「diffraction field」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To correct magnetic field distortions in an electron backscatter diffraction (EBSD) pattern.例文帳に追加

後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正すること。 - 特許庁

PHOTORESPONSIVE COLLOID CRYSTAL AND DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT AS WELL AS ELECTRIC FIELD OPTICAL CONTROL ELEMENT例文帳に追加

光応答性コロイド結晶と回折光素子並びに電場光制御素子 - 特許庁

In crystalline specimens, the use of the primary beam (bright-field) or a Bragg-reflected beam (dark-field) gives rise to diffraction contrast. 例文帳に追加

結晶性試料では、一次ビーム(明視野)またはブラッグ反射ビーム(暗視野)の利用が、回折コントラストをもたらす。 - 科学技術論文動詞集

To provide a near-field waveguide of very small size exceeding diffraction limits of light.例文帳に追加

光の回折限界を超えた微小サイズの近接場導波路を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element having a wide angle of viewing field and causing no diffraction phenomenon.例文帳に追加

視野角が広く、かつ、回折現象の生じない液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

When a diffraction spot image appears on the electron beam diffraction image, it is determined that it is a periodic structure to find an intended visual field.例文帳に追加

電子線回折象に、回折スポット像が出現したら、周期構造であると判定し、目的とする視野を見つけ出したことになる。 - 特許庁

A structure diffraction wave calculation part calculates received electric field intensity on the condition that there is the structure.例文帳に追加

構造物回折波計算部で、構造物がある場合の受信電界強度を算出する。 - 特許庁

A method is provided for correcting magnetic field distortions in the electron backscatter diffraction (EBSD) pattern.例文帳に追加

後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。 - 特許庁

When the electric field is applied to the diffraction grating 74 by the electrodes 76a and 76b, the refractivity of the part to which the electric field is applied is changed.例文帳に追加

電極７６ａ、７６ｂによって回折格子７４に電界を印加すると、電界が印加された部分の屈折率が変化する。 - 特許庁

By this, the proximity field light can be efficiently used to provide the highly dense recording exceeding the diffraction limit.例文帳に追加

これにより、近接場光を効率よく用いて回折限界を越えた高密度記録を可能とする。 - 特許庁

To adjust the position of a diffraction grating to satisfy required levels of visual field characteristics in each wavelength.例文帳に追加

各波長における視野特性の要求水準が満たされるように、回折格子の位置を調整する。 - 特許庁

A railway diffraction wave calculation part calculates received electric field intensity on the condition that the structure and the train exist.例文帳に追加

鉄道回折波計算部で、構造物と列車がある場合の受信電界強度を算出する。 - 特許庁

When excitation light 50 is emitted on a diffraction grating comprising electrodes 28a and 28b, it resonates with plasmons of a metal surface of the diffraction grating, and causes electric field intensification.例文帳に追加

電極２８ａ，２８ｂからなる回折格子に励起光５０を入射させると、回折格子の金属表面のプラズモンと共鳴して電場増強を起こす。 - 特許庁

In the diffraction grating layer 30, a diffraction grating formation region 31, in which an uneven diffraction grating 33 is formed, and a diffraction grating non-formation region 32, in which the diffraction grating 33 is not formed, are formed by turns periodically in a range affected by an evanescent field of the stimulated emission light, which is subjected to wave guide in the active layer 40.例文帳に追加

そして、回折格子層３０において、活性層４０を導波される誘導放出光のエバネセント場の及ぶ範囲内に、凹凸の回折格子３３が形成された回折格子形成領域３１と、前記回折格子３３が形成されていない回折格子非形成領域３２とが、交互に周期的に形成されている。 - 特許庁

To provide an optical recording medium providing highly dense recording exceeding a diffraction limit by efficiently using proximity field light.例文帳に追加

近接場光を効率よく用いて回折限界を越えた高密度記録が可能な光記録媒体を提供する。 - 特許庁

The near-field light probe 1 having resolution exceeding a light diffraction limit is realized by utilizing the component.例文帳に追加

この成分を利用することによって、光の回折限界を超える分解能をもつ近視野光プローブを実現した。 - 特許庁

To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.例文帳に追加

常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A sample stage is moved at electron beam diffraction mode in a unity of a value obtained by dividing hole diameter of a visual field stop by an image magnifying power at the hole of the visual field stop.例文帳に追加

電子線回折モードにて、視野絞りの孔径を視野絞りの孔における像の拡大率によって除算した値を単位として、試料ステージを移動させる。 - 特許庁

To properly position an area of interest of a test object within a narrow field-of-view range restricted by a size of a diffraction grating when capturing a phase-contrast image by using the diffraction grating.例文帳に追加

回折格子を用いて位相コントラスト画像を撮影する際に、回折格子のサイズにより制限される狭い撮影視野範囲に被検体の関心領域を適切に収められるようにする。 - 特許庁

To provide a near field rotatory polarization measuring instrument having a spatial resolution of light diffraction limit or more.例文帳に追加

本発明の目的は光の回折限界以上の空間分解能を有する近接場旋光測定装置を提供することにある。 - 特許庁

In the interferometer, a diffraction grating 21, a condenser lens 22, a transparent plate 23, a field lens 24, and an imaging element 25 are arranged in this order.例文帳に追加

干渉計は、回折格子２１、コンデンサーレンズ２２、透明板２３、フィールドレンズ２４および撮像素子２５をこの順に配置させている。 - 特許庁

The diffraction lens structure has an orbicular zone structure formed in a concentric circle centered on an optical axis Ax1, the diffraction power on the axis is zero, the diffraction power off axis is positive, thus field curvature in a main scanning region is corrected while keeping the sensitivity to shape error low.例文帳に追加

回折レンズ構造は、光軸Ａｘ1を中心とした同心円状に形成された輪帯構造を有し、軸上の回折パワーがゼロであり、軸外の回折パワーが正であり、これにより形状誤差感度を低く保ちつつ、主走査方向の像面湾曲を補正することができる。 - 特許庁

To obtain such images that can make selection of each contrast or color a diffraction contrast part to clearly display it, by distinguishing diffraction contrast and Z contrast from dark-field signal images formed by dark-field signal particles transmitting inside a sample in dispersion, in a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置において、試料内を散乱して透過した暗視野信号粒子によって形成される暗視野信号像から回折コントラストおよびＺコントラストを識別し、各コントラストの取捨選択や回折コントラスト部に色をつけ回折コントラスト部を明示できるような像を取得する。 - 特許庁

The optical circuit element 18 is provided with the optical waveguide 72, a diffraction grating 74 optically connected with the optical waveguide 74, and electrodes 76a and 76b provided so that an electric field can be applied to the diffraction grating 74.例文帳に追加

光回路素子１８は、光導波路７２、光導波路２７に光学的に結合された回折格子７４、および回折格子７４に電界を印加するように設けられた電極７６ａ、７６ｂを含む。 - 特許庁

To provide a zinc oxide near-field optical disk exclusive for reproduction which exactly reads a pit spot smaller than a diffraction limit and achieves a purpose of near-field optical recording with super-high density.例文帳に追加

精確に、回折限度より小さいピットスポットを読出して、超高密度で近接場光学記録の目的を達成することができる再生専用形酸化亜鉛型近接場光ディスクを提供する。 - 特許庁

The light-emitting element part 100 includes a light emission layer 40, an anode 30 and a cathode 50 applying an electric field on the light emitting layer 40, and a diffraction grating 12.例文帳に追加

発光素子部１００は、発光層４０と、発光層４０に電界を印加するための陽極３０および陰極５０と、回折格子１２とを含む。 - 特許庁

On a suspension 13, a semiconductor laser 21, a waveguide 22, and a diffraction element 24 functioning as a near-field light generation element and a slider are provided.例文帳に追加

サスペンション１３上に、半導体レーザ２１、導波路２２、近接場光発生素子及びスライダとして機能する回折素子２４が設けられている。 - 特許庁

In the diffraction pattern, strong precipitate reflections are visible and this accounts for the dark precipitate contrast in the bright-field image. 例文帳に追加

その回折図形には析出物による強い反射が見られ、そして、これが明視野像での暗い析出物によるコントラストを説明する(コントラストの原因である)。 - 科学技術論文動詞集

A reference electric field intensity calculation unit 10 calculates a reference reception height hb at a reception point where a first Fresnel zone is not shielded by the ground, and calculates diffraction loss Lf, ridge loss Lr, and phase loss Lθ by masking diffraction loss, ridge loss, and diffraction loss within a city attenuation region with respect to the reception point.例文帳に追加

基準電界強度計算部１０は、第１フレネルゾーンが大地により遮蔽されない受信点の基準受信高ｈｂを計算し、その受信点について、都市減衰領域内の回折損失、リッジ損失及び回折損失をマスクして回折損失Ｌｆ、リッジ損失Ｌｒ及び位相損失Ｌθを計算する。 - 特許庁

Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image.例文帳に追加

また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

A variable field stop 81 is narrowed down, an image of a spatial filter surface is acquired by an observation camera 88 and classified into a plurality of groups depending on a luminance level of a bright spot of diffraction light.例文帳に追加

可変視野絞り８１を絞り、観察カメラ８８を用いて空間フィルタ面の画像を取得し、回折光の輝点の輝度レベルによって複数のグループに分類する。 - 特許庁

To provide a technique for forming positron beams for observing reflected fast positron diffraction on a crystal surface, belonging to a technical field related to the development of a surface evaluation method.例文帳に追加

結晶表面での反射高速陽電子回折を観測するための陽電子ビームの形成技術であり、表面評価法の開発に関わる技術分野に属する。 - 特許庁

The luminous element part 100 comprises a luminous layer 40, a positive electrode 30 and a negative electrode 50 for applying an electric field to the luminous layer 40, diffraction gratings 12 and prisms 11.例文帳に追加

発光素子部１００は、発光層４０と、発光層４０に電界を印加するための陽極３０および陰極５０と、回折格子１２と、プリズム１１とを含む。 - 特許庁

When calculating the excitation amplitude, the electromagnetic amplitude of the convergence rays of light is corrected based on the projection of electric field components vertical to the light beam of the convergence rays of light on a wave source face, and the calculation formula of Fraunhofer diffraction is calculated, based on the corrected electric field amplitude.例文帳に追加

励振振幅の算出にあたって、集束光の光線に垂直な電界成分の波源面への投射に基づき集束光の電界振幅を補正し、補正した電界振幅に基づきフラウンホーファー回折の算出式を計算する。 - 特許庁

Based on the information from the objective-lens control means 21, a control device 22 supplies a potential control means 18 with a potential signal Va for positioning a diffraction image field in the position of a diffraction diaphragm 9, irrespective of changes in the image magnification by the control of the objective-lens control means 21.例文帳に追加

また、制御装置２２は対物レンズ制御手段２１からの情報に基づき、対物レンズ制御手段２１の制御による像倍率変化に拘わらず、回折絞り９の位置に回折像面を位置させるための電位信号Ｖａを前記電位制御手段１８に送る。 - 特許庁

A substrate having recessing and projecting shapes, wherein the change of reflectivity by a distance effect is larger than the change of reflectivity by a diffraction effect in the state that near-field light is propagated, is used.例文帳に追加

近接場光が伝播している状態で、距離効果による反射率変化が回折効果による反射率変化より大きい凹凸形状を有する基板を使用する。 - 特許庁

A substrate having recessing and projecting shapes, wherein the change of reflectivity by a diffraction effect is satisfactorily larger than the change of reflectivity by a distance effect in the state that near-field light is propagated, is used.例文帳に追加

近接場光が伝播している状態で、回折効果による反射率変化が距離効果による反射率変化より十分大きい凹凸形状を有する基板を使用する。 - 特許庁

Diffraction grating like first and second adjustment marks provided in parallel on an object (W) to be inspected are set, so that the marks are with in the same detecting visual field.例文帳に追加

被検物体（Ｗ）上に並列的に設けられた回折格子状の第１調整用マークと第２調整用マークとが同一の検出視野内に入るように設定する。 - 特許庁

Because the field diaphragm 17 is provided on a test surface 21a in a light path through which the object light passes, an accurate image of the specimen 21 can be obtained by reducing influence of diffraction.例文帳に追加

視野絞り１７を物体光が通る光路内のうちの被検面２１ａに設けたので、被検物２１の形状を、回折の影響を減らして精度良く像を得ることができる。 - 特許庁

In particular, an external magnetic field is used to change the birefringent refractive index so that diffraction efficiency is changed, and an outstanding adjustability is provided in terms of the use efficiency of light.例文帳に追加

特に、回折効率が変更されるように複屈折の屈折率を変更するために外部磁界が使用され、光の利用効率に対する優れた調整性を備えている。 - 特許庁

The polarization dependency of the array waveguide diffraction grating is adjustable, by varying the difference between polarized wave modes at the phase difference between the basic mode light and the primary mode light of the synthesized field.例文帳に追加

合成フィールドの基底モード光と１次モード光との位相差における偏波モード間の差異を変化させて、アレイ導波路回折格子の偏波依存性を調整することができる。 - 特許庁

By connecting the cores 15a-15d of the optical waveguide layers whose diffraction index difference is smaller to an optical fiber, the low loss optical waveguide that both the mode field diameters are matched is obtained.例文帳に追加

屈折率差が小さい光導波路層のコア１５ａ〜１５ｄと光ファイバとを接続することにより、両者のモードフィールド径が合った低損失な光導波路を得ることができる。 - 特許庁

Only the zero order light of a Fourier conversion image (light diffraction pattern) obtained from a phase object placed in a wide measurement visual field, configured by a Fourier conversion lens set in a coherence parallel laser luminous flux is used as a phase difference reference light different from high order diffraction light, and a sharp phase difference image is obtained by causing it to interfere with a phase object image obtained by a high order light diffraction pattern.例文帳に追加

可干渉性平行レーザ光束中に設置されたフーリエ変換レンズで構成される広い測定視界中に置かれた位相物体から得られるフーリエ変換像(光回折パターン)の零次光だけを高次の回折光と異なる位相差参照光として、高次光回折パターンで得られる位相物体像と干渉させて鮮明な位相差画像を得る。 - 特許庁

The base plate includes a waveguiding film and a diffraction grating means and couples an incident light field into the waveguiding film beneath the well, to generate a diffracted light field, thereby enabling detection of the change in the effective refractive index of the waveguiding film.例文帳に追加

基材プレートは、薄膜導波路及び回折格子手段を含んでいて、入射光の領域をウエルの下方の薄膜導波路中に入り結合して回折光の領域を発生させ、よって、薄膜導波路の有効屈折率の変化の検出を可能とする。 - 特許庁

To provide a near field micro device capable of utilizing spacial resolution exceeding the diffraction limit by generating and propagating near field light shorter in wavelength than electromagnetic wave, to the electromagnetic wave ranging from a microwave to a mid-infrared region, and to provide a spectral image acquisition method.例文帳に追加

マイクロ波から中赤外領域の電磁波に対し、その波長より短い近接場光を発生・伝播させてその回折限界を超える空間分解能を利用することができる近接場顕微装置とその分光・画像取得方法を提供する。 - 特許庁