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electron sensitivityの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 238件
HIGH SENSITIVITY RESIST COMPOSITION FOR ELECTRON-BASED LITHOGRAPHY例文帳に追加
電子ベース・リソグラフィのための高感度レジスト組成物 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SENSITIVITY COEFFICIENT OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY例文帳に追加
オージェ電子分光法の感度係数測定方法 - 特許庁
To provide an electron capturing type detector high in detection sensitivity.例文帳に追加
検出感度の高い電子捕獲型検出器を提供する。 - 特許庁
To provide an electron detector capable of detecting an electron at high sensitivity with no mixing of noise even when accelerating voltage of primary electron beam is low.例文帳に追加
一次電子ビームの加速電圧が低くても、雑音の混入なく高感度で電子の検出ができる電子検出装置を実現する。 - 特許庁
HIGH SENSITIVITY CIRCULATION ELECTRON SPIN RESONANCE DEVICE AND ANALYTICAL METHOD USING THE SAME例文帳に追加
流通型高感度電子スピン共鳴装置及びこれを用いた分析方法 - 特許庁
To provide an electron capturing detector that has a wide dynamic range and high sensitivity.例文帳に追加
ダイナミックレンジが広く、高感度な電子捕獲検出器を提供することにある。 - 特許庁
To provide a high-sensitivity image sensor capable of sensing a single electron, and to provide an image sensing method therefor.例文帳に追加
単電子のセンシングが可能な高感度イメージセンサ、及びそのイメージセンシング方法を提供する。 - 特許庁
To provide a new electron spectroscopic apparatus whose energy resolution is increased without lowering its sensitivity.例文帳に追加
感度を落とさずに、エネルギー分解能をより高いものにする新規な電子分光装置を提供する。 - 特許庁
To provide a high-sensitivity, a high-throughput electron beam type inspection device and an inspection method for alleviating artificial defects caused by scanning shift of primary electron beams.例文帳に追加
一次電子ビームの走査ずれに起因する擬似欠陥を低減する高感度高スループット電子ビーム式検査装置と検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cathode-ray tube apparatus for improving the sensitivity of a VM coil by improving interference from an electron gun.例文帳に追加
電子銃からの干渉を改善して、VMコイルの感度を向上し得る陰極線管装置を提供する。 - 特許庁
To obtain conforming articles with high efficiency percentage at the aging process of high sensitivity electron gun for CRT.例文帳に追加
CRT用高感度電子銃のエージングにおいて、高い良品率で良品を得ることを目的とする。 - 特許庁
To provide a defect inspection technology capable of performing defect detection with high sensitivity at a high speed that uses an electron beam.例文帳に追加
電子線を用いた、高速かつ高感度に欠陥検出を可能にする欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁
To provide a negative resist composition for electron beams or X-rays having sufficient characteristics of sensitivity, resolution and resist profile with respect to the use of electron beams or X-rays.例文帳に追加
電子線またはX線の使用に対して感度と解像性・レジスト形状の特性を満足する電子線またはX線用ネガ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
For that, artificial defects caused by the scanning shift of the electron beams are eliminated on the images, whereby a high-sensitivity, the high-throughput electron beam type inspection device, and the inspection method can be provided.例文帳に追加
そのため、差画像上に電子ビームの走査ずれに起因する擬似欠陥がなくなって、高感度高スループット電子ビーム式検査装置と検査方法を提供できる。 - 特許庁
To provide an electron beam detection apparatus and an electron tube detecting electrons with excellent response and high sensitivity by preventing deterioration in response speed and reducing noise.例文帳に追加
応答速度の劣化を防止し雑音を低減して、応答性よく高感度に電子を検出すること可能な電子線検出装置及び電子管を提供すること。 - 特許庁
This device includes a non-volatile memory element 20 having a floating gate to which holes or electrons are injected, a retention sensitivity cell 23 having a floating gate or a charge gain sensitivity cell 22 having a floating gate, electron/hole control circuit 24, 28 for controlling electron quantity or holes of the floating gate of the retention sensitivity cell 23 or the change gain sensitivity cell 22.例文帳に追加
正孔又は電子が注入されるフローティングゲートを有する不揮発性メモリ素子20と、フローティングゲートを有するリテンション感度セル23又はフローティングゲートを有するチャージゲイン感度セル22と、前記リテンション感度セル23又はチャージゲイン感度セル22の前記フローティングゲートの電子量又は正孔を制御するための電子・正孔制御回路24,28とを含む。 - 特許庁
The optical black level of the electron multiplication type solid-state imaging device is detected, the electron multiplication control voltage of the electron multiplication type solid-state imaging device is set on the basis of the optical black level, the sensitivity of the electron multiplication type solid-state imaging device is corrected, and thus white balance is controlled.例文帳に追加
電子増倍型固体撮像素子のオプティカルブラックレベルを検出し、このオプティカルブラックレベルに基づいて、電子増倍型固体撮像素子の電子増倍制御電圧を設定し、電子増倍型固体撮像素子の感度を補正することでホワイトバランス制御を行うようにする。 - 特許庁
To provide an imaging apparatus of high time resolution with afterimage generation restrained, equipped with an electron shutter function, and without producing sensitivity deterioration and picture deterioration by sensitivity unevenness or crosstalk.例文帳に追加
電子シャッタ機能を備え、感度の低下及び感度むらやクロストークによる画質劣化を生じさせることなく、残像の発生を抑制した高時間分解能の撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide a negative type chemical amplification type resist composition for use in electron beams or X-rays capable of achieving both high sensitivity and rectangular profile when electron beams or X-rays are used.例文帳に追加
電子線又はX線の使用に対して高感度及び矩形プロファイルを両立することができる電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays capable of ensuring both high sensitivity and rectangular profile when electron beams or X-rays are used.例文帳に追加
電子線又はX線の使用に対して高感度及び矩形プロファイルを両立することができる電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies sensitivity and resolution, resist shape characteristics to the use of electron beams or X-rays.例文帳に追加
電子線またはX線の使用に対して感度と解像性・レジスト形状の特性を満足する電子線またはX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
The CCD driving part 108 controls the drive of EM-CCD 102 and the electron multiplication rate in accordance with the control signal of the electron multiplication rate according to the input sensitivity application value.例文帳に追加
CCD駆動部108は入力された感度適用値に応じた電子増倍率の制御信号に応じてEM−CCD102の駆動および電子増倍率を制御する。 - 特許庁
To provide a positive type electron beam or X-ray resist composition having high resolving power and a positive type electron beam or X-ray resist composition having high sensitivity as well as high resolving power.例文帳に追加
高解像力を有するポジ型電子線又はX線レジスト組成物、更に高解像力に加えて高感度なポジ型電子線又はX線レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies characteristics such as sensitivity, resolution and resist shape in the use of electron beams or X-rays.例文帳に追加
電子線またはX線の使用に対して感度と解像性・レジスト形状の特性を満足する電子線またはX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁
The matrix includes a charge transport molecule, an electron transport molecule, and their mixture, and the electron transport molecule operates to increase the sensitivity of a chrologallium phthalocyanine pigment in the charge generating layer.例文帳に追加
マトリックスは、電荷輸送分子と、電子輸送分子と、それらの混合物とを含み、電子輸送分子は、電荷発生層中のクロロガリウムフタロシアニン顔料の感度を上げる働きをする。 - 特許庁
To achieve an equivalent electron incidence sensitivity (radiation detection accuracy) in an X-direction and a Y-direction of two-dimensional strips.例文帳に追加
2次元ストリップのX方向とY方向とで同等の電子入射感度(放射線検出精度)を実現できるようにする。 - 特許庁
To obtain a high electron mobility phototransistor which can improve sensitivity with respect to light without impairing high frequency characteristics.例文帳に追加
高周波特性を阻害せずに光に対する感度を向上させることができる高電子移動度光トランジスタを提供する。 - 特許庁
(b) Resists with sensitivity to electron beams or ion beams that deliver an electric charge of 0.01 microcoloumbs per square millimeter or less 例文帳に追加
ロ 〇・〇一マイクロクーロン毎平方ミリメートル以下の電気量を照射する電子ビーム又はイオンビームに対する感度を有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide an electron detector using a micro channel plate (MCP) whose life becomes longer by preventing the deterioration of sensitivity.例文帳に追加
電子検出器として、マイクロチャンネルプレート(MCP)を用いた場合に、その感度低下を防ぎ、さらに長寿命化を図ることである。 - 特許庁
In order to obtain the SEM with extra-small size, high sensitivity, and high resolution, an electrostatic lens is used as a principal focusing means, and a drift tube of electron beams is installed inside a column between an electron source and a testpiece, and the secondary electron detector is arranged inside this.例文帳に追加
超小型で高感度かつ高分解能のSEMを得るために静電レンズを主たる収束手段とし、電子源と試料との間でカラム内部に電子線のドリフト管を設け、この中に二次電子検出器をおく構造とする。 - 特許庁
In addition to the secondary electron generated by the interaction of the diamond with the radiation, the secondary electron or the like generated by the influence of the electron or the like obtained from heavy metal is used for detection of radiation, and the detection sensitivity of radiation is improved.例文帳に追加
こうして、ダイヤモンドと放射線の相互作用により発生する二次電子等に加えて、重金属から得られる電子等の影響により発生する二次電子等が放射線の検出に利用され、放射線の検出感度が向上する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition for electron beams or X rays having high sensitivity, high resolution and excellent stability of PED(post exposure delay).例文帳に追加
高感度かつ高解像度で、PEDの安定性に優れた電子線またはX線用ポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide an electron gun for a color cathode ray tube (CRT) capable of obtaining current to a screen at high sensitivity relative to driving voltage and preventing color shift.例文帳に追加
駆動電圧に対して高感度でスクリーンへの電流が得られ、色ずれが防止できるカラーCRT用電子銃を得る。 - 特許庁
To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加
SEMの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁
To improve throughput in an electron beam inspection device while the high detecting sensitivity of the device is maintained.例文帳に追加
高い検出感度を維持しつつ、従来装置に比べてスループットを大幅に向上させることができる電子ビーム検査装置を実現する。 - 特許庁
The control part 109, when the sensitivity setting value signal is input, reads out a correction coefficient K stored in a memory part 112, and calculates a sensitivity application value by multiplying the sensitivity setting value by the correction coefficient K, and outputs a control signal of an electron multiplication rate according to the sensitivity application value to a CCD driving part 108.例文帳に追加
制御部109は感度設定値信号が入力されると、メモリ部112に記憶された補正係数Kを読み出し、感度設定値に補正係数Kを乗算して感度適用値を算出し、感度適用値に応じた電子増倍率の制御信号をCCD駆動部108に出力する。 - 特許庁
The arrangement is composed of a dispersion target (1) having a polarization sensitivity on an optical course of a photo electron and a position-sensitive type detector, or a plurality of detectors in order to detect dispersing electron.例文帳に追加
散乱電子を検出するため、光電子の光学経路上に偏光感度を有する散乱ターゲット(1)と位置敏感型検出器、または複数の検出器からなる配置を含んでいる。 - 特許庁
To eliminate a problem caused by the configuration of a secondary electron filter in a thin film transistor array inspection device, and also to eliminate the degradation in detecting efficiency accompanying a flight of the secondary electron filter, the deterioration in the response speed of the secondary electron signal, the deterioration in sensitivity in the wide measurement of a potential, and the deterioration in the response speed of the secondary electron signal.例文帳に追加
TFTアレイ検査装置において2次電子フィルタの構成に起因する問題を解消し、2次電子の飛行に伴う検出効率の低下及び2次電子信号の応答速度の低下、幅広い電位測定における感度の低下及び2次電子信号の応答速度の低下を解消する。 - 特許庁
To provide a positive type resist composition for electron beams or X-rays having high sensitivity and high resolution and excellent in stability of PED.例文帳に追加
高感度かつ高解像度で、PEDの安定性に優れた電子線またはX線用ポジ型レジスト組成物を提供することにある。 - 特許庁
To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays excellent in sensitivity and resolving power and giving a rectangular profile.例文帳に追加
感度、解像力に優れ、しかも矩形なプロファイルが得られる電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物の開発である。 - 特許庁
To provide a positive resist composition for electron beams or X-rays having high sensitivity, high resolution and excellent edge roughness of a line pattern.例文帳に追加
高感度かつ高解像度で、ラインパターンのエッジラフネスが優れた電子線またはX線用ポジ型レジスト組成物を提供することにある。 - 特許庁
To obtain a rectangular type resonator which enables high-sensitivity measurement of electron spin resonance, has a high Q-value, and introduces an external modulated magnetic field.例文帳に追加
高感度電子スピン共嗚測定を可能にする、高いQ値を有し外部変調磁場が内部に導入される矩形型共振器を得る。 - 特許庁
To provide electron guns for a color cathode-ray tube capable of providing currents to a screen with high sensitivity relative to driving voltages and having little variations in chromaticity.例文帳に追加
駆動電圧に対して高感度でスクリーンへの電流を得ることができ、色度のバラツキのすくないカラー陰極線管用電子銃を得る。 - 特許庁
To provide an apparatus for measuring an impedance of a single electron device obtaining the impedance of the single electron device with high sensitivity by reducing the number of circuit components for measurement and widening an input frequency band.例文帳に追加
測定のための回路部品を減じるとともに入力する周波数の帯域を広くして、単電子トランジスタのインピーダンスを高感度に求めることができる単電子素子インピーダンス測定装置を提供する。 - 特許庁
To solve the problem of a performance enhancing technique in microfabrication of a semiconductor device using an electron beam or X-ray and to provide a negative type resist composition for an electron beam or X-ray satisfying such characteristics as sensitivity and resist shape when an electron beam or X-ray is used.例文帳に追加
電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、電子線又はX線の使用に対して感度とレジスト形状の特性を満足する電子線又はX線用ネガ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To solve the problem of a performance enhancing technique in microfabrication of a semiconductor device using an electron beam or X-ray and to provide a negative type resist composition for an electron beam or X-ray satisfying such characteristics as sensitivity and resist shape when an electron beam or X-ray is used.例文帳に追加
電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、電子線又はX線の使用に対して感度とレジスト形状の特性を満足する電子線又はX線用ネガ型レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁
To provide a positive type resist composition for electron beams or X-rays which enhances performance in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays and satisfies such characteristics as sensitivity, resolution and resist shape when electron beams or X-rays are used.例文帳に追加
電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上を目指すものであり、電子線又はX線の使用に対して感度と解像度、レジスト形状の特性を満足する電子線又はX線用ポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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