| 意味 | 例文 |
a Scanの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6389件
For the scan chain including the failure, a shift operation is performed by fixing a scan chain input terminal to L or H, and data are set in a flip-flop on the scan chain without being influenced by the failure.例文帳に追加
故障を含むスキャンチェーンに対し、スキャンチェーン入力端子をLまたはHに固定してシフト動作を行い、故障の影響を受けずにスキャンチェーン上のフリップフロップにデータを設定する。 - 特許庁
To provide a connection test means which is inexpensive and eliminates extra signal delay concerning the boundary scan circuit of a boundary scan adaptive device connected to a boundary scan non-adaptive device.例文帳に追加
バウンダリースキャン非対応デバイスに接続されたバウンダリースキャン対応デバイスのバウンダリースキャン回路に関し、安価かつ余分な信号遅延を生ずることのない接続試験手段の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide a flip-flop circuit for scan path test capable of suppressing operation current in the scan path test and reducing the time necessary for simulation using a scan path, and to provide a simulation method thereof.例文帳に追加
スキャンパステストでの動作電流を抑えると共に、スキャンパスを用いたシミュレーションに要する時間を短縮することのできるスキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法を提供すること。 - 特許庁
The scan flip-flop circuit SFF4 is inserted between scan flip-flop circuits SFF2, SFF3, and forms a flip flop for one portion of a shift register, in response to a scan enable signal SE.例文帳に追加
スキャンフリップフロップ回路SFF4は、スキャンフリップフロップ回路SFF2とSFF3との間に挿入され、スキャンイネーブル信号SEに応じて、シフトレジスタの一部のフリップフロップを形成するように構成されている。 - 特許庁
The controller also includes a scan layer interface driving a scan chain portion with the configurable test clock, and a control layer interface configured so as to access the control information for controlling the scan chain portion.例文帳に追加
コントローラはまた、構成可能なテストクロックでスキャンチェーン部分を駆動するスキャンレイヤインタフェースと、スキャンチェーン部分を制御するための制御情報にアクセスするように構成された制御レイヤインタフェースを含む。 - 特許庁
A scan converting part 611 in an encoding processing part 610 changes the arrangement of the input 8×8 pixels according to the information of a scan start position information storage part 614 and a scan route information storage part 615.例文帳に追加
符号化処理部610内のスキャン変換部611は、スキャン開始位置情報記憶部614、スキャンルート情報記憶部615の情報に従い、入力した8×8画素の並びを変更する。 - 特許庁
Besides, when a scan is instructed from an operator, a main control part 26 calculates a scan cross section from the coordinates of the distal end of the pointer 6 or from an instructed direction and requests imaging of the scan cross section to the MRI system 1.例文帳に追加
また、主制御部26は、術者よりスキャンの指示があると、ポインタ6の先端の座標や指示方向より、スキャン断面を算出し、スキャン断面の撮像をMRI装置1に要求する。 - 特許庁
A scan power control circuit 3003 is added to a scan test control circuit 3000 which is a gathering of gated clocks, allowing the operation of the gated clock cell equipped with the scan power control terminal to be controlled.例文帳に追加
またゲーテッドクロックの集合であるスキャンテスト制御回路3000にスキャン電力制御回路3003を追加し、スキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルの動作を制御可能にする。 - 特許庁
To provide a radar which can adaptable select one of a first inter-scan process (correlation processing) and a second inter-scan process (hold processing).例文帳に追加
第1のスキャン間処理(相関処理)と第2のスキャン間処理(保持処理)との一方を適応的に選択することができるレーダ装置の提供。 - 特許庁
Imaging data is acquired from a single rotation of the x-ray source while the single rotation is divided into a first half-scan and a second half-scan.例文帳に追加
撮像データはX線源の単一の回転から取得され、単一の回転は第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンに分割される。 - 特許庁
A first latch carries and outputs input data according to a clock, and carries and outputs input scan data according to a first scan clock.例文帳に追加
第1のラッチは、クロックに従って入力データを保持して出力し、第1のスキャンクロックに従って入力スキャンデータを保持して出力する。 - 特許庁
To provide a lithographic device and a device manufacturing method capable of coping with the influence of intra-field effects such as a scan-up/scan-down (SUSD) effect.例文帳に追加
スキャンアップ−スキャンダウン(SUSD)効果などのフィールド内効果の影響に対処し得るリソグラフィ装置およびデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁
The storage part 52 also stores a target heart rate or a target breath-holding passage time at a scan start timing by the scan mechanism 10.例文帳に追加
また、記憶部52は、スキャン機構10によるスキャンの開始タイミングにおける目標心拍数又は目標息止め経過時間を記憶する。 - 特許庁
A scan side driving means 300 generates a scan pulse based on a timing signal 101 for liquid crystal panel display, and gives it to each scanning electrode.例文帳に追加
走査側駆動手段300は、液晶パネル表示用タイミング信号101に基づいて走査パルスを生成し、各走査電極に与える。 - 特許庁
A scan flip-flop circuit OSFF for observation is incorporated in a shift register constituted by a plurality of scan flip-flop circuits as mentioned above.例文帳に追加
また、観測用スキャンフリップフロップ回路OSFFは、前述したような複数のスキャンフリップフロップ回路が構成するシフトレジスタに組み込まれる。 - 特許庁
To provide a scan path circuit design method or the like which allows a scan path test to be performed for a logic circuit designed by gated clock design.例文帳に追加
ゲーティッドクロック設計により設計された論理回路に対してスキャンパステストを実行可能なスキャンパステスト回路設計方法等を提供する。 - 特許庁
A selection voltage resulting from correcting waveform dulness due to electric characteristics of a row-direction wiring (scan lines) by a selection signal correction circuit is applied to scan lines.例文帳に追加
行方向配線(スキャン線)の電気特性による波形鈍りを選択信号補正回路で補正した選択電圧をスキャン線に印加する。 - 特許庁
In the ongoing direction of a light beam LB reflected by the polygon mirror 28, a 1st scan lens 32 and a 2nd scan lens 33 are located.例文帳に追加
ポリゴンミラー28により反射された光ビームLBの進行方向には、第1走査レンズ32、第2、走査レンズ33が配置されている。 - 特許庁
This method performs a scan test of an integrated circuit 1 provided with combinational circuits 10, 11, 12 and a flip-flop constituting a scan chain 20.例文帳に追加
組み合わせ回路10、11、12と、スキャンチェーン20を構成するフリップフロップと、を備える集積回路1のスキャンテストを行う方法である。 - 特許庁
A small display area 62A for displaying the number of scan and ten keys 12 for inputting the number of scan are connected by a line through a graphic 50A.例文帳に追加
スキャン枚数を表示する小表示エリア62Aと、スキャン枚数を入力するためのテンキー12とを、図形50Aにより線で結ぶ。 - 特許庁
A scan execution part 31c controls respective parts to photograph the phantom under a scan condition suited to the size of the phantom which has received a positioning instruction.例文帳に追加
スキャン実行部31cは、位置合わせの指示があったファントムのサイズに合うスキャン条件で、ファントムを撮影するように各部を制御する。 - 特許庁
Of SCAN test circuits implementing scan test in semiconductor integrated circuits, the SCAN test circuit is characterized by generating scan cell enable signal of a plurality of timings from a scan enable external input signal and controlling formation of a launch clock and a capture clock for detecting delay failure from real operation speed based on the scan cell enable signal of the plurality of timings.例文帳に追加
半導体集積回路におけるスキャンテストを行うSCANテスト回路であって、スキャンイネーブル外部入力信号から複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号を生成し、上記複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号により、実動作速度による遅延故障検出のためのラウンチクロック及びキャプチャクロックの生成が制御されることを特徴とするSCANテスト回路を開示する。 - 特許庁
A scan test is executed in a plurality of steps by changing combination between a partial scan chain set as PRS and a partial scan chain set as MISR, and thereby the test can be performed without installing a test response compressor separately from the scan chain, to thereby reduce the area overhead.例文帳に追加
PRSとして設定する部分スキャンチェーンとMISRとして設定する部分スキャンチェーンの組合せを変えて、複数のステップでスキャンテストを実行することによって、スキャンチェーンとは別にテスト応答圧縮器を設けることなくテストを行うことができるので、面積オーバーヘッドが削減される。 - 特許庁
A data output circuit is provided in a boundary scan cell for internal-connecting the fellow chips, out of the boundary scan cells in the midway positioned in an output terminal side of the boundary scan path in its one side, and a data input circuit is provided in the boundary scan cell internal-connected to the boundary scan cell provided with the data output circuit.例文帳に追加
また、一方のバウンダリスキャンパスの出力端側に位置する途中のバウンダリスキャンセルのうちで、チップどうしを内部接続するバウンダリスキャンセルにデータ出力回路を設けるとともに、このデータ出力回路を設けたバウンダリスキャンセルと内部接続したバウンダリスキャンセルにデータ入力回路を設けた。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING AN IMAGE FORMING APPARATUS WITH A SCAN SERVICE例文帳に追加
画像形成装置にスキャン・サービスを提供する方法およびシステム - 特許庁
Thus, a point, which does not cross a Y-half scan line in horizontal scan direction, is canceled and continuous lines can be plotted.例文帳に追加
この構成により、Y‐ハーフスキャンラインと水平スキャン方向に交わらない点が解消され、連続したラインの描画が可能になる。 - 特許庁
The first scan head is disposed with a distance of a predetermined pitch length along with the paper path from the second scan head.例文帳に追加
第1の走査ヘッドは、第2の走査ヘッドから用紙経路に沿って少なくとも所定のピッチ長さだけ間隔をあけて配置されている。 - 特許庁
To provide a scan system having reliability by surely preventing a third person from browsing scan data.例文帳に追加
第三者のスキャンデータの閲覧を確実に回避し,信頼性が高いスキャンシステム,画像読取装置および情報処理装置を提供すること。 - 特許庁
To obtain a helical scan type magnetic recording/reproducing apparatus having high recording density.例文帳に追加
高記録密度のヘリカルスキャンタイプの磁気記録再生装置を得る。 - 特許庁
To increase portions to be tested by a memory BIST and scan testing.例文帳に追加
メモリBISTとスキャンテストとによりテスト可能な部分を増やす。 - 特許庁
The operation part respectively calculates values of parameters having upper limits to a plurality of patterns in the scan order for a plurality of scan actions.例文帳に追加
演算部は、複数のスキャン動作のスキャン順序の複数のパターンに対して、上限を有するパラメータの値をそれぞれ算出する。 - 特許庁
When the operational mode is a normal scan, color conversion is performed for the image reading result, based on a LookUp Table (LUT) for use in the normal scan.例文帳に追加
動作モードが通常スキャンである場合は、画像読み取り結果に対して、通常スキャン用LUTに基づき色変換を行う。 - 特許庁
The antenna for tag communication used in the FRID reader/writer 2 is a beam scan antenna 40 that can scan beams of a radio wave to be transmitted.例文帳に追加
RFIDリーダ/ライタ2に用いられるタグ通信用アンテナは、送信する電波のビームをスキャンできるビームスキャンアンテナ40である。 - 特許庁
To find a true rotation center in a short calculation time using transmitted data from an analyte obtained by half scan or helical scan.例文帳に追加
ハーフスキャンやヘリカルスキャンで得られる被検体からの透過データを用いて、短い計算時間で真の回転中心を求めることにある。 - 特許庁
Also, the data are registered as a scan file when performing filing as well.例文帳に追加
またファイル化の場合もこのデータをスキャンファイルとして登録する。 - 特許庁
In three-dimension instrumentation, a spiral scan, etc. are also applicable.例文帳に追加
三次元計測の場合にはスパイラルスキャンなども適用可能である。 - 特許庁
To provide the configuration of a scan path having high utilization efficiency of area.例文帳に追加
面積の利用効率の高いスキャンパスの構成を提供する。 - 特許庁
An X scanner and a Y scanner 3 scan each photoelectric conversion cell.例文帳に追加
Xスキャナ2、Yスキャナ3は各光電変換セルを走査する。 - 特許庁
To provide a scan exposure apparatus and a scan exposure method for improving exposure accuracy by correcting displacement in the θ-direction.例文帳に追加
θ方向のズレ量を補正して、露光精度を向上することができるスキャン露光装置およびスキャン露光方法を提供する。 - 特許庁
To prevent reset from occurring during burn-in tests on flip-flop circuits with a reset function/scan function constituting a scan chain.例文帳に追加
スキャンチェーンを構成するリセット機能付き・スキャン機能付きフリップフロップ回路のバーンインテスト中において、リセットを生じせしめないようにする。 - 特許庁
The browser displays the received scan setting page on a control panel.例文帳に追加
ブラウザは受信したスキャン設定ページをコントロールパネルに表示する。 - 特許庁
To photograph a tomographic image of high time resolution by helical scan.例文帳に追加
ヘリカルスキャンにより時間分解能の良い断層像を撮影する。 - 特許庁
To prevent scan data from being uploaded to a wrong upload destination.例文帳に追加
スキャンデータが間違ったアップロード先にアップロードされることを防止する。 - 特許庁
To generate a bar code image improved in scan reading accuracy.例文帳に追加
スキャン読み取り精度が向上されたバーコード画像を生成すること。 - 特許庁
To provide a scanner that can scan image with high precision.例文帳に追加
高精度の画像走査を行うことができるスキャナを提供する。 - 特許庁
The object circuit includes at least one scan chain which forms a shift register in a scan path test and serially inputting and outputting test data.例文帳に追加
対象回路は、スキャンパステスト時にシフトレジスタを形成してテストデータをシリアルに入出力する少なくとも1つのスキャンチェーンを備える。 - 特許庁
To accelerate paint-out processing on a raster scan type display device.例文帳に追加
ラスタースキャン型の表示装置の塗りつぶし処理を高速化する。 - 特許庁
To greatly accelerate a speed to scan-convert three-dimensional ultrasound data of a subject and to scan the subject in real time.例文帳に追加
本発明は対象体の3次元超音波データをスキャン変換する速度を大きく増加させ、リアルタイムで対象体をスキャンする。 - 特許庁
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