「defect specimen」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide the defect measuring device of a specimen capable of contriving the improvement of the attaching working of the specimen or a vibrator and the improvement of the precision of defect measurement without damaging the specimen.例文帳に追加

試料に損傷を与えることなく、試料又は振動子の取付け作業の向上及び欠陥測定の精度の向上が図れる試料の欠陥測定装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT LIMIT SPECIMEN TOOL FOR VISUAL INSPECTION OF EYEGLASS LENS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法 - 特許庁

To detect highly accurately only an essential defect existing in a specimen without detecting wrongly noise superimposed on specimen image data as a defect.例文帳に追加

被検体画像データに重畳されたノイズを欠陥として誤検出することなく、被検体に存在する本来の欠陥のみを、高精度に検出する。 - 特許庁

The image of the defect moves in the LACBED pattern if the specimen is slightly shifted. 例文帳に追加

LACBED図形の中の欠陥の像は、もし試料が僅かにずらされると動く。 - 科学技術論文動詞集

If the specimen is slightly shifted, the image of the defect moves inside the LACBED pattern. 例文帳に追加

もし、試料が僅かにずらされると、欠陥像はLACBED図形の中で移動する。 - 科学技術論文動詞集

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time.例文帳に追加

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

A detecting mechanism (108) includes a means for detecting a peel defect of a test specimen (106).例文帳に追加

探知機構（１０８）には、試験片（１０６）の剥離不良を検出する手段を含む。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus for automatically adjusting a focus when a specimen is imaged, and determining whether a defect exists from obtained images.例文帳に追加

被検体を撮影する際に自動的に焦点を合せ、得られた画像から欠陥の有無を判断する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加

一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS OR CONTINUOUS, MULTIPLE, SLANT-VIEWED SPECIMEN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

同時のまたは連続的な多重の斜視的な試料欠陥検査のためのシステムおよび方法 - 特許庁

To easily manufacture a specimen with a defect for a nondestructive inspection, which has a crack-shape internal defect, without a special bonding device required.例文帳に追加

特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus by which a defect generated on a sheetlike specimen at a production stage can be time-series-confirmed easily.例文帳に追加

製造段階におけるシート状の被検査物上に発生した欠陥の時系列確認を容易に行うことができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

A surface echo reflected on the specimen 2 to be returned is removed thereby, and only a defect echo reflected by the defect to be returned is contained in the difference waveform data, when the defect exists in the vicinity of the surface of the specimen 2.例文帳に追加

これにより、差分波形データには、被検査体２の表面近傍に欠陥が存在する場合、被検査体２の表面で反射して戻ってきた表面エコーが取り除かれて、当該欠陥で反射して戻ってきた欠陥エコーだけが含まれることになる。 - 特許庁

To make a defect existing in the vicinity of a surface of a specimen detected.例文帳に追加

被検査体の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

Even with respect to a specimen wherein the reading defect of the specimen ID by the bar code reading part 22b is produced, the specimen ID is read again in the measuring units 51-53 to perform the treatment of the specimen in the measuring units 51-53 according to the read result.例文帳に追加

バーコード読取部２２ｂによる検体ＩＤの読取不良が発生した検体についても、測定ユニット５１〜５３内において再度検体ＩＤが読み取られ、その読み取り結果に応じて測定ユニット５１〜５３において検体の処理が行われる。 - 特許庁

This method of detecting the micro surface roughness and defect detects the micro surface roughness and defect having 0.5-6 μm of roughness in the magnetic metal specimen, and detects the surface defect by detecting a signal caused by a strain in a defective part of the specimen.例文帳に追加

磁性金属被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、前記被検体の欠陥部の歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

The optimum photoreceiving system is selected in response to the form of the inspected specimen to detect the defect precisely.例文帳に追加

被検査体の品種に応じて最適な受光方式が選択可能になり、欠陥を精度よく検出することができる。 - 特許庁

The defect existing in the vicinity of the surface of the specimen 2 is detected thereby based on the difference wave form data.例文帳に追加

このため、かかる差分波形データに基づいて、被検査体２の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide a device allowing technical personnel having gone through average training and having average ability to prepare a defect-free specimen by remarkably enlarging specimen preparing speed to improve the quality of an instantaneous immobilized structure specimen to be tested, improving the reliability and reproducibility of specimen preparation, and facilitating operational technical process during specimen preparation.例文帳に追加

試料調製速度を著しく大きくして被検対象の瞬間構造固定試料の質を改善することを可能にし、試料調製の確実性と再現性を改善し、かつ試料調製の際の操作技術的経過を容易にして平均的な訓練を受けかつ平均的な才能を有する技術員でも欠陥のない試料を調製する装置を提供する。 - 特許庁

With a reception waveform obtained in the defect section region of a specimen as a measurement raw signal and with a reception waveform obtained in the sound section region of a specimen as a reference signal, a differential signal waveform is taken out by performing the substraction processing of the measurement raw signal and the reference signal, thus performing the defect flaw detection or material characteristic evaluation of the specimen.例文帳に追加

被検体の欠陥部領域で得られる受信波形を計測生信号とし、被検体の健全部領域で得られる受信波形を参照信号として、前記計測生信号と前記参照信号を減算処理することで差分信号波形を取り出し、被検体の欠陥探傷あるいは材料特性評価を行う。 - 特許庁

To provide a method and a device for penetrant inspection that make a flaw detecting liquid penetrate into a fine defect in the surface layer of a specimen to detect a surface defect easily, in penetrant inspection.例文帳に追加

浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥中にも探傷液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする浸透探傷検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux inspecting method for a ferromagnetic metal specimen capable of detecting even a micro defect, with high detection precision.例文帳に追加

微小な欠陥であっても検出可能であり、検出精度の高い強磁性体金属被検体の漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

The cycle of the thermal wave motion is changed, the measurement is repeated, and the internal defect in the specimen can be quantitatively detected.例文帳に追加

前記熱波動の周期を変更して、計測を繰り返すことにより、被検査体における内部欠陥を定量的に検出することができる。 - 特許庁

A conduct tube (104) includes a means for freely dropping the load object onto the test specimen (106) until the peel defect occurs from the height.例文帳に追加

導管（１０４）には、荷重体を上記高さから試験片（１０６）に、剥離不良が発生するまで自由落下可能にする手段を含む。 - 特許庁

A defect determining part 17c in a defect detecting part 17 divides a development image into a front area E1 and a rear area E2 on the basis of the length of the specimen, and the number of foreign bodies in the respective areas E1, E2 is detected.例文帳に追加

欠品検出部１７の不良判断部１７ｃは、展開画像を被検査物の長さに基づき前方エリアＥ１と後方エリアＥ２に２分割し、各エリアＥ１，Ｅ２での異物の個数を検出する。 - 特許庁

A non-destructive inspection apparatus is provided with a defect scanning means 20 for scanning the internal defects of the specimen 3 and a defect width changing means 10 for applying a predetermined action to the specimen 3, and forcibly changing the width of the closed internal defects to be within predetermined dimensions, and scans the defects.例文帳に追加

被検査体３の内部欠陥を探傷する欠陥探傷手段２０と、前記被検査体３に所定の作用を施して、前記内部欠陥のうち所定寸法以下の幅に閉ざされた内部欠陥の幅を強制的に変化させる欠陥幅変化手段１０とを備えた非破壊検査装置で欠陥を探傷する。 - 特許庁

To provide an omnidirectional flaw detection probe capable of executing flaw detection inspection of a defect in a wide area of a specimen, in a short time, by the single probe.例文帳に追加

本発明の目的は、単一のプローブで、被検体の広い領域における欠陥の探傷検査を短時間で実施することができる探傷プローブを提供することである。 - 特許庁

A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

To provide a test specimen for skill evaluation of substitutional end tab working procedure, which can economically and efficiently examine a portion where weld defect tends to be caused or a portion where strength is required.例文帳に追加

溶接の欠陥が生じやすい部分、強度が要求される部分を、安価かつ効率的に検査することができる、代替エンドタブ工法における技能評価用試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a voltage impressing type economical pinhole inspection machine for inspecting a defect of a specimen of a resin-made sealed packing container sealed with fluid contents including gas.例文帳に追加

気体を含有する流動性内容物を密封した樹脂製密封包装容器の被検体の欠陥を検査する、電圧印加方式の経済的なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁

A defect evaluation part 20 performs arithmetic processing of periodic magnetic field information extracted by the periodic information extraction means 15 and evaluates defects of the specimen such as scars and cracks.例文帳に追加

欠陥評価部２０は、周期情報抽出手段１５によって抽出された周期的な磁場情報を演算処理し、被検体のきず及びや割れなどの欠陥を評価する。 - 特許庁

The fisheye breakdown is generated in a metallic specimen by a fatigue test, and the type of defect that exists in risk volume and extremely causes fatigue breakdown is specified for measuring the dimensions.例文帳に追加

疲労試験により金属製試験片にフィッシュアイ破壊を生じさせ、危険体積中に存在する最も疲労破壊の原因となった欠陥の種類を特定し、その寸法を測定する。 - 特許庁

To provide an X-ray stereo fluoroscopic apparatus capable of observing an internal structure or detecting an internal defect or the like regardless of the size or the shape of a specimen by using an X-ray, and miniaturizing the device with a simple structure rotating the specimen, and having excellent versatility and handleability.例文帳に追加

Ｘ線を用いることにより被検体の寸法や形状によらず内部構造の観察や内部欠陥等を検出することができ、被検体を回転させる簡素な構造で装置を小型化することができる汎用性、取扱い性に優れるＸ線ステレオ透視装置の提供。 - 特許庁

To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results.例文帳に追加

所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a quality inspection method and device for a micro surface defect in a magnetic metal zone, capable of detecting automatically such the micro surface defect as usually difficult to be visually confirmed and detectable by grinding inspection using a grinding stone, in an objective specimen having a coarse surface roughness.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認が困難で砥石がけ検査により検出しているような微小表面欠陥を自動検出することができる磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and method, capable of suppressing an effect of light generated by reflection of a light source, when inspecting a surface defect of a specimen by which light is regularly reflected.例文帳に追加

光が正反射する被検体の表面欠陥を検査する際に、光源が映り込んで発生する光の影響を抑制できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To detect an uneven defect on an inspected specimen having a surface (smooth surface) having high reflectance and low diffusibility such as an ink-jet paper sheet, or an inspected specimen having a surface (rough surface) having low reflectance and high diffusibility such as a photosensitive material.例文帳に追加

インクジェット用紙のような反射率が高いが拡散性が低い表面（表面ツルツル）を有する検査物、あるいは感光材料のような反射率が低いが拡散性が高い表面（表面ザラザラ）を有する検査物上にある凹凸状欠陥検出を可能にする表面検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transparent imaging serving system which can simply and inexpensively obtain a transparent image of substantially three-dimensional position and size of a target such as a defect or the like in a specimen to be detected by utilizing DR.例文帳に追加

被検体内部における欠陥等の目標物の概略的な３次元位置と大きさに関する透過画像をＤＲの利用により簡便で安価に得ることのできる透過画像提供システムの提供。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and a surface inspection device capable of detecting accurately the position of a defect on a surface to be inspected, without increasing the time required for inspecting the surface to be detected of a specimen.例文帳に追加

被検体の被検面を検査することに要する時間の増大を招くことなく、被検面における欠陥の位置を正確に検知することができる表面検査方法および表面検査装置を提供する。 - 特許庁

This inspection device is provided with an imaging device 11 for imaging the plurality of transmission surfaces, and an image processing part 16 for processing an image imaged by the imaging device to detect a foreign matter or a defect, in order to inspect a foreign matter or a defect on the plurality of transmission surfaces in a specimen including the plurality of laminated transmission surfaces.例文帳に追加

積層された複数の透過部材を含む被検物における複数の透過面の異物または欠陥に関して検査するために、前記複数の透過面を撮像する撮像装置１１と、前記撮像装置にて撮像した画像を処理して前記異物または欠陥を検出する画像処理部１６とを設ける。 - 特許庁

To provide a practical method and detector for detecting a micro surface roughness and defect, capable of detecting surely such the micro surface roughness and defect having about several μm of roughness difficult generally to be visually confirmed, and difficult to be automatically detected, as detected by grinding using a grinding stone, in an objective specimen with a coarse surface roughness.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度の微小凹凸欠陥を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.例文帳に追加

加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁

Light from the light source 11a is emitted to the phosphor of a specimen 10 such as an image displaying substrate, fluorescent light generated in the phosphor is received by a CCD sensor 15, and displayed on a display part 17 to inspect the applied condition such as a defect of the phosphor.例文帳に追加

該光源１１ａから光を、画像表示用基板等の被検査物１０の蛍光体に照射し、該蛍光体から発生する蛍光をＣＣＤセンサ１５で受光して表示部１７に表示し蛍光体の欠損等の塗布状況を検査する。 - 特許庁

To enable quick determination of the angle of refraction or the propagation velocity of an ultrasonic wave in the incidence of the ultrasonic wave, even if a specimen is acoustically anisotropic in an ultrasonic flaw detector and moreover, holding of the angle of refraction within a fixed range as required by eventually specifying the position of a defect in a short time.例文帳に追加

超音波探傷装置において、音響異方性のある被検体であっても超音波が入射するときの屈折角あるいは超音波の伝播速度を迅速に求めることを可能とし、その結果、短時間で欠陥の位置を特定でき、さらに、音響異方性のある被検体についても、必要に応じて屈折角を一定の範囲に抑えることを可能にする。 - 特許庁