳に追加

スキャン方式を変更し、スマートキーのバッテリー消耗を低減することができるようにする。 - 特許庁

To make efficient a burn-in test in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンを複数備える半導体集積回路におけるバーンインテストの効率化。 - 特許庁

Firstly, a first gray-scale line is inserted into scan line positions of a corresponding number of a frame.例文帳に追加

先ず、第１のグレースケール線がフレームの走査線の対応する数の位置に挿入される。 - 特許庁

To easily calculate a steering angle of a scan line to each transducer with a sequence.例文帳に追加

数列を用いて各変換素子に対するスキャンラインのステアリング角度を容易に算出する。 - 特許庁

To provide a lithographic apparatus and method for exposing a large-area substrate in a single scan.例文帳に追加

大面積の基板を１回の走査で露光するリソグラフィ装置と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a means for testing a desired scan chain of a plurality of devices.例文帳に追加

複数の装置における所望のスキャンチェーンをテストするための手段を提供する。 - 特許庁

In an electro-optic device, each selection period H of a scan line includes a precharge period TPRE and a writing period TWRT.例文帳に追加

走査線の各選択期間Ｈは、プリチャージ期間ＴPREと書込期間ＴWRTより成る。 - 特許庁

To provide a microscan system that obtains a 2D image by a one-dimensional scan method.例文帳に追加

一次元のスキャン方法によって２Ｄ画像を得る、マイクロ・スキャン・システムを提供する。 - 特許庁

A scan conversion part 1 coordinate transforms a radar video signal and writes in a frame memory 2.例文帳に追加

走査変換部１にてレーダービデオ信号の座標変換を行い、フレームメモリ２に書き込む。 - 特許庁

As for a vertical scan line for controlling a second sampling transistor 625, an existing vertical scan line which is the vertical scan line of a same kind or different kind of a different line, of a set which is other than a shared set to which a self line belongs, is allocated.例文帳に追加

第２のサンプリングトランジスタ６２５を制御するための垂直走査線としては、既存の垂直走査線であって、自行が属する共用化された組を除く他の組のそれぞれ異なる行の同種や異種の垂直走査線を割り当てる。 - 特許庁

To enhance the noise resistance in extraction of a rectangular image from a scan image.例文帳に追加

スキャン画像から矩形画像を抽出する際の雑音耐性を強化する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for reducing consumption power for module-type scan test.例文帳に追加

モジュール型スキャンテストの消費電力を減らす回路と方法を提供する。 - 特許庁

The key input device 1 comprises a key matrix part 2 and a key scan part 3.例文帳に追加

このキー入力装置１は、キーマトリクス部２と、キースキャン部３とを具備する。 - 特許庁

To provide a laser radar apparatus capable of controlling a scan period as necessary.例文帳に追加

スキャン周期を必要に応じて制御可能なレーザレーダ装置を提供する。 - 特許庁

The scan job form is produced by a user and downloaded into a scanner and the server respectively.例文帳に追加

スキャンジョブ形式は、ユーザにより形成され、スキャナとサーバへダウンロードされる。 - 特許庁

First measurement data is obtained by making a probe scan along a first scanning track.例文帳に追加

プローブを第１の走査軌跡に沿って走査させて第１の測定データを得る。 - 特許庁

The plasma display panel 110 comprises a scan electrode Y and a sustain electrode Z.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネル１１０は、スキャン電極Ｙとサステイン電極Ｚとを有する。 - 特許庁

The integrated circuit includes a test access port(TAP) and a DFT scan circuit.例文帳に追加

集積回路は試験アクセスポート（ＴＡＰ）及びＤＦＴスキャン回路を含む。 - 特許庁

To exactly evade a hold-error in a scan path route.例文帳に追加

スキャンパス経路のホールドエラーを的確に回避できるスキャンフリップフロップ回路装置を得る。 - 特許庁

A boundary scan cell is to serve as a carrier for taking out information of an internal connection node.例文帳に追加

バウンダリー・スキャン・セルを内部接続ノードの情報を取り出すキャリヤーとする。 - 特許庁

To improve the image quality of an image picked up by a television camera adopting a partial scan method.例文帳に追加

パーシャルスキャン方式のテレビジョンカメラにおける、撮像時の画質を改善する。 - 特許庁

A scan signal Scan 1 for controlling a stress voltage to be inputted or not to be inputted at a burn-in test time and a scan signal Scan 2 for controlling the stress voltage to be inputted or not to be inputted to an interface circuit part are inputted to the semiconductor devices 1 constituting each row on the test board 2.例文帳に追加

また、テストボード２上で各行を構成する半導体装置１には、バーンインテスト時におけるストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ１及びインタフェース回路部へのストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ２が入力される。 - 特許庁

A scan control part 14 controls the beam former 12 to form a scan plane of ultrasonic beam for each period of periodical motion confirmed based on the synchronizing signal and move the scan plane stepwise over a plurality of periods to form a plurality of scan planes in the three-dimensional space.例文帳に追加

走査制御部１４は、ビームフォーマ１２を制御することにより、同期信号に基づいて確認される周期運動の各周期ごとに超音波ビームの走査面を形成し、複数周期に亘って走査面を段階的に移動させて三次元空間内において複数の走査面を形成する。 - 特許庁

To enable to enlarge a swing width of a scan while making a displacement amount of a scanning lens small.例文帳に追加

走査レンズの変位量を小さく抑えながらスキャンの振り幅を大きくできるようにする。 - 特許庁

When a folder icon is dropped to a scanner icon, a scan application determines a reference folder.例文帳に追加

フォルダアイコンがスキャナアイコンにドロップされることによりスキャンアプリケーションは基準フォルダを決定する。 - 特許庁

The method for performing color Doppler mode in the ultrasonic wave diagnosis system includes a step of performing scanning a first scan line set which set over the all scan area to detect at least one scan line where moving objects pass through, a step of setting a second scan line set using the detected scan line, and a step of performing scanning the second scan line set to form the first color Doppler image.例文帳に追加

超音波診断システムにおけるカラードップラーモード遂行方法は、全スキャン領域に設定された第１のスキャンラインセットをスキャニングして、動く物体を通過する少なくとも一つのスキャンラインを検出する段階と、前記検出されたスキャンラインを用いて、第２のスキャンラインセットを設定する段階と、前記第２のスキャンラインセットをスキャニングして、第１のカラードップラー映像を形成する段階とを備える。 - 特許庁

When reading a sub scan density reference that is provided outside a document placing area, image data for a plurality of pixels are added in a main scan direction, results of the addition are further added for a plurality of lines and a result thereof is defined as read data of the sub scan density reference, such that the sub scan density reference can be read as a plane area.例文帳に追加

原稿載置領域外に設けられた副走査濃度基準を読み取る際、主走査方向に複数画素分の画像データを加算し、さらにそれを複数ライン分加算した結果を、副走査濃度基準の読み取りデータとすることで、副走査濃度基準を面領域として読み取ることができる。 - 特許庁

In this case, a scan line 7 of the detection wave is configured of a plurality of reference position scan lines 71, 72, 73 and 74 of the reference position of a vehicle 2 (position on axis of front wheel) and a front position scan line 70 of a position isolated ahead of the vehicle.例文帳に追加

その際、検知波の走査線７を、車両２の基準位置（前輪の軸線上の位置）の複数の基準位置走査線７１、７２、７３、７４と、車両前方へ離れた位置の前方位置走査線７０とから構成する。 - 特許庁